SU1690023A1 - Масс-спектрометр дл газового анализа - Google Patents

Масс-спектрометр дл газового анализа Download PDF

Info

Publication number
SU1690023A1
SU1690023A1 SU894643656A SU4643656A SU1690023A1 SU 1690023 A1 SU1690023 A1 SU 1690023A1 SU 894643656 A SU894643656 A SU 894643656A SU 4643656 A SU4643656 A SU 4643656A SU 1690023 A1 SU1690023 A1 SU 1690023A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
chamber
cathode
analysis
analyzer
mass
Prior art date
Application number
SU894643656A
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Александрович Иванов
Борис Александрович Мамырин
Игорь Леонидович Федичкин
Original Assignee
Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе filed Critical Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority to SU894643656A priority Critical patent/SU1690023A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1690023A1 publication Critical patent/SU1690023A1/ru

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к приборостроению , в частности к масс-спектрометрии, и может быть использовано дл  контрол  процессов , протекающих с выделением газовой / / V фазы. Целью изобретени   вл етс  повышение достоверности анализа и увеличение длительности работы масс-спектрометра. Масс-спектрометр дл  газового анализа, включает камеру 3 ионизации и масс-анали- за, две системы 4 и 5 высоковакуумной откачки , источник электронов, размещенный в отдельной камере 1 с отверстием 2 дл  прохождени  электронного пучка, подсоединенной к дополнительной системе 5 высоковакуумной откачки. Скорость S2 откачки системы 5 определ етс  соотношением S2 (° 116 А) п. где п - требуемое о1 увеличение достоверности анализа; А - площадь отверсти  камеры катода; Si - эффективна  скорость откачки камеры анализатора. При напуске исследуемого газа в камеру 3 его давление в камере 1 принимает существенно более низкое значение, чем в камере 3, что ведет к уменьшению концентрации продуктов реакции на катоде источника электронов в камере 1. 1 ил. ел с о о о о ю со

Description

Изобретение относитс  к приборостроению , а конкретно к масс-спектрометрии - к созданию масс-спектрометров, предназначенных дл  анализа содержани  компонентов газа путем ионизации его атомов и молекул электронным ударом.
Цель изобретени  - повышение достоверности анализа за счет уменьшени  в камере анализатора концентрации продуктов реакции на катоде, увеличение длительности работы масс-спектрометра за счет повышени  срока службы катода.
На чертеже приведена схема масс-спектрометра дл  газового анализа.
Масс-спектрометр содержит камеру 1 с источником электронов, отверстие 2 дл  прохождени  электронного пучка, камеру 3 ионизации и масс-анализа, систему 4 высоковакуумной откачки, дополнительную систему 5 высоковакуумной откачки.
Давление Ра (концентраци ) анализируемого газа в отдельной камере определ етс  проводимостью пучка и эффективной скоростью откачки отдельной системы откачки S2. Использу  хорошо известные соотношени  вакуумной техники, счита  Рг « Pi (Pi - давление анализируемого газа в камере анализатора), можно получить 0,116 А Pi
Р2
S2
где А - измер етс  в мм , S2 - в л/с, Pi и PZ - в произвольных единицах, например в мм рт.ст.
Счита , что выход продуктов реакции на катоде пропорционален давлению анализируемого газа в камере катода, получим, что уменьшени  выхода продуктов реакции будет равно отношению
Pi S2
Р2 0,116-А1
Рассужда  аналогичным образом, можно получить, что давление продуктов реакции в камере анализатора будет меньше по сравнению с их давлением в камере катода „ Si пао
в раз
Следовательно, результирующее уменьшение давлени  в камере анализатора продуктов реакции на катоде в за вл емом устройстве по сравнению с известным (т.е. увеличение достоверности анализа п) будет равно
n- Si-S2
(0,116 -А)2 отсюда )2n,.
-О1
При проектировании масс-спектрометра на основе за вл емого изобретени  ставилась цель достичь повышени  достоверности анализа за счет уменьшени 
0
в камере анализатора давлени  продуктов реакции на катоде в 1000 раз.
Площадь отверсти  камеры катода определ лась размерами поперечного сечени  электронного пучка и составл ла 10 мм . Эффективна  скорость откачки Si системы откачки камеры анализатора, содержащей парамасл ный насос НВДС-100 и ловушку, составл ла 30л/с.
Использу  эти данные и соотношение дл  определени  S2 из за вл емой формулы , получим
5
0
5
0
5
0
5
0
5
с (0,116 10)2
1000
45 (л/с).
Масс-спектрометр работает следующим образом.
Камера 3 ионизации и масс-анализа откачиваетс  системой 4 высоковакуумной откачки . Камера 2 с источником электронов с отверстием дл  прохождени  электронного пучка откачиваетс  дополнительной системой 5 высоковакуумной откачки.
При напуске исследуемого газа в камеру 3 его давление в камере 1 принимает существенно более низкое значение, чем в камере 3, что приводит к уменьшению выхода и, следовательно, к уменьшению концентрации продуктов реакции на катоде источника электронов в камере 1. В камере 3 их концентраци  будет еще меньше, так как через отверстие дл  прохождени  электронного пучка в камеру 3 может пройти лишь незначительна  дол  этих продуктов реакций.
Образование ионов исследуемого газа и продуктов реакций на катоде происходит в камере ионизации камеры 3 с помощью электронного пучка, прошедшего через отверстие 2 из камеры 1.
В камере 3 далее осуществл етс  их разделение по массам и формирование электрических сигналов, соответствующих массовым числам ионов и их концентраци м . Эти сигналы используютс  дл  определени  состава анализируемого газа. Благодар  снижению по сравнению с известным масс-спектрометром концентрации продуктов реакции на катоде в камере ионизации при сохранении концентрации в ней анализируемого газа, соответственно, повышаетс  достоверность анализа.
Благодар  уменьшению концентрации анализируемого газа в области камеры с источником электронов повышаетс  ресурс работы источника.
Фор-мула изобретени 
Масс-спектрометр дл  газового анализа , включающий ионный источник с катодом , камеру анализатора, детектор и систему откачки анализатора, отличающ и и с   тем, что, с целью повышени  достоверности анализа за счет уменьшени  в камере анализатора концентрации продуктов реакции на катоде, а также увеличени длительностиработы масс-спектрометра за счет повышени  срока службы катода, катод размещен в отдельной камере с отверстием дл  прохождени  электронов в камеру анализатора, а камера катода подключена к отдельной системе откачки , имеющей эффективную скорость откачки Sz, определ емую соотношением
(0.116 А)2-п эд 5i
где п - требуемое увеличение достоверности анализа;
А - площадь отверсти  камеры катода, мм2;
Si- эффективна  скорость откачки ка- меры анализатора, л/с.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Масс-спектро метр для газового анализа, включающий ионный источник с катодом, камеру анализатора, детектор и систему откачки анализатора, отличаю5 щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности анализа за счет уменьшения в камере анализатора концентрации продуктов реакции на катоде, а также увеличения длительности работы 5 масс-спектрометра за счет повышения срока службы катода, катод размещен в отдельной камере с отверстием для прохождения электронов в камеру анализатора, а камера катода подключена к отдельной системе от- 10 качки, имеющей эффективную скорость откачки S2, определяемую соотношением где η - требуемое увеличение достоверно сти анализа;
    А - площадь отверстия камеры катода, мм2;
    Si~ эффективная скорость откачки камеры анализатора, л/с.
SU894643656A 1989-01-30 1989-01-30 Масс-спектрометр дл газового анализа SU1690023A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894643656A SU1690023A1 (ru) 1989-01-30 1989-01-30 Масс-спектрометр дл газового анализа

