SU1402864A1 - Method of measuring reflection factor of optical material - Google Patents
Method of measuring reflection factor of optical material Download PDFInfo
- Publication number
- SU1402864A1 SU1402864A1 SU864112005A SU4112005A SU1402864A1 SU 1402864 A1 SU1402864 A1 SU 1402864A1 SU 864112005 A SU864112005 A SU 864112005A SU 4112005 A SU4112005 A SU 4112005A SU 1402864 A1 SU1402864 A1 SU 1402864A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- wedge
- comparison samples
- reflected
- reflection coefficient
- parallel
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к.области оптического приборостроени и может быть использовано при оценке качества оптического стекла по потер м на поглощение и отражение. Цель изобретени - повьшение точности измерени коэффициента отражени . Используютс два образца .сравнени , ха рактеризованные коэффициентами пропускани , а коэффициент отражени испытуемого материала определ ют по (ах- а ц) Зпл + Са /( а,), где г - коэффициент отражени испытуемого материала; aj(, а ПА и 3 (д - показани рефлексометра дл потоков излучени , отраженных соответственно испытуемым материалом, плоскопараллельным и клиновидным образцами сравнени ; D,, коэффициенты пропускани плоскопараллельного и клиновидного образцов сравнени . 5 СОThe invention relates to the field of optical instrumentation and can be used in assessing the quality of optical glass by absorption and reflection losses. The purpose of the invention is to increase the accuracy of the reflection coefficient measurement. Two samples are used. Comparisons, characterized by transmittances, and the reflection coefficient of the test material is determined by (ah-a, c) Zpl + Ca / (a,), where r is the reflection coefficient of the test material; aj (and PA and 3) (d - reflexometer readings for radiation fluxes, reflected by the test material, plane-parallel and wedge-shaped reference samples, respectively; D ,, transmittance coefficients of the plane-parallel and wedge-shaped comparison samples. 5 СО
Description
Изобретение относитс к фотомет-, рии и может быть использовано в оптическом приборостроении при оценке качества оптического стекла по поте- р м на поглощение и отражение.The invention relates to photomethods, rii and can be used in optical instrument making in assessing the quality of optical glass by absorption and reflection loss.
Цель изобретени - повышение точности измерений за счет исключени необходимости определени опорного коэффициента отражени образца срав- нени .The purpose of the invention is to improve the measurement accuracy by eliminating the need to determine the reference reflectance of the comparison sample.
: Способ осуществл ют следующим :образом.: The method is carried out as follows.
; В качестве образцов сравнени вы- :бираютс плоскопараллельна пластин- i ка с измеренным коэффициентом пропускани и клиновидна пластинка измеренным коэффициентом % пропускани , причем оба образца сравнени должны быть изготовлены из не- поглощающего и нерассеивающего мате- :риала. Дл определени коэффициента :Г отражени исследуемого образца производ т измерени потоков, отра- :женных рт образца (а,), шгоскопарал- Iлельной пластинки (a) и клиновидно 1 пластинки (.).; As a comparison sample, you choose: a plane-parallel plate i with a measured transmittance and a wedge-shaped plate with a measured% transmittance, both of which comparison samples must be made of a non-absorbing and non-scattering material. To determine the coefficient: Г the reflections of the sample under study, measurements are made of the fluxes reflected by the sample (a), the sample’s (a), shgoskopa- parallel plate (a) and the wedge-shaped 1 plate (.).
; Коэффициент г отражени испытуемого материала определ ют по формуле; The coefficient g of the reflection of the test material is determined by the formula
1 iSxlSj AiJi-nA-iiS п.Г. ,1 iSxlSj AiJi-nA-iiS p.G. ,
г х: Х gx: x
пл КА spacecraft
где а. и а ц - величины,характеризующие потоки излучени , отражен- ные соответственно испытуемым материалом , плоскопараллельньот и клино-) видным образцами сравнени ; пл О 1, - коэффициенты пропускани соответственно плоскопараллельного и клиноввдного образцов сравнени .where a. and a c are the quantities characterizing the radiation fluxes, reflected respectively by the test material, plane-parallel and wedge-visible comparison patterns; PLO 1 is the transmittance of plane-parallel and wedge-shaped comparison samples, respectively.
Сущность способа заключаетс в следующем.The essence of the method is as follows.
