SU1633279A1 - Способ измерени площади плоских объектов и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ измерени площади плоских объектов и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1633279A1
SU1633279A1 SU884483690A SU4483690A SU1633279A1 SU 1633279 A1 SU1633279 A1 SU 1633279A1 SU 884483690 A SU884483690 A SU 884483690A SU 4483690 A SU4483690 A SU 4483690A SU 1633279 A1 SU1633279 A1 SU 1633279A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
cylinder
area
dielectric
radiation
photodetector
Prior art date
Application number
SU884483690A
Other languages
English (en)
Inventor
Алексей Александрович Каханов
Див Соломонович Варшавский
Юрий Григорьевич Шмигирилов
Иван Григорьевич Забашта
Людмила Николаевна Галахова
Людмила Михайловна Виноградова
Original Assignee
Усть-Каменогорский Строительно-Дорожный Институт
Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Силового Конденсаторостроения
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Усть-Каменогорский Строительно-Дорожный Институт, Всесоюзный Научно-Исследовательский Институт Силового Конденсаторостроения filed Critical Усть-Каменогорский Строительно-Дорожный Институт
Priority to SU884483690A priority Critical patent/SU1633279A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1633279A1 publication Critical patent/SU1633279A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  определени  площади плоских объектов. Целью изобретени   вл етс  расширение области использовани  путем определени  площади эрозии металлизированных диэлектриков и повышение производительности измерений . Диэлектрик размещают на полом прозрачном цилиндре. На поверхность цилиндра вне зоны размещени  диэлектрика нанос т непрозрачное вещество. Освещают диэлектрик диффузно рассе нным излучением, регистрируют прошедшее излучение и определ ют площадь всего диэлектрика, затем его удал ют с поверхности цилиндра и подвергают эрозии. Производ т вторую регистрацию прошедшего излучени . Диэлектрик возвращают на поверхность цилиндра и производ т третью регистрацию прошедшего излучени . Определ ют площадь поверхности диэлектрика, котора  подверглась эрозии. 2 с. и 1 з.п.ф-лы, 1 ил. Ј (Л

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  определени  площади плоских объектов.
Целью изобретени   вл етс  расширение области использовани  путем определени  площади эрозии металлизированных диэлектриков и повышение производительности измерений.
На чертеже изображено устройство дл  измерени  площади плоских объектов .
Устройство содержит полый прозрачный цилиндр 1, источник излучени , размещенный вне цилиндра 1 и выполненный в виде излучателей 2, равномерно распределенных с внешней стороны цилиндра 1, фотодетектор 3, размещенный внутри цилиндра 1, блок 4 обработки сигнала с фотодетектора 3, первый рассеиватель 5, размещенный между источником излучени  и цилиндром 1, и второй рассеиватель 6, размещенный на внутренней1 поверхности цилиндра 1, фотодетектор 3 размещен на оси цилиндра 1.
О5 00 СО N3 1 СО
УстрЬйство дл  осуществлени  способа измерени  площади плоских объектов работает следующим образом.
Объект размещают на поверхности
полого прозрачного цилиндра 1. В качестве объекта берут металлизированный диэлектрик, который наматывают на поверхность цилиндра 1 в один или не- сколько слоев. На поверхность цилиндра 1 вне зоны размещени  диэлектрика нанос т непрозрачное вещество. Освещают металлизированный диэлектрик излучением от источника излучени  в виде излучателей 2, равномерно распределенных с внешней стороны цилиндра 1. Освещение производ т диффузно рассе нным излучением, что достигаетс  с помощью первого рассеивател  5, размещенного между источником излучени  и цилиндром 1.
Прошедшее излучение регистрируют фотодетектором 3 и по сигналу с фо- тодетектора 3 определ ют площадь объекта, т.е. площадь всего металлизированного диэлектрика. После этого диэлектрик удал ют с поверхности цилиндра 1 и подвергают эрозии. Произ- вод т вторую регистрацию прошедшего излучени  фотодетектором 3. Сигнал с фотодетектора 3 при второй регистрации соответствует тому случаю, когда 100% площади металлизированного ди- электрика .подвергнуто эрозии. Подвергнутый эрозии диэлектрик воэвра- .щают на поверхность цилиндра 1 и производ т третью регистрацию прошедшего излучени .
Величина сигнала с фотодетектора 3 при третьей регистрации зависит от площади поверхности диэлектрика, подвергшейс  эрозии. Сравнива  величину этого сигнала с величинами двух предыдущих сигналов, зарегистрированных блоком 4 обработки сигнала, первый из которых соответствует полному отсутствию эрозии, а второй 100Ј-й эрозии, определ ют площадь поверхности диэлектрика, котора  подверглась эрбзии.

