SU1408246A1 - Способ измерени коэффициентов излучени ,пропускани и отражени полупрозрачных материалов в ИК-области спектра - Google Patents

Способ измерени коэффициентов излучени ,пропускани и отражени полупрозрачных материалов в ИК-области спектра Download PDF

Info

Publication number
SU1408246A1
SU1408246A1 SU864102652A SU4102652A SU1408246A1 SU 1408246 A1 SU1408246 A1 SU 1408246A1 SU 864102652 A SU864102652 A SU 864102652A SU 4102652 A SU4102652 A SU 4102652A SU 1408246 A1 SU1408246 A1 SU 1408246A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
model
black
energy
black body
Prior art date
Application number
SU864102652A
Other languages
English (en)
Inventor
Геннадий Константинович Холопов
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4671
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4671 filed Critical Предприятие П/Я Г-4671
Priority to SU864102652A priority Critical patent/SU1408246A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1408246A1 publication Critical patent/SU1408246A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к фотометрии сред н может быть использовано при оценке оптических и радиационных свойств материала . Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени . Сущность изобретени  заключаетс  в том, что одновременно при измерении энергетической  ркости (ЭЯ) образца на фоне одного черного тела дополнительно облучают поверхность образца , обращенную к фотоприемному устройству , другим черным телом с температурой, отличающейс  от температуры первого черного тела, .мен ют местами взаимное положение черных тел, измен ют ЭЯ образца на фоне второго черного тела, а также ЭЯ второго черного тела. Изобретение позвол ет повысить точность измерений. 1 ил.

