SU1430841A1 - Устройство дл определени параметров кристаллической решетки твердых тел - Google Patents

Устройство дл определени параметров кристаллической решетки твердых тел Download PDF

Info

Publication number
SU1430841A1
SU1430841A1 SU854022787A SU4022787A SU1430841A1 SU 1430841 A1 SU1430841 A1 SU 1430841A1 SU 854022787 A SU854022787 A SU 854022787A SU 4022787 A SU4022787 A SU 4022787A SU 1430841 A1 SU1430841 A1 SU 1430841A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
parameters
determining
crystal lattice
magnetic field
Prior art date
Application number
SU854022787A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Васильевич Воробьев
Михаил Янович Крупоткин
Виталий Александрович Финкель
Original Assignee
Харьковский государственный университет им.А.М.Горького
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Харьковский государственный университет им.А.М.Горького filed Critical Харьковский государственный университет им.А.М.Горького
Priority to SU854022787A priority Critical patent/SU1430841A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1430841A1 publication Critical patent/SU1430841A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к устройствам дл  определени  параметров кристаллической решетки, используе мых при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле. Цель изобретени  - повышение точности измерени  параметров кристаллической решетки твердых тел за счет увеличени  допустимых углов,дифракции при азимутальном вращении магнитного пол  относительно горизонтальной оси, перпендикул рной отражающей поверхности образца. Устройство содержит С- образньш сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питани , и держатель образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника. Поворот магнита относительно образца осуществл ет.с  прижимной планкой 4 и посадочным кольцом 5 с отверсти ми по периметру, закрепленным на гониометре рентгеновского дифрактометра. 1 ил. а О

Description

Изобретение относится к физике твердого тела, в частности к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используемых $ при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле.
Цель изобретения - увеличение точности определения параметров кристаллической решетки образца за счет уве- щ лияения допустимых углов дифракции при вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца.· 15
На чертеже изображена конструкция устройства.
Устройство содержит С-образный сердечник 1 с обмотками 2, подсоединенными к блоку питания, держатель. 20 образца 3, помещаемый в отверстие, выполненное в центральной части сердечника 1, прижимную планку 4, фиксирующую магнит относительно образца и‘жестко соединенную с сердечником 25 1, посадочное кольцо 5, закрепленное на гониометре дифрактометра.
Устройство работает следующим образом.
В центральное отверстие посадоч- 30 ного кольца 5 вставляется цанговый держатель с образцом 3, прикрепленным к держателю. Затем к посадочному кольцу с помощью винтов прикрепляется планка с магнитом. Положение магнита· относительно образца изменяется поворотом планки в определенное положение.
С-образный сердечник выполнен из армкожелеза (с зазором между полюсами 7 мм). Симметричные обмотки выполнены из медной проволоки типа ПЭВТЛ 0,3 мм.
Планка и посадочное кольцо выполнены из латуни. По периметру кольца сделаны отверстия через каждые 15 . Цанговый держатель также выполнен из латуни. Описанное выше приспособление помещалось на гониометр дифрактометра ДРОН - 2,0.
С помощью этого устройства проведено исследование монокристаллов D в магнитных полях с однородностью в рабочей зоне не хуже 10 Э.
Поле определялось с точностью до
Э и плавно варьировалось от 0 до 1 кЭ.
Параметры кристаллической решетки определялись е относительной точностью не хуже 2·10’?Α.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Устройство для определение параметров кристаллической решетки твердых тел, включающее рентгеновский дифрактометр с электромагнитом С-образной формы, выполненного с возможностью поворота относительно образца, и держателем образца, отличающееся тем, что, с целью увеличения точности определения параметров кристаллической решетки образца за счет увеличения допустимых углов дифракции при вращении магнитного поля относительно горизонтальной оси, перпендикулярной отражающей поверхности образца, электромагнит укреплен на держателе с возможностью независимого от образца поворота вокруц упомянутой горизонтальной оси и установлен так, что. его полюса не выходят за плоскость отражающей поверхности образца.
SU854022787A 1985-12-17 1985-12-17 Устройство дл определени параметров кристаллической решетки твердых тел SU1430841A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU854022787A SU1430841A1 (ru) 1985-12-17 1985-12-17 Устройство дл определени параметров кристаллической решетки твердых тел

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU854022787A SU1430841A1 (ru) 1985-12-17 1985-12-17 Устройство дл определени параметров кристаллической решетки твердых тел

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1430841A1 true SU1430841A1 (ru) 1988-10-15

Family

ID=21221820

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU854022787A SU1430841A1 (ru) 1985-12-17 1985-12-17 Устройство дл определени параметров кристаллической решетки твердых тел

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1430841A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Atoji М. Multipurpose neutron- diffraction instrumentations.-Nucl. Instr. Methods. V, 35, № 1, 1965, 13-33. . Jones E. J., Tanner B.K. A double axis X-ray-diffractometer for magnetostriction measurements.-J. Phys. E: Sol. Instruments, 1980, V. 13, № 11, 1183-1188. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4093912A (en) NMR magnet assembly with pole face parallelism adjustment
GB2237883A (en) Nuclear magnetic resonance imaging spectrometer
CA2008555A1 (en) Method and apparatus for reducing base field shifts in a magnetic resonance device due to pulsed magnetic field gradients
US3609611A (en) Method and apparatus for stabilizing permanent magnets
SU1430841A1 (ru) Устройство дл определени параметров кристаллической решетки твердых тел
EP0150938A3 (en) Nuclear magnetic resonance apparatus
Christensen et al. Permanent magnet for atomic beam focusing
JPS6491075A (en) Magnetic field distribution measuring apparatus
US3172035A (en) Probe for a gyromagnetic resonance apparatus
SU1108352A1 (ru) Способ формировани решетки цилиндрических магнитных доменов
US2668275A (en) Unitary integrating meter and damping magnet structure
GB1154794A (en) Improvements in or relating to Crystal Supports for X-ray Spectrometers
SU1411667A1 (ru) Установка дл исследовани магнитореологических свойств строительных растворов
US3375438A (en) Method and means for orienting crystals by alternate application of angularly spacedmagnetic fields
JPS6425029A (en) Measuring device of verdet's constant
CN217305493U (zh) 一种梯度线圈磁场检测装置
Denne A new concept in goniometer head design
CN220871675U (zh) 一种四极磁铁磁中心的测量装置
SU1409753A2 (ru) Датчик угла наклона,например,дл контрол положени механизированной крепи
SU1040390A1 (ru) Устройство дл рентгено-графического исследовани монокристаллов
SU842518A1 (ru) Приставка к рентгеновскому дифракто-МЕТРу дл ОРиЕНТиРОВАННОй РЕзКи MOHO-КРиСТАллОВ
SU1710263A1 (ru) Устройство дл магнитной обработки режущего инструмента
Bond Versatile Double Crystal X‐Ray Goniometer
Lindroos et al. Measurement of the magnetic moment of 23Mg using the tilted foil polarization technique
SU552575A1 (ru) Устройство дл измерени дипольных магнитных моментов поплавковых магнитных объектов