SU1767446A1 - Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости - Google Patents

Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости Download PDF

Info

Publication number
SU1767446A1
SU1767446A1 SU894679937A SU4679937A SU1767446A1 SU 1767446 A1 SU1767446 A1 SU 1767446A1 SU 894679937 A SU894679937 A SU 894679937A SU 4679937 A SU4679937 A SU 4679937A SU 1767446 A1 SU1767446 A1 SU 1767446A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
output
generator
conductivity
amplifier
Prior art date
Application number
SU894679937A
Other languages
English (en)
Inventor
Яков Овсеевич Ройзин
Виктор Николаевич Свиридов
Владислав Николаевич Моржаков
Original Assignee
Одесский государственный университет им.И.И.Мечникова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Одесский государственный университет им.И.И.Мечникова filed Critical Одесский государственный университет им.И.И.Мечникова
Priority to SU894679937A priority Critical patent/SU1767446A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1767446A1 publication Critical patent/SU1767446A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

Использование: в измерительной технике . Сущность изобретени : устройство включает мост 1 полных проводимостей, генераторы 2, 8, усилители 3, 4, 10, детекторы 5, 6, 9, индикаторы 7, 12, удвоитель 11 частоты . Особенностью изобретени   вл етс  введение блоков 8, 9, 10, 11, что позвол ет обеспечить измерение диэлектрических и полуизолирующих слоев на полупроводниковой подложке с повышенной точностью за счет исключени  вли ни  проводимости полупроводниковой подложки. 1 ил.

Description

Изобретение относится к иизмерительной технике и предназначено для измерения спектра диэлектрических потерь или частотных зависимостей емкости и проводимости диэлектрических и полуизолирующих слоев на полупроводниковых подложках.
Известно устройство для измерения частотных зависимостей емкости или проводимости, позволяющее снимать зависимость емкости или . проводимости полупроводниковых двухполюсников от частоты в автоматическом режиме. Устройство содержит генератор, выход которого подсоединен к первичной обмотке трансформатора, в два плеча вторичной обмотки которого подсоединены соответственно образец и эталонная RC-цепочка и которые представляют черырехплечий измерительный мост, а в дополнительное плечо подсоединен конденсатор, при этом выход моста подключен к усилителю, а выход дополнительного плеча - к второму усилителю, выполненному по идентичной схеме с первым усилителем, причем к усилителям подключены соответственно первый и второй синхродетекторы, опорные входы которых соединены с выходом генератора, вход блока обратной связи подключен к выходу второго фазового детектора, а выход блока обратной связи подключен к управляющим входам первого и второго оптронов, выходы которых подсоединены к фазозадающим цепям первого и второго синхродетектора соответственно, первый сигнальный вход двухкоординатного самописца подключен к выходу преобразователя частоты в напряжение, вход которого соединен с выходом генератора, а второй сигнальный вход двухкоординатного самописца соединен с выходом первого фазового детектора.
Недостатком устройства является недостаточно высокая точность измерений, обусловленная влиянием проводимости объема полупроводникового слоя на результаты измерения параметров диэлектрического слоя.
Цель изобретения - повышение точности при измерении диэлектрических или полуизолирующих слоев на полупроводниковой подложке за счет исключения влияния проводимости полупроводниковой подложки.
Цель достигается тем, что в устройство для измерения частотных зависимостей емкости или проводимости, содержащее генератор, мост полных проводимостей, включающий компенсирующую RC-цепь и клеммы для подключения исследуемого образца, и предварительный усилитель, сое диненные последовательно, первый селективный усилитель, первый и второй синхронные детекторы и двухканальный индикатор, введены амплитудный детектор, вход которого соединен с выходом предварительного усилителя, а выход - через введенный второй селективный усилитель с информационным входом первого^ синхроного детектора, выход которого соединен с входом первого канала индикатора, генератор модулирующего сигнала и удвоитель частоты, соединенные последовательно, причем выход генератора модулирующего сигнала соединен с введенным управляющим входом генератора, а выход удвоителя частоты соединен с опорным входом первого синхронного детектора, вход первого селективного усилителя соединен с выходом предварительного усилителя, а выход - через информационный вход второго синхронного детектора с входом второго канала индикатора, причем опорный вход второго синхронного детектора соединен с выходом генератора, а вход компенсирующей RC-цепи - с первой клеммой введенного переменного резистора.
На чертеже показана схема заявляемого устройства. .
Оно содержит мост 1 полных проводимостей. К первичной обмотке трансформатора моста подключен генератор 2, а к выходу - предварительный усилитель 3, выход которого соединен с входом селективного усилителя 4 и входом амплитудного детектора 9, выход которого соединен с входом Селективного усилителя 10. Первый и второй синхронные детекторы 6 и 5 соединены с выходами селективных усилителей 10 и 4 соответственно, причем опорный вход синхродетектора 5 соединен с выходом генератора 2, а опорный вход синхродетектора 6 соединен через удвоитель 11 частоты с выходом генератора 8, который подсоединен к управляющему входу генератора 2. Выходы синхродетекторов 5 и 6 соединены с индикаторами 7 и 12 разбаланса моста соответственно.
Устройство работает следующим образом.
Исследуемый объект включается в одно из плеч моста 1 полных проводимостей (см. образец на чертеже). Через образец протекает переменный ток l(t) = G(<w)U(t), (1) где G(<w) - частотная зависимость проводимости двухполюсника;
n(t) - переменное напряжение, приложенное к входу образец.
Для случая Οι(ω) » βκ(ω) выражение в правой части уравнения (1) имеет вид
2Г2
6(ω) = 0«(ω) + (2) 5
U(t) = Asln( Шо + Δ ω cos ν t)t, (3) где ωο=ωο+Δωεο5 v t частота измерительного сигнала:
Gk(w)- частотная зависимость проводимости приконтактной области образца; Gi проводимость объема образца: G* - емкость полуизолирующего слоя; А - амплитуда измерительного сигнала: Фо - опорная частота, на которую настроен генератор 2; Δωпределы изменения частоты генератора 2; ν - частота генератора 8, определяющая изменения частоты измерительного сигнала в пределах от ω-Δω до ω + Δω. Причем jq v« ah и Δω«ω. Подставляя в уравнение (1) выражения (2) и (3), с учетом выражения для ω) получим l(t) = GK( )υ(ΐ) + [ω£ +2 Δωω&οο8Ρΐ+ 25 + ^(1 + cos2vt])^U(t). (4)
Выражение (4) содержит член, пропорциональный cos2 v t. Селективный усилитель 10, предварительный усилитель 3, амплитудный детектор 9, а также синхродетектор 6, удвоитель 11 частоты и 11ндикатор 12 выделяют из полного сигнала составляющую с удвоенной частотой 2 V, амплитуда которой пропорциональна Δω Ck2/2Gi. Изменяя величину проводимости Gi в мосте 1 до тех пор, пока индикатор 12 не установится на ноль, можно скомпенсировать влияние Gi. После этого можно перейти к балансированию моста по GK на заданной частоте ωοι, подстраивая проводимость GK до тех пор, пока индикатор 7 при помощи селективного усилителя 4 и синхродетектора 5 не установится на ноль. Затем у генератора 2 изменяют частоту ω, а при необходимости и частоты ν и Δωγ генераторов 8 и 2 так, чтобы выполнялись ус45 ловия ν« ωο2 и Δω«ωο2.
На новой частоте получают новое значение Gk( ωο2).
Таким образом, предлагаемое устройство позволяет значительно повысить точность измерения зависимости G(<w) или С( ω) одного из слоев в двухслойной структуре (ранее эти измерения проводились после снятия второго слоя), что позволяет использовать устройство для неразрушающего контроля качества полупроводниковых структур.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Устройство для измерения частотных зависимостей емкости или проводимости, содержащее генератор, мост полных проводимостей, включающий компенсирующую RC-цепь и клеммы для подключения исследуемого образца и предварительный усилитель, соединенные последовательно, первый селективный усилитель, первый и второй синхронные детекторы и двухканальный индикатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности при измерении диэлектрических или полуизолирующих слоев на полупроводниковой подложке за счет исключения влияния проводимости полупроводниковой подложки, в него введены амплитудный детектор, вход которого соединен с выходом предварительного усилителя, а выход - с информационным входом первого синхронного детектора, выход которого через введенный второй селективный усилитель соединен с входом первого канала индикатора, генератор и удвоитель частоты, соединенные последовательно, причем вход генератора модулирующего сигнала соединен с введенным управляющим входом генератора, а выход удвоителя частоты соединен с опорным входом первого синхронного детектора, второй селективный усилитель, вход которого соединен с выходом предварительного усилителя, а выход через информационный вход второго синхронного детектора - с входом второго канала индикатора, причем опорный вход второго синхронного детектора соединен с выходом генератора, а вход компенсирующей RC-цепи соединен с первой клеммой введённого переменного резистора.
    Составитель Я. Ройзин Редактор С. Кулакова Техред М.Моргентал Корректор М. Керецман
    Заказ 3546 Тираж Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
    113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
    Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
SU894679937A 1989-04-18 1989-04-18 Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости SU1767446A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894679937A SU1767446A1 (ru) 1989-04-18 1989-04-18 Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894679937A SU1767446A1 (ru) 1989-04-18 1989-04-18 Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1767446A1 true SU1767446A1 (ru) 1992-10-07

