SU380170A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU380170A1
SU380170A1 SU1353466A SU1353466A SU380170A1 SU 380170 A1 SU380170 A1 SU 380170A1 SU 1353466 A SU1353466 A SU 1353466A SU 1353466 A SU1353466 A SU 1353466A SU 380170 A1 SU380170 A1 SU 380170A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
phase
light
birefringence
measuring
measurement
Prior art date
Application number
SU1353466A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Б. О. Глотов Л. А. Тумерман
Original Assignee
Институт молекул рной биологии СССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт молекул рной биологии СССР filed Critical Институт молекул рной биологии СССР
Priority to SU1353466A priority Critical patent/SU380170A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU380170A1 publication Critical patent/SU380170A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Предлагаемый способ относитс  к методам измерени  двойного лучепреломлени  веществ в проход щем свете и может найти применение в химических, биохимических , кристаллографических и других иссле довани х. Известны методы измерени  двойного лучепреломлени  веществ (интерференционные ) с высокой точностью, однако они ограничены видимым диапазоном спектра. Цель изобретени  упрощение метода измерени  двойного лучепреломлени  в, соч тании с высокой точностью и возможность измер ть по тому же принципу другие опти ческие характеристики веществ (поглощени оптическую активность, дихроизм и пр.). Это достигаетс  тем, что дл  измерени  используют пучок линейно пол ризованного света с вращающейс  плоскостью пол ризации, что позвол ет свести измерение двойного лучепреломлени  к Л1змерению фазы между двум  электрическим сигналами , Способ состоит в следующем, Монохроматический пучок линейно пол ризованного света с вращающейс  плоскостью пол ризации, условно представленный на чертеже (см. чертеж) источником 1 света,. монохроматором 2 и равномерно вращающимс  с круговой частотой LO линейным пол ризатором 3, попадает на светоделительное устройство 4, которое делит его на два луча. Один луч проходит через линейный пол ризатор 5 и воздействует на катод фотоэлектрического приемника 6. Электрический сигнал последнего через фильтр 7, настроенный на частоту (круговую) 2 Ц , поступает на один из входов фазонзмерите ьного устройства 8. Другой луч проходит через четвертьволновую пластину 9, затем через исследуемое вещество 10 и линейный пол ризатор 11. После этого он воздействует на катод фотоэлектрического приемника 12. Сигнал этого приемника через ильтр 13 ( аналогич1Ш1Й фильтру 7 ) поступает на второй вход фазоизмерительного устройства 8, Результат измерени  фазы регистрируетс  устройством 14, Ц Согласующий привод 15 обеспечивает дл  пластины 9 разность ходаД,/4 дхш любой/ длины В1элны света ji, наибольшей / скорости пластины параллельна главной оси пропускани  пол ризатора 11, а ось наибольшей скорости исследуемого вещест§ 10 составл ет с этим направлением угол + 45 (в сторону вращени  пол ризатора З). Главные оси пропускани  пол ризаторов 5 и 11 также параллельны. Така  ориентаци  деталей при этом способе из , ь(ерени  наиболее выгодна,. Пусть частота монохроматического света есть /К, Тогда; компоненты световсй вода ны, выхсЗЬ щей из пластины , соответствующие ос м наибольшей и наименьшей скорости-,ff- . .. Sln. COSlrt i-j- jinaL ЯП - « у //л и COS rt 06 uSt. -после прохождени  света через исслё- дуемое вещество, разность фаз между компонентами , отнесенными уже к ос м исследуемого вещества, измен етс  на величину О, св занную с двойным лучепреломлением соотношением: /- г , где ii - ТОЛЩИНА сло  цсследуемрго вещества; 3.. - длина световой волны в вакууме. Дл  компонентов световой волны, соответствующих ос м наибольшей и наименьшей скорости в исследуемом веществе, после прохождени  через последнее можно написать (не интересу сь абсолютным ана- чением фазы) следующие выражени : -Jt/7 SLrJ/rti-Sji-COS COS/rtrf-C j /3J Sinff Sinrt-h O0.5oi COS . Следовательно линейно пол ризованный свет, выход щий из пол ризатора 11, характеризуетс  электрическим вектором, изi мен ющимс  по закону -| 1Л1 SCn( S) СО&() + l- ifi in tt- c(GQS)ii :Cosf - }. ,(5 Отсюда интенсивность света, попадающего на фотоприемник 12, пропорциональна (:i-i-z).Sj.fe) При этом переменную составл ющую опорного сигнала фотоприемника 6 можно записать в виде опо1н У. 2 Таким образом, на фазоизмерительное устройство поступают два синусоидальных электрических сигнала, сдвинутых по фазе на величину cjj. Принима  во внимание соотношение (2), получаем выражение дл  двойного лучепреломлени  через измер емый сдвиг фаз j . Поскольку отношение имеет пор док величины 1О -1О а современные методы измерени  фазы обеспечивают точ-4 ность около 10 , радиана, то предлагаемьй способ дает возможность измер ть двойное лучепреломление с точностью до восьмого или дев того знака после зап той . Пр е д м е т и з о б р е те н и   Способ измерени  величины двойного лучепреломлени  веществ путем облучени  кюветы с исследуемым веществом пучком CBeTai, отличающийс  тем, что, D целью повышени  точности и чувствительч °™ измерени , зондирующий пучок монохроматического линейно пол ризованного света с вращающейс  плоскостью пол ризации дел т на два луча, один из