SU1580456A1 - Способ диагностики компенсации зар да в ионных пучках магнитного сепаратора - Google Patents
Способ диагностики компенсации зар да в ионных пучках магнитного сепаратора Download PDFInfo
- Publication number
- SU1580456A1 SU1580456A1 SU874324085A SU4324085A SU1580456A1 SU 1580456 A1 SU1580456 A1 SU 1580456A1 SU 874324085 A SU874324085 A SU 874324085A SU 4324085 A SU4324085 A SU 4324085A SU 1580456 A1 SU1580456 A1 SU 1580456A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- oscillations
- current
- compensation
- potential
- decompensation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к промышленному обогащению изитопов химических элементов электромагнитным способом, в частности к диагностике состо ни компенсации интенсивных пучков в промышленных магнитных сепараторах. Цель изобретени - определение причин декомпенсации электрического зар да в изотопных пучках сепаратора и повышение качества изотопной продукции. Предлагаемый способ диагностики состоит в "мгновенной" декомпенсеции пучка импульсом длительностью 1 мкс, 25 В амплитудой и частотой их следовани не более 4 кГц. При этом излучают св зь между колебани ми тока (и плотности) в пучке и потенциалом его в фазе компенсации и декомпенсации. Причиной развити колебаний в токе и декомпенсации зар да в большем числе случаев вл ютс конвективные неустойчивости, развивающиес в плотной пучковой плазме. 2 ил.
Description
Изобретение относитс к промышленному разделению (обогащени ) стабильных химических элементов на изотопы, в частности к диагностике состо ни компенсации электрического зар да в изотопных пучках сепараторов.
Цель изобретени - расширение функциональных возможностей за счет определени природы возникновени колебаний в изотопных пучках.
На фиг.1 дано устройство, реализующее предлагаемый способ.
Устройство включает газоразр дную камеру 1 источника ионов, пластины 2, с помощью которых осуществл ют вывод из пучка части электронов (пластины подключены к генератору 3 пр моугольных импульсов), устройство 4 в виде изолированных молибденовых стержней дл измерени переменной и посто нной составл ющих плотности тока пучка, подвижную установку 5 дл комплексного измерени параметров пучка, устройство 6 дл измерени потенциала пучка на середине его длины, пластины 7 дл диагностики пучка, приемник 8 изотопных пучков, 9 источника. Эмитируемые катодом электроны через отверсти 10 ввод тс в разр дную камеру. Образующиес ионы через выходную щель
сл
00
4
СЛ О5
11 источника ввод тс в камеру масс- Јепаратора в виде пучка 12. Импульс с генератора 3 и переменна или посто нна составл ющие ионного- тока на приемнике 8 подаютс на импульсный осциллограф 13.
Па Лиг.2 представлены: а - осциллограммы силы тока отдельного изотопного пучка Fc+; б - переменна составл юща тока Зк (показаны также йр моугольные импульсы в нижних част х осциллограмм).
Дл повышени производительности рри разделении изотопов в масс-сепа- Ј аторах используют пучки с высокой Интенсивностью ионных токов. Возни- ающий при этом объемный зар д компенсируетс электронами, образующимис при взаимодействии быстрых ионов Пучка с молекулами остаточного газа, tip и значительной интенсивности воз- цикают колебани ионных токов. Эти Колебани могут быть вызваны различными причинами, например колебани ми тока разр да в источнике ионов. Если колебани св заны с локальным расширением пучков, то они могут привести к снижению качества разделени изотопов в электромагнитных установках. Вместе с тем колебательные влени могут возникнуть непосредственно и в пучковой плазме за источником ионов из-за пучковой кинематической неустойчивости плазмы самого пучка. Переменные во времени пол волн неустойчивости модулируют в токе пучка переменную составл ющую. Знание природы возникновени колебаний в изотопных пучках позвол ет повысить качество изотопной продукции и производительность электромагнитных установок .
Способ осуществл ют следующим образом.