Измерение коэффициента; отражени испытуемого образца без применени эталона можно рассматривать как нахождение места образца на шсале коэффициентов отражени путем интерпол ции между опорными точками (нуль и единица), соответствующими воображаемым эталонам (абсолютно черное тело и идеальное зеркало). В любом реальном рефлексометре шкала коэффициентов отражени не бывает строго линейной. При использовании любых приемников и усилительных схем показание выходного прибора по разным причинам не бывает строго пропорциональным потоку излучени , попадающему на приемник:Coefficient measurement; The reflection of the test sample without a reference can be considered as finding the sample location on the shsal of reflection coefficients by interpolating between the reference points (zero and one) corresponding to the imaginary standards (absolutely black body and perfect mirror). In any real reflexometer, the scale of the reflection coefficients is not strictly linear. When using any receivers and amplifying circuits, the output device reading for various reasons is not strictly proportional to the radiation flux reaching the receiver:
0 0
00
5five
0 0
i i
Истинна шкала коэффициентов отражени рефл ексометра между нулем и единицей оказываетс неизвестной функцией , лишь близкой, но не совпадаю- щей с пр мой. Коэффициент отражени образца, измеренный как отношение отраженного потока к падающему, будет содержать ошибку, обусловленную нелинейностью фотометрической характеристики рефлексометра в пределах от нул до единицы. Эта ошибка бывает немногим меньше, когда дл интерполировани используетс участок шкалы от коэффициента отражени эталона до единицы (или от нул до коэффициента отражени эталона ), В предлагаемом способе используютс два этанола из кварцевого стекла с коэффициентами отражени , приблизительно равньми v 0,0350 и 0,0687. Отступлени от линейности на таком узком интервале шкалы несравненно меньше, чем на - всей шкале, а следовательно, меньше будет и ошибка измерений испытуемого образца, коэффициент отражени которого попадает в этот интервал. Но эти соображени справедливы лишь при условии, что опорные коэффициенты отражени эталонов столь же достоверны, как нуль и единица в аб-. солютном методе. Поэтому выбраны такие эталоны, у которых нужно измер ть не коэффициенты отражени , а коэффициенты пропускани . Измерение коэффициента пропускани можно делать с ошибкой, не превосход щей 10,0005, така - же точность будет иметь силу и дл коэффициента отражени плоскопараллельного эталона, а дл клиновидного ошибка будет еще меньше, не более +0,0003.The true scale of reflection coefficients of an refractometer between zero and one is an unknown function, only close, but not coincident with a straight line. The reflection coefficient of the sample, measured as the ratio of the reflected flux to the incident one, will contain an error due to the nonlinearity of the photometric characteristics of the reflexometer ranging from zero to one. This error is a little less when the scale section from the reflection coefficient of the standard to one (or from zero to the reflection coefficient of the standard) is used for interpolation. The proposed method uses two silica glass ethanol with reflection coefficients approximately equal to 0.0350 and 0, 0687. Deviations from linearity on such a narrow interval of the scale are incomparably smaller than on the whole scale, and consequently, there will be less measurement error of the test sample, the reflection coefficient of which falls within this interval. But these considerations are valid only under the condition that the reference reflection coefficients of the standards are as reliable as zero and one in ab-. salt method. Therefore, such standards have been selected for which the transmittance, rather than the reflection coefficients, is to be measured. Measurement of the transmittance can be done with an error not exceeding 10,0005, the same accuracy will be valid for the reflection coefficient of the plane-parallel pattern, and for the wedge-shaped the error will be even smaller, no more than +0,0003.
Кроме того, сущность предлагаемого способа заключаетс в том, что при осуществлении способа используют одновременно два образца сравнени с коэффициентами отражени у oднoгo заведомо большим, и у второго, заведомо меньшим ожидаемого коэффициента отражени испытуемого стекла, причем эти образцы таковы, что их коэффициент отражени измер ть не нужно, достаточно знать коэффициент пропускани . Эти два свойства, вообще говор , совершенно независимы, но можно представить себе такие образцы сравнени , дл которых коэффициенты отражени однозначно св заны с этими коэффициентами. В самом деле можноIn addition, the essence of the proposed method is that when implementing the method, two samples are used at the same time with the reflection coefficients of one obviously larger, and the second, obviously lower than the expected reflection coefficient of the test glass, and these samples are measured so that not necessary, it is enough to know the transmittance. These two properties, generally speaking, are completely independent, but one can imagine such comparison patterns for which the reflection coefficients are uniquely associated with these coefficients. In fact, you can
выбрать образцы сравнени , выполненными в виде плоскопараллельной и клиновидной пластинок толщиной 2-5 мм из кварцевого стекла. Поглощение и рассе ние в кварцевом стекле такой толщины неизмеримо мало. Пучки многократного отражени в плоскопараллельной пластинке прибавл ютс к прошедшему и отраженному потокам, а все что не прошло отражаетс от двух поверхностей , т.е. коэффициент г г,,, отражени пластинки однозначно выражаетс через ее коэффициент f пропускани :select reference samples made in the form of plane-parallel and wedge-shaped plates 2-5 mm thick made of quartz glass. Absorption and scattering in a quartz glass of such thickness is immeasurably small. Multiple reflection beams in a plane-parallel plate are added to the transmitted and reflected streams, and all that is not passed is reflected from two surfaces, i.e. The coefficient g g ,,, of the reflection of a plate is unambiguously expressed through its transmittance f:
1,707. Дл более высокопреломл ющих и высокоотражающих стекол выгоднее пользоватьс образцами сравнени 1,707. For higher refractive and highly reflective glasses, it is more profitable to use comparison samples.
