SU1693468A1 - Device for measuring dimensions and concentration of microparticles in liquids and gases - Google Patents

Device for measuring dimensions and concentration of microparticles in liquids and gases Download PDF

Info

Publication number
SU1693468A1
SU1693468A1 SU894745076A SU4745076A SU1693468A1 SU 1693468 A1 SU1693468 A1 SU 1693468A1 SU 894745076 A SU894745076 A SU 894745076A SU 4745076 A SU4745076 A SU 4745076A SU 1693468 A1 SU1693468 A1 SU 1693468A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
working volume
microparticles
concave reflecting
hemisphere
photodetector
Prior art date
Application number
SU894745076A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Игорь Георгиевич Васильев
Михаил Николаевич Данилин
Юрий Николаевич Николаев
Дмитрий Вадимович Соболев
Original Assignee
Научно-Исследовательский Институт "Сапфир"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Институт "Сапфир" filed Critical Научно-Исследовательский Институт "Сапфир"
Priority to SU894745076A priority Critical patent/SU1693468A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1693468A1 publication Critical patent/SU1693468A1/en

Links

Abstract

Изобретение относитс  к области контрольно- измерительной техники и может быть использовано дл  контрол  качества жидких и газообразных технологических сред в электронной, химической, медицинской , фармацевтической и других отрасл х промышленности. Цель изобретени  - повышение разрешающей способности, чувствительности и точности измерени  за счет снижени  уровн  рассе ни  света на элементах конструкции, увеличени  угла сбора рассе нного на микрочастицах излучени  и сбора излучени  в наиболее энергетически выгодном диапазоне углов. Устройство содержит рабочий объем, ограниченный вогнутой отражающей поверхностью полусферической формы и плоскостью основани , на которой на одном диаметре и на одинаковом рассто нии о.т центра полусферы расположены фотоприемник и входное окно, через которое проходит ламинарный поток исследуемой среды. В рабочем объеме расположены полупроводниковый излучатель , микрообъектив, сзетоделительна  пластина и светопоглощающа  ловушка. Дл  вывода исследуемой среды в центре вогнутой отражающей полусферы имеетс  выходное отверстие. 1 ил. (Л СThe invention relates to the field of instrumentation technology and can be used to control the quality of liquid and gaseous process media in the electronic, chemical, medical, pharmaceutical and other sectors of the industry. The purpose of the invention is to increase the resolution, sensitivity and accuracy of measurement by reducing the level of light scattering on structural elements, increasing the angle of collection of the radiation scattered on microparticles and collecting radiation in the most energetically favorable range of angles. The device contains a working volume bounded by a concave reflecting surface of a hemispherical shape and a base plane on which a photodetector and an input window through which the laminar flow of the medium under study is located at the same diameter and at the same distance from the center of the hemisphere. A semiconductor radiator, a micro-lens, a separator plate and a light-absorbing trap are located in the working volume. An outlet is located at the center of the concave reflecting hemisphere to lead the medium under investigation. 1 il. (Ls

Description

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  качества жидких и газообразных технологических сред в электронной , химической, медицинской, фармацевтической и других отрасл х промышленности.The invention relates to a control and measuring technique and can be used to control the quality of liquid and gaseous process media in the electronic, chemical, medical, pharmaceutical and other sectors of the industry.

Целью изобретени   вл етс  повышение разрешающей способности, чувствительности и точности измерени  размеров и концентрации микрочастиц в жидкост х и газах.The aim of the invention is to increase the resolution, sensitivity and accuracy of measuring the size and concentration of microparticles in liquids and gases.

Цель достигаетс  за счет снижени  уровн  рассе ни  света на элементах конструкции , увеличени  угла сбора рассе нногоThe goal is achieved by reducing the level of light scattering on structural elements, increasing the angle of collection of scattered light.

на микрочастицах излучени  и сбора излучени  в наиболее энергетически выгодном диапазоне углов.on microparticles of radiation and radiation collection in the most energetically favorable range of angles.

