SU1543331A1 - Устройство дл исследовани электрических неоднородностей высокоомных образцов - Google Patents
Устройство дл исследовани электрических неоднородностей высокоомных образцов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1543331A1 SU1543331A1 SU874227096A SU4227096A SU1543331A1 SU 1543331 A1 SU1543331 A1 SU 1543331A1 SU 874227096 A SU874227096 A SU 874227096A SU 4227096 A SU4227096 A SU 4227096A SU 1543331 A1 SU1543331 A1 SU 1543331A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- heterogeneities
- ohmic
- specimens
- electrodes
- inhomogeneities
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл исследовани и контрол неоднородностей электропроводности, диэлектрической проницаемости или толщины образцов высокоомных материалов. Цель изобретени - повышение экспрессности исследований. Устройство содержит источник переменного напр жени , плоский измерительный конденсатор, внутрь которого помещают исследуемый образец, причем один из электродов конденсатора прозрачный и покрыт слоем фотолюминофора. Цель достигаетс за счет возможности визуального наблюдени неоднородностей. 2 ил.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть применено дл исследовани и контрол однородности электропроводности, диэлектрической проницаемости или толщины отдельных участков образцов высокоомных материалов.
Цель изобретени - повышение экспрессности исследований.
На фиг. 1 показано расположение сло фотолюминофора перед прозрачным электродом (внутри конденсаторной системы); на Аиг. 2 - то же, за прозрачным электродом (в местах, где электрические поле, накладываемое на систему, отсутствует).
Устройство состоит из источника переменного напр жени 1 и конденсаторной системы, в состав которой вход т два электрода 2 и 3, по крайней мере один из которых, например 2, прозрачный, разр дный воздушный зазор 4 и достаточно тонкий (толщиной в один - два зерна люминофора, т.е. до 1UO мкм) фотолюминесцирующий слой J5. Испытуемый образец 6 вводитс в зазор между электродами дл исследовани . Если используетс прозрачный электрод, то он не должен быть слишком толстым (толщина выпускаемых промышленностью стекол 2-3 мм с провод щим слоем двуокиси олова удовлетвор СЛ
4 СО СО
со
3
Фиг-i
5 Фиг.1
Claims (1)
- Формула изобретени’яУстройство для; исследования электрических неоднородностей высокоомных образцов, содержащее источник переменного напряжения, плоский измерительный конденсатор, расстояние меж-; ду измерительными электродами которого превышает толщину исследуемого образца не менее чем на 0,1 мм, причем один из электродов прозрачный и оба электрода соединены с источником питания, отличающееся тем, /то, с целью повышения экспрессности ; исследований, на прозрачный электрод нанесен слой фотолюминофора.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU874227096A SU1543331A1 (ru) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | Устройство дл исследовани электрических неоднородностей высокоомных образцов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU874227096A SU1543331A1 (ru) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | Устройство дл исследовани электрических неоднородностей высокоомных образцов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1543331A1 true SU1543331A1 (ru) | 1990-02-15 |
Family
ID=21297255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU874227096A SU1543331A1 (ru) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | Устройство дл исследовани электрических неоднородностей высокоомных образцов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1543331A1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5426373A (en) * | 1992-09-30 | 1995-06-20 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Two electrode device for determining electrical properties of a material on a metal substratum |
| US5446391A (en) * | 1992-04-23 | 1995-08-29 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Dielectric detecting device |
-
1987
- 1987-04-13 SU SU874227096A patent/SU1543331A1/ru active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5446391A (en) * | 1992-04-23 | 1995-08-29 | Aisin Seiki Kabushiki Kaisha | Dielectric detecting device |
| US5426373A (en) * | 1992-09-30 | 1995-06-20 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Two electrode device for determining electrical properties of a material on a metal substratum |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PT84810B (pt) | Processo para a deteccao e/ou identificacao de uma substancia biologica num meio liquido com a ajuda de medidas electricas e dispositivo destinado a por em pratica este processo | |
| GB8920571D0 (en) | Examination of objects of macromolecular size | |
| Manning et al. | Electrical conduction and related phenomena in solid dielectrics | |
| SU1543331A1 (ru) | Устройство дл исследовани электрических неоднородностей высокоомных образцов | |
| US4859939A (en) | Non-destructive testing of SOS wafers using surface photovoltage measurements | |
| Fischer et al. | Dielectric breakdown toughness from filament induced dielectric breakdown in borosilicate glass | |
| Feldherr et al. | Permeability of the nuclear membrane as determined with electrical methods | |
| KR880701896A (ko) | 전기장의 원격 검출방법 | |
| US3354388A (en) | Method for measuring the moisture content of wood | |
| US2962426A (en) | Electrochemical method for analyzing materials | |
| US3644821A (en) | Capacitance method and apparatus for detecting an interface between electrically conductive immiscible liquids | |
| US4191920A (en) | Instrument for detecting contamination on metallic surfaces by measuring surface potential differences | |
| Kado | [22] Membrane area and electrical capacitance | |
| US3754186A (en) | Power factor measuring cell arrangement | |
| US3604251A (en) | A capacitive ultrasonic device for nondestructively testing a sample | |
| SU1684650A1 (ru) | Способ определени относительной рассеивающей способности электролитов и устройство дл его осуществлени | |
| SU789918A1 (ru) | Устройство дл испытани полупроводниковых материалов | |
| SU1116373A1 (ru) | Устройство дл измерени электропроводности биологических тканей и жидкостей | |
| SU706745A1 (ru) | Установка дл исследовани образцов электропровод щих материалов в услови х измен ющейс температуры | |
| JPS5563835A (en) | Defect detector for insulation film | |
| SU585435A1 (ru) | Способ определени качества минераловатных и стекловатных изделий | |
| Baudin et al. | Progress in potential drop technique- Application to three-dimensional crack fronts | |
| SU795549A1 (ru) | Устройство дл определени элЕКТРОСТАбильНОСТи эМульСиОННыХбуРОВыХ PACTBOPOB | |
| Lonsdale | XLVI. The ionization produced by the splashing of mercury | |
| JPS57151872A (en) | Device for diagnosing insulation |