SU1467390A1 - Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков - Google Patents
Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков Download PDFInfo
- Publication number
- SU1467390A1 SU1467390A1 SU874179745A SU4179745A SU1467390A1 SU 1467390 A1 SU1467390 A1 SU 1467390A1 SU 874179745 A SU874179745 A SU 874179745A SU 4179745 A SU4179745 A SU 4179745A SU 1467390 A1 SU1467390 A1 SU 1467390A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- microrelief
- information
- depth
- reflection
- optical
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть исполь- зовано дл измерени глубины информационного микрорельефа оптических видео- , компакт-дисков и полимерных подложек с рельефной дорожкой дл оптических дисков. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени 1 Изобретение относитс к области измерительной техники и может быть использовано, в частности, дл измерени глубины информационного микрорельефа оптических видео- и комг пакт-дисков:и полимерных подложек с рельефной дорожкой дл оптических дисков.. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени глубины информационного микрорельефа за счет исключени погрешности от определени глубины информационного микрорельефа за счет исключени погрешности от определени абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражени . При помощи егистрирующе- го спектрофотометра с приставкой зеркального отражени регистрируют спектр зеркального отражени образца видеодиска в диапазоне от 0,2 до 1,1 мкм. В результате погашающей интерференции при отражении от микрорельефной поверхности монохроматического света определенной длины волны в спектре отражени наблюдают интер- ференционный минимум. По положению данного минимума определ ют длину Арм«н волны, котора ему соответствует , и вычисл ют искомую глубину информационного микрорельефа по формуле: h Др„ин / } 1 - , где - о( - угол падени излучени на по- верхность диска; п - показатель преломлени материала основы диска. 1 ил. i (Л 4 О) 00 со абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражени . На чертеже изображён пЗрофиль пи- тов информационного микрорельефа и схема отражени света от него. На схеме обозначены защитное покрытие 1, отражающий слой А1 2, основа диска 3 с показателем преломлени п. I Способ измерени глубины информационного микрорельефа осуществл етс следующим образом.
Description
Монохроматический пучок света 1 , |1ройд через полимерный слой 2 осно- 3 с показателем преломлени п, Отражаетс от микрорельефа глубиной Ь. Интерференционный минимум форми- jfiyercK за счет возникающей на с ту- jieHbKe элемента информации разности ju хода между пучками 1 j
I й 2hn cos (ь, (1)
i fle р - угол преломлени .
: При сложении колебаний 1 и 1„
суммарна интенсивность равна
+
Ч
2,
2Нл cos -г-.
л
(2)
Экстремум у этой функции
л, (5удет при
31 условии о
,в fl
т / . .
1,1(83.П --д-) -д7
о
(3)
условие выполнимо только при
(4)
.f2ird. --.-)
Л
Q. ,,
и, , . . - к. II,
ivie к 1,2. i При К 1
2Л 2-2 hn COS
Т ° т
(5)
Угол р удобнее выразить через Л и п
4hn Vl - sin«p. Д ; 4h - n sin fi /
(6)
4h in - sin2o(
0тсю,
Да,
4 in -
(7)
Так как cos -1, то экстремум вл етс минимумом.
Дп эффективного применени предлагаемого способа необходимо, чтобы глубина измер емого информационного Микрорельефа в пределах пол измере6 ни удовлетвор ла условию -т- Ojt,
ft
где 6 - среднее квадратическое отклонение h от среднего значени h пределах пол измерени
±1 (h - h,.)2
1
n - 1
0
5
0
5
0
5
0
0
где Д- нижн граница спектрального диапазона, в котором регистрируетс спектр зеркального отражени образца.
Разброс глубины профил микрорельефа относительно среднего значени h в пределах пол измерени не должен превышать 0,1 . Если 6 0,2Л , то относительный коэффициент зеркального отражени уменьшаетс почти до нул , т.е. така поверхность перестает зеркально отражать и становитс диффузно отражагадим объектом.
