SU407188A1 - Прибор для измерения толщины покрытия на внутренней поверхности цилиндрических - Google Patents
Прибор для измерения толщины покрытия на внутренней поверхности цилиндрическихInfo
- Publication number
- SU407188A1 SU407188A1 SU1460318A SU1460318A SU407188A1 SU 407188 A1 SU407188 A1 SU 407188A1 SU 1460318 A SU1460318 A SU 1460318A SU 1460318 A SU1460318 A SU 1460318A SU 407188 A1 SU407188 A1 SU 407188A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- thickness
- collimator
- cylindrical
- measurement
- internal surface
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
Изобретение отчюситс к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано в рентгеновских устройствах дл измерени толщины покрытий на В:нутренней поверхности цилиндрических изделий.
Известный «Прибор дл измерени толщины покрыти материалов содержит два источника излучени , вращающийс коллиматор, детектор и регистрирующее устройство.
Но недостатком известного етрибора вл етс то, что он не обеспечивает достаточпой точности измерени из-за -погрешности, св занной с нестабильностью детектора и электронпого устройства.
С целью повышени точности измерени- , предложенный прибор снабжен раоположен«ыми между коллиматором и детектором симметрично относительно оси коллиматора устройствами дл размещени -в пих, с .возможностью поворота вокруг осей, параллельных оси коллиматора, контролируемого издели и эталона, а коллиматор вьгаолнен IB виде расположенных на общей оси заслопки, представл ющей собой усеченпый конус с углом конусности 30-60°, и установленного напротив большего основани конуса диска, в котором вылолнепо отверстие на |рассто нии от оси, большем радиуса упом путого основани конуса .
На чертеже показана принципиальна схема предложенного прибора.
Прибор содержит источник / ионизирующего излучени , помещенный в поглощающий 5 излучение экран 2, и детектор 3 рентгеновского излучени . Кроме того, прибор имеет вращающийс от двигател 4 коллиматор 5, снабженный каналом 6, эталон 7 и регистрирующее устройство (на чертеже не показано), причем 10 эталон с измер емым объектом 8 устанавливаютс между коллиматором 5 и детектором 3 симметрично оси iвpaщeни коллиматора, а канал 6 выполнен таким образом, что излучение источника / падает на измер емую поверхность эталона 7 и объекта 8 под углом, обеспечивающим максимальное облучение по1верхностей ().
Прибор работает следующим образом.
20 Излучение от источника / через канал 6 коллиматора попадает на внутреннюю поверхность измер емого объекта 8 и возбуждает характеристическое рентгеновское излучение материала покрыти , которое попадает на детектор 3 п далее на регистрирующее устройство .
После поворота коллиматора на 180° излучение от источника 1 через канал 6 коллиматора 5 попадает на рабочую поверхность эталона 7, возбужда рентгеновское излучение.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1460318A SU407188A1 (ru) | 1970-07-13 | 1970-07-13 | Прибор для измерения толщины покрытия на внутренней поверхности цилиндрических |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1460318A SU407188A1 (ru) | 1970-07-13 | 1970-07-13 | Прибор для измерения толщины покрытия на внутренней поверхности цилиндрических |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU407188A1 true SU407188A1 (ru) | 1973-11-21 |
Family
ID=20455330
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1460318A SU407188A1 (ru) | 1970-07-13 | 1970-07-13 | Прибор для измерения толщины покрытия на внутренней поверхности цилиндрических |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU407188A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5962355A (en) * | 1996-04-24 | 1999-10-05 | Owens Corning Fiberglas Technology, Inc. | Glass compositions having high KI values and fibers therefrom |
-
1970
- 1970-07-13 SU SU1460318A patent/SU407188A1/ru active
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5962355A (en) * | 1996-04-24 | 1999-10-05 | Owens Corning Fiberglas Technology, Inc. | Glass compositions having high KI values and fibers therefrom |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2692951A (en) | Apparatus for measuring shaft rotation | |
| US3794843A (en) | Gauge for determining the percentage by weight of moisture contained in a bulk material transported on a moving conveyor | |
| US2549987A (en) | X-ray diffraction method | |
| SU407188A1 (ru) | Прибор для измерения толщины покрытия на внутренней поверхности цилиндрических | |
| US2769097A (en) | Thickness measuring instrument | |
| US3505520A (en) | Measuring the incombustible content of mine dust using backscatter of low energy gamma rays | |
| US2500948A (en) | X-ray diffraction apparatus | |
| US3409774A (en) | Method of determining the thickness of a coating on a metal base and method of calibrating the thickness gauge | |
| US2938124A (en) | Portable beta radiation thickness gage | |
| US2622209A (en) | Radiographic inspection device | |
| Van Bavel et al. | Vertical resolution in the neutron method for measuring soil moisture | |
| US2881327A (en) | Method and apparatus for making x-ray measurements | |
| US2975281A (en) | Method and apparatus for measuring wall thickness | |
| GB699000A (en) | Process and means for the measurement of the thickness of strip material without contact therewith | |
| Reid et al. | Properties and measurement of carbon 14 | |
| GB863886A (en) | Improvements relating to apparatus for testing the moisture content and density of soils | |
| US2500926A (en) | X-ray spectrometer holder and method | |
| US3027459A (en) | Thickness measurement apparatus | |
| JPS6280578A (ja) | 放射能濃度測定装置 | |
| US2517469A (en) | Method and apparatus for measuring alpha particle radiation | |
| US3535205A (en) | Method for effecting uniform radiation of samples | |
| GB738329A (en) | Improvements relating to thickness gauges employing beta gamma x-rays and the like | |
| JPH05288694A (ja) | 陽電子消滅法による材料劣化検出装置 | |
| ALGER et al. | An X-ray monitor for measurement of a titanium tritide target thickness(X ray device for measuring titanium tritide film thickness in presence of background radiation) | |
| US3253147A (en) | Dosemeter for measuring ionizing radiation |