Description

4:
О СХ)
ю
4;
О5
10
Изобретение относитс  к фотометрии сред и может быть использовано при оценке
оптических и радиационных свойств материалов .
Целью изобретени   вл етс  повышение
точности измерений.
На чертеже показана принципиальна  схе.ма устройства дл  осуществлени  способа .
В камере 1 с изотермическими стенками (равномерна  температура стенок камеры достигаетс , например, омывапие.м их теплоносителем , подводимым к ним но трубкам через термостат) на поворотном устройстве 2 закреплены два черных тела 3 и 4, температуры которых различны и поддерживаютс  стабильными, например, также с помощью отдельных термостатов с жидкими теплоносител ми . Черные тела .могут быть выполнены , например, в виде зачерненных поверхностей с треугольными канавка.ми. Черные тела обращены встречно излучающими апертурами и установлены друг от друга на некотором рассто нии, необходимо.м дл  введени  между ними из.мер емого образца 5 и выведени  его из объема между черными телами. Оба черных тела имеют по сквоз- но.му отверстию на их излучающей поверхности . Оптическа  система, состо ща  из объектива 6, двух неподвижных зеркал 7 и 8 и плоского поворотного зеркала 9, направл ет измер емое излучение от исследуемого образца, черных тел,или стенки камеры на 30  ркость фотоприемпое устройство 10 (ФПУ), кото- ipoe преобразует воспринимаемое излучение в Глчектрический сигнал.
Уста чие тем тел 3 и ры L, д положен образец ложение руют ве ройству
Выво ными те разца н черные ние, пр между ч
15 зец 5 у ми. При из пове 4 - дру ную к кало 9
20 зано на котором 4 и обр разца н зец 5 и
25 измер ю н ют ме тело 3 у 4 и зер черного ,у лучении ным тел топрием черным
j Дл  упрощени  электронного тракта уси- |лени  сигналов фотоприемного устройства |перед объективом 6 установлен модул тор- ;нрерыватель 11 излучени . Величины сигналов , сни.маемых с ФПУ и линейно св занных с из.мер е.мыми  ркост ми, считывают с от- счетного устройства 12.
В зависимости от положени  поворотного зеркала 9 оптическа  ось ФПУ направлена либо через сквозное отверстие в черном теле 4 па поверхность исследуе.мого образца 5 (на поверхность излучающей полости черного тела 3 при выведенно.м образце 5), либо на стенку камеры 1 (на поверхность об- разпа 5 при его положении вне черных тел). Дл  исключени  воз.можности по влени  в тюле зрени  ФПУ 10 зеркального изображени  сквозного отверсти  черного тела, создаваемого поверхностью образца 5, оптическа  ось ФПУ наклонена к поверхности образца на угол около Г5-20° с нормалью к ней, в пределах которого измер емые характеристики образца мало завис т от направлени  визировани .
Способ осуществл ют следующи.м обра :зо.м.
0
0  ркость
Устанав;1ивают и стабилизируют рабочие температуры стенок камеры 1 и черных тел 3 и 4. Измер ют  ркость стенки камеры L, дл  этого зеркало 9 устанавливают в положение, показанное на фиг. 1 штрихами, образец 5 ввод т между черными телами (положение черных тел 3 и 4 любое) и фиксируют величину сигнала по отсчетному устройству 12.
Вывод т образец 5 из объема между черными телами и измер ют  ркость L. образца на фоне стенки камеры. После этого черные тела -3 и 4 устанавливают в положение , при котором черное тело 4 находитс  между черным телом 3 и зеркалом 7. Обра5 зец 5 устанавливают между черны.ми телами . При этом черным телом 3 облучают одну из поверхностей образца 5, а черным телом 4 - другую поверхность образца, обращенную к фотоприемному устройству 10. Зеркало 9 устанавливают в положение (пока0 зано на фиг. 1 сплошными липи ми), при котором ФПУ 10 визирует черные тела 3 и 4 и образец 5. Измер ют  ркость LO,T, образца на фоне черного тела. Вывод т образец 5 из объе.ма между черными телами и
5 измер ют  ркость , черного тела 3. Мен ют местами черные тела так. что черное тело 3 устанавливаетс  .между черны.м телом 4 и зерка.ло.м 7, и из.мер ют  ркость 1-.- черного тела 4. Образец 5 ввод т ,у черны.ми телами и измер ют его LO, при одновременном облучении его одной поверхности черным телом 4 и другой, обращенной к фотоприемному устройству поверхности, черным телом 3.
Па основании измеренных величин коэф5 фициенты излучени  е, пропускани  t и отражени  f рассчитывают по фор.мулам 1-А, (А + В)/2, р ()/2,
0
Проведенный анализ показывает, что измерени  Ло способу «.массивных образцов (толщиной 1 мм и более), осуществл емые в первые несколько секунд после их ввода в пространство .между черны.ми телами, не внос т погрешностей, св занных с их разогревом .
Предлагаемый способ измерени  коэффициентов излучени , пропускани  и отражени  полупрозрачных материалов не требует создани  специальных держателей образца, обеспечивающих равномерный его разогрев
(или охлаждение) и поддержание его температуры на заданном уровне, не требует установки датчиков температуры образца, так как температура образца определ етс  по результатам проводимых измерений  ркостей; сокращает врем  измерений, так как исключает операцию нагрева (или охлаждени ) образца до заданной температуры и ее стабилизацию.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ измерени  коэффициентов излучени , пропускани  и отражени  полупрозрачных материалов в ИК-области спектра, заключающийс  в размещении плоского образца исследуемого материала в изотермической камере с непрозрачными стенками, измерении с помощью фотоприемного устройства энергетических  ркостей стенок камеры и образца, устанавливаемого на фоне стенки камеры, введении между стенкой камеры и образцом модели черного тела с температурой , отличаюц ейс  от температуры стенок камеры, и измерении энергетической  ркости образца на фоне модели черного тела, выводе образца из пол  зрени  фотоприемного устройства и измерении энергетической  ркости модели черного тела, определении значений коэффициентов излучени , пропускани  и отражени  расчетным путем по
    10
    кой  ркости образца на фоне первой модели черного тела одновременно облучают поверхность образца, обращенную к фотоприемному устройству, второй моделью черного тела с температурой, отличающейс  от температуры первой модели, мен ют местами модели черных тел и вновь измер ют энергетическую  ркость образца, измер ют энергетическую  ркость второй модели черного тела, а коэффициенты излучени  , пропускани  с и отражени  р образца расчитывают по формулам
    , f(A-fB)/2, р (А-В)/2.
    15
    L
    .
    -2L
    Of
    Ьт, -f Ыт -2Ц
    ,
    ЧПг
    L
    чт,
    -U
    20
    25
    где Ц,-энергетическа   ркость образца при одновременном облучении одной его поверхности первой моделью черного тела и другой, обращенной к фотоприемному устройству поверхности , - второй моделью черного тел а;
    1-о,«1-энергетическа   ркость образца,.измеренна  после смены положени  моделей черных те. к LO -энергетическа   ркость образца при облучении его только стенками камеры;
    результатам измерений, отличающийс  тем, ., Ц, Ь т Р тические  ркости соответстчто , с целью повыщени  точности измерений, дополнительно при из.мерении энергетичесвенно первой, второй моделей черных тел и стенок камеры.
    0
    кой  ркости образца на фоне первой модели черного тела одновременно облучают поверхность образца, обращенную к фотоприемному устройству, второй моделью черного тела с температурой, отличающейс  от температуры первой модели, мен ют местами модели черных тел и вновь измер ют энергетическую  ркость образца, измер ют энергетическую  ркость второй модели черного тела, а коэффициенты излучени  , пропускани  с и отражени  р образца расчитывают по формулам
    , f(A-fB)/2, р (А-В)/2.
    5
    L
    .
    -2L
    Of
    Ьт, -f Ыт -2Ц
    ,
    ЧПг
    L
    чт,
    -U
    где Ц,-энергетическа   ркость образца при одновременном облучении одной его поверхности первой моделью черного тела и другой, обращенной к фотоприемному устройству поверхности , - второй моделью черного тел а;
    1-о,«1-энергетическа   ркость образца,.измеренна  после смены положени  моделей черных те. к LO -энергетическа   ркость образца при облучении его только стенками камеры;
    Ц, Ь т Р тические  ркости соответственно первой, второй моделей черных тел и стенок камеры.
SU864102652A 1986-05-26 1986-05-26 Способ измерени коэффициентов излучени ,пропускани и отражени полупрозрачных материалов в ИК-области спектра SU1408246A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864102652A SU1408246A1 (ru) 1986-05-26 1986-05-26 Способ измерени коэффициентов излучени ,пропускани и отражени полупрозрачных материалов в ИК-области спектра

