SU1744655A1 - Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1744655A1 SU1744655A1 SU904798527A SU4798527A SU1744655A1 SU 1744655 A1 SU1744655 A1 SU 1744655A1 SU 904798527 A SU904798527 A SU 904798527A SU 4798527 A SU4798527 A SU 4798527A SU 1744655 A1 SU1744655 A1 SU 1744655A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- dielectric constant
- wave
- measuring
- resonator
- doublet
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к технике измерени составл ющих диэлектрической проницаемости в цилиндрическом резонаторе при возбуждении симметричной волны EOI и несимметричной Ни, согласно изобретению измер ют резонансные 4астоты симметричного и дуплетного колебаний. Снимают зависимость коэффициента прохождени от угла поворота образца по отношению к вектору напр женности волны EOL По результатам измерени резонансных частот рассчитывают значени тензора диэлектрической проницаемости, а главные оси поперечной анизотропии определ ют по положению плоскости пол ризации волны Ни при максимальных значени х амплитуд отдельных составл ющих дуплетного колебани . Резонатор, используемый дл измерений , разделен на две гальванически св занные части с возможностью вращени друг относительно друга. 2 с.п. ф-лы, 2 ил
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени продольной и поперечной анизотропии диэлектрических материалов в сантиметровом и миллиметровом диапазонах длин волн.
Известен резонансный способ измерени диэлектрических материалов с помощью малых тел, помещенных в резонатор, заключающийс в измерении резонансной частоты колебани Еою.
Однако известным способом невозможно измерить поперечную анизотропию материала. При этом известное устройство характеризуетс невысокой точностью измерени и невозможностью измерени ве- личины и положени главных осей анизотропии материала.
Наиболее близким к предлагаемому вл етс способ определени диэлектрической проницаемости материалов, в том числе и анизотропных, заключающийс в том, что диэлектрический образец облучают электромагнитной волной с линейной пол ризацией в свободном пространстве, этим измер ют коэффициент прохождени волны , снимают зависимость коэффициента прохождени от угла поворота образца по отношению к вектору напр женности возбуждаемой электромагнитной волны и рассчитывают значени поперечной анизотропии диэлектрической проницаемости .
Недостатками способа вл етс высока трудоемкость, мала точность и чувстви- тельность, а также невозможность
g
О
ел ел
измерени продольной составл ющей анизотропии диэлектрической проницаемости,
Цель изобретени - повышение чувствительности и точности измерени попереч- ной анизотропии и обеспечение возможности измерени продольной составл ющей тензора диэлектрической проницаемости .
На фиг.1 и 2 приведено устройство, реализующее способ измерени диэлектриче- ской проницаемости.две проекции.
Способ реализуетс следующим образом .
Пластину из диэлектрического материала помещают в резонатор ортогонально его продольной оси. В резонаторе возбуждают симметричную волну Еоч и несимметричную волну Ни и измер ют резонансные частоты симметричного колебани fi и дуплетного колебани f2 и fa. Измер ют зависимость амплитуд дуплетного колебани при изменении угла поворота пластины относительно плоскости пол ризации волны Ни, Фиксируют значени углов, при которых достигаютс максимальные амплитуды от- дельных составл ющих дуплетного колебани и рассчитывают величины диэлектрическихпроницаемостей Јx,Јy,Јz по результатам измерени резонансных частот колебаний из следующей системы уравнений
th l thtro t d flth -tg di-.o, М c(th (fiM tffftfdjxip thfazjts /г™) th (r,iZ,) 0,
/ Cex+ey)yoi|gSBn,im.
где zi, гз - рассто ни от пластины до торцов резонатора, см;
d -толщина пластины, см:
постоrfl 4 ()ж
2 Ј2 нна распространени волны Eg i;
С- fa t№Ј№ № W bV}- «$л- посто нные распространени волны Ни дл первой и второй пол ризаций;
Уoi -Kf ;yn -Kf - посто нные затухани волн EOI и Ни в вол- поводе без диэлектрика;
2JTf i,
к, -рволновые числа свободного пространства;
#01 , X11 поперечные волновые числа волн Ео1 и Ни;
fi - измеренные частоты, Гц; С - скорость света, см/с; R - радиус волновода, см.