При выходе сепаратора на рабочий режим провод т измерени потенциала пучка и интенсивности тока изотопного пучка в карман приемника и его колебани . Далее осуществл ют быстрый вывод части электронов компенсации из пучка импульсом положительног потенциала длительностью не более одной микросекунды из начального участка пучка с плотной пучковой плазмой с амплитудой свыше 25В.
Вывод электронов компенсации коротким положительным импульсом позвл ет достоверно и непосредственно
5
0
5
0
5
0
5
0
5
установить, вл ютс ли колебани в токе и плотности тока пучка в дрейфе (т.е. за оптикой источника) органически присущими пучку и получены пучком в момент выт гивани ионов полем оптики из газоразр дной плазмы источника или указанные колебани приобретены пучком уже после прохождени оптики, т.е. в дрейфе. Операци воздействи на пучок импульсом положительной пол рности в дрейфе в районе оптики в плотной пучковой плазмой не воздействует на пучок и на по вление или исчезновение рассматриваемых колебаний в пучке.
Установлено, что в подавл ющем числе случаев колебани в токе пучка возникают в области дрейфа. Импульс пр моугольной формы дл мгновенного возмущени компенсации пучка наиболее подход щ. Врем нарастани фронта потенциала и убывание его практически равны нулю. Очень малое врем нарастани фронта импульса не позвол ет успеть пучковой плазме осуществить защиту плазмы от высасывани электронов за счет возрастани потенциала плазмы в пространстве с пронизывающим ее пучком. Потенциал пространства плазмы через некоторое врем (врем релаксации) становитс выше потенциала возмущающего импульса - 25В. Отсос электронов прекращаетс . Колебани в плазме и в пучке вход т в обычный режим. Если ширина (длительность ) импульса будет более одной микросекунды, то момент восстановлени нейтрализации (компенсации) зар да в пучке начнетс , когда в пучке накопитс уже вторичный электронный зар д (конечно вместе с вторичным ионным зар дом) и св зь между колебани ми тока быстрых ионов пучка и потенциалом (компенсацией) пучка будет потер на, точнее завуалирована вторичным, зар дом.
Амплитуда импульса в этой операции выбрана в 25 В потому, что пучкова плазма под воздействием внешнего электрода (относительно плазмы) принимает более высокий положительный потенциал, чем потенциал электрода (внешнего). Это защищает плазму от разделени зар дов и ее разрушени . Поскольку декомпенсирующий импульс длитс одну микросекунду и плазма не успевает среагировать на это защитным увеличением потенциала,
то за счет отсоса электронов потенциал объема пучка достигнет значений зондирующего импульса, т.е. 25В. Но это как раз тот максимальный (пороговый ) потенциал пространства пучка, который дает предел возможности использовать изотопные пучки в цел х качественного разделени изотопов в магнитных сепараторах.
Воздействие импульса осуществл ют на пучок в его начальном участке с плотной пучковой плазмой. Это обусловлено тем, .что, как показали первые испытани предлагаемого способа, в плотности тока и,токе быстрых ионов генерирует плотна пучкова плазма, сконцентрированна на его начальном участке (там, где пучок интенсивно ионизует неионизованный пар источника при выходе его через рабочую щель одновременно с еще не разошедшимс по углу плотным ионным пучком). В плотной пучковой плазме при прохождении быстрого пучка ионов возникает плазменна кинетическа неустойчивость (волновой колебательный процесс с большим декрементом нарастани амплитуды волны), электрические переменные пол которой .сбивают ионы пучка с предписанных им магнитным полем траекторий.
Хаотические колебани в токе быстрых ионов пучка в карман возникают потому, что сброшенные со своих траекторий ионы пучка (их некотора часть, где развилась неустойчивость) не попадают в карман. По окончании (затухании ) неустойчивости ионы на этих траектори х возвращаютс в карман, так как траектории восстанавливают свое положение. Все это на экране осциллографа фиксируетс как шумовые колебани (т.е. колебани нерегул рные по фазе, частоте и амплитуде). Таким образом неустойчивости в пучковой плазме трансформируютс в колебани тока и плотности тока быстрых ионов и могут вли ть на компенсацию зар да в пучке.
