SU1439679A1 - Solid-state direct-access memory with data correction - Google Patents
Solid-state direct-access memory with data correction Download PDFInfo
- Publication number
- SU1439679A1 SU1439679A1 SU864135845A SU4135845A SU1439679A1 SU 1439679 A1 SU1439679 A1 SU 1439679A1 SU 864135845 A SU864135845 A SU 864135845A SU 4135845 A SU4135845 A SU 4135845A SU 1439679 A1 SU1439679 A1 SU 1439679A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- input
- address
- information
- outputs
- Prior art date
Links
Abstract
Изобретение относитс к вычислительной технике, в частности к .- тегральным полупроводниковым запомн- нающим устройствам. Цель изобрете ни - упрощение устройства. УстройThe invention relates to computing, in particular, to .- integrated semiconductor storage devices. The purpose of the invention is to simplify the device. Arrange
Description
J3 ;г 8,9 -СЭтО.J3; g 8.9 -SETO.
(Л(L
сwith
с со о со с со о со со
ство содержит накопитель 5 с чейками 1 пам ти информационных разр дов и чейками 2 пам ти контрольных разр дов , объединенных в группы, например , по байтам, дешифратор 3 адреса, адресные усилители 4, блоки 10 коррекции , элемент ИЛИ 11, элементы 12 и 13 задержки. В процессе записи производитс контрольное чтение информации в блоки 10 коррекции и сравнение в них считанной и записанной информации . В случае ошибки информаци записьшаетс повторно, но в инверс1The device contains a drive 5 with cells 1 of the memory of information bits and cells 2 of the memory of control bits combined into groups, for example, byte, decoder 3 addresses, address amplifiers 4, correction blocks 10, element OR 11, elements 12 and 13 delays. In the process of recording, a check reading of the information is made in the correction blocks 10 and the read and recorded information is compared in them. In case of an error, the information is written repeatedly, but in inverse1
Изобретение относитс к вычислительной технике, в частности к интегральным полупроводниковым запоминающим устройствам.The invention relates to computing, in particular to integrated semiconductor memory devices.
Цель изобретени - упрощение устройства .The purpose of the invention is to simplify the device.
На чертеже изображена структурна схема предлагаемого устройства.The drawing shows a structural diagram of the proposed device.
Устройство содержит чейки 1 пам ти информационных разр дов накопител , чейки 2 пам ти контрольных разр дов накопител , дешифратор 3 адреса , адресные усилители 4, накопи тень 5, информационные входы 6 и выходы 7, входы разрешени записи 8 и чтени 9, блоки 10 коррекции, элемент ИДИ 11, первый 12 и второй 3 элементы задержки,The device contains 1 memory cells of information bits of the accumulator, cells 2 memory of the control bits of the accumulator, decoder 3 addresses, address amplifiers 4, memory 5, information inputs 6 and outputs 7, write resolution 8 and read 9, correction blocks 10 element IDN 11, the first 12 and second 3 delay elements
Кажд.ый .блок 10 коррекции содержит блок 14 записи контрольного разр да, элементы Неравнозначность 35, блоки 16 считывани информационных разр дов , блок J7 считывание контрольного разр да, элементы Неравнозначность J8, блок J9 сравнени , регистры 20 информации, регистры 21 контрольных данных, элемент И 22 и ЯПИ 23 и блоки 24 записи информации.Each correction block 10 contains a check bit writing block 14, Negligence elements 35, information bit read blocks 16, a J7 block read block, elements of J8 inequality, a compare block J9, information registers 20, check data registers 21, the element And 22 and YPI 23 and blocks 24 of the information recording.
Блок J9 сравнени содержит элементы Неравнозначность 25 и .И 26.Comparison block J9 contains the elements Inequivalence 25 and .I 26.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Сигналы адреса с входов дешифратора 3 поступают на входы усилителей 4 и открьшают адресные транзисторы выбранных дешифратором 3 чеек 1 и 2.The address signals from the inputs of the decoder 3 are fed to the inputs of the amplifiers 4 and the address transistors of the selected 3 decoder 3 cells 1 and 2 open.
ном коде, причем в чейку 2 контрольного разр да соответств тощей группы разр дов накопител записываетс сигнал Лог., а при считывании выполн етс инверси данных. Таким образом исправл ютс однобитовые ршибки в каждой группе разр дов (байте ) накопител 5. Упрощение устройства достигаетс путем уменьшени числа адресных усилителей 4 за счет подключени выхода каждого из них к входам чеек пам ти одноименных разр дов разных групп (байтов), 1 ил.in the cell 2 of the control bit of the corresponding group of bits of the accumulator, the Log signal is recorded, and when read, the data is inverted. In this way, one-bit bugs in each group of bits (byte) of drive 5 are fixed. Simplification of the device is achieved by reducing the number of address amplifiers 4 by connecting the output of each of them to the inputs of the memory cells of the same name of different groups (bytes), 1 Il.
