SU1582035A1 - Pressure transducer - Google Patents

Pressure transducer Download PDF

Info

Publication number
SU1582035A1
SU1582035A1 SU874274042A SU4274042A SU1582035A1 SU 1582035 A1 SU1582035 A1 SU 1582035A1 SU 874274042 A SU874274042 A SU 874274042A SU 4274042 A SU4274042 A SU 4274042A SU 1582035 A1 SU1582035 A1 SU 1582035A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
membrane
support
crystal
pressure
elastic
Prior art date
Application number
SU874274042A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Валерий Викторович Иванов
Алексей Сергеевич Плешивцев
Александр Александрович Смирнов
Original Assignee
Организация П/Я В-8466
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Организация П/Я В-8466 filed Critical Организация П/Я В-8466
Priority to SU874274042A priority Critical patent/SU1582035A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1582035A1 publication Critical patent/SU1582035A1/en

Links

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к полупроводниковым датчикам давлени . Целью изобретени   вл етс  повышение надежности. Датчик содержит мембрану 2, выполненную в полупроводниковом кристалле 1, который установлен на опоре 5. На мембране установлены тензоэлементы. При действии давлени  на мембрану 2 с тензоэлементов снимаетс  сигнал, пропорциональный давлению. Мембрана покрыта эластичным защитным покрытием, а кристалл 1 закреплен на опоре 5 с помощью эластичного материала. Мембрана 2 выполнена переменной толщины, ступенчатого профил , что повышает ее прочность при действии избыточного давлени . 1 ил.The invention relates to a measurement technique, namely semiconductor pressure sensors. The aim of the invention is to increase reliability. The sensor contains a membrane 2, made in the semiconductor crystal 1, which is mounted on the support 5. The membrane is equipped with strain gauges. Under the action of pressure on the membrane 2, the strain gauges receive a signal proportional to the pressure. The membrane is covered with an elastic protective coating, and the crystal 1 is fixed on the support 5 with the help of an elastic material. The membrane 2 is made of a variable thickness, stepped profile, which increases its strength under the action of overpressure. 1 il.

Description

Изобретение относится к измерительной технике, в частности' к полупроводниковым преобразователям давления, и предназначено для измерения давления, усилия, перемещения.The invention relates to measuring equipment, in particular, to semiconductor pressure transducers, and is intended for measuring pressure, force, displacement.

Целью изобретения является повышение надежности.The aim of the invention is to increase reliability.

На чертеже изображен полупроводниковый датчик давления, общий вид, раз: рез,The drawing shows a semiconductor pressure sensor, General view, times: cut,

Полупроводниковый датчик давления (содержит полупроводниковый кристалл i 1, имеющий мембрану 2, металлические выводы 3, присоединенные к контактным площадкам 4 кристаллами опору 5, к которой присоединен кристалл. Мембрана имеет ступенчатый профиль 6. На .поверхность кристалла нанесено эластичное полимерное покрытие 7. Опора 5 :имеет выступ 8, фиксирующий положение кристалла относительно опоры. Со;единение кристалла с опорой выполнено jиз эластичного полимерного материа.~а 8.Semiconductor pressure sensor (contains a semiconductor crystal i 1 having a membrane 2, metal leads 3 connected to the contact pads 4 by crystals of a support 5 to which the crystal is attached. The membrane has a step profile 6. An elastic polymer coating is applied to the surface of the crystal 7. Support 5 : has a protrusion 8, fixing the position of the crystal relative to the support. Co; the crystal is joined with the support made of elastic polymeric material. ~ a 8.

. Датчик давления работает следующим j образом.. The pressure sensor operates as follows j as follows.

