SU1660017A1 - Device for object testing - Google Patents
Device for object testing Download PDFInfo
- Publication number
- SU1660017A1 SU1660017A1 SU894639244A SU4639244A SU1660017A1 SU 1660017 A1 SU1660017 A1 SU 1660017A1 SU 894639244 A SU894639244 A SU 894639244A SU 4639244 A SU4639244 A SU 4639244A SU 1660017 A1 SU1660017 A1 SU 1660017A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- input
- adder
- drive
- inputs
- Prior art date
Links
Description
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для оценки технического состояния контролируемого объекта и прогнозирования момента вывода его на профилактику. Цель изобретения - упрощение устройства путем снижения требований к информационной емкости накопителя. Устройство содержит коммутатор, нормализатор, АЦП, накопитель, два задатчика коэффициентов, два блока умножения, два накапливающих сумматора, три элемента И, задатчик эталонов, сумматор, индикатор, генератор тактовых импульсов, делитель частоты и регистр сдвига. Сущность изобретения заключается в том, что в регистр сдвига последовательно записывается значение текущего параметра, для которого производится вычисление оцененного и экстраполированного значений. Введение регистра сдвига позволяет снизить информационную емкость накопителя на 1_-т ячеек памяти, где ί - количество контролируемых объектов; т - количество контролируемых параметров. 3 ил.The invention relates to computing and can be used to assess the technical condition of the controlled object and predict the time of its withdrawal for prevention. The purpose of the invention is to simplify the device by reducing the information capacity of the drive. The device contains a switch, a normalizer, an ADC, a drive, two setting factors, two multiplication blocks, two accumulating adders, three AND elements, a setting reference, an adder, an indicator, a clock generator, a frequency divider and a shift register. The essence of the invention lies in the fact that the value of the current parameter for which the estimated and extrapolated values are calculated is sequentially recorded in the shift register. The introduction of the shift register makes it possible to reduce the information capacity of the drive by 1_-t of memory cells, where ί is the number of controlled objects; t is the number of controlled parameters. 3 il.
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для оценки технического состояния контролируемого объекта и прогнозирования момента вывода его на профилактику.The invention relates to automation and computing and can be used to assess the technical condition of the controlled object and predict the time of its withdrawal to prevention.
Цель изобретения - упрощение устройства за счет снижения требований к информационной емкости накопителя.The purpose of the invention is to simplify the device by reducing the requirements for the information capacity of the drive.
На фиг. 1 представлена блок-схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 - диаграммы синхронизации работы блоков устройства.FIG. 1 shows a block diagram of the proposed device; in fig. 2 - diagrams of synchronization of the operation of the device blocks.
Устройство содержит входы 1 объектов, коммутатор 2, нормализатор 3, аналогоцифровой преобразователь (АЦП) 4, накопитель 5, первый задатчик 6 коэффициентов, первый блок 7 умножения, первый накаплиОThe device contains the inputs of 1 object, switch 2, the normalizer 3, analog-to-digital converter (ADC) 4, drive 5, the first unit of the 6 coefficients, the first block 7 multiplication, the first OC
вающий сумматор 8, первый элемент И 9, второй задатчик 10 коэффициентов, второй блок 11 умножения, второй накапливающий сумматор 12, второй элемент И 13, задатчик 14 эталонов, сумматор 15, третий элемент И 16, индикатор 17, генератор 18 тактовых импульсов, делитель 19 частоты и регистр 20 сдвига.rolling adder 8, first AND 9 element, second setting unit 10 of coefficients, second multiplication unit 11, second accumulating adder 12, second AND 13 element, setting unit of 14 standards, adder 15, third AND 16 element, indicator 17, 18 pulse generator, divider 19 frequency and 20 shift register.