Частоту следовани декомпенсирую- щих импульсов выбирают равной или меньше частоты восстановлени компенсации зар да пучка электронами:
комп 2 1дек+ I-колло
,
где v , DKO/VM-T врем декомпенсации и восстановлени
0
5
0
5
0
5
компенсации пучка (Фиг.2).
Измерени и сопоставление колебании и степени декомпенсации производ т так: синхронно с подачей в пучок декомпенсирукнцих импульсов измер ют переменную составл ющую тока пучка в фазах компенсации и декомпенсации (ЈдЈ,к+ ) и сопоставл ют эти колебани с поведением потенциала пучка через измерение во времени его силы тока.
Медленное изменение тока пучка, характеризующее изменение тока пучка, попадающего в карман вследствие динамики декомпенсации в отличие от случа с высокочастотной переменной составл ющей , возникшей в пучке вследствие неустойчивости в пучковой плазме, не отфильтровываютс . После фильтрации наблюдают осциллографом ток пучка с переменной составл ющей. Фотографируют эти две последовательные серии измерений, сопоставл ют колебани , их характер и делают выводы относительно истинной природы колебаний и фактического вли ни их на состо ние компенсации зар да пучка, т.е. производ т достоверную диагностику пучка.
Па фиг.2а сверху показано изменение тока пучка в карман при отфильтрованной (относительно высокочастотной ) переменной составл ющей, т.е. эти осциллограммы отражают изменени силы тока пучка под действием компенсации: по мере восстановлени компенсации пучок в фокусе сужаетс и все больша часть его проникает в карман. После установлени компенсации ток пучка насыщаетс .
На нижний канал осциллографа включено напр жение пр моугольных импульсов (от генератора 26-И). Частота следовани импульсов 500 Гц. Из верхней осциллограммы тока (в отфильтрованной переменной составл ющей) ло.гко определить врем декомпенсации пучка
дек
врем восстановлени компенсации ч,компи врем , в течение которого пучок пребывает в компенсированном состо нии /а Ј до начала декомпенсации следующим импульсом .(их частота следовани 500 Гц). На фиг 2а переменна составл юща не отфильтровываетс (фиг.1 и 2).
Из осциллограммы без отфильтрованной компоненты тока следует, что
моменту подали AeKOMneHcupvroiuero на пучок потенциала соответствует почти полное исчезновение колебаний в токе пучка.
Таким образом установлено, что колебани в токе и плотности тока пучка приобретены пучком в районе, где электрическое поле линз оптики не нарушает компенсацию, если она долж- на возникать. Колебани тока в пуч- к|2 (их частота и интенсивность) не всегда вл ютс показателем степени декомпенсации пучка. Важна природа этих колебаний.
С помощью предлагаемого способа осуществл лс контроль при промышленном накоплении обогащенных изотопов цинка в услови х, когда макси- мальный потенциал пучка сохран лс посто нным и .равным не более 20 в.. но относительна амплитуда колеба- ручка Eh на приемнике заметно различалась 43XZn4 )/l(, 3,2 и 0,3%.
