SU34943A1 - Sensitometer - Google Patents
SensitometerInfo
- Publication number
- SU34943A1 SU34943A1 SU120144A SU120144A SU34943A1 SU 34943 A1 SU34943 A1 SU 34943A1 SU 120144 A SU120144 A SU 120144A SU 120144 A SU120144 A SU 120144A SU 34943 A1 SU34943 A1 SU 34943A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- scale
- wedge
- sensitometer
- light
- diaphragm
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Сущность предлагаемого изобретени заключаетс в том, что, с целью получени на секситометрируемой пластинке непрерывной шкалы плотности (клина), между нею и источником света помещена диафрагма с криволинейным просветом . Такое устройство сенситометра обусловливает то, что все точки шкалы (клина) подвергаютс засвечиванию в течение одинакового промежутка времени, и засвечивание производитс немигающим светом. Оба эти обсто тельства, как известно, обеспечивают точность производимого сенситометрировани .The essence of the invention is that, in order to obtain a continuous density scale (wedge) on the semititometric plate, between it and the light source is placed a curved aperture diaphragm. Such a sensitometer arrangement ensures that all points on the scale (wedge) are exposed to light for the same period of time, and light is produced by non-blinking light. Both of these circumstances, as is well known, ensure the accuracy of the sensitometry produced.
На чертеже фиг. 1 изображает общий вид сенситометра; фиг. 2-его диафрагму; фиг. 3-клин, получаемый на пластинке.In FIG. 1 shows a general view of a sensitometer; FIG. 2nd aperture; FIG. 3-wedge obtained on the plate.
Сенситометр (фиг. 1) состоит из свет щейс щели 5 особой диафрагмы Е и кассеты дл испытуемой пластинки Р, на которой и получаетс шкала-клин экспозиций: Диафрагма Е (фиг. 2) снабжена криволинейным просветом, построенным по любому выбранному закону , например . Длина / этого просвета также может быть выбрана произвольной.The sensitometer (Fig. 1) consists of a luminous slit 5 of a particular diaphragm E and a cassette for the test plate P, on which the exposure scale-wedge is obtained: Aperture E (Fig. 2) is equipped with a curvilinear gap, built according to any chosen law, for example. The length of this lumen can also be chosen arbitrarily.
В результате экспонировани пластинки Р на ней получаетс непрерывна шкала-клин, изображенна на фиг. 3. Длина /2 шкалы определ етс измерителем; при засвечивании пластинки ее располагают, так, чтобы, по кра м остались незасвеченные пол А и В (),As a result of the exposure of the plate P, a continuous scale-wedge, shown in FIG. 3. The length / 2 of the scale is determined by the meter; when the plate is illuminated, it is positioned so that, along the edges, there are unclothed fields A and B (),
(199)(199)
Отношение даёт масштаб клина - iThe ratio gives the wedge scale - i
шкалы относительно диафрагмы.scale relative to the diaphragm.
Зна закон построени просвета диафрагмы и масштаб клина, тем самым градуируют шкалу-клин в отношении ее освещенности или экспозиции дл любых ее точек. Таким образом, шкала-клин учитывает в себе свойства характеристической кривой, благодар чему во многих случа х (например при мйкрофотометрйровании ) вопрос о плотности и характеристической кривой эмульсии вовсе отпадает .Know the law of construction of the lumen of the diaphragm and the scale of the wedge, thereby graduating the scale-wedge in relation to its illumination or exposure to any of its points. Thus, the wedge scale takes into account the properties of the characteristic curve, due to which in many cases (for example, when microfhotometering) the question of the density and characteristic curve of the emulsion disappears altogether.
Сообразу сь с необходимой точностью измерени , всегда можно выбрать такие размеры элементов сенситометра (фиг. t) или настолько их раздвинуть, что ошибки из-за непараллельности световых пучков будут меньше допустимых.In accordance with the required measurement accuracy, one can always choose such dimensions of the elements of the sensitometer (Fig. T) or move them so far that the errors due to non-parallelism of the light beams will be less than permissible.
Обраща сь к фиг. 1, можно сказать, что как точка 4,, так и точка AZ получат во столько раз больше света, нежели точка В, во сколько раз длина проектируемого участка щели. ajSCj больше длины Ь. Эти последние величины определ ютс величиной ординаты Y соот ветственного места просвета диафрагмы (фиг. 2).Referring to FIG. 1, it can be said that both point 4 ,, and point AZ will receive so much more light than point B, how many times the length of the projected section of the slit. ajSCj is longer than length b. These latter values are determined by the ordinate Y of the corresponding place of the diaphragm's lumen (Fig. 2).
Свет щиес щели о могут быть любых конструкций: 1) в виде щели, закрытой молочным стеклом и засвеченной сзади равномерно, 2) в виде стекл нной трубки, засеребренной или наполненной ртутьюLight slits can be of any structure: 1) in the form of a slit, covered with milk glass and illuminated from the back evenly, 2) in the form of a glass tube, silver-plated or filled with mercury
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU120144A SU34943A1 (en) | 1932-12-13 | 1932-12-13 | Sensitometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU120144A SU34943A1 (en) | 1932-12-13 | 1932-12-13 | Sensitometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU34943A1 true SU34943A1 (en) | 1934-02-28 |
Family
ID=48351772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU120144A SU34943A1 (en) | 1932-12-13 | 1932-12-13 | Sensitometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU34943A1 (en) |
-
1932
- 1932-12-13 SU SU120144A patent/SU34943A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Digby et al. | The photographic effect of medium energy electrons | |
SU34943A1 (en) | Sensitometer | |
US1899804A (en) | Line image producer | |
US2484735A (en) | Extinction type exposure meter with automatic eye sensitivity compensation | |
US2219703A (en) | Photographic test strip | |
US2376166A (en) | Sensitometry | |
McMath et al. | The Doppler effect in an eruptive prominence | |
SU34942A1 (en) | Goldberg type wedge densograph | |
US1801812A (en) | Instrument dial | |
US3230922A (en) | Indicator device | |
SU84115A1 (en) | Small deformation indicator | |
SU73188A1 (en) | The method of measuring the difference of the lengths of spectral lines by spectrophotogram | |
SU45073A1 (en) | Device for measuring small linear dimensions | |
Ross | The mutual action of adjacent photographic images | |
SU123037A1 (en) | Method for determining the characteristics of photo shutters | |
SU21264A1 (en) | Electrical recording instrument | |
US1777999A (en) | Method and apparatus for measuring radiations such as the ultra violet | |
DE368368C (en) | Device for the production of photophonograms, in particular for the purposes of acoustic cinematography | |
US1701048A (en) | Device for measuring the intervals between perforations in regular series thereof | |
GB205668A (en) | Improvements in surveying instruments | |
DE746249C (en) | Device for measuring distances using cathode ray tubes | |
SU45758A1 (en) | Nomographic device | |
US893244A (en) | X-ray meter. | |
AT150404B (en) | Photoelectric light meter for photographic and cinematographic recording apparatus. | |
SU32627A1 (en) | Depre magnetoelectric measuring instrument |