SU1467390A1 - Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков - Google Patents

Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков Download PDF

Info

Publication number
SU1467390A1
SU1467390A1 SU874179745A SU4179745A SU1467390A1 SU 1467390 A1 SU1467390 A1 SU 1467390A1 SU 874179745 A SU874179745 A SU 874179745A SU 4179745 A SU4179745 A SU 4179745A SU 1467390 A1 SU1467390 A1 SU 1467390A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
microrelief
information
depth
reflection
optical
Prior art date
Application number
SU874179745A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Федорович Киркач
Богдан Николаевич Копко
Павел Демянович Михайлишин
Ирина Владимировна Садженица
Владимир Николаевич Соболев
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8525
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8525 filed Critical Предприятие П/Я В-8525
Priority to SU874179745A priority Critical patent/SU1467390A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1467390A1 publication Critical patent/SU1467390A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть исполь- зовано дл  измерени  глубины информационного микрорельефа оптических видео- , компакт-дисков и полимерных подложек с рельефной дорожкой дл  оптических дисков. Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  1 Изобретение относитс  к области измерительной техники и может быть использовано, в частности, дл  измерени  глубины информационного микрорельефа оптических видео- и комг пакт-дисков:и полимерных подложек с рельефной дорожкой дл  оптических дисков.. Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  глубины информационного микрорельефа за счет исключени  погрешности от определени  глубины информационного микрорельефа за счет исключени  погрешности от определени  абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражени . При помощи егистрирующе- го спектрофотометра с приставкой зеркального отражени  регистрируют спектр зеркального отражени  образца видеодиска в диапазоне от 0,2 до 1,1 мкм. В результате погашающей интерференции при отражении от микрорельефной поверхности монохроматического света определенной длины волны в спектре отражени  наблюдают интер- ференционный минимум. По положению данного минимума определ ют длину Арм«н волны, котора  ему соответствует , и вычисл ют искомую глубину информационного микрорельефа по формуле: h Др„ин / } 1 - , где - о( - угол падени  излучени  на по- верхность диска; п - показатель преломлени  материала основы диска. 1 ил. i (Л 4 О) 00 со абсолютной величины относительного коэффициента зеркального отражени . На чертеже изображён пЗрофиль пи- тов информационного микрорельефа и схема отражени  света от него. На схеме обозначены защитное покрытие 1, отражающий слой А1 2, основа диска 3 с показателем преломлени  п. I Способ измерени  глубины информационного микрорельефа осуществл етс  следующим образом.

Description

Монохроматический пучок света 1 , |1ройд  через полимерный слой 2 осно- 3 с показателем преломлени  п, Отражаетс  от микрорельефа глубиной Ь. Интерференционный минимум форми- jfiyercK за счет возникающей на с ту- jieHbKe элемента информации разности ju хода между пучками 1 j
I й 2hn cos (ь, (1)
i fle р - угол преломлени .
: При сложении колебаний 1 и 1„
суммарна  интенсивность равна
+
Ч
2,
2Нл cos -г-.
л
(2)
Экстремум у этой функции
л, (5удет при
31 условии о
,в fl
т / . .
1,1(83.П --д-) -д7
о
(3)
условие выполнимо только при
(4)
.f2ird. --.-)
Л
Q. ,,
и, , . . - к. II,
ivie к 1,2. i При К 1
2Л 2-2 hn COS
Т ° т
(5)
Угол р удобнее выразить через Л и п
4hn Vl - sin«p. Д ; 4h - n sin fi /
(6)
4h in - sin2o(
0тсю,
Да,
4 in -
(7)
Так как cos -1, то экстремум  вл етс  минимумом.
Дп  эффективного применени  предлагаемого способа необходимо, чтобы глубина измер емого информационного Микрорельефа в пределах пол  измере6 ни  удовлетвор ла условию -т- Ojt,
ft
где 6 - среднее квадратическое отклонение h от среднего значени  h пределах пол  измерени 
±1 (h - h,.)2
1
n - 1
0
5
0
5
0
5
0
0
где Д- нижн   граница спектрального диапазона, в котором регистрируетс  спектр зеркального отражени  образца.
Разброс глубины профил  микрорельефа относительно среднего значени  h в пределах пол  измерени  не должен превышать 0,1 . Если 6 0,2Л , то относительный коэффициент зеркального отражени  уменьшаетс  почти до нул , т.е. така  поверхность перестает зеркально отражать и становитс  диффузно отражагадим объектом.
В зависимости от назначени  оптического диска глубина информационного микрорельефа на нем принимает значени  в пределах 700-1600 А. Спектральна  область, в которой наблюдаютс  интерференционные минимумы в спектре зеркального отражени , соответствующие этим глубинам, заключена между длинами волн, равными 0,42 и 0,96 мкм соответственно. Дл  четкой регистрации экстремума спектральную область необходимо расширить на 0,15-0,2 мкм в обе стороны. В предельном случае требуемый спектральный диапазон измерени  0,2 - 1,1 мкм.
При помощи регистрирующего спектрометра с приставкой зеркального отражени  регистрируют спектр зеркального отражени  образца видеодиска в диапазоне 0,2 - 1,1 мкм. В результате погавшющей интерференции при отражении от микрорельефной поверхности монохроматического света определенной длины волны в спектре отра- 5 жени  наблюдаетс  интерференционный минимум.. По положению данного минимума определ ют длину Л волны, котора  ему соответствует, т.е. Армии и, подставив ее значение в формулу (7) вычисл ют искомую глубину h инфорп мационного микрорельефа.
55

