SU1396008A1 - Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы - Google Patents
Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы Download PDFInfo
- Publication number
- SU1396008A1 SU1396008A1 SU864089738A SU4089738A SU1396008A1 SU 1396008 A1 SU1396008 A1 SU 1396008A1 SU 864089738 A SU864089738 A SU 864089738A SU 4089738 A SU4089738 A SU 4089738A SU 1396008 A1 SU1396008 A1 SU 1396008A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measuring
- sample
- brightness
- coordinates
- uniformly
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к спектрофо тометрии и может быть использовано в приборах, предназначенных дл оценки качества или состава веществ, м:а- териалов и покрытий по коэффициенту ркости.
Цель изобретени повышение производительности измерени коэффициента ркости диффуэно отражающих по- верхностей с неравномерным распределением отражающих свойств и обеспечение непрерьшности измерений в процессе с пр мым отсчетом результатов измерени .
На фиг.1 изобралсена схема ocвea e- ни и наблюдени образцаJ- на фиг.2 - и фиг.З - графически изображены функции F (х,у) дл стандартных условий освещени и наблюдени (oi 45 Р 0° oi 0° р 45°) параметра E/R 0,4 дл точек образца, расположенных на направлении 3t,y О (фиг.2) и на направлении х 1/2,,у (фиг.З).
Способ осуществл ют следующим образом .
Исследуемый образец помещают в плоскость измерени ХОУ (фиг.1), причем его измер ема поверхность ограничиваетс диафрагмой диаметром D, расположенной в этой плоскости. Поверхность образца освещаетс параллельным пучком лучей Ф с коорди- натно-зависимым распределением интенсивности излучени по сечению, обеспечивающим на поверхности образца освещенность E(x,y)s в соответствии с вьфажением
Е(х,у)
Е F(x,y),
где Ед - освещенность в точке с координатами X О, у О (начало координат помещаетс в крайней точке образца, лежа-45 щей в плоскости, проход ш,ей через оси падающего и наблюдаемого пучков),
а функци Г(х5у) имеет вид
I50
Р(Х,У)С.Н /L.. х/. t.g| r fl y(L4x)7
где С,Н и L - величины посто нные
дл данных условий освещени н наблюдени ,
равные г 14-1С (Н -ь /L/.tgfi- H; + L ,
Q 5
0 5
g
5
0
5
0
Н R cos |5 ,
L R sin/1 - D/2
R - рассто ние от центра освещенной области до фотоприемника,
X и у - координаты точки поверхности образца.
Отраженное образцом излу 1ение т преобразуетс фотоприемником S установленным в соответствии с выбранными услови ми наблюдени , в сигнал, регистри руемый измерительным устройством . Коэффициент ркости образца определ етс измерительным устройством как отношение сигнала получаемого от образца,к сигналу 1, получаемому от этсшона отражени , установленного в тех же услови х освещени и наблюдени , и нормируетс по известному коэффициенту ркости эталона ВЭУ, аттестованному дл условий Ы- и р .
Таким образом, коэффициент ркости образца определ етс однократным измерением , а не по усреднению нескольких замеров, полученных при сканировании его поверхности (например, посредством кругового вращени образца в пределах диафрагмы D), как это необходимо делать при услови х распределени освещенности на образце, отличных от задаваемых выражением Е (х,у).
Координатно-зависимое распределе ние освещенности Е(х,у) на образце обеспечиваетс , например, установкой в параллельный и равномерный пучок излучени , формируемый осветител ми , нейтрального нерассеивающего , ослабител с координатно-зависимым коэффициентом пропускани (сетчатого ослабител , плоскопараллельной пластины из двух соединенных на оптическом контакте светофильтров с переменной толщиной смежного сло и т.п.). Параметры ослабител рассчитываютс по известным в фотометрии формулам дл коэффициента пропускани оптических материалов.
При установке, например, в нормально падающий (сЛ 0) на образец световой пучок, коэффициент пропускани такого ослабител , расположенного параллельно плоскости измерени , имеет вид
(х,у) o-F(x,y),
где - коэффициент пропорциональности , численно равный коэффициенту пропускани светофильтра в точке, расположенной на началом координат (, );
F(x,y)- координатна функци , соответствующа выражению, приведенному выше.
Функциональное распределение освещенности Е(х,у) снижает погрешнос измерени коэффициента ркости неравномерно ,окрашенных образцов при углах освещени и наблюдени О о1. ft 65 и углах пол зрени фотоприемников , в пределах которых индикатриса ркости элементарных участков поверхности образца посто нна. Перечисленные ограничени удовлетвор ют стандартным услови м освещени и наблюдени и реальным ркостным характеристикам значительного числа диф- фузно отражающих объектов.
Графическое изображение функции F(x,y) дл стандартных -условий освещени и наблюдени 45° и /3 0° 0° к параметра , приведено на фиг.2 (дл точек образца , расположенных на направлении х,) и на фиг.З (дл на правлени , у).
Способ опробован на приборе ФОТОС-83 дл определени качества табака по спектральному коэффициенту ркости, имеющем геометрию освеще- НИЛ (наблюдени - 0°) 45°. Функциональное распределение освещенности н образце обеспечивалось введением в нормально падающий на образец равномерный и параллельньш пучок лучей ослабител с координатно-зависимым коэффициентом пропускани , вьшолненным на основе нейтральных светофильтров из оптического стекла. Погрешность Q от ориентации образцов табачных листьев с резко выраженной неоднородностью окраски, при изменении их положени на входном отверстии прибора, при измерении коэффициента ркости с ослабителем (т.е. по предлагаемо- му способу) находилась в пределах случайной погрешности и принималась равной нулю.