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
Генератор 18 и делитель 19 выполняют функции синхронизатора устройства. Синхронизатор вырабатывает сигналы {А} = Αι. Аг, .... Аь, где ί - количество объектов; (С) = Сч, Сг.....Ст. где т - количество контролируемых параметров: {5} = 5ι. Зг, 5з,The generator 18 and the divider 19 perform the functions of the device synchronizer. The synchronizer generates signals {A} = Αι. Ar, ... Ah, where ί is the number of objects; (C) = MF, Cr ..... Art. where m is the number of controlled parameters: {5} = 5ι. Zg, 5h,
которые задают последовательность обработки информации и синхронизируют рабоIV Ζ100991that set the sequence of information processing and synchronize the work. IV Ζ100991
33
16600171660017
4four
ту узлов устройства. Коммутатор 2 осуществляет поочередный опрос датчиков-измерителей параметров Ь объектов контроля. Коммутатор состоит из 1_ тп схем электронной селекции, на которые поступают сигналы от датчиков, управляющие сигналы опросов {А}, {С} и сигналы синхронизации 5ι. Нормализатор 3 осуществляет представление различных электрических величин контролируемых параметров объектов и определенный масштаб напряжения и реализуется на операционном усилителе с изменяемым коэффициентом усиления. Коэффициент усиления усилителя автоматически устанавливается управляющими сигналами {А}, {С} в интервале действия сигнала $1. Изменение коэффициента усиления производится коммутацией резисторов в цепи обратной связи усилителя. АЦП 4 преобразует напряжение с выхода нормализатора в цифровой двоичный код.that device nodes. Switch 2 performs sequential polling of sensors measuring the parameters of b objects of control. The switch consists of 1_ tp electronic selection circuits, which receive signals from sensors, polling control signals {A}, {C}, and synchronization signals 5ι. The normalizer 3 performs the presentation of various electrical quantities of the monitored parameters of objects and a certain voltage scale and is implemented on an operational amplifier with a variable gain. The gain of the amplifier is automatically set by control signals {A}, {C} in the interval of the signal $ 1. The gain change is made by switching resistors in the feedback circuit of the amplifier. A / D converter 4 converts the voltage from the output of the normalizer to a digital binary code.
Работа устройства осуществляется в реальном масштабе времени, циклически с периодом опроса объектов То. Контроль множеств объектов параметров реализуется с использованием принципа временного разделения.The device operates in real time, cyclically with a polling period of objects T o . The control of the parameter object sets is implemented using the time division principle.
Накопитель 5 производит запись и хранение значений последних (Ν-1)измерений по каждому из т параметров всех ί объектов контроля. Таким образом, накопитель должен иметь информационную емкость не менее к/т (Ν -1) ячеек памяти. Для расчета оцененного и экстраполированного значений параметра по методу фиксированного объема выборки, используемому в данном устройстве, требуется однако не (Ν - 1), а N последних измерений по каждому параметру. Чтобы ограничиться указанной информационной емкостью накопителя, в устройство дополнительно введен регистр 20 сдвига, соединенный с накопителем. Регистр сдвига имеет разрядность, равную разрядности любой из ячеек накопителя, и служит для записи и хранения одного числа - результата измерения в цифровой форме, Если для представления результатов измерений для различных параметров используются двоичные числа различной разрядности, то ячейки накопителя могут в этом случаетакже иметь различную разрядность. Тогда регистр сдвига должен иметь разрядность, равную наибольшей разрядности ячейки.The drive 5 records and stores the values of the last (-1) measurements for each of the t parameters of all ί control objects. Thus, the drive must have an information capacity of at least k / t (Ν -1) of memory cells. To calculate the estimated and extrapolated parameter values by the method of a fixed sample size used in this device, however, not the last measurements for each parameter are required (Ν - 1), but N. To limit the specified information capacity of the drive, the device is additionally entered the shift register 20 connected to the drive. The shift register has a bit width equal to the bit width of any drive cell and serves to record and store one number — the measurement result in digital form. If binary numbers of different bit width are used to represent the measurement results for different parameters, then the drive cells may also have a different bit depth. Then the shift register must have a bit width equal to the maximum bit width of the cell.
Взаимодействие накопителя с регистром сдвига и с другими блоками следующее. Пусть в какой-то момент времени (см. фиг. 3) в (Ν -1) линейках накопителя хранятся результаты измерений по каждому из параметров всех Ϊ объектов контроляThe interaction of the drive with the shift register and with other blocks is as follows. Let at some point in time (see Fig. 3) the measurement results for each of the parameters of all Ϊ control objects be stored in (Ν -1) drive lines.