На -полупроводниковый кристалл 1 , в объеме или на поверхности которого сформированы тензоэлементы, по одной из групп металлических выводов 3, присоединенным к контактным площадкам 4, подается электрическое напряжение. По другой труппе металлических выводов 3 снимается выходной сигнал, величина которого пропорциональна величине внешнего измеряемого давления, действующего на мембрану 2. Отрицательное влияние на стабильность выходного сигнала и точность показаний давления оказывают внутренние механические ’напряжения, возникающие в области соединения полупроводникового кристалла с опорой 5, а также адсорбция влаги, примесей, газов на поверхность кристалла, приводящих к возникновению поверхностных токов утечки и коррозии контактных площадок 4 и металлизированных, соединений. Кроме того, указанные Факторы уменьшают срок службы датчиков. Срок службы зависит также от прочности мембраны, которая, в свою очередь, связана с формой и геометрическими размерами мембраны.An electrical semiconductor crystal 1, in the bulk or on the surface of which strain elements are formed, is supplied with electrical voltage through one of the groups of metal leads 3 connected to the contact pads 4. An output signal is measured from another group of metal leads 3, the value of which is proportional to the value of the measured external pressure acting on the membrane 2. The internal mechanical stresses arising in the region where the semiconductor crystal is connected to the support 5 have a negative effect on the stability of the output signal and the accuracy of the pressure readings. also the adsorption of moisture, impurities, gases on the surface of the crystal, leading to the appearance of surface leakage currents and corrosion of the contact pads 4 and meta lysed, compounds. In addition, these factors reduce the life of the sensors. Service life also depends on the strength of the membrane, which, in turn, is associated with the shape and geometric dimensions of the membrane.

В предлагаемой конструкции полупроводникового датчика давления мембрана 2 имеет ступенчатый профиль 6, обеспечивающий более плавный пе реход от мембраны к опорной части кристалла 1, что уменьшает концентрацию механических напряжений в области перехода, и таким образом повышает прочность конструкции.In the proposed design of the semiconductor pressure sensor, the membrane 2 has a step profile 6, which provides a smoother transition from the membrane to the supporting part of the crystal 1, which reduces the concentration of mechanical stresses in the transition region, and thus increases the structural strength.

Эластичное полимерное покрытие 7 обеспечивает защиту поверхности полупроводникового кристалла с тензоэлементами контактных площадок и металлизированных соединений от адсорбции влаги, примесей, газов в результате образования адгезионных связей с центрами адсорбции на поверхности, стабилизирует поверхностный заряд и стабилизирует неоднородность его применения, устраняет поверхностные токи утечки и коррозии в условиях эксплуатации датчиков. В качестве защитного материала применен кремний органический компаунд 159-167. После термического отвердения по механизму полиприсоединения компаунд образует тонкий эластичный слой материала, охраняющий эластичность до температуры минус 70”С, имеющий низкую концентрацию (10-4^) ионогенных примесей и связанный с поверхностью кристалла устойчивыми адгезионными связями. Соединение кристалла с опорой выполнено из эластичного полимерного герметйка (9), обеспечивающего высокую’герметичность. В качестве соединительного материала использованы кремнийорганические эластичные компаунды (модуль упругости 10-50 кг/см^), например типа 1 59-191 , 159-167, ВГО-1 , пластифицированные герметики типа эпоксикремнийорганической клей К400, обеспечивающий высокую герметичность соединения. .The elastic polymer coating 7 protects the surface of a semiconductor crystal with tensile elements of contact pads and metallized compounds from adsorption of moisture, impurities, gases as a result of the formation of adhesive bonds with adsorption centers on the surface, stabilizes the surface charge and stabilizes its heterogeneity, eliminates surface leakage and corrosion currents in sensors operating conditions. Silicon organic compound 159-167 was used as a protective material. After thermal hardening by the polyaddition mechanism, the compound forms a thin elastic layer of material protecting the elasticity to minus 70 ° C, having a low concentration (10-4 ^) of ionic impurities and bonded to the crystal surface by stable adhesive bonds. The connection of the crystal with the support is made of elastic polymer sealant (9), which provides high tightness. Organosilicon elastic compounds (elastic modulus 10-50 kg / cm ^), for example, type 1 59-191, 159-167, VGO-1, plasticized sealants of the type K400 epoxy-silicone adhesive, providing high tightness of the joint, are used as a connecting material. .

