SU1396008A1 - Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы - Google Patents

Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы Download PDF

Info

Publication number
SU1396008A1
SU1396008A1 SU864089738A SU4089738A SU1396008A1 SU 1396008 A1 SU1396008 A1 SU 1396008A1 SU 864089738 A SU864089738 A SU 864089738A SU 4089738 A SU4089738 A SU 4089738A SU 1396008 A1 SU1396008 A1 SU 1396008A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measuring
sample
brightness
coordinates
uniformly
Prior art date
Application number
SU864089738A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Александрович Николаев
Григорий Иосифович Зархин
Original Assignee
Научно-производственное объединение "Агроприбор"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-производственное объединение "Агроприбор" filed Critical Научно-производственное объединение "Агроприбор"
Priority to SU864089738A priority Critical patent/SU1396008A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1396008A1 publication Critical patent/SU1396008A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к спектрофо тометрии и может быть использовано в приборах, предназначенных дл  оценки качества или состава веществ, м:а- териалов и покрытий по коэффициенту  ркости.
Цель изобретени  повышение производительности измерени  коэффициента  ркости диффуэно отражающих по- верхностей с неравномерным распределением отражающих свойств и обеспечение непрерьшности измерений в процессе с пр мым отсчетом результатов измерени .
На фиг.1 изобралсена схема ocвea e- ни  и наблюдени  образцаJ- на фиг.2 - и фиг.З - графически изображены функции F (х,у) дл  стандартных условий освещени  и наблюдени  (oi 45 Р 0° oi 0° р 45°) параметра E/R 0,4 дл  точек образца, расположенных на направлении 3t,y О (фиг.2) и на направлении х 1/2,,у (фиг.З).
Способ осуществл ют следующим образом .
Исследуемый образец помещают в плоскость измерени  ХОУ (фиг.1), причем его измер ема  поверхность ограничиваетс  диафрагмой диаметром D, расположенной в этой плоскости. Поверхность образца освещаетс  параллельным пучком лучей Ф с коорди- натно-зависимым распределением интенсивности излучени  по сечению, обеспечивающим на поверхности образца освещенность E(x,y)s в соответствии с вьфажением
Е(х,у)
Е F(x,y),
где Ед - освещенность в точке с координатами X О, у О (начало координат помещаетс  в крайней точке образца, лежа-45 щей в плоскости, проход ш,ей через оси падающего и наблюдаемого пучков),
а функци  Г(х5у) имеет вид
I50
Р(Х,У)С.Н /L.. х/. t.g| r fl y(L4x)7
где С,Н и L - величины посто нные
дл  данных условий освещени  н наблюдени ,
равные г 14-1С (Н -ь /L/.tgfi- H; + L ,
Q 5
0 5
g
5
0
5
0
Н R cos |5 ,
L R sin/1 - D/2
R - рассто ние от центра освещенной области до фотоприемника,
X и у - координаты точки поверхности образца.
Отраженное образцом излу 1ение т   преобразуетс  фотоприемником S установленным в соответствии с выбранными услови ми наблюдени , в сигнал, регистри руемый измерительным устройством . Коэффициент  ркости образца определ етс  измерительным устройством как отношение сигнала получаемого от образца,к сигналу 1, получаемому от этсшона отражени , установленного в тех же услови х освещени  и наблюдени , и нормируетс  по известному коэффициенту  ркости эталона ВЭУ, аттестованному дл  условий Ы- и р .
Таким образом, коэффициент  ркости образца определ етс  однократным измерением , а не по усреднению нескольких замеров, полученных при сканировании его поверхности (например, посредством кругового вращени  образца в пределах диафрагмы D), как это необходимо делать при услови х распределени  освещенности на образце, отличных от задаваемых выражением Е (х,у).
Координатно-зависимое распределе ние освещенности Е(х,у) на образце обеспечиваетс , например, установкой в параллельный и равномерный пучок излучени , формируемый осветител ми , нейтрального нерассеивающего , ослабител  с координатно-зависимым коэффициентом пропускани  (сетчатого ослабител , плоскопараллельной пластины из двух соединенных на оптическом контакте светофильтров с переменной толщиной смежного сло  и т.п.). Параметры ослабител  рассчитываютс  по известным в фотометрии формулам дл  коэффициента пропускани  оптических материалов.
При установке, например, в нормально падающий (сЛ 0) на образец световой пучок, коэффициент пропускани  такого ослабител , расположенного параллельно плоскости измерени , имеет вид
(х,у) o-F(x,y),
где - коэффициент пропорциональности , численно равный коэффициенту пропускани  светофильтра в точке, расположенной на началом координат (, );
F(x,y)- координатна  функци , соответствующа  выражению, приведенному выше.
Функциональное распределение освещенности Е(х,у) снижает погрешнос измерени  коэффициента  ркости неравномерно ,окрашенных образцов при углах освещени  и наблюдени  О о1.   ft 65 и углах пол  зрени  фотоприемников , в пределах которых индикатриса  ркости элементарных участков поверхности образца посто нна. Перечисленные ограничени  удовлетвор ют стандартным услови м освещени  и наблюдени  и реальным  ркостным характеристикам значительного числа диф- фузно отражающих объектов.
Графическое изображение функции F(x,y) дл  стандартных -условий освещени  и наблюдени  45° и /3 0°   0° к параметра , приведено на фиг.2 (дл  точек образца , расположенных на направлении х,) и на фиг.З (дл  на правлени  , у).
Способ опробован на приборе ФОТОС-83 дл  определени  качества табака по спектральному коэффициенту  ркости, имеющем геометрию освеще- НИЛ (наблюдени  - 0°) 45°. Функциональное распределение освещенности н образце обеспечивалось введением в нормально падающий на образец равномерный и параллельньш пучок лучей ослабител  с координатно-зависимым коэффициентом пропускани , вьшолненным на основе нейтральных светофильтров из оптического стекла. Погрешность Q от ориентации образцов табачных листьев с резко выраженной неоднородностью окраски, при изменении их положени  на входном отверстии прибора, при измерении коэффициента  ркости с ослабителем (т.е. по предлагаемо- му способу) находилась в пределах случайной погрешности и принималась равной нулю.
Погрешность ориентации дл  тех же образцов при измерении коэф- фициента  ркости без ослабител  определ лось по серии из четырех измерений , получаемых при последователь
ном повороте образца на 90° на входном отверстии прибора.
При использовании предлагаемого способа измерени  коэффициента  ркости за счет уменьшени  погрешности от ориентации основна  погрешность измерени ,определ ема  по формуле
2 5
+ Qz+Q - Q4 ,
гдер, - погрешность образцовой меры (Q 1%)1
QJ - погрешность от ориентацииJ О - погрешность метода сличени  (Q, 1%); Q - погрешность нестабильности .
во времени (Q 2%),
уменьшена на 2,5%, а врем  измерени  сократилось в 3 раза за счет сокращени  количества замеров на один образец .

