SU196354A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU196354A1
SU196354A1 SU1056792A SU1056792A SU196354A1 SU 196354 A1 SU196354 A1 SU 196354A1 SU 1056792 A SU1056792 A SU 1056792A SU 1056792 A SU1056792 A SU 1056792A SU 196354 A1 SU196354 A1 SU 196354A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
thickness
oscilloscope
screen
curve
sensors
Prior art date
Application number
SU1056792A
Other languages
Russian (ru)
Original Assignee
Ю. Н. Русскевич , Л. П. Стипура
Всесоюзный научно исследовательский , конструкторско технологический институт трубной промышленности
Publication of SU196354A1 publication Critical patent/SU196354A1/ru

Links

Description

УСТРОЙСТВО дл  ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЙDEVICE FOR MEASURING PRODUCT THICKNESS

Известен прибор дл  контрол  толидины биметаллических труб с наружным магнитным покрытием, основанный на методе вихревых токов, содержащий генератор электрических сигналов, датчики, включенные ио дифференциальной схеме, усилитель и регистрирующий прибор.A device for monitoring tidydine bimetallic pipes with an external magnetic coating, based on the eddy current method, contains an electrical signal generator, sensors, a differential circuit, an amplifier, and a recording device.

Предлагаемый импульсный толщиномер отличаетс  от известного тем, что между системой развертки луча в осциллографе и датчиками включен вычитающий каскад, предназначенный дл  выделени  электрического сигнала . Он воспроизводитс  на экране осциллографа в виде кривой, содержащей информацию об измер емых параметрах, определ емых при помощи двух нанесенных на экране шкал. Последние представл ют собой геометрические места тех точек кривых хода луча, которые однозначно св заны с толщиной основани  и покрыти .The proposed pulsed thickness gauge differs from the known one in that a subtractive cascade is included between the beam sweep system in the oscilloscope and the sensors in order to extract an electrical signal. It is reproduced on the oscilloscope screen in the form of a curve containing information about the measured parameters, determined with the help of two scales on the screen. The latter are the geometric locations of those points of the beam paths, which are uniquely related to the thickness of the base and the coating.

Это позвол ет повысить точность измерений и раздельного определени  толщины покрыти  и основани .This makes it possible to increase the accuracy of measurements and separate determination of the thickness of the coating and base.

На фиг. 1 изображена схема устройства дл  измерени  толщины изделий; на фиг. 2 - экран электроннолучевой трубки осциллографа .FIG. 1 shows a diagram of a device for measuring the thickness of products; in fig. 2 - oscilloscope electron tube screen.

чик 2, а в дрзгой - компенсационный датчик 3, подаютс  с геператора 4 импульсы напр жени  с вертикальиым передним фронтом и экспонеициально-спадающей вершиной. Пмпульсы такой формы, получаемые в обычном мультивибраторе, необходимы дл  достижени  в датчиках 2 и 3 импульсов тока с формой переднего фронта, близкой к пр моугольной.Tick 2, and in the other - compensation sensor 3, voltage pulses with a vertical leading edge and an exposure-decreasing apex are sent from the heater 4. Pulses of this shape, obtained in a conventional multivibrator, are necessary to achieve current pulses in sensors 2 and 3 with a leading edge shape close to a rectangular one.

Переменные сопротивлени  5 и 6 служат дл  корректировки формы переднего фронта. Между генератором 7 развертки луча в осциллографе 8 и датчиками 2 н 3 включен вычитающий каскад 9, предназпаченный дл  выделени  электрического сигнала. Он воспроизводитс  на экране осциллографа в виде кривой, содержащей информацию об измер емых параметрах , определ емых при помощи двух нанесенных на экраи щкал 10 и //. ПоследниеVariable resistances 5 and 6 are used to adjust the shape of the leading edge. A subtractive stage 9 is included between the beam sweep generator 7 in the oscilloscope 8 and the sensors 2 and 3, which is intended for extracting an electrical signal. It is reproduced on the oscilloscope screen in the form of a curve containing information about the measured parameters, determined with the help of two 10 and // on the screen. Last

представл ют собой геометрические места тех точек кривых хода луча, которые однозначно св заны с толщиной покрыти  и основани .represent the geometric locations of those points of the beam paths that are uniquely related to the thickness of the coating and the base.

