SU1648687A1 - Устройство дл размерной обработки в вакууме - Google Patents

Устройство дл размерной обработки в вакууме Download PDF

Info

Publication number
SU1648687A1
SU1648687A1 SU884603984A SU4603984A SU1648687A1 SU 1648687 A1 SU1648687 A1 SU 1648687A1 SU 884603984 A SU884603984 A SU 884603984A SU 4603984 A SU4603984 A SU 4603984A SU 1648687 A1 SU1648687 A1 SU 1648687A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electron
magnetic
vacuum
lens
control unit
Prior art date
Application number
SU884603984A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Викторович Горнаков
Игорь Николаевич Мешков
Анатолий Николаевич Шарапа
Александр Вениаминович Шемякин
Original Assignee
Институт ядерной физики СО АН СССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт ядерной физики СО АН СССР filed Critical Институт ядерной физики СО АН СССР
Priority to SU884603984A priority Critical patent/SU1648687A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1648687A1 publication Critical patent/SU1648687A1/ru

Links

Landscapes

  • Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)

Description

1
(21)4603984/27 (22)21.09.88 (46)15.05.91. Бюл. № 18
(71)Институт  дерной физики СО АН СССР
(72)И.В.Горнаков, И.Н.Мешков, А.Н.Шара- па и А. в. Шем кин (53)621.791.72(088,8)
(56)За вка ФРГ № OS-3636316, кл. Н 01J 37/30, 1987.
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗМЕРНОЙ ОБРАБОТКИ В ВАКУУМЕ
(57)Изобретение относитс  к электроннолучевой обработке и может быть использовано в электронной промышленности, точном приборостроении и машиностроении . При открытом затворе 4 электронный пучок 13 фокусируетс  магнитной линзой 6 и проходит в блок параллельного переноса, содержащий магнитные отклон ющие системы 7 и 8. Система 7 размещена в фокусе системы 8, установленной неподвижно, благодар  чему на выходе из системы 8 электроны пучка 13 движутс  параллельно электронно-оптической оси электронного излучател  при любом регулируемом системой 7 отклонении пучка в пределах площади обработки. Отсутствие движущихс  отклон ющих систем упрощает конструкцию устройства и обеспечивает возможность высокопроизводительной обработки изделий . 1 ил.
v
Ё
0 00
Оч 00
12
10
Изобретение относитс  к электроннолучевой обработке и может быть использовано в электронной промышленности, в точном приборостроении и машиностроении .
Цель изобретени  - .упрощение конструкции установки дл  электронно-лучевой обработки и повышение производительности при обработке.
Нэ чертеже показана схема установки.
Установка содержит электронный излучатель 1, катодно-анодна  система которого размещена в автономной вакуумной камере 2, снабженной самосто тельной системой откачки 3. Камера 2 отделена вакуумным затвором 4 от рабочей вакуумной камеры 5 и благодар  этому в автономной камере 2 во врем  обработки изделий поддерживаетс  необходимое разрежение. Под затвором 4 размещены фокусирующа  линза 6 и две магнитные отклон ющие системы 7 и 8. В камере 5 размещены рабочий стол 9 (выполненный в виде поворотного диска, приспособленного дл  жесткой фиксации на нем обрабатываемых изделий), под которым находитс  приемник электронов 10 (выполненный в виде цилиндра Фараде ), электрически св занный с блоком управлени  11 (на основе ЭВМ). Камера5соединена с системой откачки 12. Рабочий стол 9 выполнен из нержавеющей (немагнитной) стали , и в нем р дом с каждым местом закреплени  обрабатываемого издели  выполнены сквозные отверсти  диаметром 1 мм, выполн ющие роль реперов. Отклон ющие системы 7 и 8 обеспечивают параллельный перекос пучка 13, причем система 8 установлена неподвижно, а система 7 размещена в фокусе системы 8.
Перед обработкой на столе 9 размещают издели , подлежащие обработке. Затем камеру 5 герметизируют и при закрытом затворе 4 камеру 5 откачивают до давлени  5 1ЈГ6 торр, а камеру 2 - до давлени  5 -1 (Г7 торр.
При открытом затворе 4 генерируемый электронный пучок 13 фокусируетс  фокусирующей магнитной линзой 6 и проходит в блок параллельного переноса, содержащий магнитные отклон ющие системы 7 и 8. Поскольку система 7 размещена в фокусе сис- темы 8, то на выходе из системы 8 электроны пучка 13 движутс  параллельно электронно-оптической оси излучател  1 при любом регулируемом системой 7 отклонении пучка 13 в пределах площади обработки . В описываемой установке энерги 
пучка достигает 100 кэВ при токе 5-10 мА и плотности мощности в п тне нагрева более 3 -106 Вт/см2, при которой обеспечиваетс  формирование отверстий в материале, Необходима  при обработке точность обеспечиваетс  путем использовани  реперных отверстий в рабочем столе 9 (не показаны). Использу  отклон ющую систему 7, колеблют пучок и перемещают п тно нагрева по
поверхности стола 9 вблизи реперных отверстий (импульсы тока при этом имеют длительность пор дка 15 мк сёк) без оплавлени  краев этих отверстий. Проход  над реперным отверстием, пучок,улавливаетс 
приемником 10, а его ток регистрируетс  блоком управлени  11. Программа этого блока по зависимости величины этого тока от положени  пучка определ ет место положени  издели  с точностью до 50 мкм. После
этого в сответствии с надлежащей программой блок управлени  11 обеспечивает обработку изделий, последовательно переносимых столом 9 под пучок 13.
С помощью описанного устройства произвели обработку пластин из керамики 22ХС толщиной 1 мм. Размер рисунка был равен 30 мм х 30 мм. В заданной последовательности выполн ли отверсти  диаметром 0,12мм, располага  их перпендикул оноповерхности пластин с точностью до рад. На указанной площади разместили до 1000 отверстий без искажени  их формы на периферийных част х пластин.
Технико-экономическа  эффективность
изобретени  определ етс  масштабами его применени  и стоимостью обрабатываемых изделий.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Устройство дл  размерной обработки в вакууме, содержащее электронный излучатель с последовательно размещенными вдоль его электронно-оптической оси фокусирующей магнитной линзой и двум  магнитными отклон ющими системами, а также блок управлени , рабочий стол и размещенный с обратной стороны рабочего стола приемник электронов, электрически св занный с блоком управлени , о т л и ч аю щ е е с   тем, что, с целью упрощени  конструкции и повышени  производительности обработки, магнитна  отклон юща  система, размещенна  на большем рассто нии от фокусирующей линзы, выполнена в
    виде неподвижной магнитной линзы, а друга  магнитна  отклон юща  система размещена в ее фокусе.
SU884603984A 1988-09-21 1988-09-21 Устройство дл размерной обработки в вакууме SU1648687A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884603984A SU1648687A1 (ru) 1988-09-21 1988-09-21 Устройство дл размерной обработки в вакууме

