SU185576A1 - DEVICE FOR VERIFICATION OF FILM MATRIXES - Google Patents
DEVICE FOR VERIFICATION OF FILM MATRIXESInfo
- Publication number
- SU185576A1 SU185576A1 SU900991A SU900991A SU185576A1 SU 185576 A1 SU185576 A1 SU 185576A1 SU 900991 A SU900991 A SU 900991A SU 900991 A SU900991 A SU 900991A SU 185576 A1 SU185576 A1 SU 185576A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- matrix
- measuring head
- probe
- chamber
- pantograph
- Prior art date
Links
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 15
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 10
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 10
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminum Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000011089 carbon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
Description
Известно устройство дл проверки пленочных матриц, содержащее измерительную головку , щуп и съемный проводник.A device for testing film matrices is known comprising a measuring head, a probe and a detachable conductor.
Предложенное устройство отличаетс тем, что оно снабжено теплоизол ционной камерой, электрическим нагревателем с обмоткой, выполненной в виде тороида, и механизмом пантографа с шаблоном. Съемный проводник смонтирован на измерительной головке вместе со щупом.The proposed device is characterized in that it is equipped with a heat insulating chamber, an electric heater with a winding made in the form of a toroid, and a pantograph mechanism with a pattern. The removable conductor is mounted on the measuring head together with the probe.
Это позвол ет повысить точность проверки матриц, провер ть их в щироком диапазоне температур и уменьшить помехи при съеме сигналов с пленок.This makes it possible to increase the accuracy of checking the matrices, check them in a wide range of temperatures, and reduce interference with the removal of signals from films.
На фиг. 1 схематически изображено устройство дл проверки пленочных матриц; на фиг. 2 - столик устройства; на фиг. 3 - измерительна головка; на фиг. 4 - пантограф.FIG. 1 shows schematically an apparatus for inspecting film matrices; in fig. 2 - device table; in fig. 3 - measuring head; in fig. 4 - pantograph.
Устройство содержит теплоизол ционную камеру / дл получени внутри нее температуры -f-60°C. Камера выполнена из двух вставленных один в другой, алюминиевых кожухов 2 и 5, между которыми проложен теплоизол ционный материал 4. Дверь 5 плотно закрываетс .The device contains a heat insulating chamber / to obtain a temperature of -f-60 ° C inside it. The chamber is made of two aluminum enclosures 2 and 5 inserted one into the other, between which the heat insulating material 4 is laid. The door 5 is tightly closed.
На каркасе 6 закреплена крестовина 7. По нижнему основанию каркаса скользит столик 8. Крестовина служит дл передачи вращательного движени на измерительную головку 9 через сектор 10 от привода 11 и дл подвода и отвода измерительной головки к столику и от него с помощью винта 12. Кабель 13 проходит внутри крестовины и подсоедин ет измерительную головку к электроизмерительной аппаратуре. На столике размещена матрица 14, нагреваема до температуры -j-180°C. Матрица устанавливаетс на медную подушку 15 и прижимаетс к четырем упорам 16 пружиной 17. По поверхности подушки скольз тA cross 7 is fastened on the frame 6. A table 8 slides along the bottom base of the frame. The cross serves to transmit a rotational movement to the measuring head 9 through sector 10 from the drive 11 and for supplying and discharging the measuring head to the table and from it using a screw 12. Cable 13 passes inside the cross and connects the measuring head to the electrical measuring equipment. On the table is placed the matrix 14, heated to a temperature of -j-180 ° C. The matrix is placed on the copper pad 15 and pressed against the four stops 16 by a spring 17. On the surface of the pad the slides
контакты 18 и 19 измерительной головки (фиг. 3).contacts 18 and 19 of the measuring head (Fig. 3).
Обмотка нагревател 20 выполнена в виде тороида, что позвол ет избавить матрицу от внешних магнитных полей. Дл фиксации температуры матрицы в подушку 15 впа на термопара 21.The winding of the heater 20 is made in the form of a toroid, which allows the matrix to be free from external magnetic fields. To fix the temperature of the matrix in the pillow 15 of the thermocouple 21.
Столик жестко св зан с пантографом 22 через стойку 23. Внутри ее проход т выводы 24, 25 от термопары и нагревател . Под действием пантографа столик перемещаетс вместе с тепловым экраном 26, который изолирует внутренную полость камеры от окружающей среды.The table is rigidly connected to the pantograph 22 through the rack 23. Inside it, pins 24, 25 from the thermocouple and the heater are placed. Under the action of the pantograph, the table moves with the heat shield 26, which isolates the internal cavity of the chamber from the environment.
