SU1741088A1 - Измерительна чейка дл измерени параметров диэлектриков на СВЧ - Google Patents

Измерительна чейка дл измерени параметров диэлектриков на СВЧ Download PDF

Info

Publication number
SU1741088A1
SU1741088A1 SU874338757A SU4338757A SU1741088A1 SU 1741088 A1 SU1741088 A1 SU 1741088A1 SU 874338757 A SU874338757 A SU 874338757A SU 4338757 A SU4338757 A SU 4338757A SU 1741088 A1 SU1741088 A1 SU 1741088A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
resonator
wave
hoi
measuring cell
measurement frequency
Prior art date
Application number
SU874338757A
Other languages
English (en)
Inventor
Алексей Васильевич Литовченко
Original Assignee
Предприятие П/Я А-7840
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-7840 filed Critical Предприятие П/Я А-7840
Priority to SU874338757A priority Critical patent/SU1741088A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1741088A1 publication Critical patent/SU1741088A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к технике измерений на СВЧ Цель изобретени  увеличение предела измерени  тангенса угла диэлектрических потерь Измерительна   чейка содержит резонатор с волной Hoi, состо щий из цилиндрических частей 1 и 4, между которыми включены секции 7 8 9 и 10 Резонатор запитывают СВЧ-сигналом частоты измерени  от внешнего тракта 3 через эл-ты св зи 2 Вначале запитанный резонатор настраивают без исследуемого образца 6 на частоту измерени  и известными методами определ ют начальные положение настроечного поршн  5, добротность и коэф передачи резонатора. Затем на пор шень 5 помещают образец 6 и снова настраивают резонатор на частоту измерени  и определ ют те величины. После установки секций 7 8, 9 и 10 вновь определ ют начальные положение поршн  5, добротность и коэф передачи резонатора без образца 6 а затем те же самые величины но уже с образцом 6. Введение секций 7,8,9 и 10 позвол ет в 5-10 раз повысить верхний предел измер емого тангенса диэлектрических потерь 1 ил сл с

Description

Изобретение относитс  к технике измерений на СВЧ и может быть использовано дл  измерени  диэлектрических свойств материалов на СВЧ при нормальных услови х в диапазоне температур
Цель изобретени  - увеличение предела измерени  тангенса угла диэлектрических потерь
На чертеже приведена схема измерительной  чейки дл  измерени  параметров диэлектриков на СВЧ, представл ющей собой резонатор с волной Нг  с четырьм  дополнительными секци ми резонатора (i 4)
Измерительна   чейка состоит из первой цилиндрической части 1 снабженной элементами 2 св зи с внешним трактом 3 СВЧ, второй цилиндрической части 4 с настроечным поршнем 5, на котором во врем  измерений располагаетс  исследуемый образец 6 Дополнительные секции резонатора 7-10 включены между первой 1 и второй 4 цилиндрическими част ми.
Резонатор с волной Hoi, состо щий из первой 1 и второй 4 цилиндрической частей запитывают от внешнего тракта 3 через элементы 2 св зи СВЧ-сигналом частоты измерени .
Измерительна   чейка работает следующим образом.
Запитанный резонатор с волной Ней настраивают без исследуемого образца 6 на частоту измерени  и известными методами определ ют начальные положение поршн  5, добротность и коэффициент передачи резонатора с волной Hoi. Затем в измерительную  чейку на поршень 5 помещают исследуемый образец б и снова настраивают резонатор с волной Hoi на частоту измерени , Величину Е вычисл ют по изменению резонансной длины резонатора с волной Hoi, a величину tgd - по изменению (уменьшению ) коэффициента передачи. Если величина tgd оказываетс  настолько большой, что точна  настройка резонатора с волной HOI на частоту измерени  оказываетс  невозможной , то вычисл ют t: и tgd приблизительно , затем определ ют общую длину дополнительных секций резонатора по формуле
К INT 50tgdMaKc -m
(1)

Claims (1)

