SU1395994A1 - Photoelectric spectrometer of microparticles - Google Patents

Photoelectric spectrometer of microparticles Download PDF

Info

Publication number
SU1395994A1
SU1395994A1 SU853941480A SU3941480A SU1395994A1 SU 1395994 A1 SU1395994 A1 SU 1395994A1 SU 853941480 A SU853941480 A SU 853941480A SU 3941480 A SU3941480 A SU 3941480A SU 1395994 A1 SU1395994 A1 SU 1395994A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
semiconductor laser
particles
optical axis
increase
photodetector
Prior art date
Application number
SU853941480A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Игорь Глебович Гончаров
Игорь Петрович Сипайло
Original Assignee
Московский Инженерно-Физический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Инженерно-Физический Институт filed Critical Московский Инженерно-Физический Институт
Priority to SU853941480A priority Critical patent/SU1395994A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1395994A1 publication Critical patent/SU1395994A1/en

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике, в частности к устройствам оптического контрол  параметров микрочастиц, и может быть использовано дл  контрол  чистоты газов и жидкостей. Цель - повьше- ние точности измерений и чувствительности путем снижени  нижнего предела размеров регистрируемых частиц. Частицы , переносимые Лотоком газа и жидкости, освещают пучком света по- лосковой , генерируемым непрерывным полупроводниковым лазером. В качестве формирующей линзы используетс  микросфера из халькогенидного стекла со специально подобранными параметрами. Рассе нный частицами свет регистрируетс  двум  фотодиодами , расположенными симметрично относительно оптической оси лазера, выходы которых соединены между собой, а также через малошум щий усилитель с блоком регистрации. За счет использовани  острой фокусировки зондирующего луча, а также максимального использовани  телесного угла приема света достигаетс  повышение чувствительности устройства, полоскова  геометри  луча с однородной засветкой позвол ет повысить точность измерений . Уменьшение счетного объема до 10 мм позвол ет также существенно, увеличить максимальную измер емую концентрацию частиц. 1 ил. i СЛ С со со СЛ со СО 1The invention relates to instrumentation engineering, in particular to devices for the optical control of the parameters of microparticles, and can be used to control the purity of gases and liquids. The goal is to increase the measurement accuracy and sensitivity by reducing the lower limit of the size of the recorded particles. The particles transported by the Gas and Liquid Tray are illuminated with a strip of light generated by a continuous semiconductor laser. Chalcogenide glass microspheres with specially selected parameters are used as a forming lens. The light scattered by particles is detected by two photodiodes located symmetrically with respect to the optical axis of the laser, the outputs of which are interconnected, as well as through a low-noise amplifier with a recording unit. Due to the use of sharp focusing of the probe beam, as well as the maximum use of the solid angle of light reception, an increase in the sensitivity of the device is achieved, the strip geometry of the beam with uniform illumination allows to increase the measurement accuracy. Reducing the counting volume to 10 mm also significantly increases the maximum measured particle concentration. 1 il. i СЛ С со со СЛ со СО 1

Description

Изобретение относитс  к контроль- нЬ-иэмерительной технике, в частности к устройствам оптического контрол  микрочастиц, и может быть использо- вано дл  контрол  чистоты газов и жидкостей.The invention relates to a control and measuring technique, in particular to devices for the optical control of microparticles, and can be used to control the purity of gases and liquids.

Цель изобретени  - повьппение точности измерений и чувствительности за счет снижени  нижнего предела размеров регистрируемых частиц.The purpose of the invention is to increase the measurement accuracy and sensitivity by reducing the lower limit of the size of the recorded particles.

; На чертеже изображена блок-схема фотоэлектрического спектрометра м |1крочастиц.; The drawing shows a block diagram of a photoelectric spectrometer m | 1 particles.