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864102652A SU1408246A1 (ru) 1986-05-26 1986-05-26 Способ измерени коэффициентов излучени ,пропускани и отражени полупрозрачных материалов в ИК-области спектра

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1408246A1 true SU1408246A1 (ru) 1988-07-07

Family

ID=21250950

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864102652A SU1408246A1 (ru) 1986-05-26 1986-05-26 Способ измерени коэффициентов излучени ,пропускани и отражени полупрозрачных материалов в ИК-области спектра

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1408246A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Бра.мсон М. А. Инфракрасное излучение нагреты.х тел. - М., Наука. 1964, с. 150-153. Stierwalt D. L.Jnfrored spectral emittan- oe measurements of optical materials. - Applied Optics, 1966, v. 5, № 12, p. 1911 - 1915. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1384988B1 (en) IR analysis system
CN102749141A (zh) 一种测量目标真实温度的辐射测温方法和仪器
CN108562547A (zh) 激光晶体热应力双折射系数测量装置及其方法
CN113566986A (zh) 非接触式固体表面应变场与温度场同步测试的方法及装置
JPS6312938A (ja) ガス分析装置及びガス分析方法
CN208076382U (zh) 水体多波长光学衰减系数测量装置
US3694654A (en) Long wavelength infrared test set
SU1408246A1 (ru) Способ измерени коэффициентов излучени ,пропускани и отражени полупрозрачных материалов в ИК-области спектра
Salmon et al. Off-axis imaging for improved resolution and spectral intensities
US3597084A (en) Delta t-bar spectrometer readout device
US4185497A (en) Adiabatic laser calorimeter
CN100575937C (zh) 导温系数测量方法
Zissis Infrared technology fundamentals
Kelton et al. Infrared target and background radiometric measurements--concepts units and techniques
Bunton et al. A sensitive optical lever dilatometer for use at low temperatures and the thermal expansion of copper
SE451409B (sv) Anordning for bestemning av temperaturen hos ett metobjekt genom detektering av den elektromagnetiska stralning som metobjektet avger
Decker et al. The design and operation of a precise, high sensitivity adiabatic laser calorimeter for window and mirror material evaluation
SU473906A1 (ru) Инфракрасный радиометр
SU570794A1 (ru) Датчик спектрального отношени
SU1179186A1 (ru) Способ определени теплопроводности материалов
Tsvetkov et al. Method for measuring optical characteristics of opaque and translucent solids at temperatures to 1600° C
SU823989A1 (ru) Устройство дл измерени абсолют-НыХ КОэффициЕНТОВ ОТРАжЕНи и пРОпуС-КАНи
Quinn et al. Experimental measurements of the downward infrared sky radiation in Kuwait
SU1193543A1 (ru) Способ измерени коэффициентов отражени материалов
SU1742636A1 (ru) Способ измерени интегральных коэффициентов излучени , пропускани и отражени полупрозрачных материалов при заданной температуре