SU1434257A1 - Дифракционное устройство дл измерени отклонений от заданной оси - Google Patents

Дифракционное устройство дл измерени отклонений от заданной оси Download PDF

Info

Publication number
SU1434257A1
SU1434257A1 SU853926107A SU3926107A SU1434257A1 SU 1434257 A1 SU1434257 A1 SU 1434257A1 SU 853926107 A SU853926107 A SU 853926107A SU 3926107 A SU3926107 A SU 3926107A SU 1434257 A1 SU1434257 A1 SU 1434257A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mirror
zone
reflected
plate
transparent zone
Prior art date
Application number
SU853926107A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Иванович Пимшин
Original Assignee
Хабаровский политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Хабаровский политехнический институт filed Critical Хабаровский политехнический институт
Priority to SU853926107A priority Critical patent/SU1434257A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1434257A1 publication Critical patent/SU1434257A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к устройствам дл  контрол  соосности при прецизионном монтаже. С целью повьшени  производительности труда и расширени  функциональных возможностей спектральные марки выполнены из зеркальных пластин 3, на зеркальной поверхности которых нанесена кольцевд  непрозрачна  зона 4, а на обратной стороне - радиальный биссектор с прозрачной зоной & в виде круга. Луч от лазера 1, отразившись от полупрозрачной зеркальной грани куб-призмы, распростран етс  вдоль оси вывер емых объектов. При попадании на пластику 3 вне п    часть луча отражаетс  от зеркальной поверхности в обратном напркБлен. Остальна  часть луча проходит через прозрачную зону 6 и попадает на следующую пластину с меньшей прозрачной зоной, где вновь часть луча отра-ка- етс , а часть проходит дальше. Достигнув последней пластины луч отражаетс  в обратном направленш. Б результате в плоскости радиальных бкс- секторов формируютс  интерференционные картины. Така  же картина руетс  в плоскости светоприемиика 2, По взаимному смещению интерферен1Щ- онньгх колец в плоскост х светоприем- ника 2 и биссекторов суд т о взаимном смешении элементов вывер емой конст- . рукции. & Г iHa IJSCTSJS (s „. фа. 5

Description

: Изобретение относитс  к геодези: ческому приборостроению, в частност и
: к устройствам дл  контрол  соосности
при прецизионном монтаже, например,
ускорителен элементарных частиц.
Цель изобретени  - расширение диапазона измерений и производительности труда,
I Иа фиг 1 изображена зеркальна  пластина в наборе, вид с зеркальной поверхности пластины; на фиг, 2 то же, в обойме, вид с оборотной стороны зеркальной поверхности| на фиг.3- спектральна  марка в рабочем наборе. Дифракционное устройство содержит источник света - лазер 1, светопри- емник 2, спектральную марку, состо - щую из зерзсальных пластин 3, на зеркальной поверхности которых нанесена кольцева  непрозрачна  зона 4, а на обратной стороне пластины - ный биссектор 5, в центре которого имеетс  прозрачна  зона 6 в виде крувую зеркальную пластину 3, внешн   часть луча отражаетс  от зеркальной поверхности пластины 3 в обратном на- правлении и вследствие того, что в этой области луча некотора  его часть гаситс  непрозрачной зоной 4, а оставшиес  в результате дифракции образуют зону перекрыти , в плоскости
экрана светоприемника 2 внешние интерференционные кольца задают функцию положени  первого элемента объекта относительно его основной оси. Внутренн   часть луча проходит через
прозрачную зону б пластины 3 и попадает на последующую зеркальную пластину 3, где вновь внутренн   часть луча проходит прозрачную зону, а внешн   отражаетс  и вследствие дифракции формирует кольцевую интерференционную картину в плоскости радиального биссектора 5 предьщущей пластины 3, задав функцию взаимного положени  элементов объекта предыдущей пласти
30
35
40
га.э причем ка с/ ;а  последующа  зер- 25 не. Некотора  внутренн   часть колец
инт-ерференционной картины попадает (с обратной стороны) в область прозрачной зоны предыдущей пластины и- достигает экран светоприемника 2, задава  функцию положени  второго элемента объекта относительно его основной оси. Кажда  последующа  зеркальна  пластина 3 формирует в плоскости радиального биссектора 5 предьщущей пластины интерференционную картину, чем задает соответствующую функцию взаимного положени  элементов объекта, и интерференционную картину в плоскости экрана свето- приенника 2, задава  функцию элемента , в котором установлена данна , зеркальна  пластина 3 относительно основной оси объекта.
При несоосности элементов вывер емого объекта величины их смещений определ ют из отсчетов по микрометрическим винтам 85 предварительно добившись соответствующим перемещением зеркальных пластин симметрич- ного положени  кольцевых интерференционных картин в плоскости экрана светоприемника 2 и в плоскост х радиального биссектора каждой зеркальной пластины 3.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Дифракционное устройство дл  измерени  отклонений от заданной оси.
    кальна  пластина 3 имеет радиус прозрачной зоны 6 меньший, чем у предыдущей , при этом последн   зеркальна  пластина 3 не имеет прозрачной зоны, Кажда  зеркальна  пластина размещена : в обойме 7,, котора  установлена при
    помощи микрометрических винтов 8 в ; центрирующее устройство 9. I Устройство работает следующим об- разом.
    : При ПОМОЩИ дифракционного устрой- ; ства вдоль основной оси вывер емого i объекта ориентируют лазерный луч ис- ; точника 1 света., при этом с этим же ; направл.ением совпадает ориентировка i еветоприемника 2, св занного с лазером 1 посредством делительной куб-призмы. Зеркальные пластины 3 устанавливают с помощью центрирующих устройств 9 в вевер е14ых элеме тдх объекта. При этом их располагают так, что ближн   к приемопередатчику зеркальна  гтасти на 3 имеет максимальный радиус проз- ,рачной зоны 6, а радиус постепенно уменьшаетс , последн   зеркальна  - пластина зообще не имеет прозрачной зоны. Такое расположение зеркальных пла.стин позвол ет получить многофункциональную спектральную марку. Лазер- пьш луч источника 1 света, отразив- шись от полупрозрачной зеркальной грани куб-призмы (не обозначена), распростран етс  вдоль основной оси вывер емого объекта.: Попада  на пер45
    Г
    содержащее лазер, спектральную марку, закрепленную на вывер емом объекте, и светоприемник, отличающеес  тем, что, с целью повышени  производительности, оно снабжено све- тодели-тельным кубом и дополнительными последовательно расположенньши спектральными марками, кажда  из которых выполнена в виде зеркальной
    Фиг. 2
    Составитель В.Лыков Редактор Л.Пчолинска  Техред М.Дидык
    Заказ 5543/42
    Тираж 680
    ВНИИПИ Государственного комитета СССР
    по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5
    пластины с кольцевой непрозрачной зоной, на обратной стороне каждой марки выполнен радиальный биссектор, причем кажда  последующа  зеркальна  пластина, кроме последней по оптической оси устройства, вьтолнена с прозрачной зоной в форме круга с радиусом меньшим, чем у предыдущей зеркальной пластины..
    Фиг, 1
    Корректор Л.Патай
    Подписное
SU853926107A 1985-07-17 1985-07-17 Дифракционное устройство дл измерени отклонений от заданной оси SU1434257A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853926107A SU1434257A1 (ru) 1985-07-17 1985-07-17 Дифракционное устройство дл измерени отклонений от заданной оси