; Фотоэлектрический спектрометр микрочастиц содержит непрерывный полупроводниковый лазер 1, микросферу 2 из халькогенидного стекла, пер- В1)1Й 3 и второй 4 фотодиоды, узел 5 аспирации, усилитель 6 и анализатор 7 Фотоэлектрический спектрометр мик- рэчастиц работает следующим образом. Излучение полупроводникового ла- зэра 1, сформированное микросферой 2 из халькогенидного стекла в полоску, пропускаетс  через поток частиц, создаваемый узлом 5 аспирации час- тИд. Рассе нный частицами свет регистрируетс  первым 3 и вторым 4 фотоди- одами. Сигнал с выхода фотодиодов Через усилитель 6 поступает на вход а|нализатора 7. Совместное про вление астигматизма пучка от полупроводникового лазера, сферической аберрации шаровой линзы, учет пропускани  и отражени  от халькогенидного стекла Приводит к формированию светового Пучка в полоску с продольным распределением излучени  близким к однород- Ному, что повышает точность измерений йри отклонении частиц от оси потока. Соединение выходов первого 3 и второго 4 фотодиодов позвол ет повысить отношение сигнал/шум. За счет исполь- Зовани  острой фокусировки зондирую; The microparticle photoelectric spectrometer contains a continuous semiconductor laser 1, a chalcogenide glass microsphere 2, a per-B1) 1J3 and a second 4 photodiodes, an aspiration unit 5, an amplifier 6 and an analyzer 7 The microparticle photoelectric spectrometer works as follows. The radiation of a semiconductor laser 1, formed by a microsphere 2 of chalcogenide glass into a strip, is transmitted through a stream of particles created by a node 5 of aspiration of particles. The light scattered by particles is detected by the first 3 and second 4 photodiodes. Photodiode output signal Amplifier 6 enters the input a of the analyzer 7. Co-detection of beam astigmatism from a semiconductor laser, spherical aberration of a spherical lens, consideration of transmission and reflection from chalcogenide glass leads to the formation of a light beam in a strip with a longitudinal radiation distribution close to uniform - Nomu, which increases the accuracy of measuring the Yi of the deviation of particles from the flow axis. Connecting the outputs of the first 3 and second 4 photodiodes allows an increase in the signal-to-noise ratio. By using a sharp focus probe

« е "E

5five

щего луча, а также максимального использовани  телесного угла приема света первым 3 и вторым 4 фотодиодами достигаетс  повышение чувствительности устройства. Уменьшение счетного объема до мм позвол ет также существенно увеличить максимальную концентрацию регистрируемых частиц.As well as maximizing the use of the solid angle of light reception by the first 3 and second 4 photodiodes, an increase in the sensitivity of the device is achieved. Reducing the counting volume to mm also makes it possible to significantly increase the maximum concentration of detected particles.

Claims (1)

Формулаизобретени Invention Formula Фотозлектрический спектрометр микрочастиц , содержащий полупроводниковый лазер с полосковым излучателем, на оптической оси которого расположена формирующа  линза, узел аспирации аэрозольных частиц, ось которого ориентирована параллельно полосковому излучателю полупроводникового лазера и пересекает оптическую ось полупроводникового лазера, в области счетного объема, с которым оптически сопр жен ориентированный перпендикул рно оси узел аспирации аэрозольных частиц, и оптической оси полупроводникового лазера, первый фотоприемник, выход которого через усилитель соединен с входом анализатора, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени  и повышени  чувствительности за счет снижени  нижнего предела размеров регистрируемых частиц, в него введен второй фотоприемник, при этом второй фотоприемник расположен на оптической оси первого фотоприемника симметрично первому фотоприемнику относительно оптической оси полупроводникового лазера, в качестве полупроводникового лазера использован непрерывный полупроводниковый лазер, первый и второй фотоприемники выполнены в виде, фотодиодов , выходы которых соединены между собой, формирующа  линза выполнена в виде микросферы.A microparticle photoelectric spectrometer containing a semiconductor laser with a strip emitter, on the optical axis of which a forming lens is located, an aspiration unit for aerosol particles, whose axis is parallel to the strip emitter of a semiconductor laser and intersects the optical axis of a semiconductor laser, in the region of the counting volume with which optically matches the oriented perpendicular to the axis of the site of aspiration of aerosol particles, and the optical axis of the semiconductor laser, the first photoreception IR, the output of which is connected via an amplifier to the analyzer input, characterized in that, in order to increase measurement accuracy and increase sensitivity by lowering the lower limit of dimensions of recorded particles, a second photodetector is inserted into it, while the second photodetector is located on the optical axis of the first photodetector symmetrically the first photodetector relative to the optical axis of a semiconductor laser; a continuous semiconductor laser is used as a semiconductor laser; the first and second photoconductors emniki made in the form of photodiodes whose outputs are interconnected, the forming lens is formed as microspheres.
SU853941480A 1985-08-07 1985-08-07 Photoelectric spectrometer of microparticles SU1395994A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853941480A SU1395994A1 (en) 1985-08-07 1985-08-07 Photoelectric spectrometer of microparticles

