SU1744655A1 - Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1744655A1
SU1744655A1 SU904798527A SU4798527A SU1744655A1 SU 1744655 A1 SU1744655 A1 SU 1744655A1 SU 904798527 A SU904798527 A SU 904798527A SU 4798527 A SU4798527 A SU 4798527A SU 1744655 A1 SU1744655 A1 SU 1744655A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
dielectric constant
wave
measuring
resonator
doublet
Prior art date
Application number
SU904798527A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Александрович Колосов
Original Assignee
Московский Радиотехнический Институт Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Радиотехнический Институт Ан Ссср filed Critical Московский Радиотехнический Институт Ан Ссср
Priority to SU904798527A priority Critical patent/SU1744655A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1744655A1 publication Critical patent/SU1744655A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к технике измерени  составл ющих диэлектрической проницаемости в цилиндрическом резонаторе при возбуждении симметричной волны EOI и несимметричной Ни, согласно изобретению измер ют резонансные 4астоты симметричного и дуплетного колебаний. Снимают зависимость коэффициента прохождени  от угла поворота образца по отношению к вектору напр женности волны EOL По результатам измерени  резонансных частот рассчитывают значени  тензора диэлектрической проницаемости, а главные оси поперечной анизотропии определ ют по положению плоскости пол ризации волны Ни при максимальных значени х амплитуд отдельных составл ющих дуплетного колебани . Резонатор, используемый дл  измерений , разделен на две гальванически св занные части с возможностью вращени  друг относительно друга. 2 с.п. ф-лы, 2 ил

