SU1495648A1 - Спектроэллипсометр - Google Patents

Спектроэллипсометр Download PDF

Info

Publication number
SU1495648A1
SU1495648A1 SU874235335A SU4235335A SU1495648A1 SU 1495648 A1 SU1495648 A1 SU 1495648A1 SU 874235335 A SU874235335 A SU 874235335A SU 4235335 A SU4235335 A SU 4235335A SU 1495648 A1 SU1495648 A1 SU 1495648A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
optical
spectroellipsometer
channel
radiation
beams
Prior art date
Application number
SU874235335A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Владимирович Рыхлицкий
Вадим Карлович Соколов
Виктор Николаевич Федоринин
Original Assignee
Специальное Конструкторско-Технологическое Бюро Специальной Электроники И Аналитического Приборостроения
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Специальное Конструкторско-Технологическое Бюро Специальной Электроники И Аналитического Приборостроения filed Critical Специальное Конструкторско-Технологическое Бюро Специальной Электроники И Аналитического Приборостроения
Priority to SU874235335A priority Critical patent/SU1495648A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1495648A1 publication Critical patent/SU1495648A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к исследовани м химических и физических свойств веществ с помощью оптических пол ризационных методов и может использоватьс  дл  определени  оптических посто нных исследуемых материалов, параметров тонких пленок на различных подложках. Целью изобретени   вл етс  расширение спектрального диапазона измерений при повышении чувствительности, упрощение конструкции и уменьшение потребл емой мощности спектроэллипсоида. Дл  этого анализаторы фазового и амплитудного измерительных каналов, раздел ющие световое излучение в каждом канале на два ортогонально-пол ризованных световых пучка, объединены в единые блоки с механическими модул торами, обеспечивающими 100%-ную противофазную модул цию этих пучков, с последующим их совмещением на приемной площадке фотоприемного устройства соответствующего канала. Спектроэллипсометр может найти применение в качестве измерительного прибора в оптической и полупроводниковой технологии. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к области исследовани  химических и физических свойств веществ с помощью оптических методов путем измерени  состо ни  пол ризации излучени , отраженного от исследуемого объекта , и может быть использовано дл  определени  параметров тонких пленок на различных подложках и оптических посто нных исследуемых материалов.
Целью изобретени   вл етс  расширение спектрального диапазона измерений при повышении чувствительности эллипсометра, упрощение конструкции и уменьшение потребл емой мощности.
На чертеже приведена оптическа  схема спектроэллипсометра.
Излучение от лампы 1 с помощью линзы 2 проецируетс  на входную щель мо- нохроматора 3, далее монохроматическое излучение , выдел емое монохроматором, распростран етс  через линзу 4 и пол ризатор 5. Линза 4 проецирует изображение выходной щели монохроматора в плоскость установки образца 6. Излучение, отраженное от образца, с помощью поворотной призмы 7 полного внутреннего отражени  делитс  на два измерительных канала. В первом измерительном канале излучение проходит компенсатор 8 и падает на дво копрелом- л ющую призму 9. Во втором измерительном канале излучение, отраженное от призмы 7, падает на дво копреломл ющую призму 10. После прохождени  призмы излучение каждого канала раздел етс  на два пучка, излучение которых пол ризовано линейно и взаимно ортогонально. С помощью линз 11 и 12 в плоскость установки модул торов 13 и 14 проецируетс  двойное изображение выходной щели моно4
СО
сд
о:
оо
хроматора. Линзами 15 и Ш излучений проецируетс  на фотоприемники 17 и 18. Па- даю111,ее на модул тор пространственно разделенное и; лучение модулируетс  в противо- ф :и .
Принцип работы спектроэллипсометра заключаетс  в установке азимутов ориентации пол ризатора 5 и дво копреломл ющих призм 9 и 10 обоих измерительных каналов в такие положени , когда интенсивности пространственно разделенных ортогонально-пол ризованных световых пучков в каждом канале равны между собой. При этом в фототоке приемников 17 и 18 отсутствует модул ционна  составл юща , а азимуты ориентации пол ризатора 5 и дво копреломл ющих призм 9 и 10 удовлетвор ют соотношени м
2А|-90°+А 0; гже Д и ч -измер емые эллипсометричесСпектроэллипсометр , содержащий оптически св занные источник спектрального излучени , фокусируюшую и коллимирующую оптику, монохроматор, пол ризатор, призму полного внутреннего отражени , раздел ющую излучение, отраженное от образца на
налов;
Р-азимут ориентации пол ризатора .
Дл  сохранени  100%-ной амплитудной противофазной модул ции ортогонально-пол ризованных световых пучков в каждом канале цри изменении азимутов ориентации
кие параметры;
AI, А ) - азимуты ориентации дву копре- 20 фазовый измерительный канал, снабжен- ломл ющих призм фазового иный компенсатором, анализатором, модул тоамплитудных измерительных ка-ром и фотоприемным устройством, и амплитудный измерительный канал, снабженный анализатором, модул тором и фотоприем- .jr иым устройством, отличающийс  тем, что, с целью расщирени  спектрального диапазона измерений при повышении чувствительности , упрощени  конструкции и уменьшени  потребл емой мощности, анализаторы и модул торы фазового и амплитудного измедво копреломл ющих призм 9 и 10 анали- зо рительных каналов объединены в блоки, заторы и модул торы выполнены в виде бло- представл ющие собой дво копреломл ю- ков, иредставл юцшх собой пол ризацион- щую призму, раздел ющую световое излу- иыо дио коиреломл ющие призмы 9 и 10чение на две ортогонально-пол ризованные
жестко соединенные с механическими преры- составл ющие, жестко соединенную с моду- вател ми - модул торами 13 и 14. фо- л тором, выполненным в виде механичес- кусирующсй оптикой -- линзами 11, 15 35 прерывател , модулирующего эти сос- и 12, 16, объедин ющей ортогонально-пол - тавл ющие в противофазе, и с фокуси- ризоваиные нротивофазно-модулированные рующей оптикой, объедин юшей ортого- световые иучки в каждом канале на при- нально-пол ризованные составл ющие на емных площадках фотоприемников 17 и 18 приемной площадке фотоприемного устройст- соотпетствуюп1его измерительного канала. ва соответствующего измерительного канала.
0
5
Спектроэллипсометр позвол ет обеспечить высокую чувствительность эллипсомет- рических измерений в широком спектральном диапазоне, ограниченном областью прозрачности дво копреломл юш.их призм. В случае использовани  источников излучени  одинаковой мощности и условии достижени  одинаковой спектральной чувствительности он обеспечивает значительно более высокое спектральное разрешение. Отказ от применени  модул ционных  чеек позвол ет сушественно упростить конструкцию прибора, снизить его энергопотребление .

