SU1744459A1 - Device for detection of surface defects - Google Patents

Device for detection of surface defects Download PDF

Info

Publication number
SU1744459A1
SU1744459A1 SU904814788A SU4814788A SU1744459A1 SU 1744459 A1 SU1744459 A1 SU 1744459A1 SU 904814788 A SU904814788 A SU 904814788A SU 4814788 A SU4814788 A SU 4814788A SU 1744459 A1 SU1744459 A1 SU 1744459A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
defects
photodetector
end surfaces
transparent tubes
optical system
Prior art date
Application number
SU904814788A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Николай Васильевич Галай
Наталья Васильевна Ермилова
Григорий Матвеевич Лысенко
Original Assignee
Полтавский инженерно-строительный институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Полтавский инженерно-строительный институт filed Critical Полтавский инженерно-строительный институт
Priority to SU904814788A priority Critical patent/SU1744459A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1744459A1 publication Critical patent/SU1744459A1/en

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  бесконтактного оптического контрол  дефектов торцовых поверхностей прозрачных трубок при производстве газоразр дных ламп. Цель изобретени  - расширение области применени  за счет обеспечени  возможности контрол  дефектов торцовых поверхностей прозрачных трубок. В устройстве фотоприемник выполнен в виде тела вращени  второго пор дка с четырьм  плоскими щелеобразными фотоэлементами дл  приема отраженного излучени . Благодар  этому по вл етс  возможность проследить всю торцовую поверхность контролируемой трубки.2 ил.The invention relates to a measuring technique and can be used for non-contact optical inspection of defects on the end surfaces of transparent tubes in the manufacture of gas discharge lamps. The purpose of the invention is to expand the scope of application by allowing the inspection of defects on the end surfaces of transparent tubes. In the device, the photodetector is made in the form of a second-order rotation body with four flat slit-like photocells for receiving the reflected radiation. Due to this, it is possible to trace the entire end surface of the test tube. 2 Il.

Description

Фиг- 2Fig- 2

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Устройство для контроля дефектов поверхностей, содержащее источник излуче ния и оптическую систему, предназначенные для установки по ходу падающего излучения под острым углом к контролируемой поверхности, оптическую систему и фотоприемник, предназначенные для последовательной установки на одной оптической 5 оси по ходу отраженного от контролируемой поверхности излучения, и блок обработки сигнала, отличающееся тем, что. с целью расширения области применения за счет обеспечения возможности контроля дефектов торцовых поверхностей прозрачных трубок, фотоприемник выполнен в виде диска, установленного с возможностью вращения относительно оптической оси, и четырех плоских щелеобразных фотоэлементов, расположенных в плоскости диска под углом 90° относительно друг друга.A device for monitoring surface defects containing a radiation source and an optical system designed to be installed along the incident radiation at an acute angle to the surface to be monitored, an optical system and a photodetector designed for sequential installation on the same 5th axis along the radiation reflected from the controlled surface, and a signal processing unit, characterized in that. in order to expand the scope by providing the ability to control defects in the end surfaces of transparent tubes, the photodetector is made in the form of a disk mounted for rotation about the optical axis and four flat slit-like photocells located in the plane of the disk at an angle of 90 ° relative to each other.
SU904814788A 1990-03-05 1990-03-05 Device for detection of surface defects SU1744459A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904814788A SU1744459A1 (en) 1990-03-05 1990-03-05 Device for detection of surface defects

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904814788A SU1744459A1 (en) 1990-03-05 1990-03-05 Device for detection of surface defects

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1744459A1 true SU1744459A1 (en) 1992-06-30

Family

ID=21508603

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904814788A SU1744459A1 (en) 1990-03-05 1990-03-05 Device for detection of surface defects

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1744459A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
/.Патент US № 3591291,кл. 356-120, 1971. .Авторское свидетельство СССР № 1518671, кл. G 01 В 11/30, 1988. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4360275A (en) Device for measurement of optical scattering
US3814946A (en) Method of detecting defects in transparent and semitransparent bodies
US3628872A (en) Spectrophotometric test apparatus and method employing retroflective means
FI78355B (en) METHOD FOER MAETNING AV GLANS OCH APPARATUR FOER TILLAEMPNING AV METODEN.
US4826316A (en) Radiation detection apparatus
KR890010554A (en) Photoelectric particle detector
KR860009303A (en) Airborne fine particle measuring method and device
US4099051A (en) Inspection apparatus employing a circular scan
SU1744459A1 (en) Device for detection of surface defects
RU2150690C1 (en) Optical flaw detector for inspection of internal surfaces of liquid pipe-lines
KR950001280A (en) Microtube inner surface measuring method and device
US3843226A (en) Apparatus for periodical parallel displacement of at least one parallel beam
JPS56120905A (en) Measuring device for true roundness
JPS5527913A (en) Bottle inspection apparatus
JPS54124780A (en) Surface inspection apparatus
JPS57168145A (en) Defect inspecting device
SU1679209A1 (en) Method and device for calibrating radiometer against the sun
SU1073645A1 (en) Device for checking body of revolution surface flaws
JPH0454174B2 (en)
JPS63314449A (en) Defect detection for mouth of bottle
SU1165883A1 (en) Device for checking surface roughness
SU1453183A1 (en) Luxometer
SU1155848A1 (en) Device for measuring roughness of polished surface of object
SU868348A1 (en) Device for checking surface roughness
SU823273A1 (en) Optical electronic gage