SU1430751A1 - Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий - Google Patents
Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий Download PDFInfo
- Publication number
- SU1430751A1 SU1430751A1 SU874201209A SU4201209A SU1430751A1 SU 1430751 A1 SU1430751 A1 SU 1430751A1 SU 874201209 A SU874201209 A SU 874201209A SU 4201209 A SU4201209 A SU 4201209A SU 1430751 A1 SU1430751 A1 SU 1430751A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- lens
- controlled product
- output
- photodetector
- shift registers
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике. Цель изобретени - повышение достоверности за счет обеспечени съема информации о дефектах под различными углами. Устройство состоит из осветител -коллиматора 1, объектива 2, формирующего изображение поверхности контролируемого издели 3, линейки фотоприемников 5, расположенной в плоскости изображени поверхности контролируемого издели 3, причем рассто ние от оптической оси объектива до фотоприемников 5 определ етс формулой И R-N-COS (180°-п/Х), где R - радиус контролируемого издели ; N - линейное увеличение объектива; п - пор дковый номер фотоприемника; k - количество фотоприемников в линейке. При вращении контролируемого издели 3 изображени дефектов поверхности контролируемого издели 3 последовательно попадают в поле зрени фотоприемников 5, что обеспечивает после- g довательное визирование дефектов под различными углами. 1 ил. (Л .с 4 оо о | ел
Description
Изобретение относитс к контрольно измерительной технике и Может быть использовано дл автоматизаи дефектов цилиндрических изделий„
Цель изобретени - повышение досто верности за счет обесггечеми съема информа1ши о дефектах под раэличнЕлми углами.
На чертеже приведена схема устрой ства.
Устройство состоит из осветител - коллиматора i, установленного последовательно по ходу световых лучей светоде.чител 2j предназн;;;ченного направлени световых лучей, отраженных от контролируемого издели 3 на объектив 4, За объективом ч по ходу световых лучей установлена, линейка фотоприемников 5, причем .г.инейка фотоириемников 5 расположена в плоскости изображени контролируемого и;)дели 3, формируемого объективом Д (нумера Ц 1 фотоприемников на чертеже идет снизу вверх).
К выходам фотоприемниксЕ З вход в линейку, подключены вxo/J l пороговых элементов 6, к выходам послених подключе 1Ы регистры 7 сдвига (рар дность регистров 7 сдвига совпадае с их пор дковыми номерами, нумера- lUiH регистров сдвига на чертеже идет сверху вниз). Привод вращени кзде- ;ш 3 {не показан) св зан механической св зью с генератором тактовых импульсов, выполнент 1М в ви;;е диска 8 с Ефорез ми и оптронной пары 9, выход которой подключен к входу формировател 10 импульсов, К выходу формировател 10 импульсов подключены тактовые входы всех регистров 7 сдвига , Выхо/и 1 последних разр дов всех регистров 7 сдвига, кроме т-го,, где m ()/2, подключены к входам блока 1 аиализа, а выход последнего разр да т-го регистра 7 сдвига под- ключен к блоку 11 анализа через инвертор 12,
В состав устройства также вход т пороговые элементы 6, входам которых подключены к выходам фотолриемников 5, регистры 7 сдвига, входы которых подключены к выходам пороговых элементов 6 (разр дность регистров 7 сдвига совпадает с их пор дковыми номерамиJ, нумераци регистров на чертеже идет сверху вниз),, диск 8 с прорез ми, св занный с приводом вращени издели 3 оптронн.а пара 9
0
-
5
-
35
50
55
формирователь IC импульсов, вход которого по длюче1- к оптронной паре 9, а выход - к так::о;;ы;-1 входам регистров 7 сдвига, блок i 1 ангшиза, все входы которого, кроме , подключены ко всем, кроме п:-го, :n(k+l)/2j выходам последних разр дов регистров 7 сдвига, инвертор ;2, вход которого подключен к выхс ду пос.теднего разр да ;т.-го регистра c;.;BHias, а выход к блоку анализа.
Устройство следующим образом,
Привод вращает контролируемое изделие 3 вокруг оси. Нзде.тие 3 освещаетс широким коллимированным пучком света от осветител , прошедшим через свето.л.ел.;ите:гьный элемент 2„ Поверхность изде.пи 3 проецирует- е« объективом 4 на линейку фотопри- с мников 5, На них попадает свет, от- ,)а -:е;; ный от т(чек на поверхности из- де-;;-;: - 3, лежащих через равные угловые интервал Це :тральный фотоприем- пик в светлом поле, iii-iv- - в темном поле. При попадании дефекта в поле зрени центрального 4)отоприемника ег о сх вещенность уменьшаетс . Дефекты из других угловых положений издeJiи 3 дают засветку ос- т.алъ}|ых фотоприемников своими наклон- нь ми участками микрорельефа. При этом из крайних у1 ловых положений обнарутки- ваютс углы 1гакЛ Она микрорельефа, близкие к 90 . Сигналы от линейки фо- тстриемников 5 преобразуютс в двоичную форму пороговь ми элементами 6 и запоминаютс в регистрах 7 сдвига. Сдвиг происходит при поступлении ,ого тактового импу. тьса с формировател 0, т,;е. при повороте 3 на оди}) элементарный участок конт- рол „ Поскольку разр дность регистров / разна ,; информацией на выходах нх последних разр дов соответствует одному и тому же элементарног у участку контролируемой поверхности. Если количество двоичных чисел (е,циниц) на выходах регистров 7 больше допустимого , это свидетельствует о дефект- ости соответств)тощего элементарного участка и на выходе блока 11 анализа по вл етс cHi iiaji дефекта.
