SU1415867A1 - Method of calibrating wavelength scale of spectrophotometers - Google Patents

Method of calibrating wavelength scale of spectrophotometers Download PDF

Info

Publication number
SU1415867A1
SU1415867A1 SU853991134A SU3991134A SU1415867A1 SU 1415867 A1 SU1415867 A1 SU 1415867A1 SU 853991134 A SU853991134 A SU 853991134A SU 3991134 A SU3991134 A SU 3991134A SU 1415867 A1 SU1415867 A1 SU 1415867A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
calibration
spectrophotometers
wavelength
wavelength scale
standard
Prior art date
Application number
SU853991134A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Б.Н. Копко
А.О. Матковский
Д.Ю. Сугак
В.И. Литвиненко
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8525
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8525 filed Critical Предприятие П/Я В-8525
Priority to SU853991134A priority Critical patent/SU1415867A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1415867A1 publication Critical patent/SU1415867A1/en

Links

Abstract

Изобретение относитс  к области оптики и может быть использовано дл  градуировки шкалы длин волн оптических приборов, в частности спектрофотометров . Целью изобретени   вл етс  повышение точности градуировки и обеспечение использовани  одного эталона дл  градуировки всех типов спектрофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных-област х. При градуировке шкалы длин волн в качестве эталона используетс  монокристалл Nd,Gaj-0,t Спектры поглощени  ионов Nd в гранатовой матрице имеют узкие интеисивньте линии поглощени  в широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм. § (Л сThe invention relates to the field of optics and can be used for the calibration of the wavelength range of optical instruments, in particular spectrophotometers. The aim of the invention is to improve the accuracy of calibration and to ensure the use of one standard for the calibration of all types of spectrophotometers operating in the ultraviolet, visible, near and middle infrared regions. When calibrating the wavelength scale, the Nd single crystal, Gaj-0, t is used as a reference. The absorption spectra of the Nd ions in the garnet matrix have narrow integer absorption lines in a wide range of wavelengths from 0.25 to 8 microns. § (L s

Description

СПSP

сwith

О)ABOUT)

tt

Из: )Йретение относнт.с  к области oriTifKH и может быть использовано-дл  градуировки шкалы длин воли оптических приборов, в частиости спектрофотометров .From:) The definition is relative to the region oriTifKH and can be used for the calibration of the scale of the length of the will of optical instruments, in part of spectrophotometers.

Целью иэобретеии   вл етс  повышение точности градуировки шкалы дл  спектрофотометро  и обеспечение воз- можногти использовани  одного этало- Н1 дл  градуировки всех типов спектрофотометров , работающих в ультрафиолетовой , видимой, ближней и средней инфракрасных област х спектра.The purpose of the invention is to improve the accuracy of the calibration of the scale for spectrophotometer and to ensure the use of one etalo-H1 for the calibration of all types of spectrophotometers operating in the ultraviolet, visible, near and middle infrared regions of the spectrum.

Возможность использовани  моНокриС таллических пластин неодимгаллиевого граната в качестве градуировочимх эталонов обусловлена особенност ми спектрор поглоще .н  ионов неодима Nd в гранатовой матрице, в первую очередь наличием узких интенсивных линий поглощени  в широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм (4000С- 250 см-)The possibility of using monocrystalline neodymium garnet plates as calibration standards is due to the spectral characteristics of the absorption of Nd Nd ions in the garnet matrix, primarily by the presence of narrow intense absorption lines in a wide wavelength range from 0.25 to 8 µm (4000C-250 cm -)

ГТ р им ер. Тонкую пла стину монокристалла Nd J , креп т в держателе , который устанавливают в отсеке дл  испытани  образцов спектрофото- метров. Провод т регистрацию спектра пропускани  градуиррвочного эталона Nd . В случае несоответстви  между показани ми шкалы длин волн прибора и известным спектральным положением максимумов характеристических полос погпощени  (минимумов пропускани ) эталона NdjGayO,i добиваютс  путем поворота регулирово-iHoroGT p im. A thin Nd J single crystal plate is attached to a holder that is installed in the compartment for testing spectrophotometric samples. The transmission spectrum of a graded Nd reference is recorded. In the event of a discrepancy between the readings of the instrument's wavelength scale and the known spectral position of the maxima of the characteristic absorption bands (transmission minima) of the NdjGayO, i standard, they are achieved by turning the control-iHoro

867 .2867 .2

винта на рычаге призмы (или решетки) совпадени  индекса на шк ле длин волн прибора со- значением длин волн максимумов полос поглощени  (миииму- йов пропускани ) Nd,Ga,0,, . Проверку шкалы длин волн провод т по всему рабочему спектральному диапазону спектрофотометра.the screw on the prism lever (or lattice) of the index on the wavelength of the instrument wavelengths with the wavelengths of the maxima of the absorption bands (transmission mi) Nd, Ga, 0 ,,. The wavelength scale check is carried out over the entire working spectral range of the spectrophotometer.

