SU1690023A1 - Масс-спектрометр дл газового анализа - Google Patents
Масс-спектрометр дл газового анализа Download PDFInfo
- Publication number
- SU1690023A1 SU1690023A1 SU894643656A SU4643656A SU1690023A1 SU 1690023 A1 SU1690023 A1 SU 1690023A1 SU 894643656 A SU894643656 A SU 894643656A SU 4643656 A SU4643656 A SU 4643656A SU 1690023 A1 SU1690023 A1 SU 1690023A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- chamber
- cathode
- analysis
- analyzer
- mass
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к приборостроению , в частности к масс-спектрометрии, и может быть использовано дл контрол процессов , протекающих с выделением газовой / / V фазы. Целью изобретени вл етс повышение достоверности анализа и увеличение длительности работы масс-спектрометра. Масс-спектрометр дл газового анализа, включает камеру 3 ионизации и масс-анали- за, две системы 4 и 5 высоковакуумной откачки , источник электронов, размещенный в отдельной камере 1 с отверстием 2 дл прохождени электронного пучка, подсоединенной к дополнительной системе 5 высоковакуумной откачки. Скорость S2 откачки системы 5 определ етс соотношением S2 (° 116 А) п. где п - требуемое о1 увеличение достоверности анализа; А - площадь отверсти камеры катода; Si - эффективна скорость откачки камеры анализатора. При напуске исследуемого газа в камеру 3 его давление в камере 1 принимает существенно более низкое значение, чем в камере 3, что ведет к уменьшению концентрации продуктов реакции на катоде источника электронов в камере 1. 1 ил. ел с о о о о ю со
Description
Изобретение относитс к приборостроению , а конкретно к масс-спектрометрии - к созданию масс-спектрометров, предназначенных дл анализа содержани компонентов газа путем ионизации его атомов и молекул электронным ударом.
Цель изобретени - повышение достоверности анализа за счет уменьшени в камере анализатора концентрации продуктов реакции на катоде, увеличение длительности работы масс-спектрометра за счет повышени срока службы катода.
На чертеже приведена схема масс-спектрометра дл газового анализа.
Масс-спектрометр содержит камеру 1 с источником электронов, отверстие 2 дл прохождени электронного пучка, камеру 3 ионизации и масс-анализа, систему 4 высоковакуумной откачки, дополнительную систему 5 высоковакуумной откачки.
Давление Ра (концентраци ) анализируемого газа в отдельной камере определ етс проводимостью пучка и эффективной скоростью откачки отдельной системы откачки S2. Использу хорошо известные соотношени вакуумной техники, счита Рг « Pi (Pi - давление анализируемого газа в камере анализатора), можно получить 0,116 А Pi
Р2
S2
где А - измер етс в мм , S2 - в л/с, Pi и PZ - в произвольных единицах, например в мм рт.ст.
Счита , что выход продуктов реакции на катоде пропорционален давлению анализируемого газа в камере катода, получим, что уменьшени выхода продуктов реакции будет равно отношению
Pi S2
Р2 0,116-А1
Рассужда аналогичным образом, можно получить, что давление продуктов реакции в камере анализатора будет меньше по сравнению с их давлением в камере катода „ Si пао
в раз
Следовательно, результирующее уменьшение давлени в камере анализатора продуктов реакции на катоде в за вл емом устройстве по сравнению с известным (т.е. увеличение достоверности анализа п) будет равно
n- Si-S2
(0,116 -А)2 отсюда )2n,.
-О1
При проектировании масс-спектрометра на основе за вл емого изобретени ставилась цель достичь повышени достоверности анализа за счет уменьшени
0
в камере анализатора давлени продуктов реакции на катоде в 1000 раз.
Площадь отверсти камеры катода определ лась размерами поперечного сечени электронного пучка и составл ла 10 мм . Эффективна скорость откачки Si системы откачки камеры анализатора, содержащей парамасл ный насос НВДС-100 и ловушку, составл ла 30л/с.
Использу эти данные и соотношение дл определени S2 из за вл емой формулы , получим
5
0
5
0
5
0
5
0
5
с (0,116 10)2
1000
45 (л/с).
Масс-спектрометр работает следующим образом.
Камера 3 ионизации и масс-анализа откачиваетс системой 4 высоковакуумной откачки . Камера 2 с источником электронов с отверстием дл прохождени электронного пучка откачиваетс дополнительной системой 5 высоковакуумной откачки.
При напуске исследуемого газа в камеру 3 его давление в камере 1 принимает существенно более низкое значение, чем в камере 3, что приводит к уменьшению выхода и, следовательно, к уменьшению концентрации продуктов реакции на катоде источника электронов в камере 1. В камере 3 их концентраци будет еще меньше, так как через отверстие дл прохождени электронного пучка в камеру 3 может пройти лишь незначительна дол этих продуктов реакций.
Образование ионов исследуемого газа и продуктов реакций на катоде происходит в камере ионизации камеры 3 с помощью электронного пучка, прошедшего через отверстие 2 из камеры 1.
В камере 3 далее осуществл етс их разделение по массам и формирование электрических сигналов, соответствующих массовым числам ионов и их концентраци м . Эти сигналы используютс дл определени состава анализируемого газа. Благодар снижению по сравнению с известным масс-спектрометром концентрации продуктов реакции на катоде в камере ионизации при сохранении концентрации в ней анализируемого газа, соответственно, повышаетс достоверность анализа.
