SU1648687A1 - Устройство дл размерной обработки в вакууме - Google Patents
Устройство дл размерной обработки в вакууме Download PDFInfo
- Publication number
- SU1648687A1 SU1648687A1 SU884603984A SU4603984A SU1648687A1 SU 1648687 A1 SU1648687 A1 SU 1648687A1 SU 884603984 A SU884603984 A SU 884603984A SU 4603984 A SU4603984 A SU 4603984A SU 1648687 A1 SU1648687 A1 SU 1648687A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electron
- magnetic
- vacuum
- lens
- control unit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
Description
1
(21)4603984/27 (22)21.09.88 (46)15.05.91. Бюл. № 18
(71)Институт дерной физики СО АН СССР
(72)И.В.Горнаков, И.Н.Мешков, А.Н.Шара- па и А. в. Шем кин (53)621.791.72(088,8)
(56)За вка ФРГ № OS-3636316, кл. Н 01J 37/30, 1987.
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАЗМЕРНОЙ ОБРАБОТКИ В ВАКУУМЕ
(57)Изобретение относитс к электроннолучевой обработке и может быть использовано в электронной промышленности, точном приборостроении и машиностроении . При открытом затворе 4 электронный пучок 13 фокусируетс магнитной линзой 6 и проходит в блок параллельного переноса, содержащий магнитные отклон ющие системы 7 и 8. Система 7 размещена в фокусе системы 8, установленной неподвижно, благодар чему на выходе из системы 8 электроны пучка 13 движутс параллельно электронно-оптической оси электронного излучател при любом регулируемом системой 7 отклонении пучка в пределах площади обработки. Отсутствие движущихс отклон ющих систем упрощает конструкцию устройства и обеспечивает возможность высокопроизводительной обработки изделий . 1 ил.
v
Ё
0 00
Оч 00
12
10
Изобретение относитс к электроннолучевой обработке и может быть использовано в электронной промышленности, в точном приборостроении и машиностроении .
Цель изобретени - .упрощение конструкции установки дл электронно-лучевой обработки и повышение производительности при обработке.
Нэ чертеже показана схема установки.
Установка содержит электронный излучатель 1, катодно-анодна система которого размещена в автономной вакуумной камере 2, снабженной самосто тельной системой откачки 3. Камера 2 отделена вакуумным затвором 4 от рабочей вакуумной камеры 5 и благодар этому в автономной камере 2 во врем обработки изделий поддерживаетс необходимое разрежение. Под затвором 4 размещены фокусирующа линза 6 и две магнитные отклон ющие системы 7 и 8. В камере 5 размещены рабочий стол 9 (выполненный в виде поворотного диска, приспособленного дл жесткой фиксации на нем обрабатываемых изделий), под которым находитс приемник электронов 10 (выполненный в виде цилиндра Фараде ), электрически св занный с блоком управлени 11 (на основе ЭВМ). Камера5соединена с системой откачки 12. Рабочий стол 9 выполнен из нержавеющей (немагнитной) стали , и в нем р дом с каждым местом закреплени обрабатываемого издели выполнены сквозные отверсти диаметром 1 мм, выполн ющие роль реперов. Отклон ющие системы 7 и 8 обеспечивают параллельный перекос пучка 13, причем система 8 установлена неподвижно, а система 7 размещена в фокусе системы 8.
Перед обработкой на столе 9 размещают издели , подлежащие обработке. Затем камеру 5 герметизируют и при закрытом затворе 4 камеру 5 откачивают до давлени 5 1ЈГ6 торр, а камеру 2 - до давлени 5 -1 (Г7 торр.