последних (Ν -1) периодов опроса объектов То. Когда в АЦП 4 сформируется очередное Ν-е измерение по )-му параметру, то под действием синхросигнала 5ι содержимое соответствующей ячейки линейки "1" накопителя 5 переписывается в регистр 20 сдвига, содержимое аналогичной ячейки из линейки "2" переписывается в линейку ”Г' и т. д. Под действием этого же синхросигнала 5ι число из АЦП 4 переписывается в соответствующую ячейку (Ν - 1)-й линейки накопителя 5. По окончании переходных процессов, связанных с переписью информации, под действием синхросигнала 5г содержимое регистра 20 сдвига и всех ячеек накопителя, относящихся к контролируемому параметру, выдается на блоки 7 и 11 для расчета оцененного и экстраполированного значений по данному параметру, Как видно, на эти блоки выдается по N последних измерений по контролируемому параметру. Выбор "нужных" ячеек накопителя, относящихся к контролируемому параметру, производится при помощи сигналов (А} и {С}. После расчета значений Ц} и 0)3 содержимое регистра 20 сдвига обнуляется. С приходом нового измерения по другому контролируемому параметру все процессы повторяются. Таким образом, введение регистра сдвига для хранения одного слова позволяет существенно (на !_-гп ячеек) снизить информационную емкость накопителя.the last (Ν -1) polling periods of objects To. When in the ADC 4 the next “th” dimension by the) parameter is formed, then under the action of the sync signal 5ι the contents of the corresponding cell of the “1” ruler of the drive 5 are rewritten to the shift register 20, the contents of the analogous cell of the “2” ruler are rewritten into the “G” ruler etc. Under the action of the same clock signal 5, the number from ADC 4 is copied to the corresponding cell of the (Ν - 1) line of drive 5. At the end of the transient processes associated with the census of information, under the action of the clock signal 5g, the contents of the shift register 20 and all accumulator cells The values related to the monitored parameter are given to blocks 7 and 11 to calculate estimated and extrapolated values for this parameter. As you can see, these blocks are given by the N last measurements from the monitored parameter. The selection of the "necessary" drive cells related to the monitored parameter is made using the signals (A} and {C}. After calculating the values of C and 0) 3 the contents of the shift register 20 are reset. With the advent of a new dimension in another controlled parameter, all processes are repeated. Thus, the introduction of a shift register for storing one word allows significantly (on! _- gp cells) to reduce the storage capacity of the drive.
В блоке 11 и сумматоре 12 производится расчет оцененного значения )-го параметра ϋ] в соответствии с выражением ,In block 11 and the adder 12, the estimated value of the parameter параметра] is calculated in accordance with the expression
ΰ1 = βι иц ι = Γν; ) = ΰλ (1)ΰ 1 = βι and q ι = Γν; ) = ΰλ (1)
1 = 11 = 1
где N - объем выборки (количество измерений);where N is the sample size (number of measurements);
Ιίη - результат Ι-го измерения )-го параметра;Ιίη is the result of the Ιth dimension) of the parameter;
3| - коэффициент оценки результата 1-го измерения.3 | - The coefficient for evaluating the result of the 1st dimension.
В блоке 7 и сумматоре 8 производится расчет экстраполированного значения )-го параметра 1Щ в соответствии с выражениемIn block 7 and the adder 8, the extrapolated value of the 1-parameter is calculated in accordance with the expression
Ц]э = §. ао Цц ; I = 1Λ!; ) = ΰή (2) 1=1C] e = §. Ao CC; I = 1Λ !; ) = ΰή (2) 1 = 1
где Э|э - коэффициент экстраполяции результата 1-го измерения.where E | e is the extrapolation coefficient of the result of the 1st dimension.
Значения коэффициентов а| и аь дляThe values of the coefficients a | and ai for
каждого 1-го измерения рассчитываютсяevery 1st dimension is calculated
предварительно на основании выраженийbased on expressions
5five
16600171660017
66
5,2Ν-2 31 7 Ν + 1 ) Ν5.2Ν-2 31 7 Ν + 1) Ν
3 [ ( Ν + 2 ) ( Ν + 3 ) - 2ί (4Ν + 7 ) + 10? ]3 [(Ν + 2) (Ν + 3) - 2ί (4Ν + 7) + 10? ]
Ν (Ν - 1-)(Ν -2 )Ν (Ν - 1 -) (Ν -2)
Для записи и хранения коэффициентовTo record and store coefficients
а| и а|э используютсй задатчики 10 и 6 соответственно, которые выполняют функцииa | and a | e are used as setting devices 10 and 6, respectively, which perform the functions
полупостоянных ЗУ емкостью N слов каждое.semi-permanent memory with a capacity of N words each.
