SU363859A1 - Фотоэлектрический микроскоп - Google Patents

Фотоэлектрический микроскоп

Info

Publication number
SU363859A1
SU363859A1 SU1483467A SU1483467A SU363859A1 SU 363859 A1 SU363859 A1 SU 363859A1 SU 1483467 A SU1483467 A SU 1483467A SU 1483467 A SU1483467 A SU 1483467A SU 363859 A1 SU363859 A1 SU 363859A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
compensator
vibrator
microscope
prisms
diaphragm
Prior art date
Application number
SU1483467A
Other languages
English (en)
Inventor
А. Д. Федоров В. С. Чихалов Н. М. Чикинев Ю. А. Маковский
Original Assignee
Авторы изобретени витель
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Авторы изобретени витель filed Critical Авторы изобретени витель
Priority to SU1483467A priority Critical patent/SU363859A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU363859A1 publication Critical patent/SU363859A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к измерительной технике.
Известны фотоэлектрические микроскопы дл  измерени  деформаций твердых тел, содержащие осветитель, оптическую систему, вибратор с щелевой диафрагмой, фотоэлектронный умножитель, отсчетный преобразователь с компенсатором и регистрирующее устройство . Однако указанные микроскопы не обеспечивают одновременное измерение деформации ио двум направлени м.
Предлагаемый микроскоп снабжен вторым фотоэлектронным умножителем и оптическим разделителем световых потоков, прошедщих через щелевую диафрагму, выполненным на раздвижных призмах с наружным отражением , а оси вибратора и компенсатора расположены вдоль биссектрисы угла между ос ми, в направлении которых измер ют деформации . Такое выполнение микроскопа дает возможность одновременно измер ть деформацию по двум направлени м.
На фиг. 1 изображена схема соединени  осветител , оптической системы, вибратора с диафрагмой и отсчетного преобразовател  с компенсатором; на фиг. 2 - схема размещени  призм оптического разделител ; на фиг. 3 - схема прохождени  сигналов от призм к фотоэлектронным умножител м; на фиг. 4 - блочна  схема регистрирующего устройства; на фиг. 5 - «аправление осей вибратора и компенсатора.
Микроскоп содерл :ит осветитель 1, оптическую систему, включающую в себ  компенсатор 2, полупрозрачное стекло 3, объектив 4 и окул ры 5 и 6, щелевую диафрагму 7, закрепленную на  коре 8 электромагнитного вибратора 9, фотоэлектронные умножители 10 и 11, оптический разделитель световых потоков, про10 щедших через диафрагму 7, выполненный на призмах 12-16 с наружным отражателем, две из которых 12 II 1:3 - раздвилхные, отсчетный преобразователь 17 с компенсатором 18 и регистрирующее устройство. Последнее состоит
5 из фазочувствительных усилителей с нуль - органами 19 и 20, счетчиков 21 и 22 импульсов , регистров 23 и 24 пам ти системы опроса и счетной мащины.
Процесс измерени  деформации ироисхо0 дит следующим образом.
Микроскоп устанавливаетс  на измерительной позиции 25 и включаетс . Лучи света, отраженные от контролируемого объекта 26, попадают в объектив 4, дающий изобрал-сение рисок щтриховых фигур, нанример квадратов или шестигранников, нанесенных на контролируемый объект в плоскости изображений, где находитс  диафрагма 7. Щелевые контуры на диафрагме ио фор.ме подобны штриховым фигурам , нанесенным на объекте, по размерам
несколько отличаютс  от последних пор дка 0,01-0,1 мм. Дл  увеличени  чувствительности ко всем штрихам фигуры оси вибратора и компенсатора располагаютс  вдоль биссектрисы угла между ос ми, в направлении которых измер ют деформации. Световые потоки, прошедшие через ш.ели диафрагмы 7, попадают на оптический разделитель таким образом, что потоки света, прошедшие через ш,ели, расположенные по оси У, проход т пр мо на умножитель 10, а потоки света, прошедшие через ш,ели, расположенные по оси X, отражаютс  от призм 12 и 13 и расход тс  в стороны, после чего, отража сь от призм 14 и 15, а затем от призмы 16, попадают на умножитель 11.
Призмы 12 и 13 могут быть синхронно раздвинуты на рассто нне, соответствующее базе штриховой фигуры.
Преобразователь 17, поворачива  пластину компенсатора 18, преобразовывает линейные смешени  изображений штрихов в число электрических импульсов, приход ших на счетчики 21 и 22 только в то врем , когда их входы открыты исполнительными нуль-органами 19 и 20 фазочувствительных усилителей, на которые включены умножители 10 и 11.
Ротодиоды, установленные в нуль-гальванометрах , выдают импульсы, которые используютс  дл  управлени  входом электронпой счетной машины. При измерении деформации объекта, наход шегос  в нача аьпом состо нии , информаци  со счетчиков 21 и 22 переводитс  в регистры 23 и 24 (значени  XQ и УО). Если регистры пам ти выполнены не в форме
электронных счетчиков с параллельным йхсдом , а в форме матрицы на основе переключателей , то дл  перевода на них информации со счетчиков 21 и 22 вручную используетс  индикатор 27 отсчета. При последующих измерени х информаци  X I и У; снимаетс  со счетчиков и регистров пам ти системой опроса в последовательности, нужной дл  расчета измеренной деформации. Операци  вычитани  и автоматическа  регистраци  всего пор дка расчета выполн етс  счетно-регистрирующей машиной. Дл  упрощени  паладки и регулировани  микроскопа возможно введение юстировочной диафрагмы и визирного осветител .
Предмет изобретени 
Фотоэлектрический микроскоп дл  измереПИЯ деформаций твердых тел, содержащий осветитель , оптическую систему, вибратор с щелевой диафрагмой, фотоэлектронный умножитель , отсчетный преобразователь с компенсатором и регистрирующее устройство, отличающийс  тем, что, с целью одновременного измерени  деформаций по двум направлени м, он снабжен вторым фотоэлектронным умножителем и оптическим разделителем световых потоков, прошедших через шелевую диафрагму , выполненным на раздвижных призмах с наружным отражением, а оси вибратора и компенсатора расположены вдоль биссектрисы угла между ос ми, в направлении которых измер ют деформации.
f Ф
Фиг /
/7
basirsa
I
I
А
Т
t2
13
if иг 2
5
I
23
214
0
. t
fl
J
Щели
fpu2 5
SU1483467A 1970-10-12 1970-10-12 Фотоэлектрический микроскоп SU363859A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1483467A SU363859A1 (ru) 1970-10-12 1970-10-12 Фотоэлектрический микроскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1483467A SU363859A1 (ru) 1970-10-12 1970-10-12 Фотоэлектрический микроскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU363859A1 true SU363859A1 (ru) 1972-12-25

