SU1538046A1 - Method of measuring roughness of surface - Google Patents

Method of measuring roughness of surface Download PDF

Info

Publication number
SU1538046A1
SU1538046A1 SU874241876A SU4241876A SU1538046A1 SU 1538046 A1 SU1538046 A1 SU 1538046A1 SU 874241876 A SU874241876 A SU 874241876A SU 4241876 A SU4241876 A SU 4241876A SU 1538046 A1 SU1538046 A1 SU 1538046A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
determining
roughness
intensity distribution
determined
orientation
Prior art date
Application number
SU874241876A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Инна Владимировна Кузнецова
Наталья Анатольевна Логинова
Юрий Наумович Солодкин
Original Assignee
Новосибирский электротехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Новосибирский электротехнический институт filed Critical Новосибирский электротехнический институт
Priority to SU874241876A priority Critical patent/SU1538046A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1538046A1 publication Critical patent/SU1538046A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение предназначено дл  измерени  шероховатости поверхности. Цель - повышение точности измерени  путем определени  ориентации микроучастков. По распределению интенсивности отраженного светового потока определ ют ориентацию микроучастков поверхности по положению максимумов в распределении интенсивности, что учитываетс  при определении углов наклона микроучастков, характеризующих качество поверхности. 2 ил.The invention is intended to measure surface roughness. The goal is to improve the measurement accuracy by determining the orientation of the micro-sites. The orientation of the microplots of the surface is determined from the intensity distribution of the reflected light flux by the position of the maxima in the intensity distribution, which is taken into account when determining the angles of inclination of the microplots, which characterize the surface quality. 2 Il.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и предназначено дл  контрол  качества поверхностей.The invention relates to a measurement technique and is intended to control the quality of surfaces.

Цель изобретени  - повышение точности измерени  путем определени  ориентации микроучастков.The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy by determining the orientation of the micro-sites.

На фиг. 1 приведена схема устройства , реализующего способ; на фиг.2- аксонометрическа  проекци  исследуемого микроучастка и ход лучей.FIG. 1 shows a diagram of the device that implements the method; Fig. 2 is an axonometric projection of the micro-site under study and the course of the rays.

Устройство содержит источник 1 белого света, диафрагму 2, микрообъектив 3, волоконно-оптический жгут Ц, в котором выделен один из центральных световодов 5, расположенный входным торцом в фокусе микрообъектива 3, световоды 6, мультиплицированна  система 7, содержаща  матрицу фотоприемников 8 и аналого-цифровой преобразователь (АЦП).The device contains a white light source 1, aperture 2, micro-lens 3, fiber optic cable C, in which one of the central light-guides 5, located by the input end at the focus of micro-lens 3, light-fibers 6, multiplied system 7, containing an array of photodetectors 8 and analog digital converter (ADC).

Способ осуществл етс  следующим образом.The method is carried out as follows.

Излучение источника 1 направл ют перпендикул рно (ОА на фиг.2) локальному участку 10 исследуемой поверхности 11 через один из центральных световодов жгута 4, совпадающего входным сечением с центром пол рной системы координат 0. Распределение интенсивности отраженного поверхностью светового потока регистрируют в плоскости входного сечени  жгута 4 и выдел ют максимум в картине распределени  интенсивности. Его пол рные координаты (г, iЈ) св заны с координатами соответствующего приемного световода АВ (фиг.2) показывает ход луча, передающего отраженный свет максимальной интенсивности. На фиг.2 Н - рассто ние-от поверхности до входного сечени  волоконно-оптического жгута 4.The radiation of the source 1 is directed perpendicularly (OA in Fig. 2) to the local section 10 of the surface 11 under study through one of the central fibers of the tow 4 coinciding with the input section with the center of the polar coordinate system 0. The intensity distribution of the light reflected by the surface is recorded in the plane of the input section tow 4 and highlight the pattern of intensity distribution. Its polar coordinates (g, iЈ) are associated with the coordinates of the corresponding receiving fiber AB (Fig. 2), which shows the path of the beam transmitting the reflected light of maximum intensity. In Figure 2, H is the distance from the surface to the entrance section of the optical fiber bundle 4.

Угол наклона микроучастка сЈ(фиг,2) определ ют по формулеThe tilt angle of the microsite cЈ (FIG. 2) is determined by the formula

- тarctg г - tarctg

(/(/

елate

оз ооoz oo

оabout

4i

ОABOUT

Угол поворота микроучастка относительно падающего пучка (фиг.2) наход т через пол рный угол if: 8 T-ip.The angle of rotation of the microsite relative to the incident beam (Fig. 2) is found through the polar angle if: 8 T-ip.