Кроме того, в устройстве не содержатс  высоковольтные источники питани , что позвол ет примен ть его в услови х работы с пожаро- и взрывоопасными технологическими средами, а также в переносной аппаратуре дл  работы в полевых услови х.In addition, the device does not contain high-voltage power sources, which makes it possible to use it in conditions of work with fire and explosive technological media, as well as in portable equipment for work in field conditions.

На чертеже показано предлагаемое устройство ,The drawing shows the proposed device

Устройство содержит рабочий объем 1, ограниченный полусферой 2 и плоскостью основани  3, на которой на одном диаметре и на одинаковом рассто нии (не более полоо юThe device contains a working volume 1, bounded by a hemisphere 2 and the base plane 3, on which at the same diameter and at the same distance (no more than half

0000

&k о& k o

0000

вины радиуса) от центра полусферы 2 расположены фотоприемник 4 и входное окно 5, через которое проходит поток исследуемой среды с контролируемыми частицами. В рабочем объеме 1 расположены на одной оси полупроводниковый излучатель 6, микрообъектив 7, светоделительна  пластина 8 и светопоглощающа  ловушка 9. Дл  выво-, да исследуемой среды в центре вогнутой отражающей полусферы 2 расположено выходное отверстие 10.fault radius) from the center of the hemisphere 2 are located the photodetector 4 and the input window 5, through which the flow of the investigated medium with controlled particles passes. In working volume 1, a semiconductor emitter 6, a micro-lens 7, a beam-splitting plate 8 and a light-absorbing trap 9 are located on the same axis. For the output and the medium under study, an outlet 10 is located in the center of the concave reflecting hemisphere 2.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Излучение полупроводникового излучател  6 собираетс  микрообъективом 7 и под определенным углом падает на светодели- тельную пластину 8, причем свет, прошедший через светоделительную пластину 8, поглощаетс  ловушкой 9, а отраженный от пластины - попадает на вогнутую отражающую поверхность полусферы 2, после чего фокусируетс  на входном окне 5, где после подачи исследуемой среды проскакивают контролируемые частицы, и таким образом на входном окне 5 создаетс  счетный объем. Свет, рассе нный на микрочастицах под угами от 90 до 180°, попадает на полусферу 2 и фокусируетс  на фотоприемник 4, который оптически совмещен с изображением полупроводникового излучател  6 и расположен под светоделительной пластиной 8. Необходимый размер изображени  устанавливаетс  регулировкой взаимного расположени  плоскости основани  3 иThe radiation of the semiconductor emitter 6 is collected by the micro-lens 7 and at a certain angle falls on the beam-splitting plate 8, the light passing through the beam-splitting plate 8 is absorbed by the trap 9, and reflected from the plate falls on the concave reflecting surface of the hemisphere 2, and then focused on the input a window 5, where, after the medium being injected, monitored particles slip through, and thus a counting volume is created at the inlet window 5. The light scattered on the microparticles below 90 ° to 180 ° falls on the hemisphere 2 and focuses on the photodetector 4, which is optically aligned with the image of the semiconductor emitter 6 and located under the beam-splitting plate 8. The required image size is determined by adjusting the relative position of the base plane 3 and

