SU1516806A1 - Device for transmitting dimension of average power unit of laser radiation by measuring means - Google Patents
Device for transmitting dimension of average power unit of laser radiation by measuring means Download PDFInfo
- Publication number
- SU1516806A1 SU1516806A1 SU884365693A SU4365693A SU1516806A1 SU 1516806 A1 SU1516806 A1 SU 1516806A1 SU 884365693 A SU884365693 A SU 884365693A SU 4365693 A SU4365693 A SU 4365693A SU 1516806 A1 SU1516806 A1 SU 1516806A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- laser
- diffraction grating
- grating
- radiation
- power unit
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл поверки и аттестации средств измерени мощности лазерного излучени . Цель изобретени - повышение точности передачи размера единицы. В устройстве, содержащем лазер, дифракционную решетку дл делени мощности его излучени , эталонный и повер емый приемники излучени , дифракционна решетка установлена перпендикул рно оптической оси лазера с возможностью поворота вокруг этой оси и фиксации в двух положени х, отличающихс одно от другого на 180°. Решетка выполнена отражающей. Изобретение позвол ет исключить погрешность, св занную с определением собственных чувствительностей эталонного и повер емого приемников и неидеальностью дифракционной решетки. 1 ил.The invention relates to a measurement technique and can be used to calibrate and certify means for measuring the power of laser radiation. The purpose of the invention is to improve the accuracy of the unit size transfer. In a device containing a laser, a diffraction grating for dividing its radiation power, a reference and a tunable radiation receivers, the diffraction grating is installed perpendicular to the optical axis of the laser with the possibility of rotation around this axis and fixing in two positions that differ from one another by 180 °. The grid is made reflective. The invention makes it possible to eliminate the error associated with the determination of the intrinsic sensitivity of the reference and calibrated receivers and the non-ideality of the diffraction grating. 1 il.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл поверки и аттестации средств измерени мощности лазерного излучени .The invention relates to a measurement technique and can be used to calibrate and certify means for measuring the power of laser radiation.
Цель изобретени - повьппение точности передачи размера единицы.The purpose of the invention is to increase the accuracy of unit size transfer.
На чертеже изображена структурна схема устройства дл передачи размера единицы средней мощности лазерного излучени средствами измерени .The drawing shows a block diagram of a device for transmitting the size of a unit of average laser power by measuring means.
Устройство содержит лазер 1, установленную по ходу его излучени отражающую дифракционную решетку 2. В одном из первых пор дков дифракции решетки установлен эталонный приемник 3 излучени , а в симметричномThe device contains a laser 1, a reflecting diffraction grating 2 installed along its emission. In one of the first grating diffraction orders, a reference radiation detector 3 is installed, and in a symmetric
пор дке дифракции решетки установлен узел дл установки повер емого средства 4 измерени , которое установлено на том же рассто нии 1 от дифракционной решетки 2, что и эталонный приемник 3 излучени . Дифракционна решетка 2 установлена в оправке 5 перпендикул рно к оси лазера. Оправка 5 снабжена приводом 6 ее поворота относительно оси лазера и фиксаторами 7 дл жесткой установки оправки в двух положени х а и б, отличающихс друг от друга на 180. Между лазером 1 и решеткой 2 установлена четвертьволнова пластинка 8 дл исключени вли ни нулевого пор дка дифракции на стабильность источника 1. ДифракционCitIn the order of diffraction of the grating, an assembly is installed for installing the measuring means 4 to be installed, which is installed at the same distance 1 from the diffraction grating 2 as the reference radiation receiver 3. The diffraction grating 2 is installed in the mandrel 5 perpendicular to the laser axis. The mandrel 5 is equipped with a drive 6 of its rotation relative to the laser axis and clamps 7 for rigid installation of the mandrel in two positions a and b, differing from each other by 180. A quarter-wave plate 8 is installed between laser 1 and grating 2 to eliminate the effect of the zero diffraction pattern on the stability of the source 1. Diffraction Cit