Таким образом, производитс  измерение всего диапазона углов поворота О 0 2, а диапазон измер емых углов наклона определ етс  условием регистрации отраженного пучкаThus, the measurement of the entire range of angles of rotation is taken, and the range of measured angles of inclination is determined by the condition for detecting the reflected beam.

DD

1-arctgf- M arctg ,1-arctgf- M arctg,

где d - диаметр светового жгута,where d is the diameter of the light bundle,

D - диаметр волоконно-оптическогоD is the diameter of the fiber-optic

жгута.harness

Уменьша  Н и увеличива  D, можно расширить диапазон максимальных измер емых значений углов наклонаBy decreasing H and increasing D, it is possible to extend the range of maximum measured values of tilt angles

ВПЛОТЬ ДО 45°, Up to 45 °

..

Таким образом, за счет определе- ни  ориентации микроучастка по углу наклона и углу поворота повышаетс  точность определени  качества поверхности в целом.Thus, due to the determination of the orientation of the micro-site from the angle of inclination and angle of rotation, the accuracy of determining the quality of the surface as a whole is improved.

5 five

0 0

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Способ измерени  шероховатости поверхности, заключающийс  в том, что направл ют на локальный участок по- - верхности световой поток, определ ют интенсивность светового потока, отраженного от поверхности в плоскости, параллельной плоскости поверхности, вычисл ют углы наклона микроучастков, по которым суд т о шероховатости поверхности , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени  путем определени  ориентации микроучастков, после определени  интенсивности определ ют координаты максимума распределени  интенсивности , а углы наклона микроучастков вычисл ют по координатам максимума распределени  интенсивности отраженного светового потока, определ ют ориентацию микроучастков, с учетом которой суд т о шероховатости.The method of measuring the surface roughness, consisting in that the luminous flux is directed to the local surface area, determines the intensity of the luminous flux reflected from the surface in a plane parallel to the surface plane, calculate the angles of inclination of the microparts, which determine the roughness surface, characterized in that, in order to increase the measurement accuracy by determining the orientation of the microplots, after determining the intensity, the coordinates of the maximum intensity distribution are determined, and the microslope tilt angles are calculated from the coordinates of the maximum of the intensity distribution of the reflected light flux; the microsites are determined with respect to which the roughness is judged. ЮYU iLiL ВAT -- ## Фиг ЛFIG L Фиг. 2FIG. 2 ЯI
SU874241876A 1987-05-11 1987-05-11 Method of measuring roughness of surface SU1538046A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874241876A SU1538046A1 (en) 1987-05-11 1987-05-11 Method of measuring roughness of surface

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874241876A SU1538046A1 (en) 1987-05-11 1987-05-11 Method of measuring roughness of surface

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1538046A1 true SU1538046A1 (en) 1990-01-23

Family

ID=21303047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874241876A SU1538046A1 (en) 1987-05-11 1987-05-11 Method of measuring roughness of surface

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1538046A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент JP № 5918641, кл. G 01 В 11/30, 1984. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB1521443A (en) Reflectometer optical system
JPH0762614B2 (en) Optical sensor
US5108174A (en) Method and device for determining lens characteristics including its power
SU1538046A1 (en) Method of measuring roughness of surface
FI933818A0 (en) PROCEDURE FOR THE MEASURE OF MYCKET NOGGRANN AVSTAONDSMAETNING AV YTOR
RU78947U1 (en) DEVICE FOR MEASURING LINEAR MOVEMENTS OF OBJECTS WITH A FLAT MIRROR-REFLECTING SURFACE
JPH068724B2 (en) Optical detector
RU2091762C1 (en) Reflectometer
JPS58158619A (en) Adjusting method of photosensor
US4948984A (en) Optical scanning head with objective position measuring and mirrors
SU1522029A1 (en) Method and apparatus for measuring thickness of walls olf trasparentt tubes
JPS63263412A (en) Noncontact displacement meter
SU1539519A1 (en) Fibre-optic displacement transducer
SU1536233A1 (en) Method of determining mode delays in fibre-optic wadeguides and device for effecting same
JPS6230903A (en) Optical displacement detecting apparatus and method for it
SU1696853A1 (en) Optical relocation transducer
RU1778521C (en) Fiber-optic measuring probe
SU787891A1 (en) Photoelectric autocollimation incline sensor
SU1627831A1 (en) Device for checking planeness of flat detail surface
SU1516795A1 (en) Apparatus for measuring displacement of object
SU1597532A1 (en) Device for checking diameter of translucent fibers
JPH076570Y2 (en) Optical insulator contamination amount measuring device
JPS63314401A (en) Processing method of signal of received light in range finding optical fiber sensor
SU1762132A1 (en) Method of adjustment of photometer
SU1753259A1 (en) Linear movement optical converter