SU405011A1

SU405011A1 - METHOD OF MEASURING ANGLES ON THE EXAMINATOR

Info

Publication number: SU405011A1
Application number: SU1481323A
Authority: SU
Priority date: 1970-09-29
Filing date: 1970-09-29
Publication date: 1973-10-22

Description

1one

Изобретение отнооитс -к измерительной технике и может быть иопользо;вано дл повышени точности измерени углов на экзаменаторах .The invention is related to measurement technology and can be used to improve the accuracy of angle measurement at examiners.

Известен способ измерени углов -на экзаменаторах , состо щий в том, что измер емый угол, например, п.ри .проверке уровней сравнивают с устанавливаемым с помощью отсчетного устройства экзаменатора углом а между некоторой базовой плоскостью и пр мой линией, лежащей в ра-бочей плоскости экзаменатора и перпендикул рной проекции оси вращени экзаменатора на его рабочую плоскость.A known method for measuring angles — on examiners, is that the measured angle, e.g., the level check is compared with the angle α established between the reference device of the examiner between a reference plane and a straight line the plane of the examiner and the perpendicular projection of the axis of rotation of the examiner onto his work plane.

Одиако точность этого способа практически ограничена точностью установки угла а, завис щей от точности 1микрометричес1кого винта « предела возможного увеличени константы экзаменатора, т. е. рассто ни между осью микрометрического Виита и осью вращени экзаменатора.However, the accuracy of this method is practically limited by the accuracy of setting the angle a, depending on the accuracy of the micrometer screw, the limit of the possible increase in the examiner constant, i.e. the distance between the micrometer axis of viit and the axis of rotation of the examiner.

Цель изобретени -повысить точность ивме1ренИЯ углов «а экзаменаторах, не увеличива при этом точность микрометрической пары и рассто ни между осью вращени экзаменатора и осью микрометрического винта.The purpose of the invention is to increase the accuracy of the angles of the examiners without increasing the accuracy of the micrometer pair and the distance between the axis of rotation of the examiner and the axis of the micrometer screw.

Это достигаетс тем, что пре1дусматриваетс сравнение измер емого угла с углом между базовой плоскостью и линией, лежащей в рабочей ПЛОСКОСТИ экзаменатора под некоторымThis is achieved by comparing the measured angle with the angle between the reference plane and the line lying in the examiner's working PLANE under some

углом к проекции оси вращени экзаменатора на его рабочую плоскость.angle to the projection of the axis of rotation of the examiner on his working plane.

На фиг. 1 изображена конструктивна схема экзаменатора.; на фиг. 2 - то же, вид сверху; на фиг. 3-сечеине по Л-Л на . 2. Процесс изме|рени по предлагаемому способу состоит -в следующем.FIG. 1 shows the design of the examiner .; in fig. 2 - the same, top view; in fig. 3 secheine on ll on. 2. The process of measuring the proposed method is as follows.

Изделие, например уровень, угол которого измер ют, устанавливают вдоль линии Oi 0-, лежащей в рабочей плоскости Б экзаменатора под некоторым углом к проекции оси вран,ени экзаменатора на его рабочую плоскость (по известному способу изделие располагают вдоль линии MI Ma).A product, such as a level whose angle is measured, is set along the line Oi 0- lying in the examiner's work plane B at an angle to the projection of the axis of the exam, on the work plane (according to a known method, the product is placed along the line MI Ma).

Угол Y между базовой плоскостью В п лннпей OiO2 устанавливают с помоп1,ью микрометрического ввнта с лимбом 2 и указател 3. Прн этом угол Y определ ют соотношениемThe angle Y between the base plane B pnpay OiO2 is set with the help of the micrometer head with the limb 2 and the pointer 3. This angle Y is determined by the ratio

tgY tga-sinp или, учитыва , что д и обычно малы,tgY tga-sinp or, taking into account that g and are usually small,

- sinB - sinB

Y asinp Y asinp

L 1УL 1U

sinpsinp

где L - рассто ние ме еду осью МИ1К|рометричеакого винта 1 и осью вращени экзаменатора where L is the distance between the axis of the MI1K | rimetche 1 screw and the axis of rotation of the examiner