Посредством потепциометра 12 устанавливаетс  равенство амплитуд импульсов напр жени , поступающих на оба входа вычитающего каскада. Все отмеченные операции производ тс  при холостых режимах датчиков, т. е. без установки датчиков на контролируемые издели .By means of the heatpimeter 12, the equality of the amplitudes of the voltage pulses arriving at both inputs of the subtractive stage is established. All marked operations are performed at idle sensor modes, i.e., without installing sensors on monitored products.

Датчик 3 устанавливаетс  на эталонное изделие с некоторым зазором, который может быть предусмотрен в самой конструкции датчика. Датчик 2 устанавливаетс  с тем же зазором над поверхностью контролируемого издели . Величина зазора определ етс  возможными колебани ми положени  издели  в процессе контрол . При отклонении параметров контролируемого издели  от эталонных параметры импульса напр жени , снимаемого с сопротивлени  5 будут отличатьс  от параметров импульса напр жени , снимаемого с сопротивлени  6. Результат вычитани  импульсов на экране осциллографа 8 изобразитс  в виде кривой определенной формы (например, крива  I).Sensor 3 is mounted on a reference product with a certain gap, which may be provided in the sensor design itself. Sensor 2 is installed with the same clearance above the surface of the monitored product. The size of the gap is determined by possible fluctuations in the position of the product in the process of control. When the parameters of the monitored product deviate from the reference parameters of the voltage pulse removed from the resistance 5 will differ from the voltage pulse parameters taken from the resistance 6. The result of pulse subtraction on the screen of the oscilloscope 8 is shown as a curve of a certain shape (for example, curve I).

Если при этом увеличить зазор иод измерительным датчиком, то крива  изменит свою форму и займет на экране новое положение (например, крива  II). В правой части экрана эти кривые будут иметь общую точку 13. Через нее пройдут все кривые, которые будут иметь место при колебани х величины зазора (например, от О до 1,5 мм). Положение этой точки зависит лишь от толщины стенки и не зависит от величины зазора.If, at the same time, the iodine gap is increased by a measuring sensor, the curve will change its shape and occupy a new position on the screen (for example, curve II). On the right side of the screen, these curves will have a common point of 13. Through it all the curves that will take place with fluctuations in the size of the gap (for example, from 0 to 1.5 mm) will pass. The position of this point depends only on the wall thickness and does not depend on the size of the gap.

Таким образом, положение этой точки на экране осциллографа содержит в себе информацию о толщине стенки изделрш. Име  набор пластин из немагнитного металла различной толщины и эталонную пластину из этого же металла, можно нанести на экран градуированную шкалу 10 толщин, справедливую дл  данного металла. Значение толщины стенки будет определ тьс  точкой пересечени  линии шкалы кривой хода луча осциллографа.Thus, the position of this point on the oscilloscope screen contains information about the wall thickness of the products. Having a set of plates of non-magnetic metal of different thickness and a reference plate of the same metal, you can apply on the screen a graduated scale of 10 thicknesses, valid for this metal. The wall thickness will be determined by the intersection point of the scale line of the oscilloscope beam path.

Нанес  на экран осциллографа на определенном рассто нии от момента, соответствующего началу импульса тока в датчике, вертикальную нр мую, получим шкалу 11 воздушных зазоров. Крива  хода луча при посто нном значении величины зазора в случае колебаний толщины стенки пересекает щкалу зазоров в одном и том же месте (например, кривые / и П1). Эта же шкала может служить шкалой толщин неэлектронровод щих покрытий изделий из немагнитных металлов. Дл  этого измерительный датчик необходимо при каждом измерении устанавливать непосредственно на поверхности издели . В этом случае крива  хода луча осциллографа, пересека  две ишалы 10 и 11, укажет значени  толщин покрыти  и основани  одновременно.Applying the oscilloscope to the screen at a certain distance from the time corresponding to the beginning of the current pulse in the sensor, vertical, we obtain a scale of 11 air gaps. The curve of the beam at a constant value of the size of the gap in the event of wall thickness fluctuations crosses the gap in the same place (for example, curves / and P1). The same scale can serve as a scale of thicknesses of non-electron-conducting coatings of products made of non-magnetic metals. For this, the measuring sensor must be installed directly on the surface of the product during each measurement. In this case, the curve of the oscilloscope beam, crossed by two scales 10 and 11, will indicate the values of the coating thickness and the base at the same time.

