SU159052A1 - DEVICE FOR MEASURING MICROTERVERSITY - Google Patents
DEVICE FOR MEASURING MICROTERVERSITYInfo
- Publication number
- SU159052A1 SU159052A1 SU802339A SU802339A SU159052A1 SU 159052 A1 SU159052 A1 SU 159052A1 SU 802339 A SU802339 A SU 802339A SU 802339 A SU802339 A SU 802339A SU 159052 A1 SU159052 A1 SU 159052A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measuring
- indenter
- sample
- microterversity
- dewar
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical Effects 0.000 description 4
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
Description
Известны приборы дл измерени микротвердости путем пр мого нагружени алмазной пирамиды, содержащие оптическую систему дл отсчета размеров отпечатков и металлографических исследований плоских шлифов.Microhardness measuring devices by direct loading of a diamond pyramid are known, which contain an optical system for reading print sizes and metallographic studies of flat sections.
Предлагаемый прибор дл проведени испытаний при низких температурах снабжен вакуумной камерой с расположенными внутри нее предметным столиком дл образца и инденторным устройством, размещенной в сосуде Дюара, в который поступает охлаждающа жидкость.The proposed device for conducting tests at low temperatures is equipped with a vacuum chamber with an sample stage located inside it and an indenter device placed in a Dewar vessel, into which cooling fluid enters.
На фиг. 1 изображен общий вид предлагаемого прибора; на фиг. 2 - вакуумна камера прибора, продольный разрез.FIG. 1 shows a general view of the proposed device; in fig. 2 - vacuum chamber of the device, longitudinal section.
На плите 1 прибора расположена верхн крышка 2, котора винтами 3 может перемещатьс в двух взаимно перпендикул рных направлени х. В крыщку вмонтированы оптическа система дл отсчета размеров отпечатка с объективом 4 и инденторное устройство 5.On the plate 1 of the device is located the top cover 2, which with screws 3 can move in two mutually perpendicular directions. An optical system for reading the dimensions of a print with lens 4 and an indenter device 5 are mounted into the cover.
В вакуумной камере 6 прибора расположены предметный столик 7 и индентор 8. Камера помещена в сосуде 9 Дюара, в который поступает охлажденна жидкость из переносного сосуда Дюара (на чертеже не показан) по трубке 10. Внутри камеры 6 расположен другой сосуд // Дюара.In the vacuum chamber 6 of the device, an object table 7 and an indenter 8 are located. The chamber is placed in the Dewar vessel 9, into which cooled fluid from the Dewar portable vessel (not shown) is fed through tube 10. Another vessel is located inside the chamber 6 // Dewar.
Испытуемый образец 12 одним концом закреплен в зажиме предметного столика, а другим соединен с т гой 13 и пружинным динамометром 14.The test sample 12 is fixed at one end in the clamp of the stage, and the other is connected to the pull 13 and the spring dynamometer 14.
При проведении измерений образец устанавливают на предметный столик, крышкой 2 закрывают измерительную камеру и включают откачку дл создани вакуума. Затем сосуд 9 Дюара заливают жидким азотом (или другим жидким хладоносителем) и охлаждаЮТ образец через холодопровод щий стержень 15. Одновременно охлаждают индентор 8 (алмазной пирамиды) до температуры испытуемого образца. После того как образец и индентор охлаждены до нужной температуры (контролируетс термопарой или термометрами сопротивлени ), изучают микроструктуру и измер ют микротвердость охлажденного образца . Микротвердость измер ют пр мым нагружением индентора 8 и последующим отсчетом размеров (диагоналей) отпечатка через оптическую систему.When measuring, the sample is placed on the stage, the measuring chamber is covered with a lid 2 and pumping is started to create a vacuum. Then the Dewar vessel 9 is filled with liquid nitrogen (or other liquid coolant) and cools the sample through the cooling rod 15. At the same time, cool the indenter 8 (diamond pyramid) to the temperature of the test sample. After the sample and the indenter are cooled to the desired temperature (controlled by a thermocouple or resistance thermometers), the microstructure is examined and the microhardness of the cooled sample is measured. The microhardness is measured by direct loading of the indenter 8 and the subsequent reading of the dimensions (diagonals) of the fingerprint through the optical system.
