SU148155A1 - Способ измерени контактной разности потенциалов - Google Patents

Description

Известны способы измерени  контактной разности потенциалов электронных ламп методом тока насыщени  (см. Б. М. Царев «Контактна  разность потенциалов, 1955 г., стр. 107).

Недостатком этих способов  вл етс  сложность процесса измерени  и низка  точность. Объ сн етс  это необходимостью проведени  трудоемких графических построений и поддержани  посто нной температуры катода.

Предложенный способ лишен указанного недостатка. Сущность изобретени  заключаетс  в том, что величина контактной разности потенциалов определ етс  как величина анодного напр жени , которое соответствует максимальному значению крутизны анодной характеристики лампы при глубоком недокале.

На чертеже изображена схема дл  измерени  контактной разности потенциалов электронных ламп, согласно предложенному способу.

На подогреватель испытуемой лампы / подаетс  напр жение, пониженное до 20-30% от номинального значени . В цепь анода лампы включено сопротивление 2, величина которого составл ет 2-10 ком. На анод испытуемой лампы подаетс  посто нное напр жение, величину которого можно плавно измен ть от нул  до 2 в, и переменное напр жение низкой частоты. Переменное напр л ение на анодной нагрузке лампы измер етс  ламповым вольтметром 3. Дл  этой цели удобен усилитель типа «28-И. Посто нное напр НСение измер етс  ламповым вольтметром 4, например, типа «А4-М2. При повышении анодного напр жени  от нул  крутизна экспоненциального участка характеристики непрерывно растет и достигает максимума у точки перехода анодной характеристики в режим насыщени . Затем крутизна быстро падает, так как анодна  характеристика в режиме насыщени  идет очень полого . Максимум выходного напр жени  соответствует максимальной крутизне характеристики. Его величина определ етс  с помощью выходного усилител  5- Соответствующее этому максимуму анодное напр жение фиксируетс  на усилителе по обложению его стрелки.

Предложенный способ не требует сн ти  характеристик по точкал и графических построений. Он позвол ет отсчитывать величину контактной разности потенциалов с помощью стрелочного прибора.

Предмет изобретени 

Способ измерени  контактной разности потенциалов электронных ламп методом тока насыщени , отличающийс  тем, что, с целью упрощени  процесса измерений при повыщении их точности, величину контактной разности потенциалов определ ют как величину анодного напр жени , соответствующего максимальному значению крутизны анодной характеристики лампы при глубоком недокале.

iirrill