Предмет изобретени Subject invention

Устройство дл  измерени  толщины изделий из листового металла и толщины покрыти  на них, содержащее измерительный и компенсационный индуктивные датчики, питаемые импульсами тока с пр моугольным передним фронтом и служащие дл  возбуждени  вихревых токов в контролируемом и, соответственно , эталонном издели х, а также катодный осциллограф, используемый в качестве индикатора сигнала датчиков, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерений и раздельного определени  толщины нокрыти  и основани , между системой развертки луча в осциллографе и датчиками включен вычитающий каскад, предназначенный дл  выделени  электрического сигнала, воспроизводимого на экране осциллографа в виде кривой , содержащей информацию об измер емых параметрах, определ емых при помощи двух нанесенных на экран шкал, представл ющих собой геометрические места тех точек кривых хода луча, которые однозначно св заны с толщиной покрыти  и основани .An apparatus for measuring the thickness of sheet metal products and the thickness of the coating on them, comprising measuring and compensating inductive sensors powered by current pulses with a rectangular leading front and used to excite eddy currents in a controlled and, respectively, reference product, as well as a cathode oscilloscope used as an indicator of the signal of sensors, characterized in that, in order to increase the accuracy of measurements and separate determination of the thickness of the top and bottom, between the sweep system and in the oscilloscope and sensors, a subtractive cascade is included to isolate the electrical signal reproduced on the oscilloscope screen in the form of a curve containing information about the measured parameters determined using two on-screen scales representing the geometrical locations of those points of the beam paths which are unambiguously related to the thickness of the coating and base.

I-L.-..-J iI-L.-..- J i

t, .....jjt, ..... jj

fus.ifus.i

ue.2ue.2

SU1056792A SU196354A1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU196354A1 true SU196354A1 (en)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5059902A (en) Electromagnetic method and system using voltage induced by a decaying magnetic field to determine characteristics, including distance, dimensions, conductivity and temperature, of an electrically conductive material
US5559431A (en) Method of calibrating a sensor
US5541510A (en) Multi-Parameter eddy current measuring system with parameter compensation technical field
EP0107844B1 (en) Eddy-current defect-detecting system for metal tubes
CN206057424U (en) A kind of current measuring device
US4675670A (en) Apparatus for the dynamic and non-contact measurement of small distances
US5394084A (en) Method and apparatus for reducing errors in eddy-current conductivity measurements due to lift-off by interpolating between a plurality of reference conductivity measurements
JP7142736B2 (en) Magnetic displacement sensor with high accuracy and stability in the presence of electromagnetic interference
JPS6057217A (en) Vortex type mold molten metal level meter
US4567435A (en) Method and apparatus for continuously measuring distance utilizing eddy current and having temperature difference influence elimination
RU2005122641A (en) WALL THICKNESS MONITORING
US5847562A (en) Thickness gauging of single-layer conductive materials with two-point non linear calibration algorithm
SU196354A1 (en)
US3611119A (en) Method for measuring the ferrite content of a material
CN111999378A (en) TMR sensor-based method for measuring conductivity and thickness of metal material
CN113390956B (en) Double-magnetic-sensor probe and magnetic leakage detection defect quantitative evaluation method based on same
US3249860A (en) Device for measuring the thickness of material
US4418313A (en) Process and circuit arrangement for the determination in a diluted blood sample of the number of red blood corpuscles, the mean cell volume, the value of haematocrit and other blood parameters
KR20060134764A (en) Method and equipment of eddy current sensor's sorting out base metal
JP2001228120A (en) METHOD FOR Si CONCENTRATION MEASUREMENT OF STEEL PRODUCT
Sreevatsan et al. An eddy current-capacitive crack detection probe with high insensitivity to lift-off
JP2003344008A (en) Method and apparatus for measuring film thickness of insulating film
US3253149A (en) Method and apparatus for hardness testing using backscattered beta radiation
KR100270114B1 (en) Method and apparatus for distortion of hot metal plate
JPS62191755A (en) Signal processing method in electromagnetic induction test