0 Поскольку линии поглощени  иона неодима имеют очень малую ширину и большую интенсивность, точность определени  положени  максимума характеристической линии поглощени  воз5 растает в 4-10 раз,что соответственно увеличивает точность градуировки.0 Since the absorption lines of the neodymium ion have a very small width and a large intensity, the accuracy of determining the position of the maximum of the characteristic absorption line increases by 4–10 times, which accordingly increases the calibration accuracy.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Способ градуировки шкалы длин волн спектрофотометров, заключающийс  в том, что регистрируют спектр градуировочного эталона и устанавливают соответствие между спектральным положением характеристических линий поглощени  эталона и показани ми шкалы длин волн спектрофототметра, о т- личающийс  тем, что, с целью повьштени  точности градуировки и обеспечени  использовани  одного эталона дл  градуировки всех типов спектрофотометров , работающих в ультрафиолетовой , видимой, ближней и средней инфракрасных област х, регистрируют спектр градуировочного эталона, выполненного в виде пластины монокристалла неодим-галлиевого граната Nd, GajO,,.The method of calibration of the wavelength scale of spectrophotometers, which consists in recording the spectrum of the calibration standard and establish the correspondence between the spectral position of the characteristic absorption lines of the standard and the spectrophotometer wavelength indications, which are different in that the accuracy of the calibration and use of a single reference for the calibration of all types of spectrophotometers operating in the ultraviolet, visible, near and middle infrared regions, record the spectrum raduirovochnogo reference made in the form of a single crystal wafer of neodymium gallium garnet Nd, GajO ,,. 00 5five 00 5five
SU853991134A 1985-10-21 1985-10-21 Method of calibrating wavelength scale of spectrophotometers SU1415867A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853991134A SU1415867A1 (en) 1985-10-21 1985-10-21 Method of calibrating wavelength scale of spectrophotometers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853991134A SU1415867A1 (en) 1985-10-21 1985-10-21 Method of calibrating wavelength scale of spectrophotometers

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1415867A1 true SU1415867A1 (en) 1990-12-15

Family

ID=21210413

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853991134A SU1415867A1 (en) 1985-10-21 1985-10-21 Method of calibrating wavelength scale of spectrophotometers

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1415867A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5914875A (en) * 1996-01-11 1999-06-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and apparatus for diagnosing plant anomaly

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Сайдов Г.В. и др. Практическое руководство -по молекул рной спектроскопии. Л., из-во ЛГУ, 1980, с, 135. Спектрофотометр Specord М40. Инструкци по пользованию. Народное предпри тие .Карл Цейсе йена, DD, 1981, .с. 142. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5914875A (en) * 1996-01-11 1999-06-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Method and apparatus for diagnosing plant anomaly

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Hyland et al. An infrared study of quasars
Manetas et al. The use of the portable, non-destructive, SPAD-502 (Minolta) chlorophyll meter with leaves of varying trichome density and anthocyanin content
EP0174722B1 (en) Fluorometer
AU5314199A (en) Spectroscopic ellipsometer
ZA953487B (en) Analysing element compositions and concentrations
US4082950A (en) Calibration assembly for infrared moisture analyzer
SU1415867A1 (en) Method of calibrating wavelength scale of spectrophotometers
CN100397232C (en) Cascade electric filter using one acousto-optic tunable filter and multiple narrow-band double refration filter
Kennedy A spectrophotometric study of blood solutions
Kirby Fluorescence instrumentation and methodology
JPH0915142A (en) Simulated fruit employed in measurement of inner quality of vegetable and fruit, and method for calibrating measuring apparatus employing the same
Verrill Advances in spectrophotometric transfer standards at the National Physical Laboratory
Shindo et al. New polarization‐modulation spectrometer for simultaneous circular dichroism and optical rotatory dispersion measurements. II. Design, analysis, and evaluation of a prototype model
Prince Absorption spectrophotometry
Piel et al. The fastest real time spectroscopic ellipsometry: applications and limitations for in situ and quality control
SU1402865A1 (en) Standard for calibrating spectrofluorometer
Balfour et al. The Raman and near ultraviolet spectra of thioanisole
JPS6423126A (en) Multiple light source polarization analyzing method
JPS5618440A (en) Measuring method for precision film thickness of silicon thin film grown on sapphire substrate
Tunnicliff Use of Line Source in Ultraviolet Absorbtion Spectrophotometric Analyses
SU1450788A1 (en) Method of determining the state of phytochrome in plant cell
Holmes The nature and measurement of whiteness
SU1679303A1 (en) Method for measuring spectral distribution of coefficients of mirror reflection in vhf and shf ranges
Zajtsev et al. Colorimeter based on acousto-optic tunable filter
Brody et al. Effect of hydrogen ion concentration on the absorption spectrum and fluorescence life time of chloroplasts