SU1430751A1 - Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий - Google Patents

Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий Download PDF

Info

Publication number
SU1430751A1
SU1430751A1 SU874201209A SU4201209A SU1430751A1 SU 1430751 A1 SU1430751 A1 SU 1430751A1 SU 874201209 A SU874201209 A SU 874201209A SU 4201209 A SU4201209 A SU 4201209A SU 1430751 A1 SU1430751 A1 SU 1430751A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
lens
controlled product
output
photodetector
shift registers
Prior art date
Application number
SU874201209A
Other languages
English (en)
Inventor
Борис Андреевич Борзых
Original Assignee
Б.А.Борзых
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Б.А.Борзых filed Critical Б.А.Борзых
Priority to SU874201209A priority Critical patent/SU1430751A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1430751A1 publication Critical patent/SU1430751A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике. Цель изобретени  - повышение достоверности за счет обеспечени  съема информации о дефектах под различными углами. Устройство состоит из осветител -коллиматора 1, объектива 2, формирующего изображение поверхности контролируемого издели  3, линейки фотоприемников 5, расположенной в плоскости изображени  поверхности контролируемого издели  3, причем рассто ние от оптической оси объектива до фотоприемников 5 определ етс  формулой И R-N-COS (180°-п/Х), где R - радиус контролируемого издели ; N - линейное увеличение объектива; п - пор дковый номер фотоприемника; k - количество фотоприемников в линейке. При вращении контролируемого издели  3 изображени  дефектов поверхности контролируемого издели  3 последовательно попадают в поле зрени  фотоприемников 5, что обеспечивает после- g довательное визирование дефектов под различными углами. 1 ил. (Л .с 4 оо о | ел

Description

Изобретение относитс  к контрольно измерительной технике и Может быть использовано дл  автоматизаи дефектов цилиндрических изделий„
Цель изобретени  - повышение досто верности за счет обесггечеми  съема информа1ши о дефектах под раэличнЕлми углами.
На чертеже приведена схема устрой ства.
Устройство состоит из осветител - коллиматора i, установленного последовательно по ходу световых лучей светоде.чител  2j предназн;;;ченного направлени  световых лучей, отраженных от контролируемого издели  3 на объектив 4, За объективом ч по ходу световых лучей установлена, линейка фотоприемников 5, причем .г.инейка фотоириемников 5 расположена в плоскости изображени  контролируемого и;)дели  3, формируемого объективом Д (нумера Ц 1  фотоприемников на чертеже идет снизу вверх).
К выходам фотоприемниксЕ З вход  в линейку, подключены вxo/J l пороговых элементов 6, к выходам послених подключе 1Ы регистры 7 сдвига (рар дность регистров 7 сдвига совпадае с их пор дковыми номерами, нумера- lUiH регистров сдвига на чертеже идет сверху вниз). Привод вращени  кзде- ;ш  3 {не показан) св зан механической св зью с генератором тактовых импульсов, выполнент 1М в ви;;е диска 8 с Ефорез ми и оптронной пары 9, выход которой подключен к входу формировател  10 импульсов, К выходу формировател  10 импульсов подключены тактовые входы всех регистров 7 сдвига , Выхо/и 1 последних разр дов всех регистров 7 сдвига, кроме т-го,, где m ()/2, подключены к входам блока 1 аиализа, а выход последнего разр да т-го регистра 7 сдвига под- ключен к блоку 11 анализа через инвертор 12,
В состав устройства также вход т пороговые элементы 6, входам которых подключены к выходам фотолриемников 5, регистры 7 сдвига, входы которых подключены к выходам пороговых элементов 6 (разр дность регистров 7 сдвига совпадает с их пор дковыми номерамиJ, нумераци  регистров на чертеже идет сверху вниз),, диск 8 с прорез ми, св занный с приводом вращени  издели  3 оптронн.а  пара 9
0
-
5
-
35
50
55
формирователь IC импульсов, вход которого по длюче1- к оптронной паре 9, а выход - к так::о;;ы;-1 входам регистров 7 сдвига, блок i 1 ангшиза, все входы которого, кроме , подключены ко всем, кроме п:-го, :n(k+l)/2j выходам последних разр дов регистров 7 сдвига, инвертор ;2, вход которого подключен к выхс ду пос.теднего разр да ;т.-го регистра c;.;BHias, а выход к блоку анализа.
Устройство следующим образом,
Привод вращает контролируемое изделие 3 вокруг оси. Нзде.тие 3 освещаетс  широким коллимированным пучком света от осветител  , прошедшим через свето.л.ел.;ите:гьный элемент 2„ Поверхность изде.пи  3 проецирует- е« объективом 4 на линейку фотопри- с мников 5, На них попадает свет, от- ,)а -:е;; ный от т(чек на поверхности из- де-;;-;: - 3, лежащих через равные угловые интервал Це :тральный фотоприем- пик в светлом поле, iii-iv- - в темном поле. При попадании дефекта в поле зрени  центрального 4)отоприемника ег о сх вещенность уменьшаетс . Дефекты из других угловых положений издeJiи  3 дают засветку ос- т.алъ}|ых фотоприемников своими наклон- нь ми участками микрорельефа. При этом из крайних у1 ловых положений обнарутки- ваютс  углы 1гакЛ Она микрорельефа, близкие к 90 . Сигналы от линейки фо- тстриемников 5 преобразуютс  в двоичную форму пороговь ми элементами 6 и запоминаютс  в регистрах 7 сдвига. Сдвиг происходит при поступлении ,ого тактового импу. тьса с формировател  0, т,;е. при повороте 3 на оди}) элементарный участок конт- рол  „ Поскольку разр дность регистров / разна ,; информацией на выходах нх последних разр дов соответствует одному и тому же элементарног у участку контролируемой поверхности. Если количество двоичных чисел (е,циниц) на выходах регистров 7 больше допустимого , это свидетельствует о дефект- ости соответств)тощего элементарного участка и на выходе блока 11 анализа по вл етс  cHi iiaji дефекта.
Форму л а изобретени 
Устройство ;дл  контрол  дефектов поверхности цилиндрических изделий.
содержащее осветитель-коллиматор,. объектив, приемник излучени , синхронизатор , блок анализа, отличаю щ е е с   тем, что, с целью повышени  достовериости обнаружени  дефектов и расширени  функ1у1ональных возможностей , в устройство включены k пороговых элементов, k регистров сдвига и инвертор, причем приемник излучени  выполнен в виде линейки из k фотоприемников, расположенной на линии пересечени  плоскости изображени  контролируемого издели  с плоскостью , перпендикул рной оси вращени  контролируемого издели  и проход щей через оптическую ось объектива , рассто ние Н от оптической оси объектива до п-го фотоприемника определ етс  выражением
Н N.R-cos(l80 (n-l)/(k-l),
где N - линейное увеличение объектива R - радиус контролируемого издели ;
п - пор дковый номер фотоприемника;
к выходу каждого фотоприемника подключен соответствующий пороговый элемент, к выходу каждого порогового элемента - регистр сдвига, причем разр дность регистра сдвига совпадает с его пор дковым номером, синхронизатор выполнен н виде генератора тактовых импульсов, жестко св занного
с приводом вращени  контролируемого издели , выход которого соединен с тактовыми входами регистров сдвига, выходы последних разр дов k-1 регистров сдвига подключены к входам блока
анализа, а последний разр д т-го регистра сдвига, где in(k-i-l )/2, подключен к блоку анализа через инвертор.