Информационные сигналы с входов 6 через элементы Неравнозначность 18 и задержки 33 подаютс на информаци- онные входы-выходы чеек 1 и 2 и по сигналу разрешени записи, поступающему с выхода элемента ИЛИ 23, осуществл етс запись инфорьшции в выбранные чейки 1 и 2 накопител 5, Информаци в чейки и 2 записываетс в пр мом коде, так как на вторые входы элементов Неравнозначность 18 подаетс сигнал Лог,О с выхода элемента И 22 (так как на его вход еще не пришел сигнал разрешени записи с выхода 13 задержки). Тот же сигнал с выхода элемента И 22 поступает на вход блока 14 и одновременно с записью информации в чейки 1 в, чейку 2 записываетс сигнал Лог,О, свидетельствующий о том, что информаци в чейки 1 записана в пр мом коде,Information signals from inputs 6 through Negligence 18 and delay 33 elements are sent to information inputs / outputs of cells 1 and 2 and the recording permission signal from the output of the element OR 23 records information in selected cells 1 and 2 of drive 5, The information in the cells and 2 is recorded in the forward code, since the second inputs of the elements of Equality 18 receive a signal Log, O from the output of the element And 22 (because the input signal has not yet arrived at its input to allow the recording from output 13 of the delay). The same signal from the output of the element And 22 enters the input of the block 14 and simultaneously with the recording of information in cells 1, cell 2 records the signal Log, O, indicating that the information in cell 1 is recorded in the direct code,
Затем сигнал разрешени записи, , задержанный.элементом 12 задержки, через элемент И1Ш 11 Подаетс на входы разрешени считывани регистров 20 и 21, В процессе контрольного считывани информаци из выбранных чеек 3 и 2 считываетс в регистры 20 и 21 и поступает на входы соответствующих элементов Неравнозначность 25 блока 19, на другие входы которых подаетс записываема информаци . Производитс поразр дное сравнение записанной и считанной в процессе контрольного считыванил информации и, если она совпадает, то нл всех выуоThen the write enable signal, delayed by the delay element 12, through the I1Sh 11 element. It is fed to the read resolution inputs of the registers 20 and 21. During the check reading, information from the selected cells 3 and 2 is read into the registers 20 and 21 and is fed to the inputs of the corresponding elements. 25 of block 19, to the other inputs of which recording information is applied. A one-by-one comparison is made of the information recorded and read during the check reading and, if it is the same, then no information has been received.
дах элементов 25 формируютс сигналы nor.J, а на выходе блока 19 - сигнал Лог.О, свидетельствующий об отсутствии ошибки в записанной по данному адресу информации. На этом процесс записи заканчиваетс .dah of the elements 25, signals nor.J are formed, and at the output of block 19 there is a signal Log.O, indicating that there is no error in the information recorded at this address. This is where the recording process ends.
При этом, на входе элемента И 22 по вл етс сигнал. Лог.О и сигнал разрешени записи с выхода элемента 13 задержки не проходит на блоки 14 и 24. Если же информаци , считанна из накопител 5 в процессе контрольного считьшани информации, хот In this case, a signal appears at the input of AND 22. Log.O and the write enable signal from the output of delay element 13 does not pass to blocks 14 and 24. If the information is read from accumulator 5 in the process of controlling the information, though
:бы в одном разр де не совпадает с за- 15 талла ведет к увел1гчению надежности писанной в нее, то на выходе блока J9 и повышению выхода годных микросхем, формируетс сигнал ошибки - Лoг,J.: if one bit doesn’t coincide with the back of the board, it leads to an increase in the reliability of what is written into it, then at the output of block J9 and the increase in the yield of suitable chips, an error signal is generated - Log, J.
ФормулаFormula
Сигнал разрешени записи с выхода элемента J3 задержки через элемент И 22 поступает на входы разрешени записи блоков 14 и 24 и на вторые входы элементов Неравнозначность 18, вызыва повторную запись информации в инверсном коде в накопитель 5.The write enable signal from the output of the delay element J3 through the AND element 22 enters the write enable inputs of blocks 14 and 24 and the second inputs of the inequality elements 18, causing the repeated recording of information in the inverse code to drive 5.
При повторной записи в чейку 2 з.аписываетс сигнал Лог., свидетельствующий о том, что в чейках по данному адресу хранитс информаци в инверсном коде.When re-recording in cell 2 Z., the signal Log. Is written, which indicates that the cells at this address store information in the inverse code.