При открытом затворе 4 генерируемый электронный пучок 13 фокусируетс фокусирующей магнитной линзой 6 и проходит в блок параллельного переноса, содержащий магнитные отклон ющие системы 7 и 8. Поскольку система 7 размещена в фокусе сис- темы 8, то на выходе из системы 8 электроны пучка 13 движутс параллельно электронно-оптической оси излучател 1 при любом регулируемом системой 7 отклонении пучка 13 в пределах площади обработки . В описываемой установке энерги
пучка достигает 100 кэВ при токе 5-10 мА и плотности мощности в п тне нагрева более 3 -106 Вт/см2, при которой обеспечиваетс формирование отверстий в материале, Необходима при обработке точность обеспечиваетс путем использовани реперных отверстий в рабочем столе 9 (не показаны). Использу отклон ющую систему 7, колеблют пучок и перемещают п тно нагрева по
поверхности стола 9 вблизи реперных отверстий (импульсы тока при этом имеют длительность пор дка 15 мк сёк) без оплавлени краев этих отверстий. Проход над реперным отверстием, пучок,улавливаетс
приемником 10, а его ток регистрируетс блоком управлени 11. Программа этого блока по зависимости величины этого тока от положени пучка определ ет место положени издели с точностью до 50 мкм. После
этого в сответствии с надлежащей программой блок управлени 11 обеспечивает обработку изделий, последовательно переносимых столом 9 под пучок 13.
С помощью описанного устройства произвели обработку пластин из керамики 22ХС толщиной 1 мм. Размер рисунка был равен 30 мм х 30 мм. В заданной последовательности выполн ли отверсти диаметром 0,12мм, располага их перпендикул оноповерхности пластин с точностью до рад. На указанной площади разместили до 1000 отверстий без искажени их формы на периферийных част х пластин.
Технико-экономическа эффективность
изобретени определ етс масштабами его применени и стоимостью обрабатываемых изделий.
Claims (1)
- Формула изобретениУстройство дл размерной обработки в вакууме, содержащее электронный излучатель с последовательно размещенными вдоль его электронно-оптической оси фокусирующей магнитной линзой и двум магнитными отклон ющими системами, а также блок управлени , рабочий стол и размещенный с обратной стороны рабочего стола приемник электронов, электрически св занный с блоком управлени , о т л и ч аю щ е е с тем, что, с целью упрощени конструкции и повышени производительности обработки, магнитна отклон юща система, размещенна на большем рассто нии от фокусирующей линзы, выполнена ввиде неподвижной магнитной линзы, а друга магнитна отклон юща система размещена в ее фокусе.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884603984A SU1648687A1 (ru) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | Устройство дл размерной обработки в вакууме |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884603984A SU1648687A1 (ru) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | Устройство дл размерной обработки в вакууме |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1648687A1 true SU1648687A1 (ru) | 1991-05-15 |
Family
ID=21408766
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884603984A SU1648687A1 (ru) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | Устройство дл размерной обработки в вакууме |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1648687A1 (ru) |
-
1988
- 1988-09-21 SU SU884603984A patent/SU1648687A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3140379A (en) | Method for forming modular electronic components | |
US3326176A (en) | Work-registration device including ionic beam probe | |
US4367411A (en) | Unitary electromagnet for double deflection scanning of charged particle beam | |
US3152238A (en) | Electron beam centering apparatus | |
US3118050A (en) | Electron beam devices and processes | |
JPS58190023A (ja) | 荷電粒子ビーム走査方法および装置 | |
JPH03241651A (ja) | イオン注入装置における高効率走査のための方法及び装置 | |
US4433247A (en) | Beam sharing method and apparatus for ion implantation | |
US3146335A (en) | Focusing device for electron beams | |
US4393295A (en) | Apparatus and method for engraving with an electron beam | |
SU1648687A1 (ru) | Устройство дл размерной обработки в вакууме | |
JPH10189496A (ja) | ウェーハ切断方法およびその装置 | |
US5153441A (en) | Electron-beam exposure apparatus | |
US3148265A (en) | Means for focusing beams of charged particles | |
EP0280714B1 (en) | Beam position correction device | |
US3308263A (en) | Arrangement for welding, cutting or working materials by means of an electron beam | |
US3417224A (en) | Method and device for working material by means of a corpuscular beam | |
CN111739776A (zh) | 一种回旋离子束加工装置 | |
GB1275577A (en) | Arrangement and method for controlling the displacements of a wafer or like sample in electronic apparatus | |
CN212725220U (zh) | 一种回旋离子束加工装置 | |
US5070275A (en) | Ion implantation device | |
JPS6324535A (ja) | 電子ビ−ム加工装置 | |
JPS57113549A (en) | Electron beam processing machine | |
JP2650508B2 (ja) | 電子銃 | |
JPS6290842A (ja) | 集束イオンビ−ム照射装置 |