SU151065A1 - Способ автоматического измерени параметров пол ризованного света - Google Patents

Description

Известный способ автоматического измерени  параметров пол ризованного света с помощью пол ризатора, анализатора и фотоэлектрической след щей системы, с реверсивным электродвигателем, кинематически св занным с анализатором, определ ет только угол поворота плоскости пол ризации.

Описываемый способ отличаетс  от известного тем, что определ ет угол поворота эллипса пол ризации и отношение его полуосей,  вл етс  более совершенным, может найти применение в иоследова-ни х атмосферы, морской воды, в определении разностей фаз в тонких кристаллических пластинках.

Это достигаетс  тем, что изм ерение угла ориентировки осей эллипса производ т поворотом анализатора при выведенном пол ризаторе и четверть волновой лластине, а измерение угла, определ ющего отношение полуосей эллипса производ т поворотом анализатора при введенной и ориентированной четвертьволновой пластине.

На чертеже изображена схема устройства, по сн юща  способ автоматического измерени  параметров пол ризованного света.

Через входное отверстие 1 иаправл ют параллельный пучок лучей исследуемого монохроматического эллиптнческ1И пол ризованного света . Если исследуемый свет не монохроматический, то перед или за входным отверстием устанавливают светофильтр 2 с достаточно узкой полосой пропускани .

Далее свет проходит через оптическую систему, состо щую из пол ризатора 3, кристаллической пластинки 4 с разностью хода в четверть волны, а-нализатора 5, на фотоэлемент 6.

Пол ризатор 3 слул-сит дл  предварительной установки анализатора 5 в ориентированное положение и при дальнейщих из-мерени х выводитс  из оптического канала.

№ 151065- 2 Измерекие угла р ориентировки осей эллипса производ т после предварительной известной юстировки устройства путем поворота анализатора 5 из исходного нулевого полол ени  на угол j3 при выведенных из оптического канала пол ризатора 3 и пластинки 4. Поворот анализатора производ т с помощью фотоэлектрической след щей системы, включающей фотоэлемент 6, усилитель 7, преобразующий переменный фототек в переменное напр жение , подаваемое на одну из обмоток реверсивного электродвигател  8, на оси 9 которого на щпонке (или шлице) JO перемещаютс  шестерни // и J2.

Остановку анализатора производ т н таком положении, при котором направление колебаний светового вектора в анализатор совпадает с большой (илич-малой) осью эллипса пол ризации.

Измерё, угла а, определ ющего отно шние полуосей эллипса, производ т также поворотом анализатора 5 на угол а, при этом пластинку 4 ввод т в световое поле, соленоид /3 перемещает втулку J4 вправо и выводит из зацеплени  колеса //, /5. Лосле этого электродвигатель 5 через колеса /2, М анализатор на угол а, при котором интенсивность света, попадающего на фотоэлемент 6, достигает максимума (или минимума) и в этол-г положени1И анализатор оста.навливаетс .

Фиксаторы J6 и 17 фиксируют положени  а:нализатора при остановках .

В первом случае измерени  угла |3 при вращении анализатора интенсивность света, попадающего в фотоэлемент, за один оборот два раза принимает .максимальное значение и два раза-минимальное, что соответствует совпадению направлени  колебаний в анализаторе с малой и больщой ОСЬЮ эллипса.

В этих положени х при работающе.м анализаторе 5 с малыми угловыми колебани ми соответствующа  модул ци  интенсивности света на выходе из анализатора содерлсит только четыре гармоники, а нечетные исчезают, в то вре.м  как в промежуточных положени х они присутствуют.

Во втором случае при введенной пластинке 4 в тех положени х анализатора 5, при которых наступает погасание света или наоборот, максимум света в системе на выходе из аиализатора, в модулированном по интенсивности свете исчезают иечетные гармоники, а п)исзтств ют лишь четные, аналогично тому, что имело .место в предыдущем случае.

Предмет изобретени 

Способ автоматического измерени  параметров пол ризованного света с помощью пол ризатора, анализатора и фотоэлектрической след щей систе.мь с реверсивным электродвигателем, кинематически св занным с анализатором, от л и ч а FO щ и и с   тем, что, с целью измерени  угла ориентировки и от)юп1епи  полуосей э глипса пол ризации эллиптически пол ризованного света любого происхождени , измеренпе угла ориентировки осей эллипса производ т поворотом анализатора при выведенных после предварительной юстировки прибора пол ризаторе и /4 волновой пластине, а измерение угла, определ ющего отнощение полуосей эллипса, производ т также поворотом анализатора нрп введенной и ориентированной Д волновой пластине.