SU316378A1 - Полупроводниковый источник света - Google Patents
Полупроводниковый источник светаInfo
- Publication number
- SU316378A1 SU316378A1 SU1174224A SU1174224A SU316378A1 SU 316378 A1 SU316378 A1 SU 316378A1 SU 1174224 A SU1174224 A SU 1174224A SU 1174224 A SU1174224 A SU 1174224A SU 316378 A1 SU316378 A1 SU 316378A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- layer
- light source
- semiconductor light
- resistance
- microns
- Prior art date
Links
Description
Изобретение относитс к полупроводниковым приборам, в частности к светодиодам на основе монокристаллнческого карбида кремни . Известен полупроводниковый источник света на карбиде кремни , содержащий р -п -переход. Из-за разброса параметров исходного карбида кремни , даже выращиваемого за один технологический цикл, такие источники света имеют крайне малый выход качественных электролюминесцирующих р-л-переходов. Цель изобретени - воспроизводимое формирование необходимой дл зффективной электролюминесценции в видимой области спектра структуры с оптимальной концентрацией активаторов люминесценции донорского типа. Достигаетс она использованием карбида кремни электронного типа проводимости с концентрацией нескомпенсированных доноров (например, азота) 0,8-5° использованием р - п. -перехода, состо щего из сильнолегированного низкоомного достаточно тон кого р - сло (0,3 - 2мк), низкоомного базового п. - сло с высокоомным тонким слоем (0,1 - 1,0 мк) между ними со сравнительно равномерным распределением соответствующего требуемому цвету электролюминесценции активатора в последнем. Наличие сильнолегированного низкоомного р - сло и низкоомного базового п - сло обеспечивает , во-первых, эффективную инжекцию носителей зар да в тонкий высокоомньп активированный слой; во-вторых, получение минимально возможных рабочих напр жений в диапазоне температур 60 - 200° С. Особенно важно дл нормальной работы прибора в области низких температур наличие сильнолешрованного низкоомного р - сло . Такой слой позвол ет эффективно инжектировать носители зар да со стороны р - области при низких температурах, так как концентраци дырок в низкоомном сильнолегированном р - слое при температуре около 60 С оказьшаетс (несмотр на значительное уменьшение концентрации дырок с понижением температуры в дырочном карбиде кремни ) существенно вьпле, чем концентраци носителей зар да в высокоомном активированном слое. Это обсто тельство вли ет и на рабочее напр жение прибора, позвол снизить его до минимально возможного. Толщина сильнолегированного низкоомного р - сло должна быть, с одной стороны, достаточной (0,3 мк) дл создани надежного контакта к р - области без опасности его повреждени ; с другой
стороны, наличие р - сло толщиной больше 2 мк ведет, как правило, к бесполезному повышению рабочего напр жени прибора.
Высокоомный тонкий слой со сраввительно равномерным распределением в нем соответствующего активатора играет роль основной люминесдентно-актив ной области прибора, внутри которого как раз и происходит больша дол излучательной рекомбинации инжектированых из р - и тг - областей дырок и электронов. Толщина этого сло должна быть, следовательно, сравнимой с диффузионной длиной носителей зар да в карбиде кремни . Уменьшение толщины высокоомного сло ведет к снижению эффективности электролюминесценции; утолщение этого сло повышает рабочие напр жени . Таким образом, предлагаемые толщины высокоомного активированного сло обеспечивают максимальный к л.д. прибора. Нали1ше высокоомного активированного сло позвол ет регулировать цвет электролюминесценции прибора путем введени в этот слой различных активаторов.
Источники света на карбиде кремни с предлагаемой структурой имеют следующие параметры:
ркость 20-30 нит при плотност х тока в 0,07-0,1 ам/см (свет ща с поверхность ограничиваетс только площадью базового кристалла); рабочее напр жение 2,3 -2,8 в.
Claims (1)
- Формула изобретениПолупроводниковый источник света на кар&1де креглни , содержаиций р - п -переход, отличающийс тем, что, с целью воспроизводимого формировани необходимой дл эффективной электролюминесценции в видимой области спектра структуры с наличием в ней оптимальной концентрации активаторов люминесценции донорного типа (например, азота), исходный карбид кремни электронного типа проводимости имеет концентрацию нескомпенсированных доноров (например, азота ) 0,8-5 Ю ат/см, а структура р-п-перехода состоит из сильнолегированного низкоомного р-сло толщиной 0,3-2 мк и HH3Koo viHoro базового а-сло с высокоомным слоем толщиной 0,1-1,0 мк между ними.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1174224A SU316378A1 (ru) | 1967-07-24 | 1967-07-24 | Полупроводниковый источник света |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1174224A SU316378A1 (ru) | 1967-07-24 | 1967-07-24 | Полупроводниковый источник света |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU316378A1 true SU316378A1 (ru) | 1976-08-05 |
Family
ID=20440943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1174224A SU316378A1 (ru) | 1967-07-24 | 1967-07-24 | Полупроводниковый источник света |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU316378A1 (ru) |
-
1967
- 1967-07-24 SU SU1174224A patent/SU316378A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5338944A (en) | Blue light-emitting diode with degenerate junction structure | |
Mishima et al. | Ultraviolet light‐emitting diode of a cubic boron nitride pn junction made at high pressure | |
US4153905A (en) | Semiconductor light-emitting device | |
EP0448607B1 (en) | Blue light emitting diode formed in silicon carbide | |
Münch et al. | Silicon carbide light-emitting diodes with epitaxial junctions | |
US5063421A (en) | Silicon carbide light emitting diode having a pn junction | |
Crowder et al. | Efficient injection electroluminescence in ZnTe by avalanche breakdown | |
Matsunami et al. | SiC blue LED's by liquid-phase epitaxy | |
US3634872A (en) | Light-emitting diode with built-in drift field | |
Boonkosum et al. | Amorphous visible-light thin film light-emitting diode having a-SiN: H as a luminescent layer | |
US3387163A (en) | Luminescent semiconductor devices including a compensated zone with a substantially balanced concentration of donors and acceptors | |
US3986193A (en) | Semiconductor SiCl light source and a method of manufacturing same | |
SU316378A1 (ru) | Полупроводниковый источник света | |
Vlaskina | Silicon carbide LED | |
US3806774A (en) | Bistable light emitting devices | |
US3633059A (en) | Electroluminescent pn junction semiconductor device for use at higher frequencies | |
Yamamoto et al. | Preparation and Electroluminescent Properties of pn Junctions in Cd1-xMgxTe | |
Dean et al. | Electroluminescence | |
Brander | Silicon-carbide electroluminescent devices | |
Logan et al. | RADIATIVE RECOMBINATION IN GaP p‐n AND TUNNEL JUNCTIONS | |
Kajimura et al. | Correspondence between Nonradiative Dark Spots, Microplasma Emissions, and Dislocation Pits in GaP: N Light-Emitting Diodes | |
JPH05304314A (ja) | 発光ダイオード | |
Kang et al. | Deep levels in GaN epilayers grown on sapphire substrates | |
Potter | Lighting Research Laboratory, General Electric Company | |
US3440497A (en) | Semiconductor negative resistance electroluminescent diode |