Claims (3)

  1. Формула изобретени  1. Способ измерени  площади плоских объектов, заключающийс  в том, что объект размещают на поверхности полого прозрачного цилиндра, освещают объект излучением от источника, расположенного вне цилиндра, регистрируют прошедшее излучение фотодетектором и по сигналу с фотодетектора определ ют площадь объекта, отличающийс  тем, что, с целью раширени  области использовани  путем определени  площади эрозии металлизированных диэлектриков, на поверхность цилиндра вне зоны размещени  диэлектрика нанос т непрозрачное вещество , освещение производ т диффузно рассе нным излучением, после регистрации прошедшего излучени  диэлектрик удал ют с поверхности цилинра и подвергают эрозии, производ т вторую регистрацию прошедшего излучени , возвращают диэлектрик на поверхность цилиндра, производ т третью регистрацию прошедшего излучени  и определ ют площадь поверхности диэлектрика котора  подвергалась эрозии .
  2. 2.Способ по п. отличающийс  тем,что, с целью повышени  производительности, на поверхности цилиндра размещают несколько слоев диэлектрика.
  3. 3.Устройство дл  измерени  площади плоских объектов, содержащее полый прозрачный цилиндр, источник излучени , размещенный вне цилиндра, фотодетектор, размещенный внутри цилиндра , и блок обработки сигнала с фотодетектора, отличающеес  тем, что, с целью расширени  области использовани  путем определени  площади эрозии металлизированных диэлектриков, оно снабжено первым рассеивателем, размещенным между источником излучени  и цилиндром, и вторым рассеивателем, размещенным на внутренней поверхности цилиндра, фотодетектор размещен на оси цилиндра,
    а источник излучени  выполнен в виде излучателей, равномерно распределенных с внешней стороны цилиндра.
    /////////////////////////////
SU884483690A 1988-07-14 1988-07-14 Способ измерени площади плоских объектов и устройство дл его осуществлени SU1633279A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884483690A SU1633279A1 (ru) 1988-07-14 1988-07-14 Способ измерени площади плоских объектов и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884483690A SU1633279A1 (ru) 1988-07-14 1988-07-14 Способ измерени площади плоских объектов и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1633279A1 true SU1633279A1 (ru) 1991-03-07

Family

ID=21399730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884483690A SU1633279A1 (ru) 1988-07-14 1988-07-14 Способ измерени площади плоских объектов и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1633279A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 731279, кл. G 01 В 11/28, 1980. Авторское свидетельство СССР № 268677, кл. G 01 В 11/28, 1970. Авторское свидетельство СССР № 1173177, кл. G 01 В 9/02, G 01 В 11/00, 1985. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU560701B2 (en) Photomultiplier testing for defects
SE8301574L (sv) Apparat for optisk undersokning av foremal
DE59000273D1 (de) Anordnung zur dickenmessung von duennschichten.
DK272687D0 (da) Indriekte kolometrisk paavisning af en analyt i en proeve under anvendelse af forholdet mellem lyssignaler
SE7507161L (sv) Anordning for optiskt ekthetsprovning av sedlar och andra verdehandlingar.
ES8706959A1 (es) Procedimiento y aparato para la determinacion rapida de al menos un parametro de un medio de prueba
ES2189841T3 (es) Procedimiento y disposicion para medir el diametro de los articulos con forma de barra de la industria elaboradora de tabaco.
SU1633279A1 (ru) Способ измерени площади плоских объектов и устройство дл его осуществлени
DE69016089D1 (de) Gerät zur Ermittlung des Übersprechniveaus eines optischen Lesesignales.
JPS56124003A (en) Measuring device for pattern
ES509142A0 (es) Procedimiento para determinar la presencia de una analito en una muestra sospechosa de contenerlo.
SE7705350L (sv) Sett och anordning for detektering av defekter
FR2294601A1 (fr) Methode et circuit pour le controle et la detection de defaillance de signaux de balayage
BG26405A3 (bg) Метод за получаване на устойчиви -б- лактамов тип антибиотични дискове за изпробване чувствителността на различни микроорганизми
JPS545750A (en) Pattern inspecting method
JPS5694248A (en) Detector for foreign matter on surface
FI844121A0 (fi) Foerfarande och anordning foer inspektion av en propelleraxel.
JPS5249880A (en) Defect inspecting apparatus
JPS51150346A (en) Scattering radial bundle reading method
JPS5263379A (en) Measurement of space filter speeds using coherent light
AU7337791A (en) A method of measuring slurry
JPS53131848A (en) Surface defect detector of photoreceptor
JPS5582904A (en) Measuring device
JPS57208405A (en) Device for measuring surface roughness
SU1633273A2 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени линейных размеров