5 10
15 20 25 30
35
45
50
55
Главные оси поперечной анизотропии определ ют по положению плоскости пол ризации волны Ни при максимальных значени х амплитуд отдельных составл ющих дуплетного колебани .
Резонатор разделен на две гальванически св занные с возможностью вращени относительно друг друга части 1 и 5, в одной из которых (1) расположена измер ема пластина 2, в другой - петли 6 и 7 св зи, сдвинутые по азимуту относительно друг друга на 180°.
При измерении колебани Еою плоскости возбуждающей 6 и измерительной 7 петель св зи выставл ют параллельно оси резонатора. Сигнал с генератора качающейс частоты подают на возбуждающую петлю , а с измерительной петли через детекторную секцию сигнал подают на экран регистратора. С помощью резонансного волномера измер ют частоту резонанса fi. При измерении колебани Нщ петли св зи поворачивают на угол 90°, так чтобы они лежали в плоскости, ортогональной оси резонатора . Если измер ема пластина имеет поперечную анизотропию Јх Ј у, то колебани с различной пол ризацией Hz со8 р-перва пол ризаци и Hz втора пол ризаци , имеют различные резонансные частоты, Колебание Нщ в этом случае имеет дуплетный характер, и на экране регистратора при произвольной ориентации главных поперечных осей тензора диэлектрической проницаемости относительно оси, проход щей через петли св зи, наблюдаетс амплитудно-частотна характеристика с произвольным соотношением амплитуд дуплетного резонанса. При повороте секции 1 относительно секции 5, соотношение амплитуд дуплетного колебани мен етс , и когда главна ось с наибольшей величиной диэлектрической проницаемости совпадает с осью, проход щей через петли св зи, то характеристика на экране регистратора имеет наибольшую амплитуду на частоте fa. Измер ют частоту длинноволнового резонанса f2 и на указателе 4 угла поворота фиксируют положение оси х. Затем, поворачива секцию 1, наход т ее положение, при котором максимальна амплитуда коротковолнового резонанса на частоте fa. Измер ют частоту f и фиксируют положение оси у. По измеренным частотам колебаний Нщ f2, fs и известным размерам резонатора и пластины, реша систему уравнений (2), наход т неизвестные величины ехи Ју затем, реша уравнение (1), по известной частоте колебани Еою и вычисленным значени м Јхи Ју находим
Определение компонент тензора диэлектрической проницаемости и положение главных осей в поперечном направлении можно проводить в устройстве, представл ющем собой два отрезка волновода, гальва- нически св занные между собой с возможностью вращени относительно друг друга. В одном отрезке расположена измер ема пластина, а в другом возбуждающа и измерительна петли св зи. Дл того, чтобы открытые концы волновода не вли ли на колебани в диэлектрическом резонаторе , длина каждого из отрезков волновода должна быть больше или равна двум его диаметрам. Значени компонент тензора диэлектрической проницаемости по из- меренным резонансным частотам колебани волны EOI и дуплетного колебани волны Нц определ ютс из системы уравнений:z() г„, г«
л .1
t0(ro,cO
№-Ј№ -
( ги I - «и
котора следует из (1) и (2), если рассто ние до стенок резонатора zi и гз устремить к бесконечности.
Определение компонент тензора диэлектрической проницаемости можно также проводить, возбужда волны ЕОР и HIP, в этом случае при вычислении значений Ј х , Ј у , е z в уравнени х (1) и (2) необходимо заменить поперечные волновые числа %01 и 11 на %0р и %1Р соответственно.
Claims (2)
- Формула изобретени 1. Способ определени диэлектрической проницаемости материалов, заключающийс в том, что облучают диэлектрический образец электромагнитной волной, измер ют коэффициент прохождени волны, определ ют зависимость коэффициента прохождени от угла поворота образца по отношению к вектору напр женности возбуждаемой электромагнитнойволны и рассчитывают значени поперечной анизотропии диэлектрической проницаемости , отличающийс тем, что, с целью повышени чувствительности и точности измерени поперечной анизотропии и обеспечении возможности одновременного определени продольной составл ющей тензора диэлектрической проницаемости, образец в виде пластины помещают в резонатор ортогонально его продольной оси, где кроме симметричной волны EOI дополнительно возбуждают несимметричную волну Нц и измер ют резонансные частоты симметричного колебани fi и дуплетного колебани Т2, fa, а при вращении образца фиксируют значени углов, при которых достигаютс максимальные амплитуды отдельных составл ющих дуплетного колебани рассчитывают величины диэлектрических проницаемостей в продольном z и поперечном х, у направлени х s х , е у , Ј z по результатам измерени резонансных частот, а главные оси х, у поперечной анизотропии определ ют поположению плоскости пол ризации волны Ни при максимальных значени х амплитуд отдельных составл ющих дуплетного колебани .