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Спектроэллипсометр, содержащий оптически св занные источник спектрального излучени , фокусируюшую и коллимирующую оптику, монохроматор, пол ризатор, призму полного внутреннего отражени , раздел ющую излучение, отраженное от образца на
    0 фазовый измерительный канал, снабжен- ный компенсатором, анализатором, модул то
    1 г
    (.ос I ШЧПЧ . И. в. IIIyiKI. IOH
    1Ч д;|1 Г1 |) II. В)Г)К(.|НмИ. ВоресКорректор 3. Ломчакоиа
    Зака.14251/39Тираж 4t)(iПодписное
    iUlllllIUI Г(н дарстшмнюсо K jMMi4 rM но изобрет(Ч1и м и открыти м мри ГК11Г ( С( Р
    113035, Москиа. Ж 35. Раушска  наб., д. 4/5 1рои:1подсгнс. 1И1о-и;)да1Ч .11.скмй комбинат «Патент, г, Ужгород, у,т, Гагарина, 101
    S3 П 13 S 11
SU874235335A 1987-02-02 1987-02-02 Спектроэллипсометр SU1495648A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874235335A SU1495648A1 (ru) 1987-02-02 1987-02-02 Спектроэллипсометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874235335A SU1495648A1 (ru) 1987-02-02 1987-02-02 Спектроэллипсометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1495648A1 true SU1495648A1 (ru) 1989-07-23

Family

ID=21300452

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874235335A SU1495648A1 (ru) 1987-02-02 1987-02-02 Спектроэллипсометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1495648A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Matheson С. С., Wright J. G. А high precision, polychromatic, automatic eilipsornf- ter. - Surf. Sci, v: 56, p. 196-211. Henty D. N., Jerrard H. G. A universal eiiipsometer. - Surf. Sci. v. 56, p. 170- 181. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6421131B1 (en) Birefringent interferometer
US20020070349A1 (en) Flourescence polarization assay system and method
US4309110A (en) Method and apparatus for measuring the quantities which characterize the optical properties of substances
Mickols et al. Imaging differential polarization microscope with electronic readout
US20050237532A1 (en) Imaging apparatus
US3390605A (en) Device for measuring simultaneously both rotatory polarization and light absorption
SU1495648A1 (ru) Спектроэллипсометр
CN208847653U (zh) 一种实时偏振敏感的太赫兹时域椭偏仪
RU2005130289A (ru) Эллипсометр
KR20180000879A (ko) 직선편광으로 인한 계측오차가 보정된 휘도색도계
Lyle et al. A brief history of polarimetry
WO1992013263A1 (en) A method and a polarimeter for measuring optical rotation of sugar and other optically active solutions
SU1150503A1 (ru) Устройство дл измерени давлений
SU1157416A1 (ru) Многолучевой интерференционный эллипсометр
SU1021959A1 (ru) Устройство дл измерени пол ризационных характеристик анизотропных сред
SU1139976A1 (ru) Пол риметр
SU1165878A1 (ru) Интерферометрическое измерительное устройство
JPS6423126A (en) Multiple light source polarization analyzing method
SU1303848A1 (ru) Дифференциальный пол риметр
RU2749149C1 (ru) Двухсторонний скоростной эллипсометр
SU1045004A1 (ru) Устройство дл исследовани пол ризационных свойств анизотропных материалов
Goldstein Applications and limitations of polarimetry
SU789686A1 (ru) Денситометр
SU932219A1 (ru) Двухлучевой интерферометр
SU1383108A1 (ru) Спектрофотометр