SU1399643A1 - Способ определени фактической площади контакта поверхностей взаимодействующих тел - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к испытатель- .ной технике и может быть использовано дл  исследовани  контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхност ми. Цель изобретени  - повышение информативности путем измерени  зазора и давлени  по площади контакта. При осуществлении способа между контролируемыми поверхност ми помещают наход щиес  во взаимном контакте рельефографическую матрицу и термопластическую пленку, нагревают пленку до температуры, превышающей температуру стекловани  на 10-15°С, прикладывают давление к телам, охлаждают пленку до окончани  релаксационных процессов и после извлечени  осуществл ют планиметрирование полученного отпечатка, по которому суд т о фактической площади контакта, глубину микрорельефа, по которой суд т о зазоре по площади контакта, п изменение величины регул рной оптической плотности, по которой суд т о распределении давлени  по площади контакта. со (Л

Description

со со со

Oi

N

со

Изобретение относитс  к испытательной технике и может быть использовано дл  исследовани  контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхност ми. ; Целью изобретени   вл етс  повышение Информативности путем измерени  зазора и давлени  по площади контакта. ; Способ осуществл ют следующим обра- .

: Между контролируемыми поверхност ми |ел помещают наход щиес  во взаимном кон- ta-кте рельефографическую матрицу и термо- (ластическую пленку таким образом, что |)ельефографическа  поверхность матрицы Контактирует с пленкой, нагревают пленку АО температуры, превыщающей температуру ее стекловани  на 10-15°С, прикладывают /давление к взаимодействующим телам и ох- 1аждают пленку до температуры на 10- 5°С ниже температуры ее стекловани , .е. до окончани  релаксационных процес- 4ов. Затем композицию из матрицы и плен- и извлекают, разъедин ют и осуществл - фт планиметрирование полученного на плен- |е отпечатка, по которому суд т о факти- 4еской площади контакта поверхностей взаимодействующих тел. Измер ют глубину микрорельефа отпечатка, по которой суд т о величине зазора по площади контакта взаимодействующих тел, и, наконец, измер ют изменение величины регул рной оптической

плотности, по которой суд т о распределении давлени  по площади контакта вза- и.модействующих тел.

Способ  вл етс  безотходным, так как пленку можно использовать до 200 раз, сбира  микрорельеф за счет повторного нагревани .

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   0

   5

   Способ определени  фактической площади контакта поверхностей взаимодействующих тел, заключающийс  в том, что помещают термопластическую пленку между этими поверхност ми, нагревают ее до темпе5 ратуры, превыщающей температуру стекловани  на 10-15°С, прикладывают давление к взаимодействующим телам и охлаждают пленку до ее стекловани  и после извлечени  пленки осущ.ествл ют планиметрирование полученного отпечатка, огличающий0 с  тем, что, с целью повыщени  информативности путем измерени  зазора и давлени  по площади контакта, используют рельефографическую матрицу, которую размещают между одним из взаимодействующих тел и пленкой так, что ее рельефо- графическа  поверхность контактирует с пленкой, и измер ют глубину микрорельефа отпечатка и изменение величины регул рной оптической плотности пленки, по которым суд т соответственно о величине зазора и давлени .