SU141559A1 - The method of isotopic and chemical mass spectral analysis - Google Patents
The method of isotopic and chemical mass spectral analysisInfo
- Publication number
- SU141559A1 SU141559A1 SU689529A SU689529A SU141559A1 SU 141559 A1 SU141559 A1 SU 141559A1 SU 689529 A SU689529 A SU 689529A SU 689529 A SU689529 A SU 689529A SU 141559 A1 SU141559 A1 SU 141559A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- isotopic
- mass spectral
- spectral analysis
- chemical mass
- magnetic field
- Prior art date
Links
Description
В известных способах изотопного и химического масс-спектрального анализа с использованием магнитного масс-спектрографа дл увеличени их разрешающей способности определ ющие щели, в том числе иIn the known methods of isotopic and chemical mass spectral analysis using a magnetic mass spectrograph to increase their resolution, the determining gaps, including
ионного источника делают как можно уже, что сказываетс на интенсивности пучка ионов и снижении чувствительности анализа.the ion source is made as narrow as possible, which affects the intensity of the ion beam and the decrease in the sensitivity of the analysis.
В предлагаемом способе дл новыщени чувствительности анализа используетс щирокир пучок параллельно движущихс ионов, который дважды фокусируетс в однородном магнитном поле с одновременным диафрагмированием.In the proposed method, to increase the sensitivity of the analysis, the shirokir beam is parallel to the moving ions, which is twice focused in a uniform magnetic field with simultaneous diaphragm.
На чертеже схематически изображена траектори движени ионных лучей в анализирующем однородном магнитном ноле. The drawing shows schematically the trajectory of the movement of ionic rays in the analyzing uniform magnetic field.
Положительные или отрицательные ионы, наход щиес на пластине / большой площади, под действием разности потенциалов, приложенной к пластине / и сетке 2, с ускорением вход т в однородное магннтное поле перпендикул рно к его границе 3. В магнитном поле ионы двигаютс по дугам окружности радиусом R (на чертеже путь ионов обозначен снлошнымн лини ми). В плоскости 4, расположенной под угло, 90° к направлению входа, ионные лучи фокусируютс и проход т через узкую щель, на выходе из которой лучи снова расход тс . Вторична фокусировка лучей происходит в плоскости 5, совпадающей со второй границей одновременного магнитного пол .Positive or negative ions located on the plate (large area, under the action of a potential difference applied to the plate) and the grid 2, with acceleration enter a uniform magnetic field perpendicular to its boundary 3. In a magnetic field, the ions move along circular arcs of radius R (in the drawing, the path of the ions is indicated by the lines). In plane 4, located at an angle of 90 ° to the direction of entry, the ion beams are focused and pass through a narrow slit, at the exit of which the beams diverge again. Secondary focusing of the rays occurs in plane 5, which coincides with the second boundary of the simultaneous magnetic field.
За узкой щелью плоскости 5 расположен нриемник 6, подсоединенный дл регистрации величины ионного тока к измерительному прибору 7. Источником ионов может быть, например, пластина, нагреваема .до высокой температуры (термоанод).Behind the narrow slit of the plane 5 there is a receiver 6 connected to register the magnitude of the ion current to the measuring device 7. The source of ions can be, for example, a plate that is heated to a high temperature (thermal anode).
Описываемый способ может быть использован пои изотопном анали ..е труднолетучих веществ.The described method can be used poi isotope analysis of highly volatile substances.
Предмет изобретени Subject invention
Способ изотопного и химического масс-спектрального анализа с использованием магнитного масс-спектрографа, оТоТ и ч а ю щи и с Te.Ni, что, с целью повышени чувствительности анализа, используетс широкий пучок параллельно движущихс ионов, дважды фокусируемый в однородном магнитном поле с одновременным диафрагмирование.A method of isotopic and chemical mass spectral analysis using a magnetic mass spectrograph, with To.Ti.T. and with Te.Ni, which, in order to increase the sensitivity of the analysis, uses a wide beam of parallel moving ions, twice focused in a uniform magnetic field with simultaneous diaphragm.
ОПЕЧАТКА Ма стр. 1 в строке 7 снн;5у напечатано одновременного следует читать однородногоTYPE Ma page 1 in line 7: snn; 5y printed simultaneous should be read homogeneous
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU689529A SU141559A1 (en) | 1960-12-14 | 1960-12-14 | The method of isotopic and chemical mass spectral analysis |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU689529A SU141559A1 (en) | 1960-12-14 | 1960-12-14 | The method of isotopic and chemical mass spectral analysis |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU141559A1 true SU141559A1 (en) | 1961-11-30 |
Family
ID=48297496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU689529A SU141559A1 (en) | 1960-12-14 | 1960-12-14 | The method of isotopic and chemical mass spectral analysis |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU141559A1 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3711706A (en) * | 1972-12-08 | 1973-01-16 | Gen Electric | Two-stage, single magnet mass spectrometer |
| US3783278A (en) * | 1971-12-02 | 1974-01-01 | Bell & Howell Co | Single magnet tandem mass spectrometer |
-
1960
- 1960-12-14 SU SU689529A patent/SU141559A1/en active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3783278A (en) * | 1971-12-02 | 1974-01-01 | Bell & Howell Co | Single magnet tandem mass spectrometer |
| US3711706A (en) * | 1972-12-08 | 1973-01-16 | Gen Electric | Two-stage, single magnet mass spectrometer |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3953732A (en) | Dynamic mass spectrometer | |
| US3612858A (en) | Device for measuring the position, size and intensity of high-energy particles | |
| SU141559A1 (en) | The method of isotopic and chemical mass spectral analysis | |
| Denbigh et al. | Scanning electron diffraction with energy analysis | |
| US4171482A (en) | Mass spectrometer for ultra-rapid scanning | |
| Wadlin et al. | Effects of spark position in spark-source mass spectrometry | |
| Owens | The Effect of Ion Mass and Ion Energy on the Sensitivity of Ilford Q 2 Plates as Ion Detectors in Mass Spectrography | |
| JP4193981B2 (en) | Isotope analysis method using laser | |
| Bleuler et al. | The application of thin-plate spark chambers to high-energy [pi]-p experiments | |
| CN102592937A (en) | Quality analysis method based on restricted theory of relativity and mass spectroscope | |
| SU147811A1 (en) | Mass Spectrometer Analyzer with Parabolic Potential Distribution | |
| SU995156A1 (en) | Prizm-mass spectrometer | |
| SU1215144A1 (en) | Spectrometer of backward scattered low-energy ions | |
| US3311746A (en) | Electron beam device for measuring the displacement of one body relative to another | |
| US4427885A (en) | Double focussing mass spectrometer | |
| JPS5958345A (en) | Concentration measuring apparatus | |
| SU1190849A1 (en) | Space mass-spectrometric probe | |
| JPH0220679Y2 (en) | ||
| RU2096861C1 (en) | Ion transit-time mass-analyzer | |
| SU1265890A2 (en) | Energy mass analyzer | |
| Caldwell et al. | Laboratory development of a satellite experiment for gas surface interaction studies Final report | |
| GB955360A (en) | Improvements relating to mass spectrometers | |
| SU1171871A1 (en) | Mass spectrometer | |
| SU721869A1 (en) | Prizm-type mass-spectrometer with energywise focussing | |
| SU830597A1 (en) | Method of detecting signal in scanning electron microscope |