SU1661603A1 - Устройство контрол формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению и предназначено дл  контрол  асферических линз в процессе их обработки. Целью изобретени   вл етс  повышение производительности контрол  в процессе обработки в услови х серийного производства. Устройство содержит источник 4 излучени , точечную диафрагму 5, компенсатор 6, контролируемую линзу 3 и анализатор 7 оптического изображени . Контролируема  линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка, причем компенсатор, диафрагма и источник излучени  установлены в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращени  патрона. Контроль асферической линзы заключаетс  в анализе изображени  точечной диафрагмы после прохождени  излучени  от источника через оптическую систему, состо щую из компенсатора и контролируемой линзы. В качестве анализатора может быть использован микроскоп. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению.

Целью изобретени   вл етс  повышение производительности контрол  в процессе обработки в услови х серийного производства .

На чертеже изображена принципиальна  схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленной на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой и контролируемой асферической линзой 3. Линза обращена к гильзе предварительно обработанной сферической поверхностью , по которой осуществлено ее базирование . В полой части патрона установлены источник А излучени , точечна  диафрагма 5 и линзы 6 компенсатора так, чтобы в полученной оптической системе, состо щей из компенсатора и асферической линзы 3, была исправлены сферическа  аберраци . Устройство содержит также анализатор- микроскоп 7.

Устройство работает следующим образом .

Устройство устанавливаетс  на обрабатывающем станке и производитс  обработка заготовки, после окончани  которой от заготовки отводитс  инструмент и со стороны обработанной поверхности линзы 3 к устройству подводитс  микроскоп, сфокусированный на точку А. и на источник 4 излучени  подаетс  питание. При соответствии формы поверхности расчетному значению размер изображени  точечной

О

о

о о

SCO

диафрагмы 5 должен иметь Минимальную величину. По увеличению размера изображени  или по изменению его формы суд т об отклонении формы асферической повер- ности от расчетной. Применение кольцевых диафрагм, которые устанавливают между анализатором 7 и линзой 3, позвол ет судить о местных ошибках формы поверхности и линзы в целом. При обнаружении погрешностей анализатор отвод т из зоны (обработки и производ т доводку асферической поверхности линзы 3. Вместо микроскопа в качестве анализатора может использоватьс  решетка Ронки с экраном или подвижные решетки с экраном, О каче- ртве линзы суд т по анализу ронкиграмм Или муаровой картины,

0

5

Claims (1)

1. Формула изобретени  Устройство контрол  формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки , включающее точечный источник излучени , компенсатор, установленные перед контролируемой асферической линзой, и анализатор качества изображени  за ней, отличающеес  тем, что, с целью повышени  производительности контрол , контролируема  линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, закрепленным на шпинделе обрабатываемого станка, причем компаратор и точечный источник установлены в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращени  патрона.