Форму л а изобретени
Устройство ;дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий.
содержащее осветитель-коллиматор,. объектив, приемник излучени , синхронизатор , блок анализа, отличаю щ е е с тем, что, с целью повышени достовериости обнаружени дефектов и расширени функ1у1ональных возможностей , в устройство включены k пороговых элементов, k регистров сдвига и инвертор, причем приемник излучени выполнен в виде линейки из k фотоприемников, расположенной на линии пересечени плоскости изображени контролируемого издели с плоскостью , перпендикул рной оси вращени контролируемого издели и проход щей через оптическую ось объектива , рассто ние Н от оптической оси объектива до п-го фотоприемника определ етс выражением
Н N.R-cos(l80 (n-l)/(k-l),
где N - линейное увеличение объектива R - радиус контролируемого издели ;
п - пор дковый номер фотоприемника;
к выходу каждого фотоприемника подключен соответствующий пороговый элемент, к выходу каждого порогового элемента - регистр сдвига, причем разр дность регистра сдвига совпадает с его пор дковым номером, синхронизатор выполнен н виде генератора тактовых импульсов, жестко св занного
с приводом вращени контролируемого издели , выход которого соединен с тактовыми входами регистров сдвига, выходы последних разр дов k-1 регистров сдвига подключены к входам блока
анализа, а последний разр д т-го регистра сдвига, где in(k-i-l )/2, подключен к блоку анализа через инвертор.
Claims (1)
- Формула, изобретенияУстройство для контроля дефектов поверхности цилиндрических изделий, содержащее осветитель-коллиматор,. объектив, приемник излучения, синхронизатор, блок анализа, о тличающ е е с я тем, что, с целью повышения достоверности обнаружения дефектов и расширения функциональных возможностей, в устройство включены к пороговых элементов, к регистров сдвига и инвертор, причем приемник излучения выполнен в виде линейки из к фотоприемников, расположенной на линии пересечения плоскости изображения контролируемого изделия с плоскостью, перпендикулярной оси враще- 15 ния контролируемого изделия и проходящей через оптическую ось объектива, расстояние Н от оптической оси объектива до η-го фотоприемника определяется выражением 2оΗ = Ν-R -cos(180°(n-l)/(к-1), где N - линейное увеличение объектива JR - радиус контролируемого изделия;η - порядковый номер фотоприемника ;к выходу каждого фотоприемника подключен соответствующий пороговый элемент, к выходу каждого порогового элемента - регистр сдвига, причем разрядность регистра сдвига совпадает с его порядковым номером, синхронизатор выполнен н виде генератора тактовых импульсов, жестко связанного с приводом вращения контролируемого изделия, выход которого соединен с тактовыми входами регистров сдвига, выходы последних разрядов к-1 регистров сдвига подключены к входам блока анализа, а последний разряд m-го регистра сдвига, где m=(k+1)/2, подключен к блоку анализа через инвертор.
Составитель М.Кузнецов Редактор Е.Копча Техред А.Кравчук Корректор А.Обручар Заказ 5331/41 Тираж 680 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д, 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874201209A SU1430751A1 (ru) | 1987-03-02 | 1987-03-02 | Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874201209A SU1430751A1 (ru) | 1987-03-02 | 1987-03-02 | Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1430751A1 true SU1430751A1 (ru) | 1988-10-15 |
Family
ID=21288138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874201209A SU1430751A1 (ru) | 1987-03-02 | 1987-03-02 | Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1430751A1 (ru) |
-
1987
- 1987-03-02 SU SU874201209A patent/SU1430751A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Патент GB № 2126712, кл. G 01 N 21/88, 1983. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4465373A (en) | Encoder | |
US5129725A (en) | Method of optically detecting position of object and position detecting apparatus using the method | |
US3701097A (en) | Decoding bar patterns | |
US5279044A (en) | Measuring device for determining an absolute position of a movable element and scale graduation element suitable for use in such a measuring device | |
US4602242A (en) | Encoder for photoelectric measuring devices | |
EP0100243B1 (en) | Position sensor | |
US4140271A (en) | Method and apparatus to read in bar-coded information | |
US4933673A (en) | Encoder | |
US4070584A (en) | Object-identification system with sequentially activated photocell array | |
US3708655A (en) | Article identification apparatus | |
EP0218634A1 (en) | Optical reader for printed bit-encoded data and method of reading same | |
JPH09229717A (ja) | 位置測定装置 | |
JPS60257309A (ja) | 非接触距離測定装置 | |
IT9003679A1 (it) | Lettore di codici a barre a raggio laser. | |
US3676864A (en) | Optical memory apparatus | |
US4661984A (en) | Line inspection system | |
US4124797A (en) | Apparatus and method for reading randomly oriented characters | |
SU1430751A1 (ru) | Устройство дл контрол дефектов поверхности цилиндрических изделий | |
US3562536A (en) | Radiation sensitive semiconductor wafer identification system | |
US4577101A (en) | Shaft encoder with an optical system comprising two straight-line-generatrix surfaces | |
TR199902712A1 (xx) | Laser radyasyon kaynaklar�n�n alg�lanmas�na ve lokalize edilmesine mahsus tertibat | |
JP2537146B2 (ja) | 変位測定装置 | |
US3517202A (en) | Rotating-mirror optical scanning system with optical path length compensation | |
US4221487A (en) | System for testing a pattern recorded on a plate | |
CA1043015A (en) | Coded label and decoding means and method |