SU256096A1 - - Google Patents
Info
- Publication number
- SU256096A1 SU256096A1 SU1208238A SU1208238A SU256096A1 SU 256096 A1 SU256096 A1 SU 256096A1 SU 1208238 A SU1208238 A SU 1208238A SU 1208238 A SU1208238 A SU 1208238A SU 256096 A1 SU256096 A1 SU 256096A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measuring
- electrodes
- probe
- gap
- indicator
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 12
- 210000000188 Diaphragm Anatomy 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical Effects 0.000 description 3
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000037250 Clearance Effects 0.000 description 1
- 230000035512 clearance Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000009658 destructive testing Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 description 1
Description
Предлагаемое устройство относитс к электровакуумной технике и может быть иснользовано в электронно-оптических системах электроннолучевых трубок (ЭЛТ), а также в нриборах, где требуетс точный контроль зазоров ири малых измерительных усили х.The proposed device relates to electrovacuum technology and can be used in electron-optical systems of electron-beam tubes (CRT), as well as in devices that require precise control of gaps and small measuring forces.
При сборке арматуры электронно-оптических систем ЭЛТ большое значение имеет точна установка межэлектродных рассто ний, определ ющих основные электрические иараметры приборов.When assembling the armature of the electron-optical systems of a CRT, it is of great importance to precisely set the interelectrode distances, which determine the main electrical and instrumental parameters of the instruments.
Во многих типах ЭЛТ рассто ни между диафрагмами, составл ющие 0,2-0,5 мм и меньше, устанавливают при сборке арматуры по съемным дистанционным вкладышам. После извлечени вкладышей рассто ни между диафрагмами измен ютс за счет упругих деформапий электродов и держателей, а также за счет усадки стекла при сборке арматуры на стекл нных изол торах.In many types of CRTs, the distance between the diaphragms, which is 0.2-0.5 mm or less, is set when assembling the fittings along removable spacers. After the inserts are removed, the distances between the diaphragms change due to the elastic deformations of the electrodes and the holders, as well as the shrinkage of the glass during the assembly of the reinforcement on the glass insulators.
Контроль малых рассто ний между электродами сложен и практически в производстве не осуществл етс .The control of the small distances between the electrodes is difficult and practically does not take place in production.
Известные приборы дл контрол малых рассто ний, такие как оптический проектор и плоские калибры-щупы, не обеспечивают требуемой точности измерений. В первом случае искажени внос тс в результате непараллельности и неплоскостностн двух диафрагм, а также из-за отклонений от оптической оси Known instruments for controlling short distances, such as an optical projector and flat gauge probes, do not provide the required measurement accuracy. In the first case, the distortions are introduced as a result of non-parallelism and non-flatness of the two diaphragms, as well as due to deviations from the optical axis
прибора. Во втором случае введение щупа с различными усили ми вызывает упругие деформации диафрагм, что приводит к погреигности контрол .device. In the second case, the insertion of the probe with various forces causes elastic deformations of the diaphragms, which leads to poor control.
Кроме того, необходим контроль рассто ний в приосевых област х, а известные способы позвол ют контролировать размеры зазоров у краев диафрагм. Оба способа трудоемки и практически неприменимы в услови х производства .In addition, it is necessary to control the distances in the paraxial areas, and the known methods allow control of the dimensions of the gaps at the edges of the diaphragms. Both methods are laborious and practically inapplicable under production conditions.
Указанные недостатки подтверждаютс проверкой образцов разрушающим контролем с заливкой зазоров затвердевающим материалов и последующим измерением полученных таблеток.These drawbacks are confirmed by checking the samples with destructive testing, filling the gaps with hardening materials and then measuring the resulting tablets.
Предлагаемое .устройство дл коитрол рассто ний между металлическими электродами в арматуре электронно-оптических систем ЭЛТ позвол ет коптролировать зазоры между электродами в любой зоне с высокой точиостью .The proposed device for coitrol the distance between metal electrodes in the armature of the electron-optical systems of a CRT makes it possible to control the gaps between the electrodes in any zone with a high precision.