которых линейно пол ризуют и используют в ка-- честве опорного, а другой последовательно пропускают через четвертьволновую пластину и исследуемое вещество, затем ли- нейно пол ризуют и используют в качестве ; рабочего, после чего измер ют разность фаз между переменными составл ющими интенсивностей рабочего к опорного сигналов , по которой суд т о величине двойного лучепреломлени .The proposed method relates to methods for measuring the birefringence of substances in transmitted light and can be used in chemical, biochemical, crystallographic and other studies. Methods are known for measuring the birefringence of substances (interference) with high accuracy, but they are limited to the visible range of the spectrum. The purpose of the invention is to simplify the method of measuring birefringence in combination with high accuracy and the ability to measure other optical characteristics of substances according to the same principle (absorption optical activity, dichroism, etc.). This is achieved by using a beam of linearly polarized light with a rotating polarization plane for measurement, which makes it possible to reduce the measurement of birefringence to phase measurement between two electrical signals. The method consists in the following, a monochromatic beam of linearly polarized light with a rotating polarization plane , conventionally shown in the drawing (see drawing) by the source of light 1 ,. the monochromator 2 and the linear polarizer 3 rotating evenly with the circular frequency LO fall on the beam-splitting device 4, which divides it into two beams. One beam passes through the linear polarizer 5 and acts on the cathode of the photoelectric receiver 6. The electric signal of the latter through the filter 7, tuned to a (circular) frequency of 2, is fed to one of the inputs of the phase-measuring device 8. The other beam passes through the quarter-wave plate 9, then through the test substance 10 and the linear polarizer 11. After that, it acts on the cathode of the photoelectric receiver 12. The signal of this receiver through the iltre 13 (similar to 1) filter 7) is fed to the second phase-measuring input device 8, the result of the phase measurement is recorded by the device 14, the matching driver 15 for the plate 9 has a stroke difference D, / 4 dxr of any / length B 1 of the light ji, the highest / plate speed parallel to the main transmission axis of the polarizer 11, and the axis of the highest speed of the substance under test 10 makes an angle of + 45 with this direction (in the direction of rotation of the polarizer 3). The main transmission axes of polarizers 5 and 11 are also parallel. Such an orientation of the parts in this method is from, (the efficiency is most advantageous. Let the frequency of monochromatic light be / K, Then; the components of light water coming out of the plate corresponding to the axes of the highest and lowest speed-, ff- ... Sln COSlrt ij-jinaL YP - "y // l and COS rt 06 uSt. - after the passage of light through the test substance, the phase difference between the components, already referred to the axes of the test substance, is changed by the O value associated with by double refraction by the ratio: / - g, where ii is the THICKNESS of the layers of the next substance; 3 .. - The light wavelength in vacuum For the light wave components that correspond to the axes of the highest and lowest speeds in the substance under study, after passing through the latter, one can write (not interested in absolute phase phase) the following expressions: -Jt / 7 SLrJ / rti-Sji -COS COS / rtrf-C j / 3J Sinff Sinrt-h O0.5oi COS. Therefore, linearly polarized light coming out of polarizer 11 is characterized by an electric vector varying according to the law - | 1L1 SCn (S) CO & () + l - ifi in tt-c (GQS) ii: Cosf -}. (5 Hence the intensity of the light falling on the photodetector 12 is proportional to (: iiz) .Sj.fe) In this case, the variable component of the reference signal of the photoreceiver 6 can be recorded as a U reference. 2 Thus, two sinusoidal electric signals are fed to the phase-measuring device shifted in phase by the value of cjj. Taking into account relation (2), we obtain the expression for birefringence through the measured phase shift j. Since the ratio has the order of magnitude 10-100 and modern methods of phase measurement provide an accuracy of about 10, radians, the proposed method makes it possible to measure birefringence to the eighth or ninth digit after the comma. Method of measuring the birefringence of substances by irradiating a cuvette with a test substance with a CBeTai beam, characterized in that, D the aim is to improve the accuracy and sensitivity of the measurement tube, a monochromatic linearly field probe beam The polarized light with a rotating plane of polarization is divided into two beams, one of which is linearly polarized and used as a reference, and the other is successively passed through a quarter-wave plate and the test substance, then linearly polarized. m and used as; working, and then measuring the phase difference between the variable components of the working intensity of the reference signal, which is judged on the magnitude of birefringence.