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884603984A SU1648687A1 (ru) 1988-09-21 1988-09-21 Устройство дл размерной обработки в вакууме

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1648687A1 true SU1648687A1 (ru) 1991-05-15

Family

ID=21408766

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884603984A SU1648687A1 (ru) 1988-09-21 1988-09-21 Устройство дл размерной обработки в вакууме

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1648687A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3140379A (en) Method for forming modular electronic components
US3326176A (en) Work-registration device including ionic beam probe
US4367411A (en) Unitary electromagnet for double deflection scanning of charged particle beam
US3152238A (en) Electron beam centering apparatus
US3118050A (en) Electron beam devices and processes
JPS58190023A (ja) 荷電粒子ビーム走査方法および装置
JPH03241651A (ja) イオン注入装置における高効率走査のための方法及び装置
US4433247A (en) Beam sharing method and apparatus for ion implantation
US3146335A (en) Focusing device for electron beams
US4393295A (en) Apparatus and method for engraving with an electron beam
SU1648687A1 (ru) Устройство дл размерной обработки в вакууме
JPH10189496A (ja) ウェーハ切断方法およびその装置
US5153441A (en) Electron-beam exposure apparatus
US3148265A (en) Means for focusing beams of charged particles
EP0280714B1 (en) Beam position correction device
US3308263A (en) Arrangement for welding, cutting or working materials by means of an electron beam
US3417224A (en) Method and device for working material by means of a corpuscular beam
CN111739776A (zh) 一种回旋离子束加工装置
GB1275577A (en) Arrangement and method for controlling the displacements of a wafer or like sample in electronic apparatus
CN212725220U (zh) 一种回旋离子束加工装置
US5070275A (en) Ion implantation device
JPS6324535A (ja) 電子ビ−ム加工装置
JPS57113549A (en) Electron beam processing machine
JP2650508B2 (ja) 電子銃
JPS6290842A (ja) 集束イオンビ−ム照射装置