полусферы 2. С фотоприемника 4 сигнал снимаетс  регистрирующим прибором. Свет, не рассе нный под углами менее 90°, проходит через входное окно 5 и поглощаетс  в канале 11 основани . Исследованна  среда через отверстие 10 выводитс  за пределы рабочего объема 1.hemisphere 2. From the photodetector 4, the signal is removed by a recording device. Light not scattered at angles less than 90 ° passes through the entrance window 5 and is absorbed in the channel 11 of the base. The investigated medium through the opening 10 is brought out of the working volume 1.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Устройство дл  измерени  размеров и концентрации микрочастиц в жидкост х ис газах, содержащее источник излучени , вогнутую отражающую поверхность полусферической формы, ограничивающую рабочий объем, и фотоприемник, отличающее- с   тем, что, с целью повышени  чувствительности , разрешающей способности и точности измерений, источник излучени  иA device for measuring the size and concentration of microparticles in liquids of gases, containing a radiation source, a concave reflecting surface of a hemispherical shape, limiting the working volume, and a photodetector, characterized in that, in order to increase the sensitivity, resolution and accuracy of measurements, the radiation source and фотоприемник расположены внутри рабочего объема, источник излучени  выполнен в виде полупроводникового излучател , устройство дополнительно содержит микрообъектив и светоделительную пластину,the photodetector is located inside the working volume, the radiation source is made in the form of a semiconductor radiator, the device additionally contains a micro lens and a beam-splitting plate, расположенные между полупроводниковым излучателем и вогнутой отражающей поверхностью полусферической формы, а за светоделительной пластиной по ходу лучей полупроводникового излучател  расположена оптическа  ловушка, причем фотоприемник оптически совмещен с изображением полупроводникового источника излучени  и расположен под светоделительной пластиной .located between the semiconductor emitter and the concave reflecting surface of a hemispherical shape, and an optical trap behind the beam splitter plate along the semiconductor emitter beams, an optical receiver combined with the image of the semiconductor radiation source and located under the beam splitter plate.
SU894745076A 1989-10-05 1989-10-05 Device for measuring dimensions and concentration of microparticles in liquids and gases SU1693468A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894745076A SU1693468A1 (en) 1989-10-05 1989-10-05 Device for measuring dimensions and concentration of microparticles in liquids and gases

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894745076A SU1693468A1 (en) 1989-10-05 1989-10-05 Device for measuring dimensions and concentration of microparticles in liquids and gases

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1693468A1 true SU1693468A1 (en) 1991-11-23

Family

ID=21472539

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894745076A SU1693468A1 (en) 1989-10-05 1989-10-05 Device for measuring dimensions and concentration of microparticles in liquids and gases

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1693468A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент GB № 2159940, кл. G01 N21/59, 1985. Кузьмин С. В. и др. Устройство дл измерени концентрации и размеров частиц в жидкост х. - ПТЭ, 1983, № 1. с.165, *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4348107A (en) Orifice inside optical element
US4616927A (en) Sample cell for light scattering measurements
US5043591A (en) Portable particle analysers having plural detectors
US3624835A (en) Microparticle analyzer employing a spherical detector array
CA1323995C (en) Particle asymmetry analyser
JP3248910B2 (en) Analysis of particle properties
US4907884A (en) Sample cell monitoring system
US5956139A (en) Cross-correlation method and apparatus for suppressing the effects of multiple scattering
RU2006108798A (en) OPTICAL FLOW METER FOR MEASURING GAS AND LIQUID FLOW IN PIPELINES
US3614231A (en) Optical aerosol counter
GB2125181A (en) Flow cells for particle study
DE69319184D1 (en) Liquid contamination sensor
JPH0843292A (en) Detector for measuring luminous intensity of scattered lightwith thin film of colloid-state medium
US4351611A (en) Monitoring of a detection zone utilizing zero order radiation from a concave reflecting grating
SU1693468A1 (en) Device for measuring dimensions and concentration of microparticles in liquids and gases
JPH05215664A (en) Method and device for detecting submicron particle
SU1223092A1 (en) Small-angle nephelometer
JPS61288139A (en) Fine particle detecting device
GB2264556A (en) Diffraction analysis of particle size, shape and orientation
US4174180A (en) Ultramicroscopic spectrometer
SU1390540A1 (en) Photoelectric device for determining particle composition of pplverulent materials
RU2016407C1 (en) Method of determining total quantity of bacteria in milk
SU1376006A1 (en) Device for determining concentration and size of particles in liquids
SU1404900A1 (en) Method of measuring fractional particle-size composition of aerosols
JPH0136109Y2 (en)