Измерительна головка (фиг. 3) служитThe measuring head (Fig. 3) serves
дл приложени магнитных полей к магнитным элементам матрицы и сн ти с них сигналов . Головка легко снимаетс и надеваете на крестовину дл замены щупа 27.for applying magnetic fields to the magnetic elements of the matrix and removing signals from them. The head is easily removed and put on the crosspiece to replace the probe 27.
магнитных элементов. Щуп представл ет собой две, расположенные под углом 90°, медные шины 28, 29, приклеенные к фторопластовому сердечнику 30 и помещенные в медный экран 31. В рабочей части шин имеютс прорези .magnetic elements. The probe is two, located at an angle of 90 °, copper busbars 28, 29, glued to the fluoroplastic core 30 and placed in a copper screen 31. There are slots in the working part of the tire.
Съемный проводник 32 крепитс в двух зажимах 33 и 34. Зажим 33 осуществл ет нат жение проводника, а зажим 34 - установку его по центру щупа. Один конец съемного проводника припаиваетс к высокочастотному разъему 35 с контактом 18, другой - к контакту 19. Съемный проводник устанавливаетс параллельно поверхности столика эксцентриком 36. Дл присоединени щупа к измерительной аппаратуре в корпусе 37 расположены шесть высокочастотных разъемов 38.Removable conductor 32 is fastened in two clamps 33 and 34. Clamp 33 tensions the conductor, and clamp 34 installs it in the center of the probe. One end of the detachable conductor is soldered to the high-frequency connector 35 with contact 18, the other to contact 19. The removable conductor is installed parallel to the table surface by an eccentric 36. Six high-frequency connectors 38 are located in the housing 37 to connect the probe to the measuring equipment.
Конструкци измерительной головки позвол ет одновременно поворачивать относительно п тна матрицы щуп и съемный проводник.The design of the measuring head allows simultaneous rotation of the probe and the detachable conductor relative to the matrix spot.
Пантограф 22 (фиг. 4) служит дл подвода магнитных элементов матрицы под щуп измерительной головки. Он состоит из двух систем рычагов 39, 40, закрепленных на плите 41 и соединенных между собой кареткой 42. Съемный щаблон 43, установленный на плите, представл ет собой выполненную в 5-кратном увеличении провер емую матрицу. Система рычагов 39 передает перемещеиие фиксатора 44 по шаблону 43 на каретку 42, уменьшенное в 5 раз. Система рычагов 40 осуществл ет параллельное перемещение каретки. Пантограф жестко крепитс к нижней части камеры.The pantograph 22 (Fig. 4) serves to supply the magnetic elements of the matrix under the probe of the measuring head. It consists of two systems of levers 39, 40 mounted on the plate 41 and interconnected by a carriage 42. The removable template 43 mounted on the plate is a checked matrix 5 times as large. The system of levers 39 transfers the movement of the lock 44 according to the pattern 43 to the carriage 42, reduced 5 times. A system of levers 40 performs parallel movement of the carriage. The pantograph is rigidly attached to the bottom of the chamber.
Катушка 45, состо ща из четырех соединенных между собой попарно обмоток, ликвидирует магнитное поле земли вокруг матрицы. Сектор 10 и привод 11 служат дл поворота измерительной головки относительно п тна матрицы на угол +25°. Сектор имеет щкалу 46, с делени ми дл отсчета угла поворота головки с точностью +30.A coil 45, consisting of four pairwise connected windings, eliminates the earth's magnetic field around the array. Sector 10 and actuator 11 serve to rotate the measuring head relative to the matrix dot by an angle of + 25 °. The sector has a scale 46, with divisions for reading the angle of rotation of the head with an accuracy of +30.
Дл ликвидации внутри камеры магнитного пол земли снимаетс измерительна головка.A measuring head is removed to eliminate the earth’s magnetic field inside the chamber.
на столик помещают компас и через катущку 45 пропускают ток, при этом стрелка компаса должна занимать безразличное положение. Провер емую матрицу устанавливают на столик, подвод т к ней измерительную головку винтом 12 так, чтобы между матрицей и съемным проводником был зазор не более 0,2 мм. Контакты 18, 19 головки должны касатьс нодущки столика. Шкалу сектора устанавливают на «О и, выбира по шаблону любой магнитный элемент матрицы, подвод т его при помощи пантографа под щуп.A compass is placed on the table and a current is passed through the roller 45, and the compass needle must be in an indifferent position. The tested matrix is placed on the table, the measuring head is brought to it by the screw 12 so that there is no more than 0.2 mm gap between the matrix and the detachable conductor. The pins 18, 19 of the head should touch the nodushchiki table. The sector scale is set to " O and, selecting any magnetic matrix element by the template, brings it under the gauge using a pantograph.
