SU1696843A1 - Голографический способ определени остаточных напр жений - Google Patents

Голографический способ определени остаточных напр жений Download PDF

Info

Publication number
SU1696843A1
SU1696843A1 SU894765037A SU4765037A SU1696843A1 SU 1696843 A1 SU1696843 A1 SU 1696843A1 SU 894765037 A SU894765037 A SU 894765037A SU 4765037 A SU4765037 A SU 4765037A SU 1696843 A1 SU1696843 A1 SU 1696843A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
hole
hologram
residual stresses
determining
image
Prior art date
Application number
SU894765037A
Other languages
English (en)
Inventor
Леонид Михайлович Лобанов
Вячеслав Автономович ПИВТОРАК
Геннадий Витальевич Черкашин
Original Assignee
Институт Электросварки Им.Е.О.Патона
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Электросварки Им.Е.О.Патона filed Critical Институт Электросварки Им.Е.О.Патона
Priority to SU894765037A priority Critical patent/SU1696843A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1696843A1 publication Critical patent/SU1696843A1/ru

Links

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано при определении остаточных напр жений методом голографической интерферометрии . Целью изобретени   вл етс  повышение производительности и точности измерений за счет определени  по голографическому изображению как пол  перемещений, так и геометрических параметров отверсти . Освещают поверхность объекта когерентным излучением и осуществл ют запись голограммы объекта. После этого выполн ют в объекте несквозное отверстие и в окрестности отверсти  внедр ют в поверхность индентор. Повторно записывают голограмму объекта и восстанавливают с полученной двухэкспозицион- ной голограммы изображение объекта, покрытое интерференционными полюсами. На восстановленном изображении определ ют геометрические параметры отверсти , например путем последовательной фокусировки микроскопа на поверхность объекта и поверхность дна отверсти . По распределению интерференционных полос и информации о геометрических параметрах отверсти  определ ют величины, знак и ориентацию остаточных напр жений. 2 з.п. ф-лы, 3 ил. со С

Description

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и предназначено дл  определени  остаточных напр жений методом голографической интерферометрии .
Целью изобретени   вл етс  повышение производительности и точности определени  остаточных напр жений.
На фиг.1 представлена схема устройства , реализующего способ определени  остаточных напр жений; на фиг.2 - схема восстановлени  и наблюдени  голографи- ческого изображени ; на фиг.З - интер- ферограмма, по сн юща  методику осуществлени  способа.
Устройство дл  реализации способа содержит лазер 1, коллиматор 2, фотопластинку 3 в кассете 4, блок 5 дл  выполнени  отверстий, индентор 6 и непрозрачный экран 7 с прозрачным участком 8 (отверстием), совпадающим по форме с зондирующим отверстием 9 на поверхности исследуемого объекта 10.
- Схема восстановлени  и наблюдени  голографического изображени , полученного при записи на встречных пучках, состоит из источника 11 коллимированного белого света, освещающего фотопластинку 3, полупрозрачного зеркала 12 и блока 13 регистON Ю ON 00
44 GO
рации и обработки восстановленного изображени  14.
Способ осуществл ют следующим образом .
При регистрации открывают кассету 4. Луч лазера 1, пройд  коллиматор 2 и преобразовавшись в световой пучок необходимой формы, освещает фотопластинку 3 и сквозь нее поверхность исследуемого объекта 10, отразившись от которой он вновь попадает на фотопластинку 3, в результате чего осуществл етс  регистраци  голограммы поверхности исследуемого объекта 10. Закрыва ют кассету 4 и с помощью блока 5 выполн ют отверстие 9 (или несколько отверстий , удаленных друг от друга на достаточное рассто ние) определенной формы (не об зательно цилиндрической). Вблизи отверсти  внедр ют и удал ют индентор 6 и повторно экспонируют фотопластинку 3 с тем же временем экспозиции. После этого- между фотопластинкой 3 и поверхностью исследуемого объекта 10 располагают непрозрачный экран 7 с прозрачным участком Вив третий раз экспонируют фотопластинку 3. Дл  устранени  ненужной засветки, ухудшающей качество изображени , параллельно экрану 7 может быть дополнительно размещен идентичный экран 7 между коллиматором 2 и фотопластинкой 3. Врем  третьей экспозиции зависит от освещенности отверсти .
При восстановлении и наблюдении го- лографического изображени  коллимиро- ванный белый свет источника 11 отражаетс  от фотопластинки 3, полупрозрачного зеркала 12 и попадает в блок 13 регистрации и обработки восстановленного изображени  14. По полученной таким образом интерферограмме определ ют, количество и конфигурацию интерференционных полос вокруг отверсти , характер их взаимодействи  с полосами, вызванными внедрением индентора, геометрические параметры отверсти . Использу  эти данные и известную методику, определ ют величину , знак и ориентацию главных осей оста- точных напр жений.
На фиг.З представлены типична  дл  такого способа регистрации интерферог- рамма и методика ее расшифровки. Оси симметрии интерференционной картины X и Y ориентированы вдоль направлений главных напр жений. Полосы 15, ориентированные в направлении X, отклон ютс  к полосам 17, вызванным внедрением индентора (прит жение), и соответствуют раст гивающим напр жени м. Полосы 16 в направлении Y отклон ютс  от полос 17, вызванных внедрением индентора (отталкивание ), и соответствуют сжимающим напр жени м . Затем в соответствии с предлагаемым способом фокусируют координатный микроскоп на поверхности объекта и определ ют форму и поперечные размеры отверсти  на поверхности объекта. После этого, перемеща  микроскоп вдоль оси, сфокусируют его на дно отверсти  и по показанию лимба определ ют глубину отверсти . Аналогично, перемеща  микроскоп вдоль и поперек оси, определ ют форму и размеры дна отверсти . Измерив геометрические размеры отверсти , вычисл ют объем изъ того материала и определ ют отношение глубины к поперечному размеру дл  эквивалентного отверсти  правильной формы (цилиндр, призма, конус-и т.д.). Стро т график зависимости пор дка интерференции N от рассто ни  до кромки
отверсти  I и по известной методике определ ют величину остаточных напр жений.
Таким образом, предлагаемый способ позвол ет повысить производительность процесса измерени  за счет возможности
считывани  всех требуемых дл  расшифровки данных с голограммы без необходимости дополнительных измерений на исследуемом объекте и повысить точность измерени  остаточных напр жений за счет
повышени  точности измерений геометрических размеров отверсти .