Claims (1)

  1. Формула изо. бретени 
    Способ измерени  коэффициента  ркости диффузно отражающих поверхностей , имеющих неоднородно отражающие элементы, заключающийс  в том, что освещают поверхность параллельным пучком лучей под углом падени  об , измер ют отраженное излучение .под углом р от нормали к поверхности и сравнивают величину измеренного излучени  с отражением от эталонного образца , отличающийс  тем, что, с целью повьш1ени  производительности измерений и обеспечени  непрерывности измерений в процессе с пр мым отсчетом результатов измерени , освещение провод т пучком лучей с распределением освещенности Ё(х,у) по измер емой поверхности, заданным зависимостью
    (Е (х,у)Е„.С.н(Ь4 х)|-
    ()
    где Е - освещенность поверхности в точке с координатами
    X О, у о;
    С,Н
    и L - посто нные дл  данных условий величины,равные
    С (H4|L/tg/i) H +
    Н R cos /i ;
    L R sin fb - D/2; D - диаметр окружности, образуемой границей освещенной поверхности;
    R - рассто ние от центра указанной окружности до фотоприемника ;
    X и у - координаты точки поверхности образца.
    о
    фие.З
    /2
SU864089738A 1986-07-14 1986-07-14 Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы SU1396008A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864089738A SU1396008A1 (ru) 1986-07-14 1986-07-14 Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864089738A SU1396008A1 (ru) 1986-07-14 1986-07-14 Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1396008A1 true SU1396008A1 (ru) 1988-05-15

Family

ID=21246072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864089738A SU1396008A1 (ru) 1986-07-14 1986-07-14 Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1396008A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5260584A (en) * 1992-07-10 1993-11-09 Technidyne Corporation Instrument for measuring reflective properties of paper and other opaque materials

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Sumnich R.-H. Absolutmessung des spektralen Strailldichte factors von gestrent reflecttierenden oberfla chen. Volt. 15, Fruhjahrssch..0pt. Karl-Marx- -Stadt, 11-14, Apr, 1983, Berlin, S.152-153. Джадц Д., Вышецки Г. Цвет в науке и технике/Перев.С англ, под ред. Л.А.Артюшина, М.: Мир, 1978, с. 122, 127. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5260584A (en) * 1992-07-10 1993-11-09 Technidyne Corporation Instrument for measuring reflective properties of paper and other opaque materials

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Clarke et al. Correction methods for integrating‐sphere measurement of hemispherical reflectance
US4945253A (en) Means of enhancing the sensitivity of a gloss sensor
EP0087222B1 (en) Surface coating characterisation method and apparatus
Barkas Analysis of light scattered from a surface of low gloss into its specular and diffuse components
CA1329997C (en) Method and apparatus for nondestructively measuring subsurface defects in materials
Jäger et al. Angular resolved scattering measurements of nano-textured substrates in a broad wavelength range
JPS6038645B2 (ja) 試験サンプルの色分析装置
CN109932341B (zh) 野外环境下典型目标的双向反射分布函数测量方法
US3245306A (en) Photometer and method
FI78355C (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
US3349665A (en) Characterizing light reflecting properties of a surface
SU1396008A1 (ru) Способ измерени коэффициента ркости диффузно отражающих поверхностей,имеющих неоднородно отражающие элементы
US3650631A (en) Arrangement and process for measuring the refractive index of liquids
US4538912A (en) Method of and apparatus for inspection of coatings on surfaces
JP4651038B2 (ja) 塗料および顔料ペーストを湿式測定するための高精度反射率センサ
US4988203A (en) Device for inspecting an interference filter for a projection television display tube
GB2135448A (en) Inspection apparatus and method
Fairchild et al. Absolute reflectance factor calibration for goniospectrophotometry
US3316413A (en) Radiation sensitive instrument for determining the solar optical properties of light transmitting materials
SU1427249A1 (ru) Устройство дл определени коэффициента отражени диффузно отражающих объектов
JPH08159878A (ja) 照受光装置
SU1642334A1 (ru) Способ определени показател преломлени материала
SU1672209A1 (ru) Способ измерени толщины прозрачных пластин с рассеивающей поверхностью
Quinney et al. Goniophotometric studies of film deterioration processes: I. Introduction and instrumentation
SU1642333A1 (ru) Способ определени показател преломлени материала