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853926107A SU1434257A1 (ru) 1985-07-17 1985-07-17 Дифракционное устройство дл измерени отклонений от заданной оси

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1434257A1 true SU1434257A1 (ru) 1988-10-30

Family

ID=21188072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853926107A SU1434257A1 (ru) 1985-07-17 1985-07-17 Дифракционное устройство дл измерени отклонений от заданной оси

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1434257A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1138651, кл. G 01 С 15/02, 1982. Авторское свидетельство СССР № 255428, кл. Н 05 h 7/00, 1967. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3971002A (en) Device for the optical read-out of a diffractive track belonging to a data carrier in the form of a disc or tape
US3786332A (en) Micro positioning apparatus
US4167677A (en) Optical device for the alignment of two superimposed objects
US4687980A (en) X-Y addressable workpiece positioner and mask aligner using same
US5026985A (en) Method and apparatus for detecting a reference position of a rotating scale with two sensors
US4977361A (en) X-Y addressable workpiece positioner and mask aligner using same
US3520607A (en) Phase sensing laser contour mapper
SU1434257A1 (ru) Дифракционное устройство дл измерени отклонений от заданной оси
US4425537A (en) X-Y Addressable workpiece positioner and mask aligner using same
US4115008A (en) Displacement measuring apparatus
CN110095927A (zh) 投射镜头和投影仪
GB1378759A (en) Photo-electric automatic positioning device
SU1515047A1 (ru) Спектральна зонна марка
EP0177273A2 (en) Camera for visual inspection
US3675024A (en) Photo-electric positioning device
US3791742A (en) Coordinate position measuring by imaging a movable grating onto a parallel reference grating
SU1541478A1 (ru) Визирна марка
SU1315799A1 (ru) Устройство дл измерени линейных перемещений
SU847019A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл НАВЕдЕНи HA гРАНицу CBETA и ТЕНи
SU1610468A1 (ru) Устройство дл перемещени по дуге при стереофотосъемке
JPS57190202A (en) Device for reading optical scale
SU1753262A1 (ru) Способ измерени углов отклонени лучей в фазовом объекте, зарегистрированном на голограмму
SU1362932A1 (ru) Устройство дл исследовани геодезических приборов
SU1137422A1 (ru) Устройство дл компенсации погрешности установки поворотной пентапризмы
SU1283576A1 (ru) Устройство дл углового измерени положени луча