В третьем сумматоре 15 рассчитываются величины и знаки отклонений Δ)контролируемых параметров 11] от их номиналов (эталонов) ин].In the third adder 15, the values and signs of deviations Δ of the monitored parameters 11] from their nominal values (standards) are calculated [in].
Δ]=ό]-υΗ]. (з)Δ] = ό] -υ Η ]. (h)
Значения номиналов и κι хранятся в задатчике 14 эталонов и Ьо сигналам (А) и {С} делителя 19 частоты выдаются на сумматор 15. Задатчик эталонов является постоянным запоминающим устройством емкостью 1_ - гп ячеек памяти.The values of nominal values and κι are stored in the setting unit of 14 standards and Lo to the signals (A) and {C} of the frequency divider 19 are output to the adder 15. The setting unit of the standards is a permanent storage device with a capacity of 1_ - hp memory cells.
В такте Зз оцененное значение параметра 0] с выхода сумматора 12 через элемент И 13 выдается на сумматор 15, где в соответствии с выражением (3) сравнивается с его эталонным значением ин], считыванием иэ задатчика 14.In the cycle, the estimated value of the parameter 0] from the output of the adder 12 through the element I 13 is output to the adder 15, where in accordance with the expression (3) is compared with its reference value in], by reading the setting unit 14.
Экстраполированное значение параметра 0]э с выхода первого сумматора 8 через элемент 9 передается на индикатор 17, где запоминается, преобразуется в аналоговую форму и в следующем такте поступает на отображение. В этом тактё через элемент 16 и на индикатор 17 принимается величина Δ|, которая отображается после аналогичного преобразования.The extrapolated value of the parameter 0] e from the output of the first adder 8 through the element 9 is transmitted to the indicator 17, where it is stored, converted into analog form and in the next cycle is transferred to the display. In this cycle, through the element 16 and on the indicator 17, the value Δ | is taken, which is displayed after a similar conversion.
Одновременно с этими величинами осуществляется индикация границ допустимо, го значения параметра, формируемых вSimultaneously with these values, the boundaries of the permissible value of the parameter, formed in
самом индикаторе 17.the indicator itself 17.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894639244A SU1660017A1 (en) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | Device for object testing |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894639244A SU1660017A1 (en) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | Device for object testing |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1660017A1 true SU1660017A1 (en) | 1991-06-30 |
Family
ID=21423629
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894639244A SU1660017A1 (en) | 1989-01-18 | 1989-01-18 | Device for object testing |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1660017A1 (en) |
-
1989
- 1989-01-18 SU SU894639244A patent/SU1660017A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0177557B1 (en) | Counting apparatus and method for frequency sampling | |
SU1660017A1 (en) | Device for object testing | |
US4267436A (en) | Interval-expanding timer compensated for drift and nonlinearity | |
EP0205743B1 (en) | Storage of data in compressed form | |
US3538317A (en) | System for integrating an electrical signal to provide a continuous output | |
SU1325515A1 (en) | Device for monitoring technical condition of radioelectronic units | |
SU1205157A1 (en) | Device for checking electronic objects | |
US4688236A (en) | Process for the use of a binary register with n bistable cells making it possible to determine the ratio of two frequencies and apparatus for performing the process | |
SU1429293A2 (en) | Rejector filter | |
RU2019845C1 (en) | Statistical analyzer | |
GB2058357A (en) | Averaging thermometer | |
SU656075A1 (en) | Device for determining the slipping mean value of random signal | |
SU670902A1 (en) | Method of converting frequency into analogue signal | |
RU2205500C1 (en) | Analog-to-digital converter | |
SU1501086A1 (en) | Device for determining correlation function | |
SU1486794A1 (en) | Method for measuring linear movements | |
RU2132573C1 (en) | Pulse-code transmission device | |
SU1288726A2 (en) | Device for restoring continuous functions from discrete readings | |
SU1377608A2 (en) | Temperature-measuring device | |
US5204833A (en) | Method and apparatus for recording waveform | |
SU1721434A1 (en) | Capacitive-electron displacement transducer | |
SU746543A1 (en) | Computing device for determining non-stationary stochastic objects | |
SU1539680A1 (en) | Device for measuring electric capacitance | |
SU1601615A1 (en) | Device for determining stationarity of random process | |
SU789866A1 (en) | Spectral analyser |