ОдOd
0000
о about
на решетка вьтолнена, например, на стекл нной подложке, на которой, например , ионным травлением нанесены штрихи глубиной, равной четверти длины волны излучени лазера 1. Выбор такой глубины штрихов обеспечивает подавление мощности, отражаемой в нулевой пор док дифракции, и сосредоточение ее в первых пор дках дифрак- ции. При этом соответствующим выбором количества штрихов на миллиметр добиваютс устранени более высоких пор дков дифракции. Привод 6 оправки может содержать, например, подшипниковую опору и поводковый щток, который может перемещатьс вручную или с покощью электропривода. Фиксаторы 7 оправки могут быть выполнены, например , шариковыми.The grating is made, for example, on a glass substrate, on which, for example, strokes with a depth equal to a quarter of the laser wavelength 1 are applied by ion etching. Choosing this depth of strokes suppresses the power reflected in the zero diffraction order and concentrates it in the first diffraction orders. By appropriate selection of the number of strokes per millimeter, elimination of higher diffraction orders is achieved. The drive 6 of the mandrel may include, for example, a bearing support and a drive brush that can be moved manually or at rest of the actuator. The clamps 7 of the mandrel can be performed, for example, ball.
Устройство работает следующим образом.The device works as follows.
В процессе передачи размера единицы повер емому средству 4 измерени его устанавливают в предназначенный дл него узел установки на том же рассто нии от решетки, что и эталонный приемник 3 излучени . Поток непрерывного излучени от лазера 1 попадает на дифракционную решетку 2, на которой происходит разделение пучка .In the process of transferring the size of the unit to the measurable measuring means 4, it is installed in the installation unit intended for it at the same distance from the array as the reference radiation receiver 3. A stream of continuous radiation from laser 1 hits a diffraction grating 2, on which the beam is separated.
Определ ют коэффициент ,/Р2 делени дифракг юнной решетки, т.е. отношение мощностей излучени , ответвленных на эталонный Р( приемник 3 излучени и повер емый Р. Дл этого регистрируют напр жение выходного сигнала V P,S ка 3 и напр жение V Р, го средства 4 измерени , .--до-с о 8„ - чувствительность соответственно эталонного приемника 3 и повер емого средства 4 измерени . Поворачивают дифракционную решетку 2 вокруг оси лазера 1 на 180 и снова регистрирую выходные сигналы приемника 3 и средсThe coefficient, P2 division of the diffraction grating, i.e. the ratio of the radiation power, branched to the reference P (radiation receiver 3 and calibrated P. sensitivity, respectively, of the reference receiver 3 and the measured measurement means 4. Turn the diffraction grating 2 around the axis of the laser 1 by 180 and again record the output signals of the receiver 3 and the medium
эталонного приемни п повер емоS reference receiver
ЗдесьHere
иand
сигналы приемника J и тва 4 измерени V Т, и V Г,5пreceiver signals J and tva 4 measurements V T, and V G, 5p
Из этих двух измерений определ ют коэффициент делени .From these two measurements, the division ratio is determined.
К.TO.
РА I Va VRA I Va V
рГ N v П WG N v P
Устанавливают дифракционную решетку 2 в исходное положение, подают излучение на нее и регистрируют выходные напр жени V эталонного приемникаThe diffraction grating 2 is set to the initial position, radiation is supplied to it and the output voltages V of the reference receiver are recorded
т t
J И V повер емого средства 4 измерени . По этим измерени м с помощью соотношени J and V of the verified instrument 4 measurements. According to these measurements using the ratio
К, К . КK, K TO
где К - известный коэффициент, характеризующий эталонный приемник 3;where K is a known coefficient characterizing the reference receiver 3;
р R
If. -40If. -40
ViVi
vfvf
2020
д 25 5 30d 25 5 30
4040
4545
5050
определ ют коэффициент К эквивалентности повер емого средства 4 измерени , к нахождению которого сводитс процедура передачи размера единицы.The equivalence factor K of the test instrument 4 is determined, the determination of which is reduced by the procedure for transferring the size of a unit.