Предмет изобретени Прибор дл измерени микротвердости путем пр мого нагружени алмазной пирамиды, содержащий оптическую систему дл отсчета размеров отпечатка и сосуд Дюара, отличающийс тем, что, с целью проведени испытаний при низких температурах, он снабжен вакуумной камерой с расположенными внутри нее предметным столиком дл образца и инденторным устройством, размещенной в сосуде Дюара, в который поступает охлаждающа жидкость.Subject of the Invention A device for measuring microhardness by direct loading of a diamond pyramid containing an optical system for reading print sizes and a Dewar vessel, characterized in that, in order to carry out tests at low temperatures, it is equipped with a vacuum chamber with an object stage for the sample and an indenter device placed in a Dewar vessel, into which cooling fluid flows.
Фи2Phi2
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU159052A1 true SU159052A1 (en) |
Family
ID=
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3738160A (en) * | 1970-12-24 | 1973-06-12 | Nippon Kogaku Kk | High-temperature hardness meter provided with a device for moving a sample object |
RU2515122C1 (en) * | 2012-11-14 | 2014-05-10 | Открытое акционерное общество "Техдиагностика" | Stationary durometer for measurement of hardness of metal samples under negative temperature |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3738160A (en) * | 1970-12-24 | 1973-06-12 | Nippon Kogaku Kk | High-temperature hardness meter provided with a device for moving a sample object |
RU2515122C1 (en) * | 2012-11-14 | 2014-05-10 | Открытое акционерное общество "Техдиагностика" | Stationary durometer for measurement of hardness of metal samples under negative temperature |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Costello et al. | The direct measurement of temperature changes within freeze‐fracture specimens during rapid quenching in liquid coolants | |
US4425810A (en) | Apparatus for physical properties measurements at high temperatures and pressures | |
US5088833A (en) | Method and apparatus for monitoring cloud point or like transition temperature | |
US5460450A (en) | Cryogenic hygrometer | |
ES2168002T3 (en) | TEST DEVICE FOR FRICTION MATERIALS. | |
SU159052A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING MICROTERVERSITY | |
US7852554B2 (en) | Cryogenic immersion microscope | |
US4704872A (en) | Thermally controlled T/R module test apparatus | |
US3203226A (en) | Apparatus and method for measuring the freezing points of liquids | |
NL1016581C2 (en) | Cooling device for cells containing liquid samples, in particular samples of petroleum products to be analyzed. | |
RU2620028C1 (en) | Thermostatic device for nanocalorimetric measurements on chip with ultra-high heating and cooling rates | |
Bald et al. | A device for the rapid freezing of biological specimens under precisely controlled and reproducible conditions | |
US3896658A (en) | Controlled low-temperature cooling apparatus | |
Gordon | Isothermal jacket microcalorimeter for heat effects of long duration | |
US4541730A (en) | Apparatus and method for testing evacuatable dewar vessels | |
SU779870A1 (en) | Device for measuring heat conductance | |
McCrone | High and low temperature microscopy | |
PL245728B1 (en) | Device for testing the solubility of solid carbon dioxide in solvents and a solubility testing method performed with this device | |
SU300806A1 (en) | INSTALLATION FOR TESTING MATERIALS | |
SU887890A1 (en) | Cruostat for investigating shape memoryg effect | |
Herbert et al. | An efficient continuous flow helium cooling unit for mossbauer experiments | |
SU684390A1 (en) | Apparatus for investigating plastic properties of solids at cryogenic temperatures | |
Khayyat et al. | The integrated relative retardation in a photoelastic cylinder with a radial temperature gradient | |
SU60715A1 (en) | Hygrometer-type device for monitoring the state of liquid vapors | |
Huang et al. | Experimental determination of the Leidenfrost transition for water and aqueous liquid mixtures |