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853941480A SU1395994A1 (en) 1985-08-07 1985-08-07 Photoelectric spectrometer of microparticles

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1395994A1 true SU1395994A1 (en) 1988-05-15

Family

ID=21193341

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853941480A SU1395994A1 (en) 1985-08-07 1985-08-07 Photoelectric spectrometer of microparticles

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1395994A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994024540A1 (en) * 1993-02-10 1994-10-27 Maloe Predpriyatie 'firma Link' Analyzer for measuring the aerodynamic diameter of aerosol particles
ES2134164A1 (en) * 1997-12-10 1999-09-16 Univ Malaga Computerised analysis method using spectroscopy of plasmas produced by laser for quality control of solar cells

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Бел ев С.П. и др. Оптико-электронные методы излучени аэрозолей. М.: Энергоиздат, 1981, с. 70. Бел ев С.П. и др. Оптико-электронные методы излучени аэрозолей. М.: Энергоиздат, 1981, с. 213. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994024540A1 (en) * 1993-02-10 1994-10-27 Maloe Predpriyatie 'firma Link' Analyzer for measuring the aerodynamic diameter of aerosol particles
ES2134164A1 (en) * 1997-12-10 1999-09-16 Univ Malaga Computerised analysis method using spectroscopy of plasmas produced by laser for quality control of solar cells

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5767976A (en) Laser diode gas sensor
US4871251A (en) Apparatus and method for particle analysis
EP0289200B1 (en) Apparatus and method for particle analysis
CA1041318A (en) Electro-optical method and system for in situ measurements of particulate mass density
US3873204A (en) Optical extinction photoanalysis apparatus for small particles
CN108956402B (en) High-sensitivity dust concentration detection method with composite multi-photosensitive-area structure
JPS6311838A (en) Granular size detector
CN101487786A (en) Measurement sensor for inhalable dust concentration
CN1216283C (en) Laser light scattering dust concentration on line measuring method
KR20120013297A (en) Method and system for analysing solid particles in a medium
US5033851A (en) Light scattering method and apparatus for detecting particles in liquid sample
JPH05506503A (en) Diversion for uniform multi-sensor detection
JPS61271438A (en) Method and apparatus for measuring floating fine particle
CN112903547B (en) High-concentration cloud and mist particle concentration measuring device based on double light sources
SU1395994A1 (en) Photoelectric spectrometer of microparticles
JP2000230901A (en) Optical unit
CN114659947A (en) Measuring device and measuring method for mass concentration of dust with multiple particle sizes
CN112730180B (en) High-sensitivity dust particle counting sensor with double detectors
CN112782127A (en) Laser remote measuring device for multi-component gas in early stage of fire and control method thereof
JPS60214238A (en) Fine particle detector
US5796481A (en) Suspended particle concentration monitor
CN212301224U (en) Pump suction type dust concentration measuring device
SU1404900A1 (en) Method of measuring fractional particle-size composition of aerosols
SU1495691A1 (en) Nephelometric analyser
JPS60161548A (en) Apparatus for measuring scattered light of flowing fine particulate material