SU261506A1 - Способ обнаружения электронопроводящих мостиков в химических источниках тока - Google Patents

Description

Широкое использование химических источников тока во многих област х промышленности требует повышени  надежности этих источников , что, в свою очередь, вызывает большие трудности, св занные со сложностью обнаружени  и предотвраш,ени  нежелательных физико-химических .превращений, происход щих в ХИТ в процессе хранени  и эксплуатации .

Одним из распространенных типов подобных процессов  вл етс  образование в межэлектродном пространстве ХИТ электронопровод щих мостиков. Известный способ вы влени  подобных  влений состо л в разборе ХИТ и тщательном его исследовании, что дл  практики эксплуатации непригодно.

В предлагаемом способе, с целью профилактического вы влени  мостиков, на испытуемый ХИТ подают от постороннего источника напр жение , превышающее его а. д. с., например, на 0,01 е, снимают кривую зависимости тока от времени и сравнивают величину установившегос  значени  тока с предельно допустимой дл  данного типа ХИТ.

При подключении к ХИТ напр жени  более высокого, чем его э. д. с. XPIT начинает зар жатьс . При посто нном напр жении в процессе зар да ток постепенно уменьшаетс , так как зар дное сопротивление при этом увеличиваетс . При достаточной длительности измерений зар дный ток может стать меньше любой наперед заданной величины.

При наличии электронопровод щих мостиков зар дный ток уже не ладает до О, а устанавливаетс  на некотором конечном значении. Этот предельный ток фактически представл ег собой ток разр да приложенного извне источника на мостик испытуемого ХИТ.

Чертеж иллюстрирует предложенный способ .

Величина этого тока / св зана с величиной тока короткого замыкани  в испытуемом элементе /к.з. (рассматриваетс  падение напр жени  между точками /1 и В) следующим соотношением:

Е /к.з. хит Е + ( ГПР)

ИЛИ

+ Г

пр

/к.з. /

(1)

Гхит - внутреннее сопротивление испытуемого ХИТ; в-внутреннее сопротивление внешнего

источника;

пр-сопротивление прибора, регистрирующего ток;

Последовательность операции предложенного метода состоит в следующем. С помошыо потенциометра производитс  измерение э.д. с. испытуемого ХИТ 1. На регулируемом источнике 2 посто нного напр жени  устанавливаетс  величина э. д. с., превышающа  э. д. с. исследуемого ХИТ на малую величину, например на 0,01 в. Затем оба источника соедин ютс  параллельно с микроамперметром 3 в любой из параллельных ветвей. Через определенные промежутки времени производитс  отсчет величины тока. Измерени  производ тс  до тех пор, пока ток не .перестанет снижатьс . Зафиксированное при этом значение / сравнивают с допустимой величиной предельного дл  данного типа ХИТ. Величина предельно допустимого тока, обусловленного ионной проводимостью, а также врем  его установлени  завис т от типа испытуемого ХИТ и должны быть установлены дл  каждого конкретного типа опытным путем на образцах, у которых заведомо отсутствуют короткие замыкани .

Если устаповивщеес  зпачепие / существенно больше допустимой величины этого тока, то это свидетельствует о наличии в исследуемом ХИТ электронного мостика. 5 Дл  определени  величины тока короткого замыкани  можно пользоватьс  формулой (1).

Дл  обеспечени  максимальной точности измерени  необходимо, чтобы внутреннее сопротивление источника 2 было близко к внутреннему сонротивлению ХИТ /, а сопротивление прибора 3, регистрирующего ток, было минимальным .

Предмет изобретени 

5 Способ обнаружени  электронопровод щих мостиков в химических источниках тока, отличающийс  тем, что, с целью профилактического вы влени  мостиков, на испытуемый ХИТ подают от постороннего источника напр же0 ние, превышающее его э. д. с., например, на

0,01 8, снимают кривую зависимости тока от

времени и сравнивают величину установивщегос  значени  тока с предельно допустимой

дл  данного типа ХИТ.

/WW

01

J-