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  продольной и поперечной анизотропии диэлектрических материалов в сантиметровом и миллиметровом диапазонах длин волн.
Известен резонансный способ измерени  диэлектрических материалов с помощью малых тел, помещенных в резонатор, заключающийс  в измерении резонансной частоты колебани  Еою.
Однако известным способом невозможно измерить поперечную анизотропию материала. При этом известное устройство характеризуетс  невысокой точностью измерени  и невозможностью измерени  ве- личины и положени  главных осей анизотропии материала.
Наиболее близким к предлагаемому  вл етс  способ определени  диэлектрической проницаемости материалов, в том числе и анизотропных, заключающийс  в том, что диэлектрический образец облучают электромагнитной волной с линейной пол ризацией в свободном пространстве, этим измер ют коэффициент прохождени  волны , снимают зависимость коэффициента прохождени  от угла поворота образца по отношению к вектору напр женности возбуждаемой электромагнитной волны и рассчитывают значени  поперечной анизотропии диэлектрической проницаемости .
Недостатками способа  вл етс  высока  трудоемкость, мала  точность и чувстви- тельность, а также невозможность
g
О
ел ел
измерени  продольной составл ющей анизотропии диэлектрической проницаемости,
Цель изобретени  - повышение чувствительности и точности измерени  попереч- ной анизотропии и обеспечение возможности измерени  продольной составл ющей тензора диэлектрической проницаемости .
На фиг.1 и 2 приведено устройство, реализующее способ измерени  диэлектриче- ской проницаемости.две проекции.
Способ реализуетс  следующим образом .
Пластину из диэлектрического материала помещают в резонатор ортогонально его продольной оси. В резонаторе возбуждают симметричную волну Еоч и несимметричную волну Ни и измер ют резонансные частоты симметричного колебани  fi и дуплетного колебани  f2 и fa. Измер ют зависимость амплитуд дуплетного колебани  при изменении угла поворота пластины относительно плоскости пол ризации волны Ни, Фиксируют значени  углов, при которых достигаютс  максимальные амплитуды от- дельных составл ющих дуплетного колебани  и рассчитывают величины диэлектрическихпроницаемостей Јx,Јy,Јz по результатам измерени  резонансных частот колебаний из следующей системы уравнений
th l thtro t d flth -tg di-.o, М c(th (fiM tffftfdjxip thfazjts /г™) th (r,iZ,) 0,
/ Cex+ey)yoi|gSBn,im.
где zi, гз - рассто ни  от пластины до торцов резонатора, см;
d -толщина пластины, см:
постоrfl 4 ()ж
2 Ј2  нна  распространени  волны Eg i;
С- fa t№Ј№ № W bV}- «$л- посто нные распространени  волны Ни дл  первой и второй пол ризаций;
Уoi -Kf ;yn -Kf - посто нные затухани  волн EOI и Ни в вол- поводе без диэлектрика;
2JTf i,
к, -рволновые числа свободного пространства;
#01 , X11 поперечные волновые числа волн Ео1 и Ни;
fi - измеренные частоты, Гц; С - скорость света, см/с; R - радиус волновода, см.
5 10
15 20 25 30
35
45
50
55
Главные оси поперечной анизотропии определ ют по положению плоскости пол ризации волны Ни при максимальных значени х амплитуд отдельных составл ющих дуплетного колебани .
Резонатор разделен на две гальванически св занные с возможностью вращени  относительно друг друга части 1 и 5, в одной из которых (1) расположена измер ема  пластина 2, в другой - петли 6 и 7 св зи, сдвинутые по азимуту относительно друг друга на 180°.
При измерении колебани  Еою плоскости возбуждающей 6 и измерительной 7 петель св зи выставл ют параллельно оси резонатора. Сигнал с генератора качающейс  частоты подают на возбуждающую петлю , а с измерительной петли через детекторную секцию сигнал подают на экран регистратора. С помощью резонансного волномера измер ют частоту резонанса fi. При измерении колебани  Нщ петли св зи поворачивают на угол 90°, так чтобы они лежали в плоскости, ортогональной оси резонатора . Если измер ема  пластина имеет поперечную анизотропию Јх Ј у, то колебани  с различной пол ризацией Hz со8 р-перва  пол ризаци  и Hz втора  пол ризаци , имеют различные резонансные частоты, Колебание Нщ в этом случае имеет дуплетный характер, и на экране регистратора при произвольной ориентации главных поперечных осей тензора диэлектрической проницаемости относительно оси, проход щей через петли св зи, наблюдаетс  амплитудно-частотна  характеристика с произвольным соотношением амплитуд дуплетного резонанса. При повороте секции 1 относительно секции 5, соотношение амплитуд дуплетного колебани  мен етс , и когда главна  ось с наибольшей величиной диэлектрической проницаемости совпадает с осью, проход щей через петли св зи, то характеристика на экране регистратора имеет наибольшую амплитуду на частоте fa. Измер ют частоту длинноволнового резонанса f2 и на указателе 4 угла поворота фиксируют положение оси х. Затем, поворачива  секцию 1, наход т ее положение, при котором максимальна амплитуда коротковолнового резонанса на частоте fa. Измер ют частоту f и фиксируют положение оси у. По измеренным частотам колебаний Нщ f2, fs и известным размерам резонатора и пластины, реша  систему уравнений (2), наход т неизвестные величины ехи Ју затем, реша  уравнение (1), по известной частоте колебани  Еою и вычисленным значени м Јхи Ју находим
Определение компонент тензора диэлектрической проницаемости и положение главных осей в поперечном направлении можно проводить в устройстве, представл ющем собой два отрезка волновода, гальва- нически св занные между собой с возможностью вращени  относительно друг друга. В одном отрезке расположена измер ема  пластина, а в другом возбуждающа  и измерительна  петли св зи. Дл  того, чтобы открытые концы волновода не вли ли на колебани  в диэлектрическом резонаторе , длина каждого из отрезков волновода должна быть больше или равна двум его диаметрам. Значени  компонент тензора диэлектрической проницаемости по из- меренным резонансным частотам колебани  волны EOI и дуплетного колебани  волны Нц определ ютс  из системы уравнений:z() г„, г«
л .1
t0(ro,cO
№-Ј№ -
( ги I - «и
котора  следует из (1) и (2), если рассто ние до стенок резонатора zi и гз устремить к бесконечности.
Определение компонент тензора диэлектрической проницаемости можно также проводить, возбужда  волны ЕОР и HIP, в этом случае при вычислении значений Ј х , Ј у , е z в уравнени х (1) и (2) необходимо заменить поперечные волновые числа %01 и   11 на %0р и %1Р соответственно.

