SU198034A1 - Времяпролетный масс-спектрометр - Google Patents
Времяпролетный масс-спектрометрInfo
- Publication number
- SU198034A1 SU198034A1 SU1050879A SU1050879A SU198034A1 SU 198034 A1 SU198034 A1 SU 198034A1 SU 1050879 A SU1050879 A SU 1050879A SU 1050879 A SU1050879 A SU 1050879A SU 198034 A1 SU198034 A1 SU 198034A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ion
- time
- mass spectrometer
- flight mass
- ions
- Prior art date
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 30
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 210000000554 Iris Anatomy 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Description
Описываемое устройство относитс к области масс-спектрометрии, в которой анализ массового состава производитс при помощи безмагнитных приборов с разделением ионов разных масс вследствие разности времени пролета ионными пакетами онределенного рассто ни . Разрешающа способность при этом определ етс степенью сфокусированности пакетов у приемника. Вследствие наличи начальных энергий у ионов и разных мест возникновени ионов в источнике (что также эквивалентно разбросу по энерги м) ионные пакеты к концу дрейфа расплываютс , максимально достижима разрешающа способность у приборов с м не превышает 200-300.
Известные врем пролетные масс-спектрометры содержат импульсный ионный источник с трем электродами, дрейфовое бесполевое пространство и приемник ионов.
Описываемый масс-спектрометр отличаетс от известных тем, что в конце дрейфового пространства установлено последовательно два сетчатых конденсатора с тормоз щими электрическими пол ми, а в ионном источнике имеетс четвертый электрод, установленный непараллельно по отношению к остальным электродам. Это позвол ет значительно (до нескольких тыс ч) увеличить разрешающую способность масс-спектрометра и исключить
попадание на приемник рассе нных ионов, вторичных электронов и ионов.
На фиг. 1 и 2 изображен описываемый массспектрометр .
Он состоит из ионного источника 1 с электродами 2-5, пространства дрейфа 6, сетчатых конденсаторов 7, 8 vi детектора 9 (плоский умножитель).
Конденсаторы с зазорами dr и d к создают тормоз щие напр жени UT и UK. Врем пролета в пространстве дрейфа и зазоре ат тем меньше, чем больше скорость иона. Врем нролета в отражающем поле с зазором к, наоборот, при увеличении энергии ионов
увеличиваетс , так как врем движени до остановки иона из закона измененн количества
движени mV dt будет , где
т - масса иона; q - зар д иона; V - его скорость . Полное врем движени в конденсаторе dK будет 2 t.
Такнм образом, при онределенном соотношении параметров системы молсно изменение
времени пролета иона на пути L+dr при изменении его энергии скомпенсировать противоположным изменением времени пролета в отражающем ионе конденсатора
второго пор дка малости) необходимо иметь два зазора с двум независимо регулируемыми пол ми.
Таким образом, при выходе из области электрических полей ионный пакет может иметь практически ту же длительность, какую оп имел в начале дрейфа. Прием пакетов про 1зводитс на плоский ириемпик-умпожитель 9.
Так как ири такой траектории ионов требуетс , чтобы угол между плоскостью иопиого накета и вектором скорости ионов Vnomi. был отличен от 90°, то обычный импульсный ионный источник не приемлем.
В предлагаемой конструкции ионного источника с трем зазорами зазор dg позвол ет осуществить пространственную временную фокусировку ионов ири выходе ионов из источника . Наклонное положение электрода 5 отношению к остальным электродам позвол ет получить изменение угла между плоскостью пакета и вектором Vnom. па величину а. Измен соотношение нанр жений LJ-, можно измен ть угол а (нри Уз 0, а 0).
Предмет изобретени
1.Врем пролетный масс-спектрометр, содержаш ,ий импульсиый ионный источнике трем электродами, дрейфовое беснолевое пространство и приемник ионов, отличающийс тем, что, с нелью повышени разрешаюндей снособпости, в конце дрейфового пространства параллельно пакету ионов установлено последовательно два сетчатых конденсатора с тормоз ш,нми электрическими пол ми.