В зависимости от назначени оптического диска глубина информационного микрорельефа на нем принимает значени в пределах 700-1600 А. Спектральна область, в которой наблюдаютс интерференционные минимумы в спектре зеркального отражени , соответствующие этим глубинам, заключена между длинами волн, равными 0,42 и 0,96 мкм соответственно. Дл четкой регистрации экстремума спектральную область необходимо расширить на 0,15-0,2 мкм в обе стороны. В предельном случае требуемый спектральный диапазон измерени 0,2 - 1,1 мкм.
При помощи регистрирующего спектрометра с приставкой зеркального отражени регистрируют спектр зеркального отражени образца видеодиска в диапазоне 0,2 - 1,1 мкм. В результате погавшющей интерференции при отражении от микрорельефной поверхности монохроматического света определенной длины волны в спектре отра- 5 жени наблюдаетс интерференционный минимум.. По положению данного минимума определ ют длину Л волны, котора ему соответствует, т.е. Армии и, подставив ее значение в формулу (7) вычисл ют искомую глубину h инфорп мационного микрорельефа.
55
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ измерени глубины информа- ,ционного микрорельефа отражательных оптических видео- и компа кт-дисков, заключающийс в том, что облучают монохроматическим излучением микг рельеф , регистрируют интенсивность зеркально отраженного от микрорепье- фа излучени и опре; ел ют его глубину , отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерени , непрерывно измер ют длину А волны излучени в диапазоне от 0,2 до 1,1 мкм, по минимуму интенсивности зеркально отражённого от микро- рельефа излучени наход т соответствунзщую ему длину Л, „„« , а глубину h микрорельефа определ ют по формулеf «««° lln - ll T где с - угол падени излучени наповерхность диска; п - показатель преломлени материала основы диска.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874179745A SU1467390A1 (ru) | 1987-01-12 | 1987-01-12 | Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874179745A SU1467390A1 (ru) | 1987-01-12 | 1987-01-12 | Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1467390A1 true SU1467390A1 (ru) | 1989-03-23 |
Family
ID=21279809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874179745A SU1467390A1 (ru) | 1987-01-12 | 1987-01-12 | Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1467390A1 (ru) |
-
1987
- 1987-01-12 SU SU874179745A patent/SU1467390A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Кучин А.А., Обрадович К.А. Оптические приборы дл измерени шероховатости. Л.: Машиностроение, 1981, с. 150-175. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100356108B1 (ko) | 이중 통과 에탈론 분광계 | |
US5396061A (en) | Opto-magnetic recording polarization optical apparatus having a light absorbing film and a total reflection film | |
EP0676629B1 (en) | Refractive index measurement of spectacle lenses | |
GB2369451A (en) | Jamin type interferometer | |
US4281894A (en) | Very low absorption, low efficiency laser beamsampler | |
EP0700505B1 (en) | Interferometric flying height measuring device | |
US5245174A (en) | Focus sensing apparatus utilizing a reflecting surface having variable reflectivity | |
GB2248989A (en) | Focus detection | |
SU1467390A1 (ru) | Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков | |
US4932780A (en) | Interferometer | |
US5280334A (en) | Apparatus for measuring cross-sectional distribution of refractive index of optical waveguide by RNF method | |
JPH06288902A (ja) | 減衰全反射型薄膜評価装置 | |
Simon et al. | Behaviour of the phases in the observation of surface electromagnetic waves | |
US7551292B2 (en) | Interferometric Height Measurement | |
JP2990891B2 (ja) | 変位情報検出装置及び速度計 | |
RU2186336C1 (ru) | Интерферометр для измерения формы поверхности оптических изделий | |
SU1665227A1 (ru) | Интерференционный измеритель углов поворота объектов | |
JPH0566226A (ja) | 変位情報検出装置及び速度計 | |
RU2107903C1 (ru) | Способ контроля формы оптической поверхности | |
RU2148814C1 (ru) | Способ и устройство для определения оптических параметров проводящих образцов | |
Thomas et al. | Noncontact measurement of etalon spacing using a retroreflection technique | |
SU1186940A1 (ru) | Голографический интерферометр дл измерени формы сферических оптических поверхностей | |
RU2075727C1 (ru) | Способ измерения углов поворота нескольких объектов и устройство для его осуществления | |
US4890923A (en) | Apparatus for superposing two light beams | |
SU1213398A1 (ru) | Интерференционный способ определени показател преломлени |