Применение эластичных материалов позволяет не согласовывать коэффициенты линейного расширения склеивания деталей, таким образом, позволят использовать широкий круг материалов для конструирования элементов.The use of elastic materials allows not to coordinate the coefficients of linear expansion of gluing parts, thus, will allow the use of a wide range of materials for the construction of elements.

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Датчик давления, содержащий, выполненные за одно целое из полупроводникового кристалла мембрану и краевой элемент, соединенный с опорой, причем наружная поверхность мембраны выполнена плоской, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности, в нем мембрана снабжена эластичным покрытием, нанесен5 ним на ее наружную поверхность, и выполнена с переменной по радиусу толщиной ступенчатого профиля, уменьшаю щейся к центру мембраны, причем краевой элемент скреплен с опорой с поу мощью эластичного герметика.A pressure sensor comprising, in one piece from a semiconductor crystal, a membrane and an edge element connected to a support, the outer surface of the membrane being flat, characterized in that, in order to increase reliability, the membrane is provided with an elastic coating deposited on its outer surface, and is made with a radius-variable thickness of a stepped profile, decreasing toward the center of the membrane, and the edge element is fastened with a support using elastic sealant.
SU874274042A 1987-07-01 1987-07-01 Pressure transducer SU1582035A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874274042A SU1582035A1 (en) 1987-07-01 1987-07-01 Pressure transducer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874274042A SU1582035A1 (en) 1987-07-01 1987-07-01 Pressure transducer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1582035A1 true SU1582035A1 (en) 1990-07-30

Family

ID=21315480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874274042A SU1582035A1 (en) 1987-07-01 1987-07-01 Pressure transducer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1582035A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4404716A1 (en) * 1994-02-15 1995-08-17 Hottinger Messtechnik Baldwin Strain gauges and process for the production of a strain gauge as well as transducers

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 85П39, кл. G 01 L 9/06, J981. Патент JP № 60-14010, кл. С 01 L 9/04, 1986. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4404716A1 (en) * 1994-02-15 1995-08-17 Hottinger Messtechnik Baldwin Strain gauges and process for the production of a strain gauge as well as transducers
US5631622A (en) * 1994-02-15 1997-05-20 Hottinger Baldwin Messtechnik Gmbh Strain gage and measuring transducer and method of producing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4831492A (en) Capacitor construction for use in pressure transducers
US3697917A (en) Semiconductor strain gage pressure transducer
US7412894B2 (en) Pressure sensing device incorporating pressure sensing chip in resin case
US4751849A (en) Force-sensitive resonator load cell
US5587601A (en) Support structure for a semiconductor pressure transducer
US10768069B2 (en) Pressure measuring device for protection of pressure sensor from thermomechanical stress
AU758052B2 (en) Pressure sensor
JPH0264430A (en) Semiconductor pressure converter
JPH0650268B2 (en) Pipe pressure change detection converter
US5264820A (en) Diaphragm mounting system for a pressure transducer
US7401521B2 (en) Pressure sensor with integrated structure
SU1582035A1 (en) Pressure transducer
JP2504737B2 (en) Pressure sensor unit
US5034848A (en) Low pressure sensor
US20060197407A1 (en) Construction of saw devices
JPH07101747B2 (en) Semiconductor pressure sensor
SU1716979A3 (en) Method of measuring pressure and pressure transducer
RU44384U1 (en) SEMICONDUCTOR SENSITIVE PRESSURE SENSOR ELEMENT
JPS6329202Y2 (en)
JPH085656A (en) Acceleration converter
JPH0325424Y2 (en)
JPH03239938A (en) Capacity type pressure sensor
JPS6141252Y2 (en)
RU2175117C1 (en) Sensor for measurement of longitudinal force
RU2421736C1 (en) Accelerometer