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ измерени  глубины информа- ,ционного микрорельефа отражательных оптических видео- и компа кт-дисков, заключающийс  в том, что облучают монохроматическим излучением микг рельеф , регистрируют интенсивность зеркально отраженного от микрорепье- фа излучени  и опре; ел ют его глубину , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени , непрерывно измер ют длину А волны излучени  в диапазоне от 0,2 до 1,1 мкм, по минимуму интенсивности зеркально отражённого от микро- рельефа излучени  наход т соответствунзщую ему длину Л, „„« , а глубину h микрорельефа определ ют по формуле
    f «««
    ° lln - ll T где с - угол падени  излучени  на
    поверхность диска; п - показатель преломлени  материала основы диска.
SU874179745A 1987-01-12 1987-01-12 Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков SU1467390A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874179745A SU1467390A1 (ru) 1987-01-12 1987-01-12 Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874179745A SU1467390A1 (ru) 1987-01-12 1987-01-12 Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1467390A1 true SU1467390A1 (ru) 1989-03-23

Family

ID=21279809

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874179745A SU1467390A1 (ru) 1987-01-12 1987-01-12 Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1467390A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Кучин А.А., Обрадович К.А. Оптические приборы дл измерени шероховатости. Л.: Машиностроение, 1981, с. 150-175. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100356108B1 (ko) 이중 통과 에탈론 분광계
US5396061A (en) Opto-magnetic recording polarization optical apparatus having a light absorbing film and a total reflection film
EP0676629B1 (en) Refractive index measurement of spectacle lenses
GB2369451A (en) Jamin type interferometer
US4281894A (en) Very low absorption, low efficiency laser beamsampler
EP0700505B1 (en) Interferometric flying height measuring device
US5245174A (en) Focus sensing apparatus utilizing a reflecting surface having variable reflectivity
GB2248989A (en) Focus detection
SU1467390A1 (ru) Способ измерени глубины информационного микрорельефа отражательных оптических видео- и компакт-дисков
US4932780A (en) Interferometer
US5280334A (en) Apparatus for measuring cross-sectional distribution of refractive index of optical waveguide by RNF method
JPH06288902A (ja) 減衰全反射型薄膜評価装置
Simon et al. Behaviour of the phases in the observation of surface electromagnetic waves
US7551292B2 (en) Interferometric Height Measurement
JP2990891B2 (ja) 変位情報検出装置及び速度計
RU2186336C1 (ru) Интерферометр для измерения формы поверхности оптических изделий
SU1665227A1 (ru) Интерференционный измеритель углов поворота объектов
JPH0566226A (ja) 変位情報検出装置及び速度計
RU2107903C1 (ru) Способ контроля формы оптической поверхности
RU2148814C1 (ru) Способ и устройство для определения оптических параметров проводящих образцов
Thomas et al. Noncontact measurement of etalon spacing using a retroreflection technique
SU1186940A1 (ru) Голографический интерферометр дл измерени формы сферических оптических поверхностей
RU2075727C1 (ru) Способ измерения углов поворота нескольких объектов и устройство для его осуществления
US4890923A (en) Apparatus for superposing two light beams
SU1213398A1 (ru) Интерференционный способ определени показател преломлени