SU1658069A1

SU1658069A1 - Reference specimen for magnetic-field testing

Info

Publication number: SU1658069A1
Application number: SU894663810A
Authority: SU
Inventors: Александра Михайловна Шарова; Алексей Алексеевич Давыдков; Анатолий Яковлевич Тетерко; Сергей Иванович Выборненко; Анатолий Петрович Магилинский
Original assignee: Могилевский Машиностроительный Институт
Priority date: 1989-03-16
Filing date: 1989-03-16
Publication date: 1991-06-23

Abstract

Изобретение относитс к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, Целью изобретени вл етс расширение области ИСПОЛЬЗОВАНИЯ и точности имитации за счет расширени диапазона имитируемых дефектов и снижени полей рассе ни в зоне имитируемого дефекта. Цель достигаетс тем, что кажда из двух сопр гаемых частей образца выполнена со ступенькой на поазрхио предназначенной дл сопр жени , а сип. гаемые части установлены с вээможнзст взаимного перемещени в маправтеьии, совпадающем с направлением искусственного дефекта. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.The invention relates to magnetic flaw detection and can be used to control the quality of products made of ferromagnetic materials. The aim of the invention is to expand the field of USE and accuracy of imitation by expanding the range of simulated defects and reducing the scattering fields in the area of the simulated defect. The goal is achieved by the fact that each of the two matched parts of the sample is made with a step on the asympi to be mated, and a vulture. The parts are installed with the extrusion of mutual movement in the mapping, which coincides with the direction of the artificial defect. 1 hp f-ly, 3 ill.

Description

Изобретение относитс к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов.The invention relates to magnetic flaw detection and can be used to control the quality of products from ferromagnetic materials.

Целью изобретени вл етс расширение области использовани за счет расширени диапазона имитируемых дефектов и повышение точности имитации за счет снижени искажений пол рассе ни в зоне имитируемого дефекта.The aim of the invention is to expand the field of use by expanding the range of simulated defects and improving the accuracy of the simulation by reducing distortion of the scattering field in the area of the simulated defect.

На фиг.1 показан контрольный образец, общий вид; на фиг.2 - то же, с пластинами, выполненными в виде клиньев; на фиг.З - контрольный образец, поперечное сечение.Figure 1 shows the control sample, a general view; figure 2 - the same, with the plates, made in the form of wedges; on fig.Z - control sample, cross section.

Контрольный образец содержит пластину из двух сопр гаемых частей 1 и 2, кажда из которых представл ет пленку с имитатором сварного шва. На предназначенной дл сопр жени стороне каждой части пластины выполнена ступенька 3, имитирующа дефект. Сопр гаемые части образца установлены с возможностью взаимного перемещени в направлении, совпадающем г направлением искусственного дефекта, и и перпендикул рном направлении. Не боковых част х пластин образца нанесены шкалы 4 и 5.The control sample contains a plate of two mating parts 1 and 2, each of which is a film with a weld simulator. A step 3, simulating a defect, is made on the side of each part of the plate to be mated. The mating parts of the sample are mounted with the possibility of mutual displacement in the direction coinciding with the direction of the artificial defect and with the direction perpendicular to it. Scales 4 and 5 are applied to the side portions of the sample plates.

Дл имитации дефектов различной глубины залегани части 1 и 2 выполнены в виде клиньев. Глубина залегани дефекта определ етс шкалой 5. нанесенной р дом с имитатором сварного шва.To simulate defects of different depths, parts 1 and 2 are made in the form of wedges. The depth of the defect is determined by a scale 5. applied next to the weld simulator.

Контрольный образец используетс следующим образом.A control sample is used as follows.

При контроле качества сварного шва сигнал, обусловленный дефектом, сравнивают с сигналом, полученным с контрольноОWhen monitoring the quality of the weld, the signal caused by the defect is compared with the signal obtained from the control

елate

00 О00 Oh

OsOs

юYu

го образца, В результате сравнени определ ют качество сварного шва.sample, as a result of comparison, determine the quality of the weld.

Пример. Контролировали изделие с двухсторонним сварным швом, имеющим непровар между валиками швов. Изделие сваривалось с зазором 1 мм. Контроль осу- щёйтЩйли магнитографическим методом с помощью дефектоскопа МД-11Г и магнитной ленты И-4701.Example. Controlled the product with a double-sided welded seam, having a lack of penetration between the rollers of the seams. The product was welded with a gap of 1 mm. The monitoring was carried out by a magnetographic method using an MD-11G flaw detector and an I-4701 magnetic tape.

Измер ли рассто ние между экстрему- мами нормальной составл ющей пол дефекта , которое составило 5 мм.The distance between the extrema of the normal component of the defect field, which was 5 mm, was measured.

Затем контролировали контрольный образец , предварительно установив зазор Д 1 мм. В этом месте образца, где рассто- ние между экстремумами нормальной составл ющей равн лось 5 мм, по шкале определили глубину залегани дефекта 4 мм. Таким образом, глубина залегани дефекта в изделии равн етс также 4 мм. Затем сравнивали максимумы тангенциальной составл ющей напр женности иагнитного пол дефекта издели и образца . Большое значение максимума у издели свидетельствует о большей величине де- фекта в нем. Величина искусственного дефекта в контрольном образце составл ла 1,5 мм, следовательно, в изделии дефект имеет величину, большую чем 1,5 мм.Then, the control sample was monitored, having previously established a gap of D 1 mm. At this place of the sample, where the distance between the extremes of the normal component was 5 mm, the depth of the defect was 4 mm on a scale. Thus, the depth of the defect in the product is also 4 mm. Then, the maxima of the tangential component of the intensity of the magnetic field of the product and sample defect were compared. A large value of the maximum in the product indicates a larger defect in it. The magnitude of the artificial defect in the control sample was 1.5 mm, therefore, the defect in the product has a value greater than 1.5 mm.

Применение изобретени позволит расширить технологические возможности контрольного образца за счет имитации большего диапазона различных дефектов.The application of the invention will expand the technological capabilities of the control sample by simulating a larger range of different defects.

Claims

1. Inspection sample for magnetic flaw detection, which contains a plate of two parts adjoining one another and a defect simulator, characterized in that, in order to expand the field of use by expanding the range of imitating defects and increasing the simulation accuracy, the interface of each part is made step, and parts are installed with the possibility of mutual movement in the direction coinciding with the direction of the artificial defect.

2. The control sample according to claim 1, which is designed in such a way that the plates of the mating parts are made in the form of wedges and are mounted so that they can also be moved in the direction perpendicular to the direction of the artificial defect.

1

FIG. 2

Fiz.Z