SU418858A1

SU418858A1 -

Info

Publication number: SU418858A1
Application number: SU1776979A
Authority: SU
Priority date: 1972-04-25
Filing date: 1972-04-25
Publication date: 1974-03-05

Description

1one

Изобретение относитс к радиотехнике.The invention relates to radio engineering.

Известны устройства дл электротермотренировки интегральных схем, содержащие кодирующий блок, программирующий блок, блок управлени с тестами, блок сравнени , запоминающий блок, блок индикации, инвертор и переключатель.Devices for electrotreating integrated circuits are known, comprising a coding unit, a programming unit, a control unit with tests, a comparison unit, a storage unit, a display unit, an inverter, and a switch.

Цель изобретени - повыщение надежности устройства.The purpose of the invention is to increase the reliability of the device.

Предлагаемое устройство снабжено эквивалентами тренируемых интегральных схем и эквивалентами нагрузок, причем входы эквивалентов тренируемых интегральных схем соединены с выводами входных тестов блока управлени , выходы - со входами блока сравнени , базовые цепи эквивалентов нагрузок через переключатель соединены с выходами выходных тестов блока управлени , а выходы эквивалентов нагрузок соединены со входом блока сравнени .The proposed device is equipped with equivalents of the tested integrated circuits and load equivalents, the inputs of the equivalents of the trained integrated circuits are connected to the inputs of the control unit input tests, the outputs are connected to the inputs of the comparison unit, the basic circuits of load equivalents are connected to the outputs of the output tests of the control unit and the outputs of load equivalents connected to the input of the reference unit.

Па чертеже изображена схема описываемого устройства.Pa drawing shows a diagram of the described device.

Устройство содержит кодирующий блок 1, включающий счетчик и дешифратор, программирующий блок 2, блок управлени 3 с тестами , инвертор 4, эквиваленты тренируемых интегральных схем 5, эквиваленты нагрузок 6, блок сравнени 7, запоминающий блок 8, блок индикации 9.The device contains a coding unit 1, comprising a counter and a decoder, a programming unit 2, a control unit 3 with tests, an inverter 4, equivalents of the trained integrated circuits 5, load equivalents 6, a comparison unit 7, a storage unit 8, a display unit 9.

Работает устройство следующим образом.The device works as follows.

С выхода программирующего блока 2, в котором имеютс матрицы входных и соответствующих им выходных опорных сигналов, тестова программа, обеспечивающа полноту проверки, через блок управлени 3 подаетс на входы наход щихс в термокамере тренируемых интегральных схем 10, выходы которых нагружены на управл емые эквиваленты нагрузок 6. В блоке сравнени 7 состо ние выходов тренируемых интегральных схем сравниваетс с опорными сигналами, поступающими с матриц выходных опорных сигналов программирующего блока 2. Если выходное состо ние какой-либо тренируемой интегральной схемы не соответствует опорному, по вл етс сигнал ошибки, пост пающий в запоминающий блок 8 и с него на блок индикации 9, указывающий адрес неисправной интегральной схемы.From the output of the programming unit 2, in which there are matrices of input and corresponding output reference signals, the test program, which ensures the completeness of the test, through the control unit 3 is fed to the inputs of the trained integrated circuits 10 in the heat chamber, the outputs of which are loaded to controlled load equivalents 6 In Comparison Unit 7, the output state of the trained integrated circuits is compared with the reference signals coming from the output matrixes of the programming unit 2. If the output state is Coy or coached integrated circuit does not correspond to the reference, it is on the error signal, the post Payuschie in the storage unit 8, and from it to the display unit 9, the address indicating a faulty integrated circuit.

При длительной электротермотренировке с отбраковкой неисправных интегральных схем первостепенную важность приобретает быстра , полна и автономна самопроверка устройства без нарушени реж.има термотренировки . Дл этой цели в схему устройства введены эквиваленты 5 тренируемых интегральных схем, представл ющие собой наход щиес вне термокамеры эталонные микросхемы, аналогичные тренируемым. Эти микросхемы,In the case of long-term electrothermal testing with the rejection of faulty integrated circuits, the self-test of the device is of paramount importance, it is fast, complete and autonomous without disturbing the thermal training. For this purpose, the equivalent of 5 trained integrated circuits, representing reference microcircuits located outside the heat chamber, are introduced into the device circuit. These chips,

работающие в облегченном электрическом ре:working in lightweight electrical re:

жиме, выбирают в соответствии с типом тренируемых и провер ют одновременно с тренируемыми интегральными схемами и одними и теми же тестами. Это позвол ет непосредственно при электротермотренировке провер ть правильность функционировани кодирующего блока 1, программирующего блока 2 и блока управлени 3, при правильной работе которых на табло посто нно высвечиваетс надпись «Исправно.Bench press, select according to the type of person being trained, and checked simultaneously with the trained integrated circuits and the same tests. This makes it possible to verify at the electrostatic training the correct functioning of the coding unit 1, the programming unit 2 and the control unit 3, with the correct operation of which the message "OK.

Тестова программа составлена таким образом , чтобы выходы тренируемых элементов работали в режиме контактного .переключени .The test program is designed in such a way that the outputs of the elements being trained work in the mode of contact switching.