Claims (3)

1. Голограф ический способ определени  остаточных напр жений, заключающийс  в том, что освещают объект когерентным излучением, записывают голограмму объекта , выполн ют в объекте глухое отверстие, вблизи отверсти  осуществл ют внедрение
в поверхность индентора, вновь записывают голограмму объекта, восстанавливают с двухэкспозиционной голограммы изображение объекта, регистрируют параметры интерференционной картины на восстановленном изображении, измер ют геометри- / ческие размеры отверсти  и по полученным данным определ ют величину, знак и ориентацию остаточных напр жений, отличающийс  тем, что, с целью повышени 
0 производительности и точности определ - ни  остаточных напр жений, измерение геометрических параметров отверсти  осуществл ют на восстановленном изображении объекта.
5
2. Способ по п.1, о т.л и ч а ю щ и и с   тем, что измерение глубины отверсти  осуществл ют последовательной фокусировкой координатного микроскопа на изображени  поверхности объекта и поверхности дна отверсти .
3. Способ поп.1,отличающийс  тем, что повторную запись голограммы объекта осуществл ют последовательным освещением сначала всей исследуемой поверхности объекта, а затем лишь участка поверхности , в котором выполнено отверстие.
Фиг.1
Г
4.
Фиг. 2
ФшЗ
SU894765037A 1989-12-05 1989-12-05 Голографический способ определени остаточных напр жений SU1696843A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894765037A SU1696843A1 (ru) 1989-12-05 1989-12-05 Голографический способ определени остаточных напр жений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894765037A SU1696843A1 (ru) 1989-12-05 1989-12-05 Голографический способ определени остаточных напр жений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1696843A1 true SU1696843A1 (ru) 1991-12-07

Family

ID=21482565

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894765037A SU1696843A1 (ru) 1989-12-05 1989-12-05 Голографический способ определени остаточных напр жений

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1696843A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Арбузов В.Н., Буханов Н.М. и Козинцев В.М. Исследование остаточных напр жений и механических свойств сварных соединений сплава 01570. - Материалы III Всесоюзного симпозиума Технологические остаточные напр жени . --М: ИПМ АН СССР, 1988, с.25-29. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4139302A (en) Method and apparatus for interferometric deformation analysis
US4682892A (en) Method and apparatus for speckle-shearing interferometric deformation analysis
US5796498A (en) Holographic imaging
US4930893A (en) Electrophoresis imaging system
KR910008514A (ko) 홀로그래픽 영상화 시스템의 전체 내부반사 광학검사장치 및 방법
US4627729A (en) Differential holographic method
JPS63215902A (ja) 物体の位置検出装置
US4464052A (en) Differential holographic interferometry
SU1696843A1 (ru) Голографический способ определени остаточных напр жений
US3823604A (en) Method of and apparatus for detecting surface form irregularities
US4111526A (en) Rotationally independent optical correlation for position determination
US4357108A (en) Method for reproducton of object surfaces
De Backer In-plane displacement measurement by speckle interferometry
Burch Laser speckle metrology
DE69022243D1 (de) Optisches phasenmessabtastmikroskop.
US3934461A (en) Multiple exposure holographic interferometer method
US3883215A (en) Holographic system for non-destructive testing
SU818503A3 (ru) Способ голографической интерферо-МЕТРии
US3509761A (en) Holographic method of deformation analysis
RU2090838C1 (ru) Голографический способ определения рельефа поверхности
Denisyuk et al. Three-dimensional imaging by means of a reference-free selectogram recorded in a thick-layered light-sensitive material
Gates Holography, industry and the rebirth of optics
US5191389A (en) Device for measuring by holography the deviations of light rays in transparent media
SU777574A1 (ru) Способ определени деформации грунтов и горных пород
SU1516769A1 (ru) Способ определени компонент вектора перемещени