SU1682767A1 - Способ определени толщины пленок на подложке - Google Patents

Способ определени толщины пленок на подложке Download PDF

Info

Publication number
SU1682767A1
SU1682767A1 SU894692355A SU4692355A SU1682767A1 SU 1682767 A1 SU1682767 A1 SU 1682767A1 SU 894692355 A SU894692355 A SU 894692355A SU 4692355 A SU4692355 A SU 4692355A SU 1682767 A1 SU1682767 A1 SU 1682767A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
thickness
films
film
film thickness
phosphor
Prior art date
Application number
SU894692355A
Other languages
English (en)
Inventor
Василий Александрович Ишутин
Татьяна Николаевна Ивонина
Валентина Александровна Арнаутова
Original Assignee
Войсковая часть 75360
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Войсковая часть 75360 filed Critical Войсковая часть 75360
Priority to SU894692355A priority Critical patent/SU1682767A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1682767A1 publication Critical patent/SU1682767A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к измерению толщины пленок. Цель изобретени  - измерение толщины пленок на микровосковой основе. В микровосковой состав ввод т при перемешивании люминофор в концентрации 1 ...5% к сухому остатку, покрывают защищаемый материал или изделие и после высыхани  определ ют прибором Блескомер тип ФБ-2, в датчик которого вместо осветительной лампы накаливани  вставлена УФ-лампа, величину коэффициента  ркости , по которому суд т о толщине пленки. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к защите материалов от внешних воздействий факторов.
Целью изобретени   вл етс  измерение толщины пленок на микровосковой основе .
На чертеже изображен график зависимости коэффициента  ркости пленок из состава ИВВС-706М с добавкой люмогена 3% к с,о. от толщины пленок.
Способ осуществл ют следующим образом .
Определ ют толщину защитной пленки микровоскового состава ИВВС-706М с введенным в него люмогеном светло-желтым 564К в концентрации 3% к сухому остатку. Дл  этого образцы из сплава Д16 Т размером 50x50x2 мм, покрытые грунтовкой АК- 069, взвешивают на весах и с помощью краскораспылител  покрывают составом ИВВС-706М с введенным в него люмогеном . Причем покрытие составом осуществл ют так, чтобы на каждом последующем
защищаемом образце масса состава была в 2 раза больше, чем на предыдущем.
Покрытые составом образцы высушивают на горизонтальной поверхности в течение 24 ч при температуре 20 ± 2° С и на них определ ют толщину защитной микровосковой пленки в следующей последовательности . Сначала высушенные образцы взвешивают и определ ют толщину пленки на каждом из них по массе состава и его плотности (весовой метод). Затем блеско- мер фотоэлектрического типа ФБ-2, в котором лампу накаливани  замен ют на УФ-лампу, устанавливают на исследуемый образец и снимают показани  прибора. Таким образом исследуютс  все образцы, покрытые составом ИВВС-706М.
По полученным данным стро т калибровочный график (см. чертеж), из которого, зна  коэффициент  ркости, можно определить толщину пленки на микровосковой основе , нанесенной на грунтовку.
И
Os 00 ND XI ON VI

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Способ определени  толщины пленок на подложке, заключающийс  в том, что в состав пленки ввод т дополнительное вещество , освещают пленку, регистрируют параметры, характеризующие взаимодействие света с дополнительным веществом, и по ним суд т о толщине пленки, отличающийс  тем, что, с целью измерени 
    толщины пленок на микровосковой основе, в качестве дополнительного вещества ввод т при перемешивании люминофор в концентрации 1...&% к сухому остатку, освещение производ т ультрафиолетовым излучением, э в качестве регистрирующего параметра выбирают величину коэффициента  ркости свечени  люминофора в УФ излучении.
    О 20 Ю 60 80 100 120 ПО
    Толщина, т км
SU894692355A 1989-05-22 1989-05-22 Способ определени толщины пленок на подложке SU1682767A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894692355A SU1682767A1 (ru) 1989-05-22 1989-05-22 Способ определени толщины пленок на подложке

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894692355A SU1682767A1 (ru) 1989-05-22 1989-05-22 Способ определени толщины пленок на подложке

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1682767A1 true SU1682767A1 (ru) 1991-10-07

Family

ID=21448063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894692355A SU1682767A1 (ru) 1989-05-22 1989-05-22 Способ определени толщины пленок на подложке

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1682767A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 99388, кл. G 01 В 11/06,1952. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1121567B1 (en) Luminescent brittle coating in strain analysis
EP0203992B1 (en) Optical temperature measurement techniques
US5359887A (en) Pressure sensitive paint formulations and methods
EP0472243A2 (en) Surface pressure measurement by oxygen quenching of luminescence
EP1205500A3 (en) Method for identifying and quantifying fluorescent polymers
US6348965B1 (en) Solid state fluorescence and absorption spectroscopy
EP1257806A4 (en) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE COMPOSITION AND OTHER PROPERTIES OF THIN FILMS
US4885633A (en) Quantitative surface temperature measurement using two-color thermographic phosphors and video equipment
CN110873794A (zh) 一种高通量超灵敏双标记时间分辨免疫层析试纸条及其应用
EP1054254A3 (en) Data processor for fluorescent x-ray spectroscopy
SU1682767A1 (ru) Способ определени толщины пленок на подложке
US4025310A (en) Method for reading a wet fluorescent surface
Kontoyannis et al. Quantitative non-destructive determination of salicylic acid acetate in aspirin tablets by Raman spectroscopy
Frodyma et al. The application of ultraviolet reflectance spectroscopy to thin-layer chromatography
JP2000097844A (ja) バックグランド値安定化用カバー
Monte et al. Linking fluorescence measurements to radiometric units
US4995198A (en) Method for making a reflectance calibration plate having a near-Lambertian surface
JPS55146040A (en) Measuring method of concentration
Billmeyer Jr et al. Calculation of the spectral radiance factors of luminescent samples
RU2111184C1 (ru) Способ определения количественного содержания шлака и других минеральных добавок в цементах
JPS5661633A (en) Densitometer for measuring secondary light of developed constituent
CN111982341B (zh) 一种发光型温度探针及其应用
Buck Simultaneous luminescence pressure and temperature measurement system for hypersonic wind tunnels
SU1288560A1 (ru) Способ относительной регистрации спектральной ркости почв
SU1762152A1 (ru) Образец дл определени степени минерализации структурных тканей панта