Family

ID=20458441

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1483467A SU363859A1 (ru) 1970-10-12 1970-10-12 Фотоэлектрический микроскоп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU363859A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU64757U1 (ru) Оптическое угломерное устройство
JPS5855706A (ja) 基板へ被着物を被着する方法および測光装置
US3619070A (en) Method and apparatus for measuring thickness
US3369444A (en) Devices for reading the displacements of a graduated scale
US2358083A (en) Exposure control device
SU363859A1 (ru) Фотоэлектрический микроскоп
US3068743A (en) Optical apparatus for measuring small distances
CN103630087B (zh) 基于空间平移变换的数字差动共焦测量装置与方法
US3323417A (en) Testing apparatus for optical lenses
US3591297A (en) Photometric instrument
CN106403829A (zh) 基于双光路红外反射法的涂层测厚仪
CN2395291Y (zh) 二维动态数显式自准直仪
CN105807580A (zh) 一种工件六自由度位置和姿态测量传感器装置
US1671709A (en) Measuring instrument
US2195168A (en) Method and apparatus for measuring spectrograms
CN104359809B (zh) 一种基于全反射棱镜的小型螺旋pm2.5浓度检测装置
Høg A photoelectric meridian circle
US2905047A (en) Plane indicators
SU587322A1 (ru) Фотоэлектрический микроскоп
RU2003065C1 (ru) Способ измерени и контрол рабочих отрезков объективов и устройство дл его осуществлени
SU1458779A1 (ru) Автоколлимационный способ определения показателя преломления клиновидных образцов
SU469943A1 (ru) Устройство дл контрол качества и юстировки зрительных труб
SU1002833A1 (ru) Устройство дл измерени углов поворота объекта
CN102829715A (zh) 一种基于折返式的大口径长工作距自准直显微监测仪
JPS5861436A (ja) 投影型mtf測定装置の受光素子