SU198034A1 - Времяпролетный масс-спектрометр - Google Patents

Времяпролетный масс-спектрометр

Info

Publication number
SU198034A1
SU198034A1 SU1050879A SU1050879A SU198034A1 SU 198034 A1 SU198034 A1 SU 198034A1 SU 1050879 A SU1050879 A SU 1050879A SU 1050879 A SU1050879 A SU 1050879A SU 198034 A1 SU198034 A1 SU 198034A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ion
time
mass spectrometer
flight mass
ions
Prior art date
Application number
SU1050879A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Б. А. Мамырин Физико технический институт Иоффе СССР
ЛГП Т,о
Publication of SU198034A1 publication Critical patent/SU198034A1/ru

Links

Description

Описываемое устройство относитс  к области масс-спектрометрии, в которой анализ массового состава производитс  при помощи безмагнитных приборов с разделением ионов разных масс вследствие разности времени пролета ионными пакетами онределенного рассто ни . Разрешающа  способность при этом определ етс  степенью сфокусированности пакетов у приемника. Вследствие наличи  начальных энергий у ионов и разных мест возникновени  ионов в источнике (что также эквивалентно разбросу по энерги м) ионные пакеты к концу дрейфа расплываютс , максимально достижима  разрешающа  способность у приборов с м не превышает 200-300.
Известные врем пролетные масс-спектрометры содержат импульсный ионный источник с трем  электродами, дрейфовое бесполевое пространство и приемник ионов.
Описываемый масс-спектрометр отличаетс  от известных тем, что в конце дрейфового пространства установлено последовательно два сетчатых конденсатора с тормоз щими электрическими пол ми, а в ионном источнике имеетс  четвертый электрод, установленный непараллельно по отношению к остальным электродам. Это позвол ет значительно (до нескольких тыс ч) увеличить разрешающую способность масс-спектрометра и исключить
попадание на приемник рассе нных ионов, вторичных электронов и ионов.
На фиг. 1 и 2 изображен описываемый массспектрометр .
Он состоит из ионного источника 1 с электродами 2-5, пространства дрейфа 6, сетчатых конденсаторов 7, 8 vi детектора 9 (плоский умножитель).
Конденсаторы с зазорами dr и d к создают тормоз щие напр жени  UT и UK. Врем  пролета в пространстве дрейфа и зазоре ат тем меньше, чем больше скорость иона. Врем  нролета в отражающем поле с зазором к, наоборот, при увеличении энергии ионов
увеличиваетс , так как врем  движени  до остановки иона из закона измененн  количества
движени  mV dt будет , где
т - масса иона; q - зар д иона; V - его скорость . Полное врем  движени  в конденсаторе dK будет 2 t.
Такнм образом, при онределенном соотношении параметров системы молсно изменение
времени пролета иона на пути L+dr при изменении его энергии скомпенсировать противоположным изменением времени пролета в отражающем ионе конденсатора
второго пор дка малости) необходимо иметь два зазора с двум  независимо регулируемыми пол ми.
Таким образом, при выходе из области электрических полей ионный пакет может иметь практически ту же длительность, какую оп имел в начале дрейфа. Прием пакетов про 1зводитс  на плоский ириемпик-умпожитель 9.
Так как ири такой траектории ионов требуетс , чтобы угол между плоскостью иопиого накета и вектором скорости ионов Vnomi. был отличен от 90°, то обычный импульсный ионный источник не приемлем.
В предлагаемой конструкции ионного источника с трем  зазорами зазор dg позвол ет осуществить пространственную временную фокусировку ионов ири выходе ионов из источника . Наклонное положение электрода 5 отношению к остальным электродам позвол ет получить изменение угла между плоскостью пакета и вектором Vnom. па величину а. Измен   соотношение нанр жений LJ-, можно измен ть угол а (нри Уз 0, а 0).
Предмет изобретени 
1.Врем пролетный масс-спектрометр, содержаш ,ий импульсиый ионный источнике трем  электродами, дрейфовое беснолевое пространство и приемник ионов, отличающийс  тем, что, с нелью повышени  разрешаюндей снособпости, в конце дрейфового пространства параллельно пакету ионов установлено последовательно два сетчатых конденсатора с тормоз ш,нми электрическими пол ми.
2.Масс-спектрометр но п. 1, отличающийс  тем, что, с целью получеии  узких плоских ионных пакетов в начале дрейфа с вектором скорости ионов, не нерпендикул рным плоскости пакета, в ионном источнике имеетс  четвертый электрод, установленный непараллельно по отношению к остальным электродам.
Г
/-ь
1Л.
Hh
ft-N и-Ц
п ,
-I
Г V
6/
Фиг.
SU1050879A Времяпролетный масс-спектрометр SU198034A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU198034A1 true SU198034A1 (ru)