15Формула изобретени 
где m - длина исходной измерительной  чейки в полуволнах,
выбирают количество i дополнительных секций резонатора, задава  длину каждой дополнительной секции резонатора (обычно полуволновую).
Удельное сопротивление каждой дополните , -«-ной секции резонатора определ ют по формуле
/oi -(0,6...1.4)
m + 2 nj
j i ni
-
Измерительна   чейка дл  измерени  параметров диэлектриков на СВЧ, выполненна  в виде резонатора с волной Hoi,
20 состо щего из первой и второй цилиндрических частей, причем перва  цилиндрическа  часть содержит элементы св зи с внешними трактами СВЧ, а втора  цилиндрическа  часть - настроечный поршень, о г л и ч а ю25 щ а   с   тем, что. с целью увеличени  предела измерени  тангенса угла диэлектрических потерь, введены i дополнительных секций резонатора, включенные между первой и второй цилиндрическими fp$- 30 ми, обща  длина которых равна К///2. где К INT 50tgd макс гп .где m - обща  длина первой и второй цилиндрических частей в полуволнах, а удельное сопротивление на СВЧ материала внутренних стенок i-й до35 полчительной секции резонатора определ ют по формуле
(2)
натора с. волной Н0, без исследуемого образца б, а затем те же самые величины уже с исследуемым образцом 6.
Если резонатор с волной Н предназначен дл  измерени  диэлектрических свойств материалов в интервале температур , го при определении числа дополнительных секций резонатора учитывают измерение tgrj и Qd с изменением температуры .
Измерительна   чейка позвол ет в 5-10 раз повысить верхний предел измер емого тангенса диэлектрических потерь.
Формула изобретени 
где /to - удельное сопротивление на СВЧ материала внутренних стенок первой и второй цилиндрической частей. мкОм см.
vf .;I il fULL(JklrJk iEU,
о 0560.5 j4r/(m + ,). + (va.p№ +х + Ъ(т + tyirt.b/b,,
где nj - длина j-й дополнительной секции резонатора в полуволнах:
f - частота измерени , МГц; Яв - длина волны в резонаторе с волной Hoi на частоте измерени , мм;
Акр - критическа  длина волны в резонаторе с волной HOI, мм;
т - радиус внутренней полости резонатора с волной HOI. мм:
X - коэффициент св зи резонатора с волной Нои
j 1.21-1, при 1 1: р ps
После установки дополнительных секций резонатора, например 7-10, вновь определ ют начальные положени  поршн  5, добротность и коэффициент передачи резо
/, -(0.6...1.4)
m + X nj л.
а m п,
-2$
) - ч
где р& - удельное сопротивление на СВЧ материала внутренних стенок первой и второй цилиндрических частей мкОм см.
±..... H. (fej
О 05603
Гтчг .
V(
П) - длина j-й дополнительной секции резонатора в полуволнах:
f - частота измерени  МГц:
Qd - добротность резонатора с волной Hoi без дополнительных секций
Ав длина волны в резонаторе с волной Н0 на частоте измерени , мм,
Акр - критическа  длина волны в резонаторе с волной Hoi, мм
г - радиус внутренней полости резонатора с волной HOI, мм;
X - коэффициент св зи резонатора с волной Но,
j 1, 2,.. ,1-1 при I 1:/0j -p$
SU874338757A 1987-09-28 1987-09-28 Измерительна чейка дл измерени параметров диэлектриков на СВЧ SU1741088A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874338757A SU1741088A1 (ru) 1987-09-28 1987-09-28 Измерительна чейка дл измерени параметров диэлектриков на СВЧ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874338757A SU1741088A1 (ru) 1987-09-28 1987-09-28 Измерительна чейка дл измерени параметров диэлектриков на СВЧ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1741088A1 true SU1741088A1 (ru) 1992-06-15

Family

ID=21340359

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874338757A SU1741088A1 (ru) 1987-09-28 1987-09-28 Измерительна чейка дл измерени параметров диэлектриков на СВЧ

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1741088A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2665593C1 (ru) * 2017-09-27 2018-08-31 Акционерное общество "Обнинское научно-производственное предприятие "Технология" им. А.Г. Ромашина" Способ измерения диэлектрических свойств материала и устройство для его осуществления
RU2812205C1 (ru) * 2023-03-27 2024-01-25 Акционерное общество "Обнинское научно-производственное предприятие "Технология" им. А.Г. Ромашина" Устройство для измерения параметров диэлектриков на сверхвысоких частотах

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 687413, кл G 01 R27/26 1977. Авторское свидетельство СССР № 1443583, кл G 01 R 27/26 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2665593C1 (ru) * 2017-09-27 2018-08-31 Акционерное общество "Обнинское научно-производственное предприятие "Технология" им. А.Г. Ромашина" Способ измерения диэлектрических свойств материала и устройство для его осуществления
RU2812205C1 (ru) * 2023-03-27 2024-01-25 Акционерное общество "Обнинское научно-производственное предприятие "Технология" им. А.Г. Ромашина" Устройство для измерения параметров диэлектриков на сверхвысоких частотах

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1149020A (en) Microwave method for measuring the relative moisture content of an object
US4270083A (en) Microwave moisture measuring instrument with switchable measuring regions
US4546311A (en) Arrangement for measuring moisture content
JPH07225200A (ja) 物質の複素誘電率の測定方法および装置
RU94045860A (ru) Измерительный прибор и способ измерения in situ электромагнитных характеристик различных обрабатываемых материалов с использованием характеристик граничной частоты и их анализа
US2498548A (en) Comparator circuit
US6316946B2 (en) Microwave leakage field sensor for measuring moisture and/or density
EP1112485B1 (en) An apparatus and method for measuring and monitoring complex permittivity of materials
SU1741088A1 (ru) Измерительна чейка дл измерени параметров диэлектриков на СВЧ
US3967191A (en) Method and apparatus for non-destructively measuring internal film resistance in a fluorescent lamp
JPS6454323A (en) Temperature measuring method and apparatus
US2563612A (en) Controlling transmission in
US4358731A (en) Apparatus and method for moisture measurement
SU1062577A1 (ru) СВЧ-влагомер
Johnson et al. Resonant open ended coaxial line sensor for measuring complex permittivity
Kumar et al. The measurement of the permittivity of sheet materials at microwave frequencies using an evanescent waveguide technique
Joshi et al. Microstrip ring resonator as a moisture sensor for wheat grains
Krupka An accurate method for permittivity and loss tangent measurements of low loss dielectric using TE/sub 01 delta/dielectric resonators
SU1539681A1 (ru) Способ определени диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь диэлектрика
SU1631378A1 (ru) Сверхвысокочастотный измеритель влажности сред
SU1658103A1 (ru) Способ измерени параметров диэлектриков цилиндрической формы
RU2786527C1 (ru) Способ измерения физических свойств жидкости
Chattopadhyay et al. Measurement of the Equivalent Circuit Parameters of Discontinuities in a Resonant Microstrip Ring
Sanchez et al. New method for the measurement of coupling coefficients of transmission cavities
RU1770861C (ru) Способ измерени параметров отрезка провода