из сапфира, которые дают возможность измер ть коэффициенты отражени всех оптических стекол и большинства оптических кристаллов с п 2,247. Анализ расчетной формулы показывает , что вклад ошибок коэффициентов пропускани в ошибку коэффициента отражени испытуемого материала составл ет около 0,0003.from sapphire, which makes it possible to measure the reflection coefficients of all optical glasses and most optical crystals with n 2,247. An analysis of the calculation formula indicates that the contribution of transmittance errors to the reflectance error of the test material is about 0.0003.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864112005A SU1402864A1 (en) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | Method of measuring reflection factor of optical material |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864112005A SU1402864A1 (en) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | Method of measuring reflection factor of optical material |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1402864A1 true SU1402864A1 (en) | 1988-06-15 |
Family
ID=21254474
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864112005A SU1402864A1 (en) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | Method of measuring reflection factor of optical material |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1402864A1 (en) |
-
1986
- 1986-06-18 SU SU864112005A patent/SU1402864A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Крьтова Т.Н..Соколова Р.С. Насадка к спектрометру ИКС-12 дл измерени коэффициента -отражени ,- Оптико-механическа промьшшенность, 1963, № 8, с.28-32. Соколова Р.С., Лейпус В.М. Приспособление ФМ-40 к спектрофотометру СФ-4 дл измерени коэффициента отражени . - Оптико-механическа промьш- ленность, 1958, № 3, .с.34-36. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0094836B1 (en) | Apparatus and method for measuring refractive index | |
Röttgers et al. | Measurements of optical absorption by chromophoric dissolved organic matter using a point‐source integrating‐cavity absorption meter | |
McCluney | Radiometry of water turbidity measurements | |
Meyer et al. | Optical fiber refractometer | |
SU1402864A1 (en) | Method of measuring reflection factor of optical material | |
Pierscionek | The refractive index along the optic axis of the bovine lens | |
Morrison | Experimental studies on the optical properties of sea water | |
RU2292038C2 (en) | Method and device for measuring refractivity | |
Keane et al. | Photoelectric grading of white sugars and their solutions by reflectance and transmittancy measurements | |
Karabegov | Metrological and technical characteristics of total internal reflection refractometers | |
JP2522480B2 (en) | Refractive index measurement method | |
SU1476353A1 (en) | Method for measuring optic constants of absorbing media | |
SU1122941A1 (en) | Method of measuring reflection factor and test-object for application thereof | |
Mavrodineanu et al. | Glass Filters as a Standard Reference Material for Spectrophotometry: Selection, Preparation, Certification, Use SRM 930 | |
RU1784890C (en) | Non-stationary method of truth thermal conductivity determining for high scattering materials | |
SU1097921A1 (en) | Method of measuring refractive index | |
SU1165899A1 (en) | Method of measuring small optical losses in substances | |
TWI239389B (en) | Normal incidence index of refraction measuring device | |
SU868493A1 (en) | Optic activity measuring method | |
SU1458779A1 (en) | Autocollimation method of determining refraction indexes of wedge-shaped specimens | |
Karabegov | Liquid and solid-state samples for calibrating turbidimeters and nephelometers | |
Miller et al. | The use of ellipsometry to study adsorption on hydrogels | |
SU1155920A1 (en) | Device for determining refractive index and absorption coefficient of solid | |
RU2045039C1 (en) | Refractive index measurement technique for condensed media | |
Brown | Optical properties |