SU149505A1

SU149505A1 - Method for determining the absence of contact in semiconductor diodes

Info

Publication number: SU149505A1
Application number: SU656718A
Authority: SU
Inventors: М.Э. Кричевский
Original assignee: М.Э. Кричевский
Priority date: 1960-02-26
Filing date: 1960-02-26
Publication date: 1961-11-30

Description

Известные способы определени отсутстви контакта в полупроводниковых диодах предполагают об зательную отпайку испытуемого диода , если диоды включены параллельно.The known methods for determining the absence of contact in semiconductor diodes imply the need for tapping the test diode if the diodes are connected in parallel.

Описываемый -способ позвол ет определ ть отсутствие контакта в полупроводниковых диодах, включаемых параллельно в электрическую схему, без их отпайки. С этой целью используют разборный трансформатор напр жени .The described β-method makes it possible to determine the absence of contact in semiconductor diodes connected in parallel to an electrical circuit without desoldering them. For this purpose, a collapsible voltage transformer is used.

Принципиальна схема проверки диодов по описываемому способу приведена на чертеже.The principal scheme for testing diodes by the described method is shown in the drawing.

Разборный трансформатор / выполнен на разборном сердечнике, на одной половине которого укреплена первична обмотка. При охватыванни магнитопроводом вывода провер емого диода 2 этот вывод выполн ет функцию одного витка вторичной обмотки трансформатора. Если к зажимам 3 подключить источник переменного напр жени , то при замыкании общих выводов 4 и 5 схемы по образованному замкнутому контуру потечет ток. При этом ток потечет только при условии отсутстви обрыва в испытуемом диоде.The collapsible transformer / is made on a collapsible core, in one half of which the primary winding is reinforced. When the output of the checked diode 2 is covered by the magnetic core, this output performs the function of one turn of the transformer secondary winding. If a source of alternating voltage is connected to the terminals 3, then when the common terminals 4 and 5 of the circuit are closed, a current will flow through the closed circuit. In this case, the current will flow only if there is no break in the tested diode.

Прохождение тока через контур обнаруживают с помощью трансформатора 6 тока, витком первичной обмотки которого служит провод, замыкающий общие точки схемы. К зажимам 7 вторичной обмотки трансформатора 6 подключают индикатор, например осциллограф. Наличие в провер емых устройствах диодов, включенных параллельно испытуемому , не вли ет на точность проверки, поскольку они закорочены проводом, соедин ющим выводы 4 и 5. Перенос разборный трансформатор / с одного диода на другой, можно испытать на обрыв все параллельно включенные диоды.The passage of current through the circuit is detected by means of a current transformer 6, the coil of the primary winding of which is the wire that closes the common points of the circuit. To the terminals 7 of the secondary winding of the transformer 6 connect an indicator, such as an oscilloscope. The presence of diodes connected in parallel to the test subject in the tested devices does not affect the accuracy of the test, since they are shorted by the wire connecting pins 4 and 5. Transferring the dismountable transformer / from one diode to another can be tested for an open circuit for all parallel-connected diodes.

Описанный способ может найти щнрокое применение на предпри ти х , выпускаюп№х массовую продукцию на полупроводниковых диода.х.The described method can be applied in enterprises, producing mass products in semiconductor diodes.

№149505№149505

изобретени the invention

Способ определени отсутстви контакта в полупроводниковых диодах , включенных параллельно один относительно другого в электрическую схему, по прохождению тока через испытуемый диод, отличающийс тем, что, с целью поверки любого из этих диодов без их отпайки , индуктируют посредством разборного тр ансформатора напр жение в выводе испытуемого диода, использу этот вывод в качестве вторичной обмотки трансформатора, и определ ют исправность диода по току во вторичной обмотке повышающего трансформатора, первичную обмотку которого включают параллельно испытуемому диоду.A method for determining the absence of contact in semiconductor diodes connected in parallel to one another in an electrical circuit, by passing a current through a test diode, characterized in that, in order to calibrate any of these diodes without their tap, the voltage in the test subject’s output is induced by means of a split transformer diode, using this pin as a secondary winding of a transformer, and determining the current diode’s operability in the secondary winding of a step-up transformer, the primary winding of which includes ay parallel to the diode under test.

о about