Затем включают электрическую часть установки и, поворачива сектор, испытывают магнитный элемент матрицы. Передвига фиксатор пантографа по щаблону, производ т испытание всей матрицы.Then turn on the electrical part of the installation and, turning the sector, experience the magnetic element of the matrix. Moving the pantograph retainer according to the pattern, the whole matrix is tested.
Если необходимо проверить матрицу при температуре +180°С, включают нагревательIf it is necessary to check the matrix at a temperature of + 180 ° C, turn on the heater
0 столика, а при -60°С в щик 47 закладывают сухой лед, дверь камеры плотно закрываетс и через отверстие в камере заливаетс периодически жидкий азот до получени температуры в камере -бОС. Отверстие в камере за5 крываетс пробкой 48 и крыщкой 49.0 table, and at -60 ° C dry ice is put in box 47, the door of the chamber is tightly closed and liquid nitrogen is periodically poured through the opening in the chamber until the temperature in the chamber –BOC is obtained. The opening in the chamber is closed with a stopper 48 and a flap 49.
Предмет изобретени Subject invention
Устройство дл проверки пленочных матриц , содерл ащее измерительную головку, щуп и съемный проводник, отличающеес тем, что, с целью повышени точности проверкиA device for checking film matrices containing a measuring head, a probe and a detachable conductor, characterized in that, in order to increase the accuracy of the test
матриц, возможности их проверки в широком диап;азоне температур и уменьшени помех при съеме сигналов с пленок, оно содержит теплоизол ционную камеру, электрический нагреватель с обмоткой и механизм пантографа с шаблоном, причем .съемный проводник смонтирован на измерительной головке вместе со щупом, а обмотка нагревател выполнена в виде тороида.matrices, the possibility of testing them in a wide range of temperatures and reducing noise when removing signals from films, it contains a heat-insulating chamber, an electric heater with a winding and a pantograph mechanism with a template, the detachable conductor mounted on the measuring head together with a probe, and the winding the heater is made in the form of a toroid.
f(6f (6
99
ВиВАVIVA
I fI f
3535
18 3418 34
3838
99
ilil
ll
«/ //“/ //
4343
ltUltU
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU185576A1 true SU185576A1 (en) |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN107003337B (en) | Semi-automatic probe device | |
US5550482A (en) | Probe device | |
US7898242B2 (en) | Probe card assembly with an interchangeable probe insert | |
US6847219B1 (en) | Probe station with low noise characteristics | |
US6396296B1 (en) | Method and apparatus for electrical characterization of an integrated circuit package using a vertical probe station | |
US3766470A (en) | Apparatus for testing the integrity of a thru-hole plating in circuit board workpieces or the like by measuring the effective thickness thereof | |
CN105415312A (en) | Circuit board clamping table and temperature measurement system | |
US20110241711A1 (en) | Method for verifying a test substrate in a prober under defined thermal conditions | |
JPH022547B2 (en) | ||
CN105486927B (en) | A kind of measuring method of solid insulating material specific insulation | |
CN206671422U (en) | A kind of resistance framework test fixture and resistance framework test system | |
CN103765234A (en) | Temperature measurement of active device under test on strip tester | |
SU185576A1 (en) | DEVICE FOR VERIFICATION OF FILM MATRIXES | |
CN114486529A (en) | Rock sample deformation measuring device and method | |
CN105699619A (en) | Metal thermal electromotive force measuring instrument | |
RU2212775C2 (en) | Installation for electrical inspection of printed circuits with adjustable-position probing needles | |
US4023102A (en) | Test fixture | |
US4360774A (en) | Apparatus for measuring the surface insulation characteristics of coatings on magnetic materials | |
SU785919A1 (en) | Device for testing printed circuit boards | |
WO2020186310A1 (en) | X-ray diffraction sample cell device and method | |
RU2620029C1 (en) | Holder unit for nanocalorimetric sensors for measuring thermophysical and structural parameters of sample | |
SU734833A1 (en) | Integrated circuit testing device | |
RU2646953C1 (en) | Holder of nanocalorimetric sensor for measuring thermophysical parameters of sample and/or structure and properties of its surface | |
CN214795099U (en) | Combined type printed circuit board testing arrangement | |
CN219328834U (en) | Chip test fixture and junction temperature measuring device |