В режиме считывани дешифратор 3 через усилители 4 отпирает адресные транзисторы в соответствующих чейках 1 и 2 пам ти. По сигналу разрешени чтени , приход щему с входа 9In read mode, the decoder 3, through the amplifiers 4, unlocks the address transistors in the corresponding slots 1 and 2 of the memory. On read enable signal coming from input 9
изобретени the invention
20 Полупроводниковое оперативное за-: поминающее устройство с коррекцией информации, содержащее дешифратор адреса , элемент ИЛИ, первьш и второй элементы задержки, группы адресных20 Semiconductor operational back-: remembering device with information correction, containing address decoder, OR element, first and second delay elements, address groups
25 усилителей, накопитель и блоки коррек ции, причем контрольные входы-выходы каждого блока коррекции подключены к информационным выходам-входам разр дов группы накопител , информнци30 OHHbie входы и выходы блоков коррек - ции вл ютс информационными входами и выходами устрой:;тва, причем первые входы разрешени записи блоков коррекции и вход первого элемента зачерез элемент ИЛИ 11 на входы регист- 35 объединены и вл ютс входом25 amplifiers, a drive and correction blocks, with the control inputs-outputs of each correction block connected to the information outputs of the bits of the storage group, informing the 30 OHHbie inputs and outputs of the correction blocks are the information inputs and outputs of the device; the write enable inputs of the correction blocks and the input of the first element through the OR element 11 at the inputs of the register- 35 are combined and are the input
разрешени записи устройства, выход , первого элемента зад.ержки подключен к входу второго элемента задержки и первому входу элемента ИЛИ, второйenable recording device, the output of the first element of the holder is connected to the input of the second delay element and the first input of the element OR, the second
ров 20 и 21, в последние считьшает- с информаци из выбранных чее:-: 1 и 2 пам ти. Сигналы с выхода чейки 2 поступают в блок 17, ас его выхода - на вторые входы элементов Неравнозначность 15, на первые входы которых подаютс сигналы из регистров 20. Если при записи не формируетс сигнал ошибки, нет повторной записи и в чейке 2 по данному адресу хранитс сигнал Лог.О, то ин формаци из регистров 20 проходит через элементы 15 в блоки 16 без инверсии . В противном случае произворазрешени записи устройства, выход , первого элемента зад.ержки подключен к входу второго элемента задержки и первому входу элемента ИЛИ, второйDitch 20 and 21, in the latter, is found to be from information from selected ones: -: 1 and 2 memories. The signals from the output of cell 2 are received in block 17, and the ac of its output is sent to the second inputs of the elements Equality 15, the first inputs of which are signals from the registers 20. If no error signal is generated during recording, there is no re-recording and cell 2 is stored at this address Since the signal Log. O, the information from the registers 20 passes through the elements 15 to the blocks 16 without inversion. Otherwise, if the device records the output, the first element of the holder is connected to the input of the second delay element and the first input of the OR element, the second
40 вход которого вл етс входом разрешени чтени устройства, выходы элемента ИЛИ соединены с входами разрешени чтени блоков коррекции, вторые входы разрешени записи которых40 whose input is a device read input, the element OR outputs are connected to read enable inputs of correction blocks, the second write enable inputs of which
45 подключены к выходу второго элемента задержки, входы дешифратора адреса вл ютс адресными входами устройства , каждый выход дешифратора адреса45 are connected to the output of the second delay element, the addresses of the address decoder are the address inputs of the device, each output of the address decoder
соединен с входами адресных усилитедитс инверси считываемой из -чеек 1 50 со этветствугощей группы, о т л и - информации по данному адресу.чающеес тем, что, с цельюconnected to the inputs of the address amplifiers, the inverse of the readable cells 1 50 from this group, about the l and - information at this address.
упрощени устройства, в нем выходsimplify the device, in it the output
Пробой подзатворного диэлектрика каждого адресного усилител группы одного из адресных транзисторов чей- подключен к адресным входам одноимен- ки 1 или 2 создает двухбитовую ошиб- gg ных разр дов групп накопител .Breakdown of the gate dielectric of each address amplifier of a group of one of the address transistors whose connections are connected to the address inputs of the same name 1 or 2 creates two-bit error bits of the drive groups.
ку в слове накопител 5, так как к выходу каждого усилител А. подключены входы чеек 1 или 2 двух разр дов. Однако выбранные чейки или 2 принадлежат к разным группам разр дов накопител 5 и ошибки в них исправл ютс блоками 10 независимо друг от друга, как однобитовые.ku in the word accumulator 5, since the outputs of 1 or 2 two bits are connected to the output of each amplifier A. However, the selected cells or 2 belong to different groups of bits of accumulator 5 and the errors in them are corrected by blocks 10 independently of each other, as one-bit ones.