Погрешность ориентации дл тех же образцов при измерении коэф- фициента ркости без ослабител определ лось по серии из четырех измерений , получаемых при последователь
ном повороте образца на 90° на входном отверстии прибора.
При использовании предлагаемого способа измерени коэффициента ркости за счет уменьшени погрешности от ориентации основна погрешность измерени ,определ ема по формуле
2 5
+ Qz+Q - Q4 ,
гдер, - погрешность образцовой меры (Q 1%)1
QJ - погрешность от ориентацииJ О - погрешность метода сличени (Q, 1%); Q - погрешность нестабильности .
во времени (Q 2%),
уменьшена на 2,5%, а врем измерени сократилось в 3 раза за счет сокращени количества замеров на один образец .
Claims (1)
- Формула изо. бретениСпособ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей , имеющих неоднородно отражающие элементы, заключающийс в том, что освещают поверхность параллельным пучком лучей под углом падени об , измер ют отраженное излучение .под углом р от нормали к поверхности и сравнивают величину измеренного излучени с отражением от эталонного образца , отличающийс тем, что, с целью повьш1ени производительности измерений и обеспечени непрерывности измерений в процессе с пр мым отсчетом результатов измерени , освещение провод т пучком лучей с распределением освещенности Ё(х,у) по измер емой поверхности, заданным зависимостью(Е (х,у)Е„.С.н(Ь4 х)|-()где Е - освещенность поверхности в точке с координатамиX О, у о;С,Ни L - посто нные дл данных условий величины,равныеС (H4|L/tg/i) H +Н R cos /i ;L R sin fb - D/2; D - диаметр окружности, образуемой границей освещенной поверхности;R - рассто ние от центра указанной окружности до фотоприемника ;X и у - координаты точки поверхности образца.-Щофие.З/2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864089738A SU1396008A1 (ru) | 1986-07-14 | 1986-07-14 | Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864089738A SU1396008A1 (ru) | 1986-07-14 | 1986-07-14 | Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1396008A1 true SU1396008A1 (ru) | 1988-05-15 |
Family
ID=21246072
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864089738A SU1396008A1 (ru) | 1986-07-14 | 1986-07-14 | Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1396008A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5260584A (en) * | 1992-07-10 | 1993-11-09 | Technidyne Corporation | Instrument for measuring reflective properties of paper and other opaque materials |
-
1986
- 1986-07-14 SU SU864089738A patent/SU1396008A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Sumnich R.-H. Absolutmessung des spektralen Strailldichte factors von gestrent reflecttierenden oberfla chen. Volt. 15, Fruhjahrssch..0pt. Karl-Marx- -Stadt, 11-14, Apr, 1983, Berlin, S.152-153. Джадц Д., Вышецки Г. Цвет в науке и технике/Перев.С англ, под ред. Л.А.Артюшина, М.: Мир, 1978, с. 122, 127. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5260584A (en) * | 1992-07-10 | 1993-11-09 | Technidyne Corporation | Instrument for measuring reflective properties of paper and other opaque materials |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Clarke et al. | Correction methods for integrating‐sphere measurement of hemispherical reflectance | |
US4945253A (en) | Means of enhancing the sensitivity of a gloss sensor | |
EP0087222B1 (en) | Surface coating characterisation method and apparatus | |
Barkas | Analysis of light scattered from a surface of low gloss into its specular and diffuse components | |
CA1329997C (en) | Method and apparatus for nondestructively measuring subsurface defects in materials | |
Jäger et al. | Angular resolved scattering measurements of nano-textured substrates in a broad wavelength range | |
JPS6038645B2 (ja) | 試験サンプルの色分析装置 | |
CN109932341B (zh) | 野外环境下典型目标的双向反射分布函数测量方法 | |
US3245306A (en) | Photometer and method | |
FI78355C (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
US3349665A (en) | Characterizing light reflecting properties of a surface | |
SU1396008A1 (ru) | Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы | |
US3650631A (en) | Arrangement and process for measuring the refractive index of liquids | |
US4538912A (en) | Method of and apparatus for inspection of coatings on surfaces | |
JP4651038B2 (ja) | 塗料および顔料ペーストを湿式測定するための高精度反射率センサ | |
US4988203A (en) | Device for inspecting an interference filter for a projection television display tube | |
GB2135448A (en) | Inspection apparatus and method | |
Fairchild et al. | Absolute reflectance factor calibration for goniospectrophotometry | |
US3316413A (en) | Radiation sensitive instrument for determining the solar optical properties of light transmitting materials | |
SU1427249A1 (ru) | Устройство дл определени коэффициента отражени диффузно отражающих объектов | |
JPH08159878A (ja) | 照受光装置 | |
SU1642334A1 (ru) | Способ определени показател преломлени материала | |
SU1672209A1 (ru) | Способ измерени толщины прозрачных пластин с рассеивающей поверхностью | |
Quinney et al. | Goniophotometric studies of film deterioration processes: I. Introduction and instrumentation | |
SU1642333A1 (ru) | Способ определени показател преломлени материала |