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894643656A SU1690023A1 (ru) 1989-01-30 1989-01-30 Масс-спектрометр дл газового анализа

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1690023A1 true SU1690023A1 (ru) 1991-11-07

Family

ID=21425648

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894643656A SU1690023A1 (ru) 1989-01-30 1989-01-30 Масс-спектрометр дл газового анализа

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1690023A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2504044C2 (ru) * 2012-04-19 2014-01-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) Циклический масс-спектрометр газовых частиц

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Мамырин В.А., Каратаев В.И.. Шмикк Д.В., Загулин В.А. Новый безмагнитный врем пролетный масс-спектрометр с высокой разрешающей способностью.-ЖЭТФ, 1973.Т.64. B.I.C.82-89. Масс-рефлектрон ФТИАН. Техническое описание и инструкци по эксплуатации 1.560.020 ТО, Сумское ПО Электрон. 1987, с. 56,57,70. Розанов Л.Н. Вакуумна техника. М.: Высша школа, 1982, формулы 4.4, 2.19.2.28. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2504044C2 (ru) * 2012-04-19 2014-01-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) Циклический масс-спектрометр газовых частиц

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10573503B2 (en) Systems and methods for detection and quantification of selenium and silicon in samples
McLuckey et al. Atmospheric sampling glow discharge ionization source for the determination of trace organic compounds in ambient air
Mulligan et al. Direct monitoring of toxic compounds in air using a portable mass spectrometer
CN101498685A (zh) 降低质谱分析中的噪声的方法和装置
Moini Ultramark 1621 as a calibration/reference compound for mass spectrometry. II. Positive‐and negative‐ion electrospray ionization
Ketkar et al. Atmospheric pressure ionization tandem mass spectrometric system for real-time detection of low-level pollutants in air
US6639214B1 (en) Method of improving the performance of an ion mobility spectrometer used to detect trace atmospheric impurities in gases
CN112611798B (zh) 一种同分异构体的在线质谱探测方法
CN109887824A (zh) 一种质谱仪及质谱检测方法
SU1690023A1 (ru) Масс-спектрометр дл газового анализа
US11658019B2 (en) IMR-MS reaction chamber
CN209447762U (zh) 一种质谱仪
EP0292974B1 (en) Atmospheric sampling glow discharge ionization source
Zakett et al. A double quadrupole for mass spectrometry/mass spectrometry
Hogan et al. Mass discrimination in laser desorption/Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry cation-attachment spectra of polymers
Bier et al. Coupling a particle beam interface directly to a quadrupole ion trap mass spectrometer
Ketkar et al. Influence of coexisting analytes in atmospheric pressure ionization mass spectrometry
CN107706081A (zh) 质谱系统、色谱‑质谱系统及二者的使用方法
CN110085504B (zh) 一种基于小孔原位取样接口的离子源系统及小型化质谱仪
US5670378A (en) Method for trace oxygen detection
US6956206B2 (en) Negative ion atmospheric pressure ionization and selected ion mass spectrometry using a 63NI electron source
CN112461913B (zh) 一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法
Genuit et al. Selective ion source for trace gas analysis
Hunter et al. Detection of trace nitrogen in bulk argon using proton transfer reactions
JP4562279B2 (ja) イオン付着質量分析の方法および装置