Claims (1)

  1. Формула, изобретения
    Устройство для контроля дефектов поверхности цилиндрических изделий, содержащее осветитель-коллиматор,. объектив, приемник излучения, синхронизатор, блок анализа, о тличающ е е с я тем, что, с целью повышения достоверности обнаружения дефектов и расширения функциональных возможностей, в устройство включены к пороговых элементов, к регистров сдвига и инвертор, причем приемник излучения выполнен в виде линейки из к фотоприемников, расположенной на линии пересечения плоскости изображения контролируемого изделия с плоскостью, перпендикулярной оси враще- 15 ния контролируемого изделия и проходящей через оптическую ось объектива, расстояние Н от оптической оси объектива до η-го фотоприемника определяется выражением 2о
    Η = Ν-R -cos(180°(n-l)/(к-1), где N - линейное увеличение объектива J
    R - радиус контролируемого изделия;
    η - порядковый номер фотоприемника ;
    к выходу каждого фотоприемника подключен соответствующий пороговый элемент, к выходу каждого порогового элемента - регистр сдвига, причем разрядность регистра сдвига совпадает с его порядковым номером, синхронизатор выполнен н виде генератора тактовых импульсов, жестко связанного с приводом вращения контролируемого изделия, выход которого соединен с тактовыми входами регистров сдвига, выходы последних разрядов к-1 регистров сдвига подключены к входам блока анализа, а последний разряд m-го регистра сдвига, где m=(k+1)/2, подключен к блоку анализа через инвертор.
    Составитель М.Кузнецов Редактор Е.Копча Техред А.Кравчук Корректор А.Обручар Заказ 5331/41 Тираж 680 Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д, 4/5
    Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
SU874201209A 1987-03-02 1987-03-02 Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий SU1430751A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874201209A SU1430751A1 (ru) 1987-03-02 1987-03-02 Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874201209A SU1430751A1 (ru) 1987-03-02 1987-03-02 Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1430751A1 true SU1430751A1 (ru) 1988-10-15

Family

ID=21288138

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874201209A SU1430751A1 (ru) 1987-03-02 1987-03-02 Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1430751A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент GB № 2126712, кл. G 01 N 21/88, 1983. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4465373A (en) Encoder
US5129725A (en) Method of optically detecting position of object and position detecting apparatus using the method
US3701097A (en) Decoding bar patterns
US5279044A (en) Measuring device for determining an absolute position of a movable element and scale graduation element suitable for use in such a measuring device
US4602242A (en) Encoder for photoelectric measuring devices
EP0100243B1 (en) Position sensor
US4140271A (en) Method and apparatus to read in bar-coded information
US4933673A (en) Encoder
US4070584A (en) Object-identification system with sequentially activated photocell array
US3708655A (en) Article identification apparatus
EP0218634A1 (en) Optical reader for printed bit-encoded data and method of reading same
JPH09229717A (ja) 位置測定装置
JPS60257309A (ja) 非接触距離測定装置
IT9003679A1 (it) Lettore di codici a barre a raggio laser.
US3676864A (en) Optical memory apparatus
US4661984A (en) Line inspection system
US4124797A (en) Apparatus and method for reading randomly oriented characters
SU1430751A1 (ru) Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий
US3562536A (en) Radiation sensitive semiconductor wafer identification system
US4577101A (en) Shaft encoder with an optical system comprising two straight-line-generatrix surfaces
TR199902712A1 (xx) Laser radyasyon kaynaklar�n�n alg�lanmas�na ve lokalize edilmesine mahsus tertibat
JP2537146B2 (ja) 変位測定装置
US3517202A (en) Rotating-mirror optical scanning system with optical path length compensation
US4221487A (en) System for testing a pattern recorded on a plate
CA1043015A (en) Coded label and decoding means and method