Claims (2)

  1. Формула изобретени  1. Способ определени  диэлектрической проницаемости материалов, заключающийс  в том, что облучают диэлектрический образец электромагнитной волной, измер ют коэффициент прохождени  волны, определ ют зависимость коэффициента прохождени  от угла поворота образца по отношению к вектору напр женности возбуждаемой электромагнитной
    волны и рассчитывают значени  поперечной анизотропии диэлектрической проницаемости , отличающийс  тем, что, с целью повышени  чувствительности и точности измерени  поперечной анизотропии и обеспечении возможности одновременного определени  продольной составл ющей тензора диэлектрической проницаемости, образец в виде пластины помещают в резонатор ортогонально его продольной оси, где кроме симметричной волны EOI дополнительно возбуждают несимметричную волну Нц и измер ют резонансные частоты симметричного колебани  fi и дуплетного колебани  Т2, fa, а при вращении образца фиксируют значени  углов, при которых достигаютс  максимальные амплитуды отдельных составл ющих дуплетного колебани  рассчитывают величины диэлектрических проницаемостей в продольном z и поперечном х, у направлени х s х , е у , Ј z по результатам измерени  резонансных частот, а главные оси х, у поперечной анизотропии определ ют по
    положению плоскости пол ризации волны Ни при максимальных значени х амплитуд отдельных составл ющих дуплетного колебани .
  2. 2. Устройство дл  определени  диэлектрической проницаемости материалов, содержащее цилиндрический резонатор с устройством закреплени  пластины, устройство возбуждени  колебаний, резонансный волномер и регистратор, отличающ е е с   тем, что , с целью повышени  чувствительности и точности измерени  поперечной анизотропии и обеспечении возможности одновременного определени  продольной составл ющей тензора диэлектрической проницаемости, резонатор разделен на две гальванически св занные с возможностью вращени  одна относительно другой части, в одной из которых расположена измер ема  пластина, в другой петли св зи, сдвинутые по азимуту одна относительно другой на 180°С.
    и
    .1
    s
    Редактор Л.Пчолинска 
    7 Фиг. 2
    Составитель Ю.Коршунов
    Техред М.МоргенталКорректор Е.Островска 
    5
SU904798527A 1990-03-02 1990-03-02 Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени SU1744655A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904798527A SU1744655A1 (ru) 1990-03-02 1990-03-02 Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904798527A SU1744655A1 (ru) 1990-03-02 1990-03-02 Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1744655A1 true SU1744655A1 (ru) 1992-06-30

Family

ID=21499972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904798527A SU1744655A1 (ru) 1990-03-02 1990-03-02 Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1744655A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Афсар М.Н., Берг Дж. Р., Кларк Р.Н. Измерение характеристик материалов/Под ред. Чантри Дж. У. - Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. 1986, Ms 1, с. 206-211. Авторское свидетельство СССР Ns 1255904, кл. G 01 N 22/00, 1985. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4218924A (en) Ultrasonic ellipsometer
Ewing et al. Propagation of elastic waves in ice. Part I
SU1744655A1 (ru) Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени
RU94003307A (ru) Способ и устройство измерения свойств анизотропного диэлектрического материала
SU1758530A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов
Nakajima et al. An improved apparatus for measuring complex viscosity of dilute polymer solutions at frequencies from 2 to 500 kHz
RU2029265C1 (ru) Способ определения физических параметров состояния среды
Schrag et al. Mechanical techniques for studying viscoelastic relaxation processes in polymer solutions
RU2078335C1 (ru) Способ измерения влажности материалов и устройство для его осуществления
RU2228519C2 (ru) Способ определения концентрации ферромагнитных частиц и продолговатых доменов в жидкости в диапазоне свч
SU1476557A1 (ru) Способ определени длительности светового импульса
SU1432398A1 (ru) Способ определени средней силы взаимодействи частиц в магнитожестком порошке и устройство дл его осуществлени
SU1737366A1 (ru) Способ контрол анизотропии диэлектрической проницаемости диэлектрика
SU879452A1 (ru) Способ неразрушающего контрол объектов
RU2326369C2 (ru) Способ измерения концентрации
US3549987A (en) Laser epr system
RU2089859C1 (ru) Способ определения физических параметров газожидкостных систем и устройство для его осуществления
SU1272205A1 (ru) Способ определени структуры,величины и неоднородности внутреннего магнитного пол магнитоупор доченных кристаллов и устройство дл его осуществлени
SU245186A1 (ru) Способ измерения фазовой скорости и сопротивления связи периодических волноводов
SU1569747A1 (ru) Способ определени комплексной диэлектрической проницаемости жидкости
SU1716321A1 (ru) Способ Щурова измерени скорости механических колебаний объекта
RU2142131C1 (ru) Акустический газоанализатор
SU1615621A1 (ru) Способ измерени скорости неоднородного потока вещества и устройство дл его осуществлени
RU1778543C (ru) Устройство дл измерени уровн вещества
SU1688157A1 (ru) Способ измерени физических свойств вещества в трубопроводе и устройство дл его осуществлени