Благодар уменьшению концентрации анализируемого газа в области камеры с источником электронов повышаетс ресурс работы источника.
Фор-мула изобретени
Масс-спектрометр дл газового анализа , включающий ионный источник с катодом , камеру анализатора, детектор и систему откачки анализатора, отличающ и и с тем, что, с целью повышени достоверности анализа за счет уменьшени в камере анализатора концентрации продуктов реакции на катоде, а также увеличени длительностиработы масс-спектрометра за счет повышени срока службы катода, катод размещен в отдельной камере с отверстием дл прохождени электронов в камеру анализатора, а камера катода подключена к отдельной системе откачки , имеющей эффективную скорость откачки Sz, определ емую соотношением
(0.116 А)2-п эд 5i
где п - требуемое увеличение достоверности анализа;
А - площадь отверсти камеры катода, мм2;
Si- эффективна скорость откачки ка- меры анализатора, л/с.
Claims (1)
- Формула изобретенияМасс-спектро метр для газового анализа, включающий ионный источник с катодом, камеру анализатора, детектор и систему откачки анализатора, отличаю5 щ и й с я тем, что, с целью повышения достоверности анализа за счет уменьшения в камере анализатора концентрации продуктов реакции на катоде, а также увеличения длительности работы 5 масс-спектрометра за счет повышения срока службы катода, катод размещен в отдельной камере с отверстием для прохождения электронов в камеру анализатора, а камера катода подключена к отдельной системе от- 10 качки, имеющей эффективную скорость откачки S2, определяемую соотношением где η - требуемое увеличение достоверно сти анализа;А - площадь отверстия камеры катода, мм2;Si~ эффективная скорость откачки камеры анализатора, л/с.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894643656A SU1690023A1 (ru) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | Масс-спектрометр дл газового анализа |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894643656A SU1690023A1 (ru) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | Масс-спектрометр дл газового анализа |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1690023A1 true SU1690023A1 (ru) | 1991-11-07 |
Family
ID=21425648
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894643656A SU1690023A1 (ru) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | Масс-спектрометр дл газового анализа |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1690023A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2504044C2 (ru) * | 2012-04-19 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Циклический масс-спектрометр газовых частиц |
-
1989
- 1989-01-30 SU SU894643656A patent/SU1690023A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Мамырин В.А., Каратаев В.И.. Шмикк Д.В., Загулин В.А. Новый безмагнитный врем пролетный масс-спектрометр с высокой разрешающей способностью.-ЖЭТФ, 1973.Т.64. B.I.C.82-89. Масс-рефлектрон ФТИАН. Техническое описание и инструкци по эксплуатации 1.560.020 ТО, Сумское ПО Электрон. 1987, с. 56,57,70. Розанов Л.Н. Вакуумна техника. М.: Высша школа, 1982, формулы 4.4, 2.19.2.28. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2504044C2 (ru) * | 2012-04-19 | 2014-01-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ) | Циклический масс-спектрометр газовых частиц |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10573503B2 (en) | Systems and methods for detection and quantification of selenium and silicon in samples | |
McLuckey et al. | Atmospheric sampling glow discharge ionization source for the determination of trace organic compounds in ambient air | |
Mulligan et al. | Direct monitoring of toxic compounds in air using a portable mass spectrometer | |
CN101498685A (zh) | 降低质谱分析中的噪声的方法和装置 | |
Moini | Ultramark 1621 as a calibration/reference compound for mass spectrometry. II. Positive‐and negative‐ion electrospray ionization | |
Ketkar et al. | Atmospheric pressure ionization tandem mass spectrometric system for real-time detection of low-level pollutants in air | |
US6639214B1 (en) | Method of improving the performance of an ion mobility spectrometer used to detect trace atmospheric impurities in gases | |
CN112611798B (zh) | 一种同分异构体的在线质谱探测方法 | |
CN109887824A (zh) | 一种质谱仪及质谱检测方法 | |
SU1690023A1 (ru) | Масс-спектрометр дл газового анализа | |
US11658019B2 (en) | IMR-MS reaction chamber | |
CN209447762U (zh) | 一种质谱仪 | |
EP0292974B1 (en) | Atmospheric sampling glow discharge ionization source | |
Zakett et al. | A double quadrupole for mass spectrometry/mass spectrometry | |
Hogan et al. | Mass discrimination in laser desorption/Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry cation-attachment spectra of polymers | |
Bier et al. | Coupling a particle beam interface directly to a quadrupole ion trap mass spectrometer | |
Ketkar et al. | Influence of coexisting analytes in atmospheric pressure ionization mass spectrometry | |
CN107706081A (zh) | 质谱系统、色谱‑质谱系统及二者的使用方法 | |
CN110085504B (zh) | 一种基于小孔原位取样接口的离子源系统及小型化质谱仪 | |
US5670378A (en) | Method for trace oxygen detection | |
US6956206B2 (en) | Negative ion atmospheric pressure ionization and selected ion mass spectrometry using a 63NI electron source | |
CN112461913B (zh) | 一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法 | |
Genuit et al. | Selective ion source for trace gas analysis | |
Hunter et al. | Detection of trace nitrogen in bulk argon using proton transfer reactions | |
JP4562279B2 (ja) | イオン付着質量分析の方法および装置 |