Дл охвата остальных звеньев устройства самопроверкой используютс эквиваленты нагрузок 6, обеспечивающие различные нагрузки дл нулевого и единичного состо ний выходов тренируемых интегральных схем. Эквиваленты нагрузок выполнены на резисторах R9 ..., R9n, RKi... RKn и работающих в ключевом режиме транзисторах 71..., Г/г..., которые сигиалами с блока управлени 3 переключаютс синхронно с переключением выходов тренируемых интегральных схем 10. Втекающие в тренируемые интегральные схемы токи при нулевых состо ни х выходов этих схем и при открытых ключах эквивалентов нагрузок 6 определ ютс сопротивлени ми резисторов RKl...RKn и напр жением + fb а токи, вытекающие из тренируемых интегральных схем при закрытых ключах эквивалентов нагрузок, - сопротивлени ми резисторов 51 ..., R9n.To cover the rest of the device with a self-test, load equivalents 6 are used, providing different loads for the zero and single states of the outputs of the trained integrated circuits. The load equivalents are made on resistors R9 ..., R9n, RKi ... RKn and key-operated transistors 71 ..., G / g ..., which by the sigals from the control unit 3 switch synchronously with switching the outputs of the trained integrated circuits 10 The currents flowing into the trained integrated circuits under the zero conditions of the outputs of these circuits and with the open-load equivalent keys 6 are determined by the resistances of the resistors RKl ... RKn and the voltage + fb and the currents flowing from the trained integrated circuits with the closed keys of load equivalents resist laziness of resistors 51 ..., R9n.

Самопроверка устройства происходит при положени х переключател «Неисправно и «Исправно, когда от тренируемых интегральных схем 10 отключаетс питание вследствие чего сопротивление их выходов становитс большим и неуправл емым. Если в положении переключател «Работа ори нулевых состо ни х тренируемых интегральных схем токи протекают от через резисторы RKI, ..., RKn, открытые ключи на транзисторах Т1,..., Тп и через открытые выходы микросхем на корпус, с которым соединены общие точки источников питани Е, и f создава логические нули на входах блока сравнени 7, то в положении переключател «НеисправноSelf-testing of the device occurs at the positions of the switch "Faulty and". When the power to the integrated circuits 10 is disconnected, the resistance of their outputs becomes large and uncontrollable. If, in the switch position, the work of the ori-zero states of the trained integrated circuits, the currents flow from through the resistors RKI, ..., RKn, public keys on T1, ..., Tn transistors and through the open outputs of the microcircuits to the case with which the common points of power supply sources E, and f creating logical zeros at the inputs of the comparison block 7, then in the switch position

токи текут через резисторы R3. ..., , создава логические единицы на входах блока сравнени 7. Когда транзисторы Т..., Тп переход т в закрытое состо ние, на входах блока сравнени по вл ютс пулевые уровни напр жени , т. е. в положении переключател «Неисправно сигналы на входах блока сравнени , число которых равно числу тренируемых интегральных схем, инвертируютс наcurrents flow through resistors R3. ..., creating logical units at the inputs of the comparison block 7. When the transistors T ..., Tn go into the closed state, the bullet voltage levels appear at the inputs of the comparison block, i.e. in the position of the switch "Faulty the signals at the inputs of the comparison unit, the number of which is equal to the number of the integrated circuits being tested, are inverted by

180°, благодар чему на всех входах блока сравнени имитируетс по вление неисправности , и все лампочки светового табло зажигаютс , что свидетельствует об отсутствии неисправности во всей схеме пульта.180 °, whereby the occurrence of a malfunction is simulated on all inputs of the comparison unit, and all the lights of the illuminated display are lit, which indicates that there is no malfunction in the entire console circuit.

В положении переключател «Исправно фаза сигнала, управл ющего переключением ключей на транзисторах Г1 ...Тп, переворачиваетс в инверторе 4 на 180°, чем имитируетс исправна работа тренируемых интегральных схем. При отсутствии неисправности в устройстве лампочки светового табло, указывающие адрес неисправных схем, не зажигаютс . Таким образом, неисправность в схеме устройства обнаруживаетс при самопроверке по незажиганию лампочек светового табло в положении переключател «Неисправно и по зажиганию их в положении «Исправно.In the position of the switch, the “phase” of the signal controlling the switching of keys on transistors G1 ... Tn is reversed in inverter 4 by 180 °, which simulates the operation of the trained integrated circuits. In the absence of a malfunction in the device, the light panels indicating the address of the faulty circuits are not lit. Thus, a malfunction in the circuit of the device is detected during a self-test by not igniting the lights of the illuminated panel in the position of the switch Faulty and by igniting them in the position OK.

П р е д м е1 изобретени P redem e1 inventions

Устройство дл электротермотренировки интегральных схем, содержащее кодирующий блок, программирующий блок, блок управлени со входными и выходными тестами, блок сравнени , запоминающнй блок, блок индикации , инвертор и переключатель, отличающеес тем, что, с целью повышени надежности , оно снабжено эквивалентами тренируемых интегральных схем и эквивалентами нагрузок , причем входы эквивалентйр тренируемых интегральных схем соединены с выходами входных тестов блока управлени , выходы - со входами блока сравнени , базовыеA device for electroheating of integrated circuits, comprising an encoding unit, a programming unit, a control unit with input and output tests, a comparison unit, a storage unit, a display unit, an inverter and a switch, characterized in that it is equipped with equivalents of trainable integrated circuits in order to increase reliability and load equivalents, the equivalence inputs of the trained integrated circuits are connected to the outputs of the input tests of the control unit, the outputs are connected to the inputs of the comparison unit, the basic

цепи эквивалентов нагрузок через переключатель соединены с выходами выходных тестов блока управлени , а выходы эквивалентов нагрузок соединены со входом блока сравнени .The load equivalent circuits are connected via a switch to the outputs of the output tests of the control unit, and the outputs of the load equivalents are connected to the input of the comparison unit.