SU1620911A1

SU1620911A1 - Способ определени степени шаржировани поверхности материала

Info

Publication number: SU1620911A1
Application number: SU884628875A
Authority: SU
Inventors: Виктор Владимирович Маковецкий
Original assignee: Институт сверхтвердых материалов АН УССР
Priority date: 1988-12-30
Filing date: 1988-12-30
Publication date: 1991-01-15

Description

1

(21)4628875/28

(22)30.12.88

(46) 15.01.91. Бюп. № 2

(71)Институт сверхтвердых материалов АН УССР

(72)В.В.Маковецкий

(53)531.717.7 (088.8)

(56)Авторское свидетельство СССР № 1525552, кл. G 01 N 3/56, 1987.

(54)СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ ШАРЖИРОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА

(57)Изобретение относитс к контролю наличи шаржированных частиц после абразивной обработки. Цель изобретени повышение точности при оценке степени шаржировани материалов абразивными зернами вследствие полного соответстви микропрофилей поверхностей исследуемого материала и контрольного образца. Цель достигаетс предварительным подбором материала контрольного образца. В качестве материала контрольного образца выбираетс материал, имеющий электрофизические свойства аналогичные исследуемому . С шаржированной поверхности снимают профилограмму, определ ют по профилограмме картины распределени профил относительно средней линии. При этом при симметричном профиле имитацию шероховатости исследуемой поверхности производ т путем получени зеркального отпечатка на предварительно подобранном материале контрольного образца, при несимметричном профиле получают зеркальный отпечаток на проитвольно выбранном материале, а затем повторный отпечаток с зеркального отпечатка на подобранном материале. 3 з.п. ф-лы, 3 ил.

а S

/

Изобретение относитс к абразивной обработке металлов, а именно к технике контрол наличи шаржированных частиц из сверхтвердых материалов после абразивной обработки.

Цель изобретени - повышение точности определени степени шаржировани за счет более полного соответстви микрорельефа поверхности исследуемого материала.контрольного образца .

Согласно предлагаемому способу сравнивают емкости исследуемой поверхности и отпечатка с этой поверхности . На шаржированной исследуемой поверхности абразивные (алмазные)

зерна вл ютс изол торами,и, следовательно , площадь образовываемого конденсатора уменьшаетс на величину площади занимаемой зернами. Расчет степени шаржировани производитс по формуле:

05

to

О

со

s

100%,

где S - степень шаржировани , %,

С. - емкость исследуемой поверхности , Ф,

С - емкость эталонного отпечатка , t,

К - коэффициент пропорциональности , получаемый контрольным определением методом катодной люминесценции, зависит от условий измерений. Так как на различных материалах имеютс различные окисные пленки, , оказывающие свое вли ние на емкость поверхности, то об зательным условием вл етс равенство емкостей поверхностей исследуемого материала и мате- риала, из которого изготовлен контрольный образец. Дл этого с нешаржированного участка исследуемого образца снимают отпечаток на материале будущих контрольных образцов и срав- киваю емкости поверхностей нешар- жировакного участка исследуемого материала и отпечатка. Если емкости эти поверхностей равны, то материал, из которого изготовлен отпечаток, под- ходит дл реализации предлагаемого способа определени степени шаржировани .

На фиг. 1-3 показаны картины распределени профил поверхности после обработки ее абразивом.

Микрорельеф шаржированной поверхности может быть симметричным относительно средней линии (фиг.1а) и несимметричным (фиг.2а, За). Микро- рельеф, изображенный на фиг. 2а, возникает в случае обработки крупными зернистост ми абразива. Некоторые особо прочные зерна проникают на значительную глубину в обрабатываемый материал, а затем разрушаютс . В результате возникают отдельно расположенные глубокие кратеры, резко отличающиес от общего микрорельефа.

При малых нагрузках на притир отдельные особо крупные зерна могут частично внедритьс в обрабатываемый материал и значительно из него выступать (фиг.За). Если получить зеркальный отпечаток с поверхностей, изображенных на фиг.2а и За, то на этих отпечатках существенно измен етс высота основного профил . Следовательно , измен етс рассто ние между средней линией профил и плоскостью датчика и измен етс емкость конденсатора , составл емого плоскостью датчика и исследуемой поверхностью. Поэтому в случа х несимметричного профил необходимо снимать повторный отпечаток с зеркального отпечатка.

В качестве материала отпечатка можно использовать токопрсвод щую фольгу. Минимальную толщину фольги

,

, - JQ J5 х 20

25

,„ 55

35

40

50

в зависимости от ее пластичности выбирают исход из того, чтобы не было проколов и разрывов. Отпечаток на фольге получают деформированием на исследуемой поверхности через пластичный материал, например свинец , либо упругий (резина).

Можно использовать в качестве материала отпечатка непосредственно пластичный материал, например оловос Отпечаток можно получить путем отлива материала на исследуемую поверхность , например расплавленное олово разлить на исследуемую поверхность.

Claims

1.Способ определени степени шаржировани поверхности материала, заключающийс в том, что выбирают контрольный образец с эталонной поверхностью , имитируют на нем шероховатость исследуемой поверхности, определ ют электроемкости обеих поверхностей , сравнивают их и по результатам сравнени суд т о степени шаржировани исследуемой поверхности , отличающийс тем, что, с целью повышени точности, контрольный образец выбирают из материала , имеющего аналогичные электрофизические свойства с исследуемым, с шаржированной поверхности снимают профилограмму, по которой определ ют картину распределени профил относительно средней линии, а шероховатость исследуемой поверхности имитируют путем сн ти с нее отпечатка

с учетом полученной картины распределени профил

2.Способ по п.1, отличающийс тем, что, с целью повышени точности контрол симметричного профил , получают зеркальный отпечаток на материале контрольного образца .

30 Способ по п.1, отличающийс тем, что, с целью повышени точности контрол несимметричного профил , получают зеркальный отпечаток на произвольно выбранном материале, а затем повтор ют отпечаток с зеркального отпечатка на материале контрольного образца.

4 „ Способ поп.1, отличающийс тем, что при выборе материала контрольного образца с нешаржи- рованиой поверхности исследуемого материала снимают отпечатки на материалах контрольного образца и выбираVMAVV

а

ют в качестве материала контрольного образца тот, электрическа емкость отпечатка которого равна электрической емкости нешаржированной поверхности исследуемого материала.

z, z

z,z. Фиг. I