- 2. Устройство дл определени диэлектрической проницаемости материалов, содержащее цилиндрический резонатор с устройством закреплени пластины, устройство возбуждени колебаний, резонансный волномер и регистратор, отличающ е е с тем, что , с целью повышени чувствительности и точности измерени поперечной анизотропии и обеспечении возможности одновременного определени продольной составл ющей тензора диэлектрической проницаемости, резонатор разделен на две гальванически св занные с возможностью вращени одна относительно другой части, в одной из которых расположена измер ема пластина, в другой петли св зи, сдвинутые по азимуту одна относительно другой на 180°С.и.1sРедактор Л.Пчолинска7 Фиг. 2Составитель Ю.КоршуновТехред М.МоргенталКорректор Е.Островска5
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904798527A SU1744655A1 (ru) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904798527A SU1744655A1 (ru) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1744655A1 true SU1744655A1 (ru) | 1992-06-30 |
Family
ID=21499972
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904798527A SU1744655A1 (ru) | 1990-03-02 | 1990-03-02 | Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1744655A1 (ru) |
-
1990
- 1990-03-02 SU SU904798527A patent/SU1744655A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Афсар М.Н., Берг Дж. Р., Кларк Р.Н. Измерение характеристик материалов/Под ред. Чантри Дж. У. - Труды института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике. 1986, Ms 1, с. 206-211. Авторское свидетельство СССР Ns 1255904, кл. G 01 N 22/00, 1985. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4218924A (en) | Ultrasonic ellipsometer | |
Ewing et al. | Propagation of elastic waves in ice. Part I | |
SU1744655A1 (ru) | Способ определени диэлектрической проницаемости материалов и устройство дл его осуществлени | |
RU94003307A (ru) | Способ и устройство измерения свойств анизотропного диэлектрического материала | |
SU1758530A1 (ru) | Способ измерени диэлектрической проницаемости материалов | |
Nakajima et al. | An improved apparatus for measuring complex viscosity of dilute polymer solutions at frequencies from 2 to 500 kHz | |
RU2029265C1 (ru) | Способ определения физических параметров состояния среды | |
Schrag et al. | Mechanical techniques for studying viscoelastic relaxation processes in polymer solutions | |
RU2078335C1 (ru) | Способ измерения влажности материалов и устройство для его осуществления | |
RU2228519C2 (ru) | Способ определения концентрации ферромагнитных частиц и продолговатых доменов в жидкости в диапазоне свч | |
SU1476557A1 (ru) | Способ определени длительности светового импульса | |
SU1432398A1 (ru) | Способ определени средней силы взаимодействи частиц в магнитожестком порошке и устройство дл его осуществлени | |
SU1737366A1 (ru) | Способ контрол анизотропии диэлектрической проницаемости диэлектрика | |
SU879452A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол объектов | |
RU2326369C2 (ru) | Способ измерения концентрации | |
US3549987A (en) | Laser epr system | |
RU2089859C1 (ru) | Способ определения физических параметров газожидкостных систем и устройство для его осуществления | |
SU1272205A1 (ru) | Способ определени структуры,величины и неоднородности внутреннего магнитного пол магнитоупор доченных кристаллов и устройство дл его осуществлени | |
SU245186A1 (ru) | Способ измерения фазовой скорости и сопротивления связи периодических волноводов | |
SU1569747A1 (ru) | Способ определени комплексной диэлектрической проницаемости жидкости | |
SU1716321A1 (ru) | Способ Щурова измерени скорости механических колебаний объекта | |
RU2142131C1 (ru) | Акустический газоанализатор | |
SU1615621A1 (ru) | Способ измерени скорости неоднородного потока вещества и устройство дл его осуществлени | |
RU1778543C (ru) | Устройство дл измерени уровн вещества | |
SU1688157A1 (ru) | Способ измерени физических свойств вещества в трубопроводе и устройство дл его осуществлени |