SU367812A1 - Probing head - Google Patents

Probing head

Info

Publication number
SU367812A1
SU367812A1 SU711649551A SU1649551A SU367812A1 SU 367812 A1 SU367812 A1 SU 367812A1 SU 711649551 A SU711649551 A SU 711649551A SU 1649551 A SU1649551 A SU 1649551A SU 367812 A1 SU367812 A1 SU 367812A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
contact
contacts
plate
rows
head
Prior art date
Application number
SU711649551A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
В.А. Личагин
А.П. Строганова
Original Assignee
Lichagin V A
Stroganova A P
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lichagin V A, Stroganova A P filed Critical Lichagin V A
Priority to SU711649551A priority Critical patent/SU367812A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU367812A1 publication Critical patent/SU367812A1/en

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Claims (1)

Изобретение относитс  к радио электронике и может использоватьс  в контрольно-испытательном оборудовании производства 1 щкросхем. Известны зондовые головки, содержащие электроизол ционное основание и закрепленные в нем два р да плоских упругих контактов продольного изгиба . Однако известные устройства имеют сложную конструкцию и нестабильное сопротивление контактировани  . Предлагаема  головка отличаетс  о известной тем,что в ней между р дами контактов расположена закрепленна  ,9 оснсзвании электроизол ционна  плоска пластина, а рабочие концы контактов подогнуты в сторону упом нутой,пластины и выступают за ее торец на величину рабочего хода. На фиг.1 и 2 изображена предлагае ма  зондова  головка.. Головка содержит эле1ггроиэол цйон ное основание 1, два р да упругих контактов 2, между которыми расположена электроизол ционна  пластина 3. Рабочие концы 4 контактов 2 подогнуты и выступают за 5 пластины 3 Пунктирной линиейизображена микросхема 6 с выводами 7 на подвижной опоре 8. Контактирование происходит (см. фиг.2) в результате перемещени  опоры 8 (по стреле). В начальный момент соприкосновени  рабочего конца 4 контакта 2 с выводом микросхема за счет эксцентриситета (точка приложени  усили  смещена относительно центра заделки верхнего конца контакта) обеспечиваетс  продольный изгиб плоского контакта 2 со стрелой ripo гйба только в сторону от пластины 3.. При дальнейшем движении опоры 8 усилие контактировани  плавно нарастает, не превыша  требуемой величины. В конце рабочего хода торец 5 пластины 3 опираетс  на выводы 7, обеспечива  их фиксацию относительно головки, посто нную величину деформации контактов 2 и стабильное контактное усилие. В результате получаем надежный контакт и стабильное сопротивление контактировани . Формула изобретениfli Зондова  головка, содержаща  электроизол ционное основание и закрёпленные в нем два р да плоскихThe invention relates to radio electronics and can be used in test equipment for production of 1 chip. Probe heads are known that contain an electrically insulating base and two rows of flat elastic buckling fixed in it. However, the known devices have a complex structure and unstable contact resistance. The proposed head is distinguished by the fact that a fixed, electrically insulating flat plate is located in it between the rows of contacts, and the working ends of the contacts are bent in the direction of the said plate and protrude beyond its end face by the magnitude of the working stroke. Figures 1 and 2 depict the proposed probe head. The head contains an elec- trogyole base 1, two rows of elastic contacts 2, between which there is an electrical insulation plate 3. The working ends 4 of the contacts 2 are bent and protrude beyond 5 plates 3 The dashed line is the image microcircuit 6 with terminals 7 on the movable support 8. Contacting takes place (see Fig. 2) as a result of movement of the support 8 (along the arrow). At the initial moment of contact of the working end 4 of contact 2 with the output of the microcircuit due to eccentricity (the point of application of force is displaced relative to the center of embedding of the upper end of the contact), the bend of the flat contact 2 with the boom ripo boom is only away from the plate 3. the contact force increases smoothly, not exceeding the required value. At the end of the working stroke, the end face 5 of the plate 3 rests on the leads 7, ensuring their fixation relative to the head, a constant amount of deformation of the contacts 2 and a stable contact force. As a result, we obtain reliable contact and stable contact resistance. The invention of a probe head containing an electrically insulating base and two rows of flat
SU711649551A 1971-04-01 1971-04-01 Probing head SU367812A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU711649551A SU367812A1 (en) 1971-04-01 1971-04-01 Probing head

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU711649551A SU367812A1 (en) 1971-04-01 1971-04-01 Probing head

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU367812A1 true SU367812A1 (en) 1979-11-25

Family

ID=20473222

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU711649551A SU367812A1 (en) 1971-04-01 1971-04-01 Probing head

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU367812A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1530957A (en) Piezoelectric high voltage generating device
US4476433A (en) Electronic test fixture
SU367812A1 (en) Probing head
JPH0367178A (en) Probe card
ES199183Y (en) BOX FOR SEMICONDUCTOR DEVICE.
GB1133358A (en) Pressure contact semi-conductor devices
SU576077A3 (en) Contact connector
JPH075419Y2 (en) Surface resistance measuring device
SU572862A2 (en) Device for connecting radio components leads to measuring unit
SU475699A1 (en) Testing device
SU387303A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF SPECIFIC RESISTANCE
JPH0427507B2 (en)
SU133933A1 (en) Adapter board with flexible leads for the technological pinout of vacuum devices
SU513430A2 (en) Contact socket
JPS59632Y2 (en) Circuit element holding device
SU493946A1 (en) Contact device
JPS58138058A (en) Semiconductor device
JPS6211179A (en) Contact element of automatic selector for semiconductive integrated measure
SU1210170A1 (en) Contact devce
SU504311A2 (en) Mechanical storage device
SU426340A1 (en) DEVICE FOR CONNECTION OF THE CONDUCTORS OF THE PRINTING BOARDS FOR THE POTENTIAL OF THE CONTACT PLATFORMS
JPS57114866A (en) Measuring device of semiconductor device
SU432701A1 (en) CONTACT DEVICE
JP2000180470A (en) Probe for inspection
SU528713A1 (en) Contact device