SU1580150A1 - Способ измерени толщины слоев - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к неразрешающему контролю и может быть использовано дл  измерени  толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий. Цель изобретени   вл етс  упрощение, повышение точности измерени  и производительности контрол . Способ реализуетс  следующим образом. Путем объединени  линейных проводников 2 1, 2 2 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают ток силой J. Регистрируют величину H напр женности пол  преобразователем 3 и, зна  его геометрические параметры, определ ют толщину контролируемого сло . Дл  последовательного измерени  толщины каждого из слоев издели  образуют электрический контур поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников 2 1...2 N и определ ют контролируемую величину описанным способом. 1 ил.

Description

(21)4413100/25-28

(22)15.02.88

(46) 23.07.90. Бюл. № 27

(71)Львовский лесотехнический институт

(72)Б. А. Аграновский, В. Г. Брандорф, Ю. Н. Кизилов и Ж. А. Ямпольский

(53)531.717.11(088.8)

(56)Авторское свидетельство СССР № 1495641, 23.11.87.

Авторское свидетельство СССР № 619783, кл. G 01 В 7/06, 1977.

(54)СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ

(57)Изобретение относитс  к неразрушающему контролю и может быть использовано дл  измерени  толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий Целью изобретени   вл етс  упрощение, повышение точности измерени  и производительности контрол . Способ реализуетс  следующим образом. Путем объединени  линейных проводников 2i, 22 с источником 4 тока образуют контур, в котором пропускают ток силой J . Регистрируют величину Н напр женности пол  преобразователем 3 и, зна  его геометрические параметры, определ ют толщину контролируемого сло . Дл  последовательного измерени  толщины каждого из слоев издели  образуют электрический контур поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных проводников 2|.. 2-п и определ ют контролируемую величину описанным способом. I ил

(С

cfl

л

жш

/

СП

оо

СЛ

Изобретение относитс  к неразрушающему контролю и может быть использовано дл  измерени  толщины слоев многослойных крупногабаритных изделий.

Цель изобретени  - упрощение способа, повышение точности измерени  и производительности контрол  путем сокращени  числа одновременно работающих контуров и использовани  минимального количества вспомогательного оборудовани .

На чертеже изображено устройство, иллюстрирующее предлагаемый способ.

Устройство содержит n-слойное изделие с толщинами слоев Ti,..., Т„.( , Тг.

Между сло ми и на поверхности издеЗатем образуют контур из проводников 2г и 2з, аналогично определ ют толщину Та.

Дл  последовательного измерени  тол- ,- щины каждого из слоев многослойного издели  нумеруют проводники последовательно от наиболее близкого к преобразователю 3 и описанным способом определ ют толщины оставшихс  слоев.

Предлагаемый способ измерени  толщи- Ю ны слоев позвол ет повысить точность измерени  за счет отсутстви  требовани  обеспечени  синфазности токов в образуемых контурах, расширить область применени , в случае, когда неизвестна заралии расположены линейные проводники 2ь..2. нее суммарна  толщина объекта, повысить На поверхности установлен индуктивныйпроизводительность контрол  за счет отпреобразователь 3 пол  и источник 4 тока.сутстви  операции изменени  тока и реКонструктивный размер преобразовател  3гистрации его измененного значени  в одобозначен ti, рассто ни  от него до линей-ном из контуров пары, операции априорных проводников 2i-2п обозначены соот-ного определени  суммарной толщины объекветственно t2,..., , амплитуда силы тока 20 та другим способом, в контуре -I.

Способ реализуетс  следующим образом.

Образуют электрический контур путем объединени  проводников -2 и 22, в который

включают источник 4 тока с силой тока I. „с слойных изделий, заключающийс  в том, что Затем регистрируют величину Н напр жен-при изготовлении издели  между его сло ности пол  в месте расположени  преобразовател  3 пол .

Claims (1)

1. Формула изобретени  Способ измерени  толщины слоев многоЭта величина определ етс  уравнением

   ми и на обеих поверхност х размещают линейные проводники так, что они наход тс  в одной плоскости, формируют из двух линейных проводников электрический

   н --5- -2- (-1-} m

   art, 2st, -г гч, V (l)

   Из (1) находим величину ii

   - JLk

   2 .  i . .

   (2)

   3-23iHti

   Из уравнени  (2), зна  конструктивный размер преобразовател  3, который определен заранее, находим значение i2. Из очевидного равенства определ ем толщину сло  Ti t2-ti(3)

   Затем образуют контур из проводников 2г и 2з, аналогично определ ют толщину Та.

   Дл  последовательного измерени  тол- щины каждого из слоев многослойного издели  нумеруют проводники последовательно от наиболее близкого к преобразователю 3 и описанным способом определ ют толщины оставшихс  слоев.

   Предлагаемый способ измерени  толщи- ны слоев позвол ет повысить точность измерени  за счет отсутстви  требовани  обеспечени  синфазности токов в образуемых контурах, расширить область применени , в случае, когда неизвестна заранее суммарна  толщина объекта, повысить производительность контрол  за счет отдругим способом,

   йных изделий, заключающийс  в том, что изготовлении издели  между его сло Формула изобретени  Способ измерени  толщины слоев многоми и на обеих поверхност х размещают линейные проводники так, что они наход тс  в одной плоскости, формируют из двух линейных проводников электрический

   контур, пропускают по нему переменный ток и с помощью индуктивного преобразовател , размещенного на поверхности контролируемого издели , регистрируют значени  амплитуд тока и напр женности магнитного пол , которые используют дл  определени  толщины слоев издели , отличающийс  тем, что, с целью упрощени  способа , повышени  точности измерени  и производительности контрол , электрический контур образуют поочередно из каждых двух соответствующих соседних линейных

   проводников.