Подключение выхода усилител 4 к входам нескольких чеек или 2 приводит к упрощению устройства и уманьшенрйп площади кристалла, а уменьшение числа элементов и площади крисизобретени Connecting the output of the amplifier 4 to the inputs of several cells or 2 leads to a simplification of the device and the umanshenryp area of the crystal, and reducing the number of elements and the area of the invention
Полупроводниковое оперативное за-: поминающее устройство с коррекцией информации, содержащее дешифратор адреса , элемент ИЛИ, первьш и второй элементы задержки, группы адресныхSemiconductor operational back-: remembering device with information correction, containing address decoder, OR element, first and second delay elements, address groups
усилителей, накопитель и блоки коррекции , причем контрольные входы-выходы каждого блока коррекции подключены к информационным выходам-входам разр дов группы накопител , информнциOHHbie входы и выходы блоков коррек - ции вл ютс информационными входами и выходами устрой:;тва, причем первые входы разрешени записи блоков коррекции и вход первого элемента за35 объединены и вл ютс входомamplifiers, a drive and correction blocks, with the control inputs-outputs of each correction block connected to the information outputs of the bits of the storage group, the information OHHbie inputs and outputs of the correction blocks are information inputs and outputs of the device; correction blocks and the input of the first element 35 are combined and are the input
разрешени записи устройства, выход , первого элемента зад.ержки подключен к входу второго элемента задержки и первому входу элемента ИЛИ, второйenable recording device, the output of the first element of the holder is connected to the input of the second delay element and the first input of the element OR, the second
40 вход которого вл етс входом разрешени чтени устройства, выходы элемента ИЛИ соединены с входами разрешени чтени блоков коррекции, вторые входы разрешени записи которых40 whose input is a device read input, the element OR outputs are connected to read enable inputs of correction blocks, the second write enable inputs of which
45 подключены к выходу второго элемента задержки, входы дешифратора адрес вл ютс адресными входами устройства , каждый выход дешифратора адреса45 are connected to the output of the second delay element, the inputs of the address decoder are the address inputs of the device, each output of the address decoder
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864135845A SU1439679A1 (en) | 1986-10-13 | 1986-10-13 | Solid-state direct-access memory with data correction |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864135845A SU1439679A1 (en) | 1986-10-13 | 1986-10-13 | Solid-state direct-access memory with data correction |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1439679A1 true SU1439679A1 (en) | 1988-11-23 |
Family
ID=21263305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864135845A SU1439679A1 (en) | 1986-10-13 | 1986-10-13 | Solid-state direct-access memory with data correction |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1439679A1 (en) |
-
1986
- 1986-10-13 SU SU864135845A patent/SU1439679A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Микроэлектроника, 147, вып.4, 1978, с.328. Авторское свидетельство СССР № 1295446, кл. G JJ С JJ/00, J986, * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5862099A (en) | Non-volatile programmable memory having a buffering capability and method of operation thereof | |
US7652922B2 (en) | Multiple independent serial link memory | |
KR910009550B1 (en) | Memory integrated circuit | |
US7243203B2 (en) | Pipeline circuit for low latency memory | |
US4933909A (en) | Dual read/write register file memory | |
US20060112321A1 (en) | Transparent error correcting memory that supports partial-word write | |
US20060044874A1 (en) | Semiconductor memory device | |
KR890008829A (en) | Semiconductor memory | |
US4669064A (en) | Semiconductor memory device with improved data write function | |
US3968480A (en) | Memory cell | |
US6525987B2 (en) | Dynamically configured storage array utilizing a split-decoder | |
GB2276744A (en) | Memory module with parity bit emulation. | |
JP2610598B2 (en) | Circuit device for parallel writing of data to semiconductor memory | |
US5341488A (en) | N-word read/write access achieving double bandwidth without increasing the width of external data I/O bus | |
US6477082B2 (en) | Burst access memory with zero wait states | |
KR920010624A (en) | Semiconductor memory device | |
US7085171B2 (en) | Semiconductor memory device | |
KR910020728A (en) | Data Bus Clamp Circuit of Semiconductor Memory | |
KR19990056396A (en) | Semiconductor memory device having simultaneous column select line activation circuit and method for controlling column select line | |
JPS6353785A (en) | Decoding of word or bit line for cmos semiconductor memory | |
SU1439679A1 (en) | Solid-state direct-access memory with data correction | |
KR900008517A (en) | Dynamic semiconductor memory device and its functional test device and test method | |
US6292404B1 (en) | Semiconductor memory | |
US5691942A (en) | Semiconductor memory having extended data out function | |
US5424984A (en) | Semiconductor memory incorporating a plurality of data input buffers for multi-bit operation |