Family

ID=21442192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894679937A SU1767446A1 (ru) 1989-04-18 1989-04-18 Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1767446A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1474554, кл. G 01 R 17/10, 1987. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4082994A (en) Vapor/liquid fraction determination
Myers et al. Dielectric spectroscopy of colloidal suspensions: I. The dielectric spectrometer
SU1767446A1 (ru) Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости
US3448378A (en) Impedance measuring instrument having a voltage divider comprising a pair of amplifiers
JP2617324B2 (ja) 絶縁抵抗測定方法
US3842344A (en) Bridge circuit for measuring dielectric properties of insulation
JPS61155869A (ja) 位相補償を施した絶縁抵抗測定方法
JP2612724B2 (ja) 絶縁抵抗測定方法
SU788035A1 (ru) Цифровой стробоскопический импедансметр
SU1474554A1 (ru) Устройство дл измерени частотных зависимостей емкости или проводимости
JP2764582B2 (ja) 簡易絶縁抵抗測定方法
SU834586A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициентафОРМы КРиВОй пЕРЕМЕННОгО НАпР жЕНи
US2178617A (en) Method of and apparatus for determining characteristics of dielectrics
SU1506388A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости твердых материалов
JP2665912B2 (ja) 接地抵抗の影響を補償した絶縁抵抗測定方法
SU789898A1 (ru) Устройство дл измерени нелинейности линейных двухполюсников
SU1597779A1 (ru) Способ определени диэлектрической проницаемости
JP2593669B2 (ja) 電気絶縁不良箇所探査方法
SU851238A1 (ru) Устройство дл измерени влажности
SU1583853A1 (ru) Устройство дл измерени компонент реактивной части двухполюсника
SU951156A1 (ru) Мост переменного тока
SU1350531A1 (ru) Способ определени параметров индукционного сейсмоприемника
SU1064230A2 (ru) Устройство дл измерени входного импеданса повторителей напр жени
SU924634A1 (ru) Устройство дл измерени концентрации примесей в полупроводниках
SU1000946A1 (ru) Устройство дл измерени с-G-V характеристик МДП-структур