SU316378A1 - Полупроводниковый источник света - Google Patents

Полупроводниковый источник света

Info

Publication number
SU316378A1
SU316378A1 SU1174224A SU1174224A SU316378A1 SU 316378 A1 SU316378 A1 SU 316378A1 SU 1174224 A SU1174224 A SU 1174224A SU 1174224 A SU1174224 A SU 1174224A SU 316378 A1 SU316378 A1 SU 316378A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
layer
light source
semiconductor light
resistance
microns
Prior art date
Application number
SU1174224A
Other languages
English (en)
Inventor
Ю.П. Маслаковец
Ю.А. Водаков
Г.А. Ломакина
Е.Н. Мохов
И.И. Круглов
И.В. Рыжиков
В.И. Павличенко
Т.Г. Кмита
Г.Ф. Холуянов
Э.Е. Виолин
Original Assignee
Институт Полупроводников Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Полупроводников Ан Ссср filed Critical Институт Полупроводников Ан Ссср
Priority to SU1174224A priority Critical patent/SU316378A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU316378A1 publication Critical patent/SU316378A1/ru

Links

Description

Изобретение относитс  к полупроводниковым приборам, в частности к светодиодам на основе монокристаллнческого карбида кремни . Известен полупроводниковый источник света на карбиде кремни , содержащий р -п -переход. Из-за разброса параметров исходного карбида кремни , даже выращиваемого за один технологический цикл, такие источники света имеют крайне малый выход качественных электролюминесцирующих р-л-переходов. Цель изобретени  - воспроизводимое формирование необходимой дл  зффективной электролюминесценции в видимой области спектра структуры с оптимальной концентрацией активаторов люминесценции донорского типа. Достигаетс  она использованием карбида кремни  электронного типа проводимости с концентрацией нескомпенсированных доноров (например, азота) 0,8-5° использованием р - п. -перехода, состо щего из сильнолегированного низкоомного достаточно тон кого р - сло  (0,3 - 2мк), низкоомного базового п. - сло  с высокоомным тонким слоем (0,1 - 1,0 мк) между ними со сравнительно равномерным распределением соответствующего требуемому цвету электролюминесценции активатора в последнем. Наличие сильнолегированного низкоомного р - сло  и низкоомного базового п - сло  обеспечивает , во-первых, эффективную инжекцию носителей зар да в тонкий высокоомньп активированный слой; во-вторых, получение минимально возможных рабочих напр жений в диапазоне температур 60 - 200° С. Особенно важно дл  нормальной работы прибора в области низких температур наличие сильнолешрованного низкоомного р - сло . Такой слой позвол ет эффективно инжектировать носители зар да со стороны р - области при низких температурах, так как концентраци  дырок в низкоомном сильнолегированном р - слое при температуре около 60 С оказьшаетс  (несмотр  на значительное уменьшение концентрации дырок с понижением температуры в дырочном карбиде кремни ) существенно вьпле, чем концентраци  носителей зар да в высокоомном активированном слое. Это обсто тельство вли ет и на рабочее напр жение прибора, позвол   снизить его до минимально возможного. Толщина сильнолегированного низкоомного р - сло  должна быть, с одной стороны, достаточной (0,3 мк) дл  создани  надежного контакта к р - области без опасности его повреждени ; с другой
стороны, наличие р - сло  толщиной больше 2 мк ведет, как правило, к бесполезному повышению рабочего напр жени  прибора.
Высокоомный тонкий слой со сраввительно равномерным распределением в нем соответствующего активатора играет роль основной люминесдентно-актив ной области прибора, внутри которого как раз и происходит больша  дол  излучательной рекомбинации инжектированых из р - и тг - областей дырок и электронов. Толщина этого сло  должна быть, следовательно, сравнимой с диффузионной длиной носителей зар да в карбиде кремни . Уменьшение толщины высокоомного сло  ведет к снижению эффективности электролюминесценции; утолщение этого сло  повышает рабочие напр жени . Таким образом, предлагаемые толщины высокоомного активированного сло  обеспечивают максимальный к л.д. прибора. Нали1ше высокоомного активированного сло  позвол ет регулировать цвет электролюминесценции прибора путем введени  в этот слой различных активаторов.
Источники света на карбиде кремни  с предлагаемой структурой имеют следующие параметры:
 ркость 20-30 нит при плотност х тока в 0,07-0,1 ам/см (свет ща с  поверхность ограничиваетс  только площадью базового кристалла); рабочее напр жение 2,3 -2,8 в.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Полупроводниковый источник света на кар&1де креглни , содержаиций р - п -переход, отличающийс  тем, что, с целью воспроизводимого формировани  необходимой дл  эффективной электролюминесценции в видимой области спектра структуры с наличием в ней оптимальной концентрации активаторов люминесценции донорного типа (например, азота), исходный карбид кремни  электронного типа проводимости имеет концентрацию нескомпенсированных доноров (например, азота ) 0,8-5 Ю ат/см, а структура р-п-перехода состоит из сильнолегированного низкоомного р-сло  толщиной 0,3-2 мк и HH3Koo viHoro базового а-сло с высокоомным слоем толщиной 0,1-1,0 мк между ними.
SU1174224A 1967-07-24 1967-07-24 Полупроводниковый источник света SU316378A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1174224A SU316378A1 (ru) 1967-07-24 1967-07-24 Полупроводниковый источник света

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1174224A SU316378A1 (ru) 1967-07-24 1967-07-24 Полупроводниковый источник света

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU316378A1 true SU316378A1 (ru) 1976-08-05

Family

ID=20440943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1174224A SU316378A1 (ru) 1967-07-24 1967-07-24 Полупроводниковый источник света

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU316378A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5338944A (en) Blue light-emitting diode with degenerate junction structure
Mishima et al. Ultraviolet light‐emitting diode of a cubic boron nitride pn junction made at high pressure
US4153905A (en) Semiconductor light-emitting device
EP0448607B1 (en) Blue light emitting diode formed in silicon carbide
Münch et al. Silicon carbide light-emitting diodes with epitaxial junctions
US5063421A (en) Silicon carbide light emitting diode having a pn junction
Crowder et al. Efficient injection electroluminescence in ZnTe by avalanche breakdown
Matsunami et al. SiC blue LED's by liquid-phase epitaxy
US3634872A (en) Light-emitting diode with built-in drift field
Boonkosum et al. Amorphous visible-light thin film light-emitting diode having a-SiN: H as a luminescent layer
US3387163A (en) Luminescent semiconductor devices including a compensated zone with a substantially balanced concentration of donors and acceptors
US3986193A (en) Semiconductor SiCl light source and a method of manufacturing same
SU316378A1 (ru) Полупроводниковый источник света
Vlaskina Silicon carbide LED
US3806774A (en) Bistable light emitting devices
US3633059A (en) Electroluminescent pn junction semiconductor device for use at higher frequencies
Yamamoto et al. Preparation and Electroluminescent Properties of pn Junctions in Cd1-xMgxTe
Dean et al. Electroluminescence
Brander Silicon-carbide electroluminescent devices
Logan et al. RADIATIVE RECOMBINATION IN GaP p‐n AND TUNNEL JUNCTIONS
Kajimura et al. Correspondence between Nonradiative Dark Spots, Microplasma Emissions, and Dislocation Pits in GaP: N Light-Emitting Diodes
JPH05304314A (ja) 発光ダイオード
Kang et al. Deep levels in GaN epilayers grown on sapphire substrates
Potter Lighting Research Laboratory, General Electric Company
US3440497A (en) Semiconductor negative resistance electroluminescent diode