Разброс в квазикомпенсированном пучке Zn4 по обогащению слабо распространенного изотопа Zn-70 (природное содержание 0,61%), составил, если сравнивать концентрации .обогащени этого изотопа применительно к указанной степени модул ции )/l(Zn равной 5; 3,22; 0,3%, соответственно 42,9; 54,1 и 61%. При неизменном по величине среднем во времени потенциа- ле пучка (т.е. при неизменной компен- сации ) и при прочих равных услови х в камере оператора получены только За счет колебаний тока пучка ощутимо различные обогащени (до 18%). Относи5
0 5
0 -
Claims (1)
- тельное изотопное загр знение дальними изотопами 68, 67, 66 и 64 с ростом глубины модул ции 4I(Zn)/ /l(Zn4) существенно возрастает, т.е. например, изотопа Zn-64 в относительных единицах в Zn-70 попадает гораздо больше в том случае, если отношение 4I(Zn)/I(Zn4) больше. Формула изобретениСпособ диагностики компенсации зар да в ионных пучках магнитного - сепаратора, включающий операции по измерению амплитуды и частоты колебаний тока и плотности тока пучка на изотопном приемнике и в различных поперечных сечени х пучка по его длине, измерени максимального потенциала пучка, сопоставление уровн колебаний с величиной потенциала пучка , отличающийс тем,что, с целью расширени функциональных возможностей за счет определени природы возникновени колебаний в ионных пучках с помощью электрического пр моугольного импульса положительной пол рности; амплитудой свыше 25 В,длительностью не более одной микросекунды, при частоте следовани импульсов менее 4 кГц осуществл ют вывод электронов компенсации из района пучка, прилежащего к оптике источника , измер ют и сравнивают амплитуду и частоту колебаний тока ионного пучка, потенциал пучка и плотность тока пучка в кармане приемника в фазах его компенсации и декомпенсации при подаче электрического пр моугольного импульса, по которым суд т о природе возникновени колебаний.дек крцмп. /№а и fФиг, г
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874324085A SU1580456A1 (ru) | 1987-08-31 | 1987-08-31 | Способ диагностики компенсации зар да в ионных пучках магнитного сепаратора |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874324085A SU1580456A1 (ru) | 1987-08-31 | 1987-08-31 | Способ диагностики компенсации зар да в ионных пучках магнитного сепаратора |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1580456A1 true SU1580456A1 (ru) | 1990-07-23 |
Family
ID=21334651
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874324085A SU1580456A1 (ru) | 1987-08-31 | 1987-08-31 | Способ диагностики компенсации зар да в ионных пучках магнитного сепаратора |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1580456A1 (ru) |
-
1987
- 1987-08-31 SU SU874324085A patent/SU1580456A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Габпвич М.Д. Успехи физических наук, 1977, с.123, с.83. Незлин М.В. ЖТФ, 1960, т.30, с.168. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Pichanick et al. | Resonances in the total cross sections for metastable excitation of noble gases by electron impact | |
Dance et al. | A measurement of the cross section for proton production in collisions between electrons and H2+ ions | |
DE2040521A1 (de) | Massenspektrometer | |
SU1580456A1 (ru) | Способ диагностики компенсации зар да в ионных пучках магнитного сепаратора | |
Pelah | Diagnosis of laser produced plasma with charge collectors | |
Kluge et al. | Resonance ionization spectroscopy for trace analysis and fundamental research | |
Novick et al. | Fine structure of singly ionized helium | |
US4968888A (en) | Pulsed field sample neutralization | |
Bacon et al. | Relative Experimental Cross Sections for Excitation of Ba+ Ions by Electron Impact (8.0-98 eV) | |
US4695724A (en) | AC-modulation quadrupole mass spectrometer | |
Tykesson et al. | A klystron bunching system for a 6 MV Van de Graaff accelerator | |
Zambra et al. | Time evolution of hollow cathode ionization processes in the final breakdown phase of a transient hollow cathode discharge | |
Chung et al. | Use of a linear paul trap to study random noise-induced beam degradation in high-intensity accelerators | |
DE1673223A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Massen-Spektrometrie | |
DE1931099B2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur modulation oder stabilisierung eines von einem ionenbeschleuniger erzeugten neutronenflusses | |
Meier et al. | Measurement of ion residence times in a commercial electron impact ion source | |
DE2542362A1 (de) | Ionenstreuspektrometer unter verwendung von ladungsaustauschvorgaengen | |
JPS5856958B2 (ja) | 電子スペクトロメ−タ | |
US4024399A (en) | Method and apparatus for measuring vapor flow in isotope separation | |
Sharma et al. | The direct determination of the masses of unstable atoms with the chalk river on-line isotope separator | |
US2921198A (en) | Mass spectrometer | |
US3191027A (en) | Mass spectrometer with means to impress a fluctuating component upon the ion stream and means to detect the same | |
Panev et al. | Resonant charge exchange of alkaline-earth ions | |
Jelley et al. | An electrical method for the determination of short-period activities and its use in the evaluation of the half-life of 12B | |
SU661450A1 (ru) | Датчик магнитометра |