SU1353466A 1969-08-01 1969-08-01 SU380170A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1353466A SU380170A1 (en) 1969-08-01 1969-08-01

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1353466A SU380170A1 (en) 1969-08-01 1969-08-01

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU380170A1 true SU380170A1 (en) 1973-11-05

Family

ID=20446933

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1353466A SU380170A1 (en) 1969-08-01 1969-08-01

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU380170A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3183763A (en) Polarization analyzers for optical systems employing polarized light
US4589776A (en) Method and apparatus for measuring optical properties of materials
US3700334A (en) Interferometer-polarimeter
CN1811357B (en) Spectroscopic polarimetry
CN109556593B (en) Angular velocity measuring device, method and carrier thereof
Low et al. The measurement of infrared emission spectra using multiple-scan interferometry
US4179217A (en) Dynamic photoelasticimeter with rotating birefringent element
US5311283A (en) Fiber optic probe and method for detecting optically active materials
US2731875A (en) gould
SU380170A1 (en)
US3737235A (en) Polarization interferometer with beam polarizing compensator
US4171915A (en) Laser interferometer probe
CN105784594A (en) Fiber SPR (surface plasmon resonance) sensing measuring optical circuit based on dual-frequency laser heterodyne interferometry
US3520615A (en) Optical phase measuring apparatus
CN205192936U (en) Double -light -path polarimeter
CN210863099U (en) Device for measuring performance of broadband wave plate by using AOTF monochromatic light
US3113171A (en) Method for polarimetric analysis
SU374972A1 (en) METHOD OF MEASUREMENT OF THE VALUE OF THE OPTICAL ACTIVITY OF SUBSTANCES
Vishnyakov et al. Measuring the angle of rotation of the plane of polarization by differential polarimetry with a rotating analyzer
SU416598A1 (en)
RU208963U1 (en) OPTICAL DEVICE FOR MEASURING GAS CONCENTRATION
SU1140009A1 (en) Ellipsometric spectroscopy method
RU2276348C1 (en) Method of changing azimuth of optical radiation polarization plane
SU749188A1 (en) Method and apparatus for measuring optical phase anisotropy
Froehly et al. Polychromatic speckle technique for three dimensional non-destructive photoelasticimetry