2.Масс-спектрометр но п. 1, отличающийс тем, что, с целью получеии узких плоских ионных пакетов в начале дрейфа с вектором скорости ионов, не нерпендикул рным плоскости пакета, в ионном источнике имеетс четвертый электрод, установленный непараллельно по отношению к остальным электродам.
Г
/-ь
1Л.
Hh
ft-N и-Ц
п ,
-I
Г V
6/
Фиг.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU198034A1 true SU198034A1 (ru) |
Family
ID=
Cited By (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4611118A (en) * | 1983-08-16 | 1986-09-09 | Institut Kosmicheskish Issledovany Akademi Nauk Sss | Time-of-flight ion mass analyzer |
US4612849A (en) * | 1978-07-24 | 1986-09-23 | Vserossiisky Nauchnoissledovatelsky Institut Vinogradarstva I Vinodelia Imeni Ya.I. Potapenko | Apparatus for champagnization of wine in a continuous flow |
US7326925B2 (en) | 2005-03-22 | 2008-02-05 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface |
US7385187B2 (en) | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
WO2019202338A1 (en) | 2018-04-20 | 2019-10-24 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11587779B2 (en) | 2018-06-28 | 2023-02-21 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4612849A (en) * | 1978-07-24 | 1986-09-23 | Vserossiisky Nauchnoissledovatelsky Institut Vinogradarstva I Vinodelia Imeni Ya.I. Potapenko | Apparatus for champagnization of wine in a continuous flow |
US4611118A (en) * | 1983-08-16 | 1986-09-09 | Institut Kosmicheskish Issledovany Akademi Nauk Sss | Time-of-flight ion mass analyzer |
US7385187B2 (en) | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
US7326925B2 (en) | 2005-03-22 | 2008-02-05 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11756782B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-09-12 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
WO2019202338A1 (en) | 2018-04-20 | 2019-10-24 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
US11587779B2 (en) | 2018-06-28 | 2023-02-21 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Myers et al. | An inductively coupled plasma-time-of-flight mass spectrometer for elemental analysis. Part I: Optimization and characteristics | |
US4072862A (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
US8642951B2 (en) | Device, system, and method for reflecting ions | |
US8604423B2 (en) | Method for enhancement of mass resolution over a limited mass range for time-of-flight spectrometry | |
US5696375A (en) | Multideflector | |
US7087897B2 (en) | Mass spectrometer | |
EP0917727A1 (en) | An angular alignement of the ion detector surface in time-of-flight mass spectrometers | |
WO2007104992A2 (en) | Mass spectrometer | |
GB2491305A (en) | A mass spectrometer arranged to analyze positive and negative ions | |
US5661298A (en) | Mass spectrometer | |
US3576992A (en) | Time-of-flight mass spectrometer having both linear and curved drift regions whose energy dispersions with time are mutually compensatory | |
US5821534A (en) | Deflection based daughter ion selector | |
JP3392345B2 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
SU198034A1 (ru) | Времяпролетный масс-спектрометр | |
CN103531432B (zh) | 一种脉冲式离子源、质谱仪及产生离子的方法 | |
US7388193B2 (en) | Time-of-flight spectrometer with orthogonal pulsed ion detection | |
EP2313909A1 (en) | Method and apparatus for ion axial spatial distribution focusing | |
RU2769377C1 (ru) | Времяпролетный масс-спектрометр | |
US20170084446A1 (en) | System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer | |
US5942758A (en) | Shielded lens | |
US20010054684A1 (en) | Surface induced dissociation with pulsed ion extraction | |
RU2381591C2 (ru) | Времяпролетный масс-спектрометр | |
JP5243977B2 (ja) | 垂直加速型飛行時間型質量分析計 | |
CN203481184U (zh) | 一种脉冲式离子源及质谱仪 | |
WO2024158274A1 (ru) | Времяпролетный масс-спектрометр |