Family

ID=

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4611118A (en) * 1983-08-16 1986-09-09 Institut Kosmicheskish Issledovany Akademi Nauk Sss Time-of-flight ion mass analyzer
US4612849A (en) * 1978-07-24 1986-09-23 Vserossiisky Nauchnoissledovatelsky Institut Vinogradarstva I Vinodelia Imeni Ya.I. Potapenko Apparatus for champagnization of wine in a continuous flow
US7326925B2 (en) 2005-03-22 2008-02-05 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface
US7385187B2 (en) 2003-06-21 2008-06-10 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use
WO2019202338A1 (en) 2018-04-20 2019-10-24 Micromass Uk Limited Gridless ion mirrors with smooth fields
US10950425B2 (en) 2016-08-16 2021-03-16 Micromass Uk Limited Mass analyser having extended flight path
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
US11081332B2 (en) 2017-08-06 2021-08-03 Micromass Uk Limited Ion guide within pulsed converters
US11205568B2 (en) 2017-08-06 2021-12-21 Micromass Uk Limited Ion injection into multi-pass mass spectrometers
US11211238B2 (en) 2017-08-06 2021-12-28 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer
US11239067B2 (en) 2017-08-06 2022-02-01 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
US11309175B2 (en) 2017-05-05 2022-04-19 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
US11328920B2 (en) 2017-05-26 2022-05-10 Micromass Uk Limited Time of flight mass analyser with spatial focussing
US11342175B2 (en) 2018-05-10 2022-05-24 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11587779B2 (en) 2018-06-28 2023-02-21 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle
US11621156B2 (en) 2018-05-10 2023-04-04 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
US11881387B2 (en) 2018-05-24 2024-01-23 Micromass Uk Limited TOF MS detection system with improved dynamic range

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4612849A (en) * 1978-07-24 1986-09-23 Vserossiisky Nauchnoissledovatelsky Institut Vinogradarstva I Vinodelia Imeni Ya.I. Potapenko Apparatus for champagnization of wine in a continuous flow
US4611118A (en) * 1983-08-16 1986-09-09 Institut Kosmicheskish Issledovany Akademi Nauk Sss Time-of-flight ion mass analyzer
US7385187B2 (en) 2003-06-21 2008-06-10 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use
US7326925B2 (en) 2005-03-22 2008-02-05 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with isochronous curved ion interface
US10950425B2 (en) 2016-08-16 2021-03-16 Micromass Uk Limited Mass analyser having extended flight path
US11309175B2 (en) 2017-05-05 2022-04-19 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
US11328920B2 (en) 2017-05-26 2022-05-10 Micromass Uk Limited Time of flight mass analyser with spatial focussing
US11239067B2 (en) 2017-08-06 2022-02-01 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11205568B2 (en) 2017-08-06 2021-12-21 Micromass Uk Limited Ion injection into multi-pass mass spectrometers
US11211238B2 (en) 2017-08-06 2021-12-28 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer
US11081332B2 (en) 2017-08-06 2021-08-03 Micromass Uk Limited Ion guide within pulsed converters
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
US11756782B2 (en) 2017-08-06 2023-09-12 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
WO2019202338A1 (en) 2018-04-20 2019-10-24 Micromass Uk Limited Gridless ion mirrors with smooth fields
US11342175B2 (en) 2018-05-10 2022-05-24 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11621156B2 (en) 2018-05-10 2023-04-04 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11881387B2 (en) 2018-05-24 2024-01-23 Micromass Uk Limited TOF MS detection system with improved dynamic range
US11587779B2 (en) 2018-06-28 2023-02-21 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Myers et al. An inductively coupled plasma-time-of-flight mass spectrometer for elemental analysis. Part I: Optimization and characteristics
US4072862A (en) Time-of-flight mass spectrometer
US8642951B2 (en) Device, system, and method for reflecting ions
US8604423B2 (en) Method for enhancement of mass resolution over a limited mass range for time-of-flight spectrometry
US5696375A (en) Multideflector
US7087897B2 (en) Mass spectrometer
EP0917727A1 (en) An angular alignement of the ion detector surface in time-of-flight mass spectrometers
WO2007104992A2 (en) Mass spectrometer
GB2491305A (en) A mass spectrometer arranged to analyze positive and negative ions
US5661298A (en) Mass spectrometer
US3576992A (en) Time-of-flight mass spectrometer having both linear and curved drift regions whose energy dispersions with time are mutually compensatory
US5821534A (en) Deflection based daughter ion selector
JP3392345B2 (ja) 飛行時間型質量分析装置
SU198034A1 (ru) Времяпролетный масс-спектрометр
CN103531432B (zh) 一种脉冲式离子源、质谱仪及产生离子的方法
US7388193B2 (en) Time-of-flight spectrometer with orthogonal pulsed ion detection
EP2313909A1 (en) Method and apparatus for ion axial spatial distribution focusing
RU2769377C1 (ru) Времяпролетный масс-спектрометр
US20170084446A1 (en) System and methodology for expressing ion path in a time-of-flight mass spectrometer
US5942758A (en) Shielded lens
US20010054684A1 (en) Surface induced dissociation with pulsed ion extraction
RU2381591C2 (ru) Времяпролетный масс-спектрометр
JP5243977B2 (ja) 垂直加速型飛行時間型質量分析計
CN203481184U (zh) 一种脉冲式离子源及质谱仪
WO2024158274A1 (ru) Времяпролетный масс-спектрометр