Определение коэффициента К путем измерени выходных сигналов при двух положени х дифракционной решетки позвол ет повысить точность передачи размера единицы за счет исключени погрешности, св занной с определением собственной чувствительности приемников излучени и неидеальности дифракционной решетки.Determining the K coefficient by measuring the output signals at two positions of the diffraction grating allows one to increase the accuracy of the unit size transmission by eliminating the error associated with determining the intrinsic sensitivity of the radiation receivers and the non-ideality of the diffraction grating.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884365693A SU1516806A1 (en) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | Device for transmitting dimension of average power unit of laser radiation by measuring means |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884365693A SU1516806A1 (en) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | Device for transmitting dimension of average power unit of laser radiation by measuring means |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1516806A1 true SU1516806A1 (en) | 1989-10-23 |
Family
ID=21350538
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884365693A SU1516806A1 (en) | 1988-01-22 | 1988-01-22 | Device for transmitting dimension of average power unit of laser radiation by measuring means |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1516806A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2630857C1 (en) * | 2016-04-20 | 2017-09-13 | Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") | Laser emission standard source for power meter calibration |
-
1988
- 1988-01-22 SU SU884365693A patent/SU1516806A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Кауфман С.А. и др. Установка дл поверки средств измерений средней мощности лазерного излучени . - Измерительна техника, 1986, Р 11, ... с. 25. Визен Ф.Л. и др. Измерение частот- Hbix характеристик фотоприемников акусто-оптическим методом. - Методы точных измерений лазерного излучени . Сборник научных трудов. - М.: ВПИИФТРИ, 1985, с.52. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2630857C1 (en) * | 2016-04-20 | 2017-09-13 | Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") | Laser emission standard source for power meter calibration |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6727988B2 (en) | Spectrophotometer with drive means and Spectrophotometry using such | |
EP0651232B2 (en) | Rotary encoder | |
EP0124533A1 (en) | Fiber optic displacement sensor with built-in reference | |
EP0347215A2 (en) | Proximity sensor | |
US4171910A (en) | Retroreflectance measurement system | |
SU1516806A1 (en) | Device for transmitting dimension of average power unit of laser radiation by measuring means | |
CN1417556A (en) | Transverse double-frequency zeeman laser linearity/coaxality measuring mechanism | |
US5995215A (en) | Autocollimator with grating | |
JPS59164924A (en) | Automatic correction system of calibrated wavelength | |
US5493394A (en) | Method and apparatus for use in measuring frequency difference between light signals | |
CN220304798U (en) | Right angle error detection auxiliary device for pentaprism | |
RU2146354C1 (en) | Interferometer to measure movements | |
SU1531690A1 (en) | Method and meter for measuring radiation wavelength | |
JP2517929Y2 (en) | Separate laser interferometer | |
CN221406028U (en) | Optical fiber optical path system of laser three-dimensional scanning measurement equipment | |
CN114705136B (en) | Auto-collimation absolute angle measurement method and system based on spectrum resolution technology | |
SU1350488A1 (en) | Device for measuring linear shifts | |
SU575917A1 (en) | Interference method of measuring phase distribution across laser bundle section | |
US6304332B1 (en) | Precision grating period measurement arrangement | |
SU1060939A1 (en) | Multi-beam interferometer | |
SU1383162A1 (en) | Method of measuring double refraction of substances | |
SU1067449A1 (en) | Two-dimensional signal spatial spectrum coherent optical analyzer | |
CN113820024A (en) | Laser listener wavelength measurement experimental device and experimental method thereof | |
SU807077A1 (en) | Polarimeter | |
SU851208A1 (en) | Device for measuring reflection factors |