Дл этого измерительный мехаиизм содержит токопровод нип поворотный измерительный щуп, закреплениый на упругом держателе , который св зан с устройством дл измере ни угловых величин.For this, the measuring mechanism contains a nip swiveling measuring probe conductor, attached to an elastic holder, which is connected to a device for measuring angular values.
Электроды, между которыми контролируетс зазор, включены в электрическую цепь, замыкаемую измерительным щупомThe electrodes, between which the gap is controlled, are connected to an electrical circuit that is closed by a measuring probe.
На чертеже представлено устройство дл контрол межэлектродных рассто ний.The drawing shows a device for controlling interelectrode distances.
Между электродами 1 н 2 арматуры помещен токонровод щий щуп 3, закрепленный па упругом держателе 4, который установлен в зажиме измерительного механизма. Последпий представл ет собой устройство дл точного измерени малых угловых величин, например безлюфтовую зубчатую передачу или оптическую систему с поворотным зеркалом 5. Электроды / и 2 во врем измерени зазора между ними подключены к индикатору 6 замыкани электрической цепи, например сеточпому контакту.Between the electrodes 1 and 2 of the armature, a conductive probe 3 is placed, fixed to an elastic holder 4, which is mounted in the clamp of the measuring mechanism. The latter is a device for accurate measurement of small angular values, such as backlash-free gear or optical system with a swiveling mirror 5. The electrodes / and 2 during the measurement of the gap between them are connected to an indicator 6 of the electrical circuit, for example a grid contact.
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
Щуп 3 устанавливают в произвольное положение относительно электродов, между которыми измер ют зазор, и новорачивают до соприкосновени с поверхностью электродов / и 2. В момент касани электродов замыкаетс цепь индикатора 6.The probe 3 is placed in an arbitrary position with respect to the electrodes between which the gap is measured, and rotated until it touches the surface of the electrodes I and 2. At the moment of contact of the electrodes, the indicator circuit 6 is closed.
Возможный перебег измерительного механизма компенсируетс упругим держателем 4, работающим в это.м случае как торсион. Затем измерительным механизмом поворачивают щуп в обратном панравлепии до замыкани цени противоположными гран ми, что также фиксируетс по индикатору. Величина зазора определ етс но величине угла поворота измерительного щупа между двум срабатывани ми индикатора.The possible overrun of the measuring mechanism is compensated by the elastic holder 4, which in this case works like a torsion. Then, with a measuring mechanism, the probe is rotated in reverse pan-glance until it is closed by opposite edges, which is also fixed by the indicator. The magnitude of the gap is determined by the angle of rotation of the probe between the two actuations of the indicator.
Возможно также, что в начале измерени щуп предварительно устанавливают в положение , при котором замкнута цепь индикатора . Тогда угол поворота отсчитывают от момепта размыкани цепи, зафиксированного индикатором, до замыкани ее противоположными гран .ми щупа.It is also possible that at the beginning of the measurement, the probe is preset to the position in which the indicator circuit is closed. Then the angle of rotation is counted from the moment of opening the circuit, fixed by the indicator, before closing it with opposite edges of the probe.
Профиль измерительного щупа 3 в сечении рабочего участка может быть пр моугольным или со скругленными кромками по радиусу. Форма измерительного наконечника в плане зависит от конструкции электродов, между которыми измер етс зазор. При измерени х зазора .между плоскими диафрагмами наконечник должен быть круглым, что исключает погрешность измерени от ненараллельностиThe profile of the probe 3 in cross section of the working section can be rectangular or with rounded edges along the radius. The shape of the measuring tip in the plan depends on the design of the electrodes between which the gap is measured. When measuring the gap between flat diaphragms, the tip must be round, which excludes measurement error due to non-parallelism
держател сторонам зазора. При измерени х зазора между тонкостенными торцами чашеобразных электродов или тонкой кромкой и плоскостью наконечник должен быть пр моугольным .holder to the sides of the gap. When measuring the gap between the thin-walled ends of the cup-shaped electrodes or the thin edge and plane, the tip should be rectangular.
Точность измерени зазоров с по.ощью предлагаемого устройства зависит от точности примен емого измерительного механизма. Так, при использовании механизма, позвол ющего вести отсчет с точностью до одного градуса,The accuracy of measuring gaps using the proposed device depends on the accuracy of the measuring mechanism used. So, using a mechanism that allows counting with an accuracy of one degree,
можно осуществить контроль зазора номинального размера 0,2 мм с точностью ± 2,5 мк.You can control the clearance of the nominal size of 0.2 mm with an accuracy of ± 2.5 microns.
Предмет изобретени Subject invention
Устройство дл контрол межэлектродных рассто ний в арматуре электронно-оптических систем электроннолучевых трубок, состо щее из измерительного .механизма, устройства дл измерени угловых величин и индикатора замыкапи электрической цепи, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерени , измерительный механизм содержит токопровод щий поворотный измерительный щуп, закрепленный на упругом держателе, которыйA device for monitoring the interelectrode distances in the armature of electron-optical systems of cathode-ray tubes, consisting of a measuring mechanism, a device for measuring angular values and an indicator of a circuit of an electrical circuit, characterized in that, in order to increase the accuracy of measurement, the measuring mechanism contains a conductive rotary measuring probe mounted on an elastic holder that
св зан с устройством дл измерени угловых величин, а электроды, .между которыми контролируетс зазор, включены в электрическую цепь, за.мыкаемую измерительным щупом.It is connected to a device for measuring angular values, and the electrodes, between which the gap is controlled, are included in an electrical circuit that is locked by a probe.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU256096A1 true SU256096A1 (en) |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2468335C1 (en) * | 2011-06-01 | 2012-11-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Method of measuring electrode spacing in vacuum-tube devices |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2468335C1 (en) * | 2011-06-01 | 2012-11-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" | Method of measuring electrode spacing in vacuum-tube devices |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0805946B1 (en) | Apparatus for microindentation hardness testing and surface imaging incorporating a multi-plate capacitor system | |
WO1991016600A1 (en) | Ellipsometer | |
CN104422419A (en) | Outer diameter V-shaped measurement method and V-shaped gauge of valve retainer outer diameter | |
US4868992A (en) | Anode cathode parallelism gap gauge | |
SU256096A1 (en) | ||
US6911660B2 (en) | Method of measuring ion beam angles | |
US3679972A (en) | Micrometer thickness gage | |
de Boer et al. | A new experiment for the determination of the Newtonian gravitational constant | |
RU2665497C1 (en) | Method of measuring parameters on the end of the bushing | |
WO2006064445A1 (en) | Sequential multi-probe method for measurement of the straightness of a straightedge | |
Watson et al. | The reliability of internal standards for calibrating electron microscopes | |
JPS59208401A (en) | Right-angle degree measuring device utilizing spherical bodies | |
Clayton et al. | Tensile creep modulus, creep lateral contraction ratio and torsional creep measurements on small nonrigid specimens | |
SU265296A1 (en) | ||
KR0143747B1 (en) | Device for measuring thickness of coating film | |
CN116773577B (en) | Optical fiber foreign matter detection device and preparation method thereof | |
US3630075A (en) | Double beam extensometer | |
Sander et al. | A new form of electrolytic tank | |
CN220982920U (en) | Integrated circuit thrust detection device | |
SU1112225A1 (en) | Device for checking electromagnetic coating thickness gauge | |
US2583763A (en) | Electrostatic apparatus for measuring voltages | |
JPH03210402A (en) | Horizontal type precision length measuring instrument | |
KR0124721Y1 (en) | Calibration device for cylinder and dial gauge | |
JPH0658956A (en) | Variable pitch